CN109269538B - 一种随钻中子He3管刻度测试装置 - Google Patents

一种随钻中子He3管刻度测试装置 Download PDF

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Abstract

一种随钻中子He3管刻度测试装置，涉及测井工具技术领域，包括屏蔽装置，以及位于所述屏蔽装置内的中子产生装置和支撑装置，所述支撑装置上设有至少一个用于容置待测He3管的容置孔，所述中子产生装置位于所述支撑装置的上方。本发明实施例的测试装置可对待测He3管的位置进行定位，测试条件一致性较高。

Description

一种随钻中子He3管刻度测试装置
技术领域
本申请涉及测井工具技术领域，具体涉及一种随钻中子He3管刻度测试装置。
背景技术
现有的随钻中子He3管刻度测试没有专门的测试装置，测试比较麻烦，只能单支测试，效率低，并且测试过程中是靠人来确定待测He3管与中子放射源的位置、距离，测试结果受测试者的主观因素影响很大，很难保证每次待测He3管的测试位置一致，另外，测试过程没有任何的屏蔽装置，测试人员在测试过程中接触放射源时间长，受辐射伤害大。
发明内容
本发明的实施例提供一种随钻中子He3管刻度测试装置，包括屏蔽装置，以及位于所述屏蔽装置内的中子产生装置和支撑装置，所述支撑装置上设有至少一个用于容置待测He3管的容置孔，所述中子产生装置位于所述支撑装置的上方。
有益效果：
本发明实施例提供的随钻中子He3管刻度测试装置，其设有专门容置待测He3管的容置孔，可对待测He3管的位置进行定位，测试条件一致性较高。
附图说明
附图用来提供对本发明实施例技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明实施例的技术方案，并不构成对本发明实施例技术方案的限制。
图1为本发明一实施例的测试装置的爆炸图；
图2为本发明一实施例的中子产生装置的俯视图；
图3为图2中A-A位置的剖视图；
图4为本发明一实施例的支撑装置的爆炸图；
图5为本发明一实施例的屏蔽装置的结构示意图；
附图标记为：1、中子产生装置，2、提手，3、待测He3管，4、支撑装置，5、屏蔽板，6、垫块，7、密封板，8、中子源，9、漫化体，10、第一紧固件，11、容置孔，12、提手槽，13、凹槽，14、屏蔽装置，15、第二紧固件，16、第三紧固件。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。
如图1～5所示，本发明的一实施例提供一种随钻中子He3管刻度测试装置，包括屏蔽装置14，以及位于所述屏蔽装置14内的中子产生装置1和支撑装置4，所述支撑装置4上设有至少一个用于容置待测He3管3的容置孔11，所述中子产生装置1位于所述支撑装置4的上方。
本实施例中，所述容置孔11的数目为多个，各容置孔11相互平行设置，各容置孔11的中轴线与一中心线之间的距离相等。所述中子产生装置1内的中子源8位于所述中心线上。将容置孔11设置为多个，可实现批量测试，提高测试效率，减少测试者接触放射源时间，降低测试人员所受的辐射伤害；另外，各容置孔11相对于所述中子源8位置是平等的，因此，可保证待测He3管3在各个容置孔11内的测试条件是相同的，测试结果误差小。
所述支撑装置4包括一柱状本体，柱状本体主要由铝合金材料制成，铝合金材料能有效避免支撑装置4本体材质对中子产生装置1释放的热中子产生影响，铝合金材料不会屏蔽吸收中子产生装置1释放的热中子，减少了对测试结果的影响。所述容置孔11贯穿所述柱状本体的上下端面设置，容置孔11数目为多个时，比如六个，各容置孔11围绕柱状本体的中心线设置，各容置孔11之间可等距离间隔设置。柱状本体可设置为中空结构，比如中空圆形结构，这样可减轻支撑装置4的重量，又节约成本。各容置孔11的内径比待测He3管3的外径略粗一些，这样待测He3管3外部缠上减震硅胶垫，便可以方便地插入到各容置孔11中，容置孔11的长度等于待测He3管3的长度加上前放板(刻度测试时前放板与He3管固定为一整体，用于将He3管采集到的信号进行初步滤波，提高信噪比，把有用信号放大、成形，方便后续电路的处理)的长度，这样可以很方便地对待测He3管3在支撑装置4中的位置进行固定，保证六支待测He3管3在支撑装置4中处于平等的位置，避免了测试时由于待测He3管3距离中子源8位置不同而带来的测试影响。所述柱状本体上还设有提手2，以便于提放柱状本体，可在柱状本体的上端面上设置两个提手槽12，提手2的两端通过螺丝等紧固件分别固定于两个提手槽12内，提手2的握持部与柱状本体的中空部对应。
所述中子产生装置1包括漫化体9、密封板7和所述中子源8，所述中子源8位于所述漫化体9顶面设置的容置槽内，所述密封板7固定于所述漫化体9的顶面上并将所述中子源8密封于所述容置槽内。其中，中子产生装置1整体可为长方体或正方体结构，漫化体9顶面的几何中心设置所述容置槽，漫化体9的底面设置有供与He3管连接的前放板引出的信号线、电源线等通过的过线凹槽。密封板7与漫化体9之间通过若干第一紧固件10连接，第一紧固件10可以为螺丝等。所述中子源8为Am-241/Be，释放的是快中子，经过漫化体9的漫化，变成了热中子，活度是75mCi，属于五类源，近距离接触时对人体有很大的辐射危害。
所述屏蔽装置14包括四个屏蔽板5，四个屏蔽板5围成一两端开口的柱状结构，相邻两屏蔽板5之间通过若干第二紧固件15连接。所述屏蔽装置14内设有用于支撑在所述支撑装置4下端面的垫块6，以使所述支撑装置4的各容置孔11的下端口悬空，如此可便于各容置孔11内待测He3管3的电路连接线从支撑装置4下方引出。所述垫块6可设置为两个，两垫块6分别通过第三紧固件16固定于相对的两个屏蔽板5的下部。所述第二紧固件15和第三紧固件16可为螺丝等。所述屏蔽装置14上设有用于供所述容置孔11内的待测He3管3的电路连接线穿过的开孔或凹槽13，所述凹槽13可设置两个，分别位于相对的两屏蔽板5的底端。各容置孔11内的待测He3管3的电路连接线从支撑装置4的柱状本体底部引出后，经所述屏蔽装置14上设置的开孔或凹槽13引出至测试装置外部，与测试装置外部的电路板连接。
所述屏蔽装置14的四个屏蔽板5可采用聚四氟乙烯材料制成，板厚度可设置为5厘米，聚四氟乙烯材料里面含有大量的氢元素，能对中子产生装置1产生的热中子，起到很好的屏蔽吸收效果，有效降低测试人员受到的辐射剂量。
本实施例的测试装置适合实验室批量测试He3管，可以一次性测试多个He3管，并且保证了各个被测He3管的测试条件的一致性很好，提高了测试结果的准确性，减少了测试人员接触中子放射源的时间，降低了测试人员所受的辐射危害。另外，本实施例的测试装置可以很方便地为随钻中子仪器将来应用的实时刻度提供帮助，提高仪器的现场实时刻度效率。

Claims (4)

1.一种随钻中子He3管刻度测试装置，其特征在于：包括屏蔽装置，以及位于所述屏蔽装置内的中子产生装置和支撑装置，所述支撑装置上设有多个用于容置待测He3管的容置孔，所述中子产生装置位于所述支撑装置的上方；
各容置孔相互平行设置，各容置孔的中轴线与所述支撑装置的中心线之间的距离相等；
所述中子产生装置包括漫化体、密封板和中子源，所述中子源位于所述漫化体顶面的几何中心设置的容置槽内，所述密封板固定于所述漫化体的顶面上并将所述中子源密封于所述容置槽内，所述中子源位于所述中心线上。
2.如权利要求1所述的随钻中子He3管刻度测试装置，其特征在于：所述容置孔贯穿所述支撑装置的上下端面设置。
3.如权利要求2所述的随钻中子He3管刻度测试装置，其特征在于：所述屏蔽装置内设有用于支撑在所述支撑装置下端面的垫块，以使所述各容置孔的下端口悬空。
4.如权利要求1所述的随钻中子He3管刻度测试装置，其特征在于：所述屏蔽装置上设有用于供所述容置孔内的待测He3管的电路连接线穿过的开孔或凹槽。
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