CN109327697B - 一种线列成像位标器焦面调试设备及调试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种线列成像位标器焦面调试设备,在水平设置的滑轨上设有沿滑轨滑动的红外凸透镜,在滑轨的一端依次设有热丝光源和黑体辐射源,热丝光源通过直流稳压源提供电源;在滑轨的另一端设有三轴转台,三轴转台的上端通过旋转支架连接调试位标器,调试位标器的电源线和管路分别连接数据线连接示波器和产品供电供气装置。该调试设备及其调试方法可快速将产品的焦面调整至一个合理的位置,提高调试效率,同时也提高了调试的精度。

Description

一种线列成像位标器焦面调试设备及调试方法
技术领域
本发明涉及一种线列成像位标器焦面调试设备及调试方法,属于线列成像位标器装配调试工艺技术领域。
背景技术
线列成像位标器的焦面位置对成像质量起着很关键的作用,如果焦面位置差,那么产品易处于离焦状态,在离焦状态下,像点的弥散斑也会相应的大,这在很大程度上降低了产品对空间的分辨率,降低了产品对目标的辨识能力,从而对整个导弹的指导精度也产生影响,因此,必须对线列成像位标器的焦面进行精确测量,然后进行精密的调试。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种线列成像位标器焦面调试设备及调试方法,该调试设备及其调试方法可快速将产品的焦面调整至一个合理的位置,提高调试效率,同时也提高了调试的精度。
为解决以上问题,本发明的具体技术方案如下:一种线列成像位标器焦面调试设备,在水平设置的滑轨上设有沿滑轨滑动的红外凸透镜,在滑轨的一端依次设有热丝光源和黑体辐射源,热丝光源通过直流稳压源提供电源;在滑轨的另一端设有三轴转台,三轴转台的上端通过旋转支架连接调试位标器,调试位标器的电源线和管路分别连接数据线连接示波器和产品供电供气装置。
所述的热丝光源结构为:在水平面设置支撑架,支撑架上连接矩形结构的热丝框,在热丝框的上下分别设有第一锁紧螺母,第一锁紧螺母将热丝光源的两端拉紧在热丝框的中部,热丝光源的位置与红外凸透镜的焦点位置对应,第一锁紧螺母上分别连接电源引线。
所述的旋转支架结构为;在支架上设有轴线水平的通孔,通孔内设有旋转件,旋转件的一端设有外螺纹,并穿过支架后与第二锁紧螺母连接锁紧;在支架的外表面设有基准刻线,在旋转件上设有角度刻度线,角度刻度线位置与基准刻度位置对应。
采用线列成像位标器焦面调试设备进行调试的方法,包括以下步骤:
1) 确定线列方向:遮挡黑体辐射源的出射孔,热丝光源放置在黑体辐射源的出射孔之前,且位于红外凸透镜焦距位置上,直流稳压源启动给热丝光源供电,给调试位标器供电供气,缓慢转动旋转支架,观察示波器,当调试至位标器中的线列探测器所有元均有响应,且幅值相等时,这时线列探测器的线列方向与热丝光源方向一致;
2) 验证线列方向:将确定好方向的调试位标器通过旋转支架旋转90°,使线列探测器的线列方向与热丝光源垂直,关闭并移除热丝光源,去掉黑体辐射源出射孔遮挡物,将黑体辐射孔放置在红外凸透镜的出射孔调至合适大小,此时观察示波器,有某一个或两个元有响应,对好光后,水平摇动三轴转台,观察示波器上所有元依次有响应,说明线列探测器的线列方向水平无误;
3) 测量焦面位置:水平摇动三轴转台,使线列探测器的某一个元有响应,停止摇动三轴转台;前后推动红外凸透镜,观察示波器上一个元响应幅度变化,找到响应最大点,测量黑体辐射源与距透镜焦点位置的长度,并记录方向,通过该长度可算出调试位标器离焦量的大小,并根据方向判断出离焦的方向;
4) 焦面调整:根据计算出的离焦量,给调试位标器增减响应数值的调整垫片,即可将产品的焦面调整至一个合理的位置,精度达到±0.01mm。
该线列成像位标器焦面调试设备采用黑体辐射源、热丝光源、红外凸透镜和调试位标器位于同一直线上,从而实现位标器焦面的检测。
热丝光源采用竖直光丝结构,便于调节位标器的列线方向。
旋转支架设置可旋转结构,并设置刻度线,便于在调试过程中,位标器进行角度旋转。
该调试方法简单易行,精度高,从而使产品的焦面调试精度高,在很大程度上提高了产品的性能。
附图说明
图1为线列成像位标器焦面调试设备的结构示意图。
图2为热丝光源的结构示意图。
图3为旋转支架的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,一种线列成像位标器焦面调试设备,在水平设置的滑轨4上设有沿滑轨滑动连接的红外凸透镜5,在滑轨4的一端依次设有热丝光源3和黑体辐射源1,热丝光源3通过直流稳压源2提供电源;在滑轨4的另一端设有三轴转台6,三轴转台6的上端通过旋转支架8连接调试位标器7,调试位标器7的电源线和管路分别连接数据线连接示波器9和产品供电供气装置10。
如图2所示,所述的热丝光源3结构为:在水平面设置支撑架16,支撑架上连接矩形结构的热丝框12,在热丝框12的上下分别设有第一锁紧螺母11,第一锁紧螺母11将热丝光源3的两端拉紧在热丝框12的中部,热丝光源3的位置与红外凸透镜5的焦点位置对应,第一锁紧螺母11上分别连接电源引线14。
如图3所示,所述的旋转支架8结构为;在支架22上设有轴线水平的通孔,通孔内设有旋转件21,旋转件21的一端设有外螺纹,并穿过支架22后与第二锁紧螺母23连接锁紧;在支架22的外表面设有基准刻线,在旋转件21上设有角度刻度线,角度刻度线位置与基准刻度位置对应。
采用线列成像位标器焦面调试设备进行调试的方法,包括以下步骤:
1) 确定线列方向:遮挡黑体辐射源1的出射孔,红外凸透镜5放置在调试位标器7焦点位置上,热丝光源3放置在黑体辐射源1的出射孔之前,直流稳压源2启动给热丝光源3供电,给调试位标器7供电供气,缓慢转动旋转支架8,观察示波器9,当调试位标器7中的线列探测器所有元均有响应,且幅值相等时,这时线列探测器的线列方向与热丝光源3方向一致;
2) 验证线列方向:将确定好方向的调试位标器7通过旋转支架旋转90°,使线列探测器的线列方向与热丝光源3垂直,关闭并移除热丝光源3,去掉黑体辐射源1出射孔遮挡物,将黑体辐射孔放置在红外凸透镜5)的焦点处,黑体辐射源1的出射孔调至合适大小,此时观察示波器,有某一个或两个元有响应,对好光后,水平摇动三轴转台6,观察示波器上所有元依次有响应,说明线列探测器的线列方向水平无误;
3) 测量焦面位置:水平摇动三轴转台6,使线列探测器的某一个元有响应,停止摇动三轴转台6;前后推动红外凸透镜5,观察示波器上一个元响应幅度变化,找到响应最大点,测量黑体辐射源1与距透镜焦点位置的长度,并记录方向,通过该长度可算出调试位标器7离焦量的大小,并根据方向判断出离焦的方向;
4)焦面调整:根据计算出的离焦量,给调试位标器(7)增减响应数值的调整垫片,即可将产品的焦面调整至一个合理的位置,精度达到±0.01mm。
本发明中,滑轨的作用是使红外凸透镜在直线方向移动,要求滑轨直线度要好,且产品光轴、红外凸透镜、黑体出射孔和热丝在同一直线上,且高度相等,确保光路系统对产品测试精度。

Claims (2)

1.一种线列成像位标器焦面调试设备,其特征在于:在水平设置的滑轨(4)上设有沿滑轨滑动的红外凸透镜(5),在滑轨(4)的一端依次设有热丝光源(3)和黑体辐射源(1),热丝光源(3)通过直流稳压源(2)提供电源;在滑轨(4)的另一端设有三轴转台(6),三轴转台(6)的上端通过旋转支架(8)连接调试位标器(7),调试位标器(7)的电源线和管路分别连接数据线连接示波器(9)和产品供电供气装置(10);
所述的热丝光源(3)结构为:在水平面设置支撑架(16),支撑架上连接矩形结构的热丝框(12),在热丝框(12)的上下分别设有第一锁紧螺母(11),第一锁紧螺母(11)将热丝光源(3)的两端拉紧在热丝框(12)的中部,热丝光源(3)的位置与红外凸透镜(5)的焦点位置对应,第一锁紧螺母(11)上分别连接电源引线(14);
所述的旋转支架(8)结构为;在支架(22)上设有轴线水平的通孔,通孔内设有旋转件(21),旋转件(21)的一端设有外螺纹,并穿过支架(22)后与第二锁紧螺母(23)连接锁紧;在支架(22)的外表面设有基准刻线,在旋转件(21)上设有角度刻度线,角度刻度线位置与基准刻度位置对应。
2.采用权利要求1所述的线列成像位标器焦面调试设备进行调试的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)确定线列方向:遮挡黑体辐射源(1)的出射孔,热丝光源(3)放置在黑体辐射源(1)的出射孔之前,且位于红外凸透镜(5)焦距位置上,直流稳压源(2)启动给热丝光源(3)供电,给调试位标器(7)供电供气,缓慢转动旋转支架(8),观察示波器(9),当调试至位标器(7)中的线列探测器所有元均有响应,且幅值相等时,这时线列探测器的线列方向与热丝光源(3)方向一致;
2)验证线列方向:将确定好方向的调试位标器(7)通过旋转支架旋转90°,使线列探测器的线列方向与热丝光源(3)垂直,关闭并移除热丝光源(3),去掉黑体辐射源(1)出射孔遮挡物,将黑体辐射孔放置在红外凸透镜(5)的焦点处,黑体辐射源(1)的出射孔调至合适大小,此时观察示波器,有某一个或两个元有响应,对好光后,水平摇动三轴转台(6),观察示波器上所有元依次有响应,说明线列探测器的线列方向水平无误;
3)测量焦面位置:水平摇动三轴转台(6),使线列探测器的某一个元有响应,停止摇动三轴转台(6);前后推动红外凸透镜(5),观察示波器上一个元响应幅度变化,找到响应最大点,测量黑体辐射源(1)与距透镜焦点位置的长度,并记录方向,通过该长度可算出调试位标器(7)离焦量的大小,并根据方向判断出离焦的方向;
4)焦面调整:根据计算出的离焦量,给调试位标器(7)增减响应数值的调整垫片,即可将产品的焦面调整至一个合理的位置,精度达到±0.01mm。
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