CN109245820A - 多通道光模块误码率测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种多通道光模块误码率测试系统，包括依次电连接的信号发生模块、可调信号线、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；信号发生模块用于输出第一电信号；可调信号线用于将第一电信号衰减并将衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至处理器模块；处理器模块用于获取CTLE值并写入待测多通道光模块；待测多通道光模块用于根据CTLE值对第二电信号进行补偿后再传输至误码率测试模块；误码率测试模块获取误码率信息并判断误码率信息是否满足预设的合格要求，若满足，则测试合格。本发明还公开了一种多通道光模块误码率测试方法，本发明不需要更换输入信号线即可完成误码率测试，提高了测试效率，节省人力物力。

Description

多通道光模块误码率测试系统及方法

技术领域

本发明涉及电子器件技术领域，尤其涉及多通道光模块误码率测试系统及方法。

背景技术

光模块是一种用于光电转换的电子器件，光模块的发送端把接收到的电信号转换成光信号，通过光纤传输至光模块的接收端，接收端再把光信号转换成电信号输出。

多通道光模块是指光模块的金手指连接多通道电接口(例如四通道电接口、八通道电接口)，多通道光模块可以将多通道电信号转换成多路光信号，通过波分复用器汇聚到一根光纤中传输，再将接收到的光信号转换成多通道的电信号并通过多通道电接口输出。光信号在光纤传输过程中根据光纤长度的不同，会相应存在不同程度的衰减，而光模块的接收端能否将衰减后的光信号补偿至要求的误码范围内后再输出，是衡量光模块性能的重要指标之一，这就需要测试多通道电接口各个通道输出电信号的误码率。

现有测试误码率的方法通过更换不同长度的输入信号线，使电信号经过不同长度信号线进行不同的衰减后，再输入下一模块测试，通过不同长度信号线对电信号的衰减来模拟实际应用中不同长度的光纤对光信号的衰减，然而，更换不同长度的信号线现在都是由人工完成，为了测试光模块是否能将不同衰减程度的光信号成功补偿，则需要更换多种不同长度的信号线来多次测试，而对于需要测试各个电接口通道误码率的多通道光模块，测试过程中更换信号线的工作量就更大，浪费人力且测试效率低下，并且测试时需要准备多种不同的信号线，也造成了测试成本的增加。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种多通道光模块误码率测试系统及方法，旨在实现不需要更换输入信号线即可完成误码率测试，提高了测试效率，节省人力物力。

为实现上述目的，本发明提供一种多通道光模块误码率测试系统，包括长度可调节的可调信号线及依次电连接的信号发生模块、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；其中，所述信号发生模块与所述处理器模块通过所述可调信号线电连接；

所述信号发生模块，用于输出第一电信号至所述可调信号线；

所述可调信号线，用于将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；

所述处理器模块，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；

所述待测多通道光模块，用于根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；

所述误码率测试模块，用于根据所述补偿后的第二电信号获取所述待测多通道光模块的误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。

可选地，所述可调信号线包括第一固定连接头、第二固定连接头及差分信号线；

所述差分信号线通过所述第一固定连接头电连接于所述信号发生模块；

所述第二固定连接头设有射频探针部，所述射频探针部通过所述第二固定连接头与所述处理器模块电连接；

所述射频探针部用于在所述差分信号线的自由端移动，以调节所述第一固定连接头与所述射频探针部之间的所述差分信号线的长度；

所述第二固定连接头还连接有用于驱动所述射频探针部的驱动装置。

可选地，所述驱动装置包括步进电机。

可选地，所述差分信号线远离所述第一固定连接头的一端依次电连接有电磁隔离装置及电阻单元；所述射频探针部于所述第一固定连接头与所述电磁隔离装置之间的所述差分信号线上移动。

可选地，所述处理器模块还电连接有示波器装置。

可选地，所述信号发生模块包括依次电连接的时钟产生器、抖动产生仪及伪随机信号产生仪，所述伪随机信号产生仪用于输出所述第一电信号至所述可调信号线。

本发明还提供一种使用如上所述系统的多通道光模块误码率测试方法，所述方法包括如下步骤：

基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线；

所述可调信号线将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；

所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；

所述处理器模块输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；

所述待测多通道光模块根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；

所述误码率测试模块根据所述补偿后的第二电信号获取误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。

可选地，所述基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线的步骤之前还包括：

根据预设的可调信号线的长度，所述驱动装置驱动所述射频探针部在所述差分信号线的自由端移动至相应位置。

可选地，所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块的步骤包括：

所述处理器模块接收所述第二电信号并控制所述第二电信号显示于所述示波器装置；

所述处理器模块基于预设信号补偿系数补偿所述第二电信号，并获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值；

所述处理器模块将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块。

可选地，所述基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线的步骤包括：

基于预设条件，所述时钟产生器输出时钟信号至所述伪随机信号产生仪；

所述抖动产生仪输出预设的抖动参数至所述伪随机信号产生仪；

基于所述时钟信号及所述抖动参数，所述伪随机信号产生仪输出第一电信号至所述可调信号线。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本发明误码率测试系统对多通道光模块进行测试时，不再需要人工多次更换不同长度的输入信号线对信号进行衰减模拟，而只需要根据测试需求调节可调信号线的长度，由此就可以将输入电信号衰减与可调信号线当前长度相应的衰减量后再输出至处理器进行下一步测试流程，从而实现了不用更换不同长度的信号线即可模拟不同光纤长度下光信号的衰减来完成对多通道光模块误码率的测试，大大提高了测试效率，节省了人力物力。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明多通道光模块误码率测试系统一优选实施例结构示意图；

图2为本发明多通道光模块误码率测试方法一优选实施例流程框图。

图标：11、时钟产生器；12、抖动产生仪；13、伪随机信号产生仪；21、第一固定连接头；22、第二固定连接头；23、差分信号线；24、射频探针部；25、步进电机；26、电磁隔离装置；27、电阻单元；30、处理器模块；31、示波器装置；41、发送端；42、接收端；43、金手指；44、多通道电接口；50、误码率测试模块。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“平行”、“垂直”等并不表示要求部件绝对平行或垂直，而是可以稍微倾斜。如“平行”仅仅是指其方向相对“垂直”而言更加平行，并不是表示该结构一定要完全平行，而是可以稍微倾斜。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

本发明提出一种多通道光模块误码率测试系统及方法。

参照图1和图2，图1为本发明提出的多通道光模块误码率测试系统一优选实施例结构示意图，图2为本发明提出的多通道光模块误码率测试方法一优选实施例流程框图。

本发明提出的多通道光模块误码率测试系统包括长度可调节的可调信号线及依次电连接的信号发生模块、处理器模块30、待测多通道光模块和误码率测试模块50；其中，所述信号发生模块与所述处理器模块30通过所述可调信号线电连接；

所述信号发生模块用于输出第一电信号至所述可调信号线；

所述可调信号线用于将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块30。

所述处理器模块30，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE(Continuous Time Linear Equalizer连续线性均衡)值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块30还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；

所述待测多通道光模块，用于根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；

所述误码率测试模块50，用于根据所述补偿后的第二电信号获取所述待测多通道光模块的误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。

现有技术中，对光模块进行误码率测试时，通过更换不同长度的输入信号线，使电信号经过不同长度信号线进行不同的衰减后，再输入下一模块进行下一步的误码率测试流程，通过不同长度信号线对电信号的衰减来模拟实际应用中不同长度的光纤对光信号的衰减，然而，更换不同长度的信号线现在都是由人工完成，为了测试光模块是否能将不同衰减程度的光信号成功补偿，则需要更换多种不同长度的信号线来多次测试，而对于需要测试各个通道误码率的多通道光模块，测试过程中更换信号线的工作量就更大，浪费人力且测试效率低下，并且测试时需要准备多种不同的信号线，也造成了测试成本的增加。

在本实施例中，首先在误码率测试系统中接入需要测试误码率的待测多通道光模块，根据测试协议要求的输入电信号标准，调节信号发生模块输出符合测试协议要求的第一电信号至所述可调信号线；所述可调信号线在信号传输过程中会对第一电信号有衰减，具体地，所述可调信号线将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块30。

光模块作为电光转换元件，输入光模块的电信号与光模块电光转换后得到的光信号是对应关系，电信号损失转化为光信号衰减，由此通过电信号不同程度的衰减模拟光信号的衰减。

所述处理器模块30，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；具体地，IEEE(802.3ba)要求补偿后的信号相对于衰减前的信号的补偿系数为(0-9)，调节可调信号线的长度，处理器模块30通过测试、校准第二电信号，直至将第二电信号校准到要求的补偿系数范围内，获得当前的补偿系数下的CTLE值，不同的补偿系数对应不同的CTLE值，由于第二电信号基于第一电信号的衰减量是基于当前可调信号线的长度不同而有不同的衰减，由此处理器模块30获取第二电信号在不同的可调信号线长度下满足不同的补偿系数对应的CTLE值，并将这些CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块30还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块。

待测多通道光模块包括发送端41、接收端42、金手指43及与金手指43连接的多通道电接口44，发送端41的某一通道接收到第二电信号后，与该通道连接的激光发射器将第二电信号转化为光信号，光信号通过测试光纤自环回到接收端42，此时待测多通道光模块根据处理器模块30写入的CTLE值对光信号进行补偿，并将补偿后的光信号转换为电信号通过多通道电接口44的某一通道输出至所述误码率测试模块50测试电信号的误码率，判断误码率是否符合预设要求，预设要求可以是要求无误码或者误码率小于某一数值，实施时可以根据实际情况设定。

所述误码率测试模块50根据所述补偿后的第二电信号获取误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则待测多通道光模块所述的多通道电接口44的某一通道的一次误码率测试合格，为了保证测试的准确性，对于一个通道，测试要求往往需要基于不同的信号线长度进行多次测量，以此保证当前通道针对不同长度光纤线衰减后的光信号都有能力将其补偿至要求误差范围内，在本实施例中，根据测试要求，多次调节可调信号线的长度，基于多次调节可调信号线的长度，若多通道电接口44当前通道的多次误码率测试均合格后判定当前通道误码率测试合格，再根据相同步骤测试所述待测多通道光模块多通道电接口44的其它通道的误码率，当所述多通道电接口44的所有通道误码率均测试合格后，该多通道光模块通过误码率测试，测试完成。

优选地，所述可调信号线包括第一固定连接头21、第二固定连接头22及差分信号线23；

所述差分信号线23通过所述第一固定连接头21电连接于所述信号发生模块；

所述第二固定连接头22设有射频探针部24，所述射频探针部24通过所述第二固定连接头22与所述处理器模块30电连接；

所述射频探针部24用于在所述差分信号线23的自由端移动，以调节所述第一固定连接头21与所述射频探针部24之间的所述差分信号线23的长度；

所述第二固定连接头22还连接有用于驱动所述射频探针部24的驱动装置。

在本实施例中，驱动装置驱动射频探针部24在差分信号线23的自由端移动，以调节实际接入本实施例多通道光模块误码率测试系统的差分信号线23的长度，由此实现了不用多次更换不同长度的信号线，只需要控制驱动装置，由驱动装置控制射频探针部24的移动，即可调节可调信号线的长度，将输入可调信号线的电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量后再输出至处理器模块30进行下一步测试流程，由此模拟不同光纤长度下光信号的衰减，不需要人力更换输入信号线即可完成多通道光模块误码率测试，大大提高了测试效率，节省了人力物力。

优选地，所述驱动装置包括步进电机25，步进电机25驱动射频探针部24在差分信号线23的自由端移动来调节可调信号线的长度。

作为一种优选实施方式，所述差分信号线23远离所述第一固定连接头21的一端依次电连接有电磁隔离装置26及电阻单元27；所述射频探针部24于所述第一固定连接头21与所述电磁隔离装置26之间的所述差分信号线23上移动。具体地，差分信号线23的一端与第一固定连接头21连接，差分信号线23的另一端接一对电磁隔离器后再接10K电阻到地，接电磁隔离器和10K电阻的目的是为了防止信号的反射。

优选地，所述处理器模块30还电连接有示波器装置31。

电信号与光信号是对应关系，光信号是正弦波形状，不同的光信号衰减即模拟不同预设要求下光信号的压力眼图测试。

在该实施例中，处理器模块30接收第二电信号后显示在示波器上，处理器模块30通过示波器调整CTLE值对第二电信号进行补偿，通过示波器来显示信号补偿后的模拟压力眼图，直至第二电信号相对于衰减前的信号被补偿至IEEE(802.3ba)要求的补偿系数，将此时的CTLE值写入光模块，对于不同长度的信号线，其补偿的系数、CTLE值也是不同的。

优选地，所述信号发生模块包括依次电连接的时钟产生器11、抖动产生仪12及伪随机信号产生仪13，所述伪随机信号产生仪13用于输出所述第一电信号至所述可调信号线。调节时钟产生器11，并调节抖动产生仪12，产生伪随机信号，直至该信号满足测试协议的要求，该伪随机信号，是加干扰的时钟信号，属于电信号。

该实施例多通道光模块误码率测试系统通过调节可调信号线的长度，将输入可调信号线的电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量后再输出至处理器模块30进行下一步测试流程，由此模拟不同光纤长度下光信号的衰减，不需要人力更换输入信号线即可完成多通道光模块误码率测试，大大提高了测试效率，节省了人力物力。

参见图2，本发明还提出一种多通道光模块误码率测试方法，该方法利用上述实施例中的系统，由于采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。

具体地，该多通道光模块误码率测试方法包括如下步骤：

步骤S10，基于预设条件，信号发生模块输出第一电信号至可调信号线；

步骤S20，所述可调信号线将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至处理器模块；

步骤S30，所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；

步骤S40，所述处理器模块输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；

步骤S50，所述待测多通道光模块根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；

步骤S60，所述误码率测试模块根据所述补偿后的第二电信号获取误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求；

若满足，则步骤S70，所述待测多通道光模块误码率测试合格。

该多通道光模块误码率测试方法中的详细方案参见上述实施例的描述，在此不再一一赘述。

优选地，基于预设条件，信号发生模块输出第一电信号至可调信号线的步骤之前还包括：

根据预设的可调信号线的长度，驱动装置驱动射频探针部在差分信号线的自由端移动至相应位置。

根据测试要求，驱动装置驱动射频探针部24在差分信号线23的自由端移动，以调节实际接入本方法应用的上述多通道光模块误码率测试系统的差分信号线23的长度，通过改变可调信号线的长度，对第一电信号做不同的衰减，以此模拟光信号的衰减。

优选地，所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块的步骤包括如下细化步骤：

所述处理器模块接收所述第二电信号并控制所述第二电信号显示于所述示波器装置；

所述处理器模块基于预设信号补偿系数补偿所述第二电信号，并获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值；

所述处理器模块将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块。

电信号与光信号是对应关系，光信号是正弦波形状，不同的光信号衰减即模拟不同预设要求下光信号的压力眼图测试。

处理器模块30接收第二电信号后显示在示波器上，处理器模块30通过示波器调整CTLE值对第二电信号进行补偿，通过示波器来显示信号补偿后的模拟压力眼图，直至第二电信号相对于衰减前的信号被补偿至IEEE(802.3ba)要求的补偿系数，将此时的CTLE值写入光模块，对于不同长度的信号线，其补偿的系数、CTLE值也是不同的。

优选地，基于预设条件，信号发生模块输出第一电信号至可调信号线的步骤包括如下细化步骤：

基于预设条件，所述时钟产生器输出时钟信号至所述伪随机信号产生仪；

所述抖动产生仪输出预设的抖动参数至所述伪随机信号产生仪；

基于所述时钟信号及所述抖动参数，所述伪随机信号产生仪输出第一电信号至所述可调信号线。

根据测试协议要求，调节时钟产生器11，并调节抖动产生仪12，产生伪随机信号，直至该信号满足测试协议的要求，该伪随机信号，是加干扰的时钟信号，属于电信号。

本发明对多通道光模块进行测试时，不再需要人工多次更换不同长度的输入信号线对信号进行衰减模拟，而只需要根据测试需求调节可调信号线的长度，由此就可以将输入电信号衰减与可调信号线当前长度相应的衰减量后再输出至处理器进行下一步测试流程，从而实现了不用更换不同长度的信号线即可模拟不同光纤长度下光信号的衰减来完成对多通道光模块误码率的测试，大大提高了测试效率，节省了人力物力。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，包括长度可调节的可调信号线及依次电连接的信号发生模块、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；其中，所述信号发生模块与所述处理器模块通过所述可调信号线电连接；

所述信号发生模块，用于输出第一电信号至所述可调信号线；

所述可调信号线，用于将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；

所述处理器模块，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的连续线性均衡CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；

所述待测多通道光模块，用于根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；

所述误码率测试模块，用于根据所述补偿后的第二电信号获取所述待测多通道光模块的误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。

2.如权利要求1所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述可调信号线包括第一固定连接头、第二固定连接头及差分信号线；

所述差分信号线通过所述第一固定连接头电连接于所述信号发生模块；

所述第二固定连接头设有射频探针部，所述射频探针部通过所述第二固定连接头与所述处理器模块电连接；

所述射频探针部用于在所述差分信号线的自由端移动，以调节所述第一固定连接头与所述射频探针部之间的所述差分信号线的长度；

所述第二固定连接头还连接有用于驱动所述射频探针部的驱动装置。

3.如权利要求2所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述驱动装置包括步进电机。

4.如权利要求2所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述差分信号线远离所述第一固定连接头的一端依次电连接有电磁隔离装置及电阻单元；所述射频探针部于所述第一固定连接头与所述电磁隔离装置之间的所述差分信号线上移动。

5.如权利要求2所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述处理器模块还电连接有示波器装置。

6.如权利要求5所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述信号发生模块包括依次电连接的时钟产生器、抖动产生仪及伪随机信号产生仪，所述伪随机信号产生仪用于输出所述第一电信号至所述可调信号线。

7.一种使用如权利要求6所述系统的多通道光模块误码率测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线；

所述可调信号线将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；

所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；

所述处理器模块输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；

所述待测多通道光模块根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；

所述误码率测试模块根据所述补偿后的第二电信号获取误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。

8.如权利要求7所述的多通道光模块误码率测试方法，其特征在于，所述基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线的步骤之前还包括：

根据预设的可调信号线的长度，所述驱动装置驱动所述射频探针部在所述差分信号线的自由端移动至相应位置。

9.如权利要求8所述的多通道光模块误码率测试方法，其特征在于，所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块的步骤包括：

所述处理器模块接收所述第二电信号并控制所述第二电信号显示于所述示波器装置；

所述处理器模块基于预设信号补偿系数补偿所述第二电信号，并获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值；

所述处理器模块将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块。

10.如权利要求9所述的多通道光模块误码率测试方法，其特征在于，所述基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线的步骤包括：

基于预设条件，所述时钟产生器输出时钟信号至所述伪随机信号产生仪；

所述抖动产生仪输出预设的抖动参数至所述伪随机信号产生仪；

基于所述时钟信号及所述抖动参数，所述伪随机信号产生仪输出第一电信号至所述可调信号线。