CN109241306A - 一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法 - Google Patents

一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109241306A
CN109241306A CN201810948961.3A CN201810948961A CN109241306A CN 109241306 A CN109241306 A CN 109241306A CN 201810948961 A CN201810948961 A CN 201810948961A CN 109241306 A CN109241306 A CN 109241306A
Authority
CN
China
Prior art keywords
defect
information
image
storage
mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810948961.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109241306B (zh
Inventor
方俊
刘光杰
郑田宇
刘伟伟
杨路辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanjing University of Science and Technology
Original Assignee
Nanjing University of Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanjing University of Science and Technology filed Critical Nanjing University of Science and Technology
Priority to CN201810948961.3A priority Critical patent/CN109241306B/zh
Publication of CN109241306A publication Critical patent/CN109241306A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109241306B publication Critical patent/CN109241306B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

本发明公开了一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法,该方法将存储内容分为图像信息、缺陷索引信息以及缺陷信息三个部分,其中缺陷信息包括缺陷外包矩形信息、缺陷类型信息、缺陷等级信息、未定义信息和缺陷像素坐标信息;图像信息、缺陷索引和缺陷信息三块数据内部均采用顺序存储方式;每个缺陷信息所在的地址和长度信息均存储在缺陷索引信息中,缺陷索引信息与缺陷信息之间则采用链式存储方式。利用本发明的存储方法,顺序存储的方式使得存储和读取数据速度快,链式存储的方式使得访问缺陷信息数据方便快速。

Description

一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法
技术领域
本发明涉及图像处理和数据存储技术,特别是一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法。
背景技术
在工业领域中,基于图像的缺陷部位检测方法需要对缺陷图像进行人工标注和存储,对标注数据的存储需要考虑存储容量和存储性能,常见的存储方式大多是顺序存储或链式存储。
利用顺序存储则需要预留多的存储空间,而且不易扩展,利用链式存储又不便于查找。人为定义的缺陷判定条件存在一定的主观性,即模糊判定边界,这就导致缺陷标注存在严判和漏判的情况,缺陷的种类也会随着产品的生产而逐渐增加,可能导致已经标注的缺陷数据不可用。缺陷位置信息的存储是图像缺陷标注数据存储的核心内容,而传统的存储缺陷区域外轮廓信息的方式,虽然可以极大的减小缺陷数据所占的存储空间,但不能应对复杂的缺陷情况,比如缺陷区域内部存在非缺陷区域、多种类型的缺陷互相接壤等情况。
发明内容
本发明的目的在于提供一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法,根据实际中对存储简洁、快速、易用、可扩展性的要求,将存储信息空间分为三个部分,分为图像信息数据、缺陷索引数据、缺陷信息数据,通过该存储方案能够快速存储和读取图像信息、图像中不同缺陷以及各个缺陷的详细信息,大大降低了查找缺陷及读取缺陷信息的时间。
实现本发明目的的技术方案为:一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法,包括以下步骤:
步骤1,记录图像信息:图像的名称、图像的长和宽、缺陷总数信息;
步骤2,根据缺陷总数预留缺陷的索引信息存储空间;
步骤3,记录一个缺陷的索引信息,包括缺陷信息存储区域的起始地址和缺陷存储区域的长度;
步骤4,记录缺陷信息,包括缺陷外包矩形信息、缺陷类型信息、缺陷等级信息、未定义信息和缺陷像素坐标信息;
步骤5,判断图像中缺陷是否全部被记录,是则结束,否则返回步骤3。
与现有技术相比,本发明的有效益果为:(1)本发明同时采用顺序存储和链式存储,使得数据读取和保存的速度较快的同时,可以快速访问特定缺陷数据;(2)缺陷信息中预留一部分未定义信息,使得缺陷信息的内容具有可扩展性;(3)缺陷框、缺陷类型和缺陷等级信息数据的设计使得用户可以按个、按缺陷类型或者按缺陷等级单独处理特定的缺陷数据;(4)采用RLE存储缺陷坐标信息,可以极大的减小缺陷数据的所占的存储空间。
附图说明
图1为图像缺陷信息存储的流程示意图。
具体实施方式
结合图1,一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法,包括以下步骤:
步骤1,记录图像信息:图像的名称、图像的长和宽、缺陷总数信息;
步骤2,根据缺陷总数预留缺陷的索引信息存储空间;
步骤3,记录一个缺陷的索引信息,包括缺陷信息存储区域的起始地址和缺陷存储区域的长度;
步骤4,记录缺陷信息,包括缺陷外包矩形(即缺陷框)信息、缺陷类型信息、缺陷等级信息、未定义信息和缺陷像素坐标信息。
步骤5,判断图像中缺陷是否全部被记录,否则返回步骤3,是则结束。
进一步的,图像信息、缺陷索引和缺陷信息三部分数据内部采用顺序存储,三部分数据之间也采用顺序存储,但每个缺陷的索引和信息数据采用链式存储的方式。
进一步的,步骤4中的缺陷外包矩形信息使得图像中的缺陷可以按照数目统计,同时只需记录缺陷像素在缺陷外包矩形中的相对坐标。
进一步的,步骤4中记录缺陷像素坐标可以采用行程长度压缩算法(Run-LengthEncoding,RLE),由于图像中缺陷框内的像素点只能是“缺陷”和“非缺陷”这两种情况,即可以采用‘0’和‘1’来存储,采用RLE来存储缺陷坐标信息可以极大的减少缺陷坐标信息数据所占用的存储空间。
进一步的,步骤4中对缺陷数据设计缺陷严重等级信息,方便记录位于缺陷判定边界的缺陷。
进一步的,步骤4中未定义信息预留一部分未定义的数据存储空间,使得缺陷信息的内容具有可扩展性。
下面对本发明技术方案进行详细说明,但是本发明的保护范围不局限于所述实施例。
实施例
本实施例按照表1的文件格式对图像缺陷标注的数据进行存储,具体流程如下:
步骤1,记录图像的名称、图像的长和宽、缺陷总数信息;
步骤2,根据缺陷总数预留缺陷的索引信息存储空间;
步骤3,记录一个缺陷的索引信息,包括缺陷信息存储区域的起始地址和缺陷存储区域的长度;
步骤4,记录该缺陷的信息,包括缺陷外包矩形信息、缺陷类型信息、缺陷等级信息、未定义信息和缺陷像素坐标信息,其中缺陷像素坐标信息采用RLE的方式存储。
步骤5,图像中缺陷是否全部被记录,否则返回步骤3,是则结束。
本实施例采用C++语言编写,经过测试对于图像中的缺陷标注信息能够快速的存储、读取和修改。
表1存储方法的格式说明

Claims (5)

1.一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,记录图像信息:图像的名称、图像的长和宽、缺陷总数信息;
步骤2,根据缺陷总数预留缺陷的索引信息存储空间;
步骤3,记录一个缺陷的索引信息,包括缺陷信息存储区域的起始地址和缺陷存储区域的长度;
步骤4,记录缺陷信息,包括缺陷外包矩形信息、缺陷类型信息、缺陷等级信息、未定义信息和缺陷像素坐标信息;
步骤5,判断图像中缺陷是否全部被记录,是则结束,否则返回步骤3。
2.根据权利要求1所述的适用于图像缺陷标注的数据存储方法,其特征在于,图像信息、缺陷索引和缺陷信息三部分数据内部采用顺序存储,三部分数据之间也采用顺序存储,但每个缺陷的索引信息和缺陷信息数据采用链式存储的方式。
3.根据权利要求1所述的适用于图像缺陷标注的数据存储方法,其特征在于,步骤4中的缺陷外包矩形信息记录缺陷像素在缺陷外包矩形中的相对坐标。
4.根据权利要求1所述的适用于图像缺陷标注的数据存储方法,其特征在于,步骤4中记录缺陷像素坐标采用行程长度压缩算法,图像中缺陷框内的像素点只能是“缺陷”和“非缺陷”这两种情况,即采用‘0’和‘1’来存储。
5.根据权利要求1所述的适用于图像缺陷标注的数据存储方法,其特征在于,步骤4中未定义信息预留未定义的数据存储空间。
CN201810948961.3A 2018-08-20 2018-08-20 一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法 Active CN109241306B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810948961.3A CN109241306B (zh) 2018-08-20 2018-08-20 一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810948961.3A CN109241306B (zh) 2018-08-20 2018-08-20 一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109241306A true CN109241306A (zh) 2019-01-18
CN109241306B CN109241306B (zh) 2023-05-26

Family

ID=65070093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810948961.3A Active CN109241306B (zh) 2018-08-20 2018-08-20 一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109241306B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111951231A (zh) * 2020-07-24 2020-11-17 上海微亿智造科技有限公司 一种金属粉末注射成型外观缺陷的标注方法及系统
CN112258044A (zh) * 2020-10-23 2021-01-22 上海印钞有限公司 图像判废分析反馈系统
CN114579776A (zh) * 2022-03-14 2022-06-03 武汉工程大学 一种光场数据存储方法、装置、电子设备及计算机介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101622675A (zh) * 2007-02-26 2010-01-06 美光科技公司 Nand缺陷管理的设备、方法、系统
CN104462280A (zh) * 2014-11-27 2015-03-25 国网上海市电力公司 用于嵌入式系统的数据信息存储及快速查询方法
CN105717477A (zh) * 2015-03-08 2016-06-29 石梦媛 电表缺陷智能化检测设备
CN106018426A (zh) * 2016-07-20 2016-10-12 武汉大学 印刷品质量在线检测系统

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101622675A (zh) * 2007-02-26 2010-01-06 美光科技公司 Nand缺陷管理的设备、方法、系统
CN104462280A (zh) * 2014-11-27 2015-03-25 国网上海市电力公司 用于嵌入式系统的数据信息存储及快速查询方法
CN105717477A (zh) * 2015-03-08 2016-06-29 石梦媛 电表缺陷智能化检测设备
CN106018426A (zh) * 2016-07-20 2016-10-12 武汉大学 印刷品质量在线检测系统

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111951231A (zh) * 2020-07-24 2020-11-17 上海微亿智造科技有限公司 一种金属粉末注射成型外观缺陷的标注方法及系统
CN112258044A (zh) * 2020-10-23 2021-01-22 上海印钞有限公司 图像判废分析反馈系统
CN114579776A (zh) * 2022-03-14 2022-06-03 武汉工程大学 一种光场数据存储方法、装置、电子设备及计算机介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN109241306B (zh) 2023-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109241306A (zh) 一种适用于图像缺陷标注的数据存储方法
CN106055654B (zh) 异构数据的整合方法以及装置
CN110210409A (zh) 表格单据中表格框线检测方法及系统
CN110046168A (zh) 一种增量数据一致性实现方法及装置
RU2349974C2 (ru) Носитель записи типа с однократной записью, устройство записи и его способ, устройство воспроизведения и его способ и компьютерная программа
CN104778778B (zh) 一种验钞方法及系统
CN111179263A (zh) 一种工业图像表面缺陷检测模型、方法、系统及装置
CN110276295A (zh) 车辆识别号码检测识别方法及设备
CN113821674B (zh) 一种基于孪生神经网络的智能货物监管方法及系统
CN112287884B (zh) 一种考试异常行为检测方法、装置及计算机可读存储介质
CN112541591A (zh) 一种泊位识别方法、平台
US20080162591A1 (en) Method of Logging Transactions and a Method of Reversing a Transaction
CN109508571A (zh) 一种条空定位方法、装置、电子设备及存储介质
CN105704405A (zh) 影像感测装置与缺陷像素检测与补偿方法
CN107609161A (zh) 一种数据写入、读取方法和系统
CN112634286A (zh) 图像的裁剪方法及装置
CN117472679A (zh) 结合数据流和控制流漂移发现的异常检测方法及系统
CN113053450B (zh) 一种应用于Flash智能分析检测的检测方法、系统、智能终端以及计算机可读存储介质
CN112184004A (zh) 一种基于K-Means的电梯维保质量分析方法
CN116206111B (zh) 一种缺陷识别方法、装置、电子设备及存储介质
CN112686341B (zh) 一种基于层数自适应卷积神经网络的图像分类方法
CN102947805A (zh) 数据管理装置以及数据管理方法
CN115272249B (zh) 一种缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
CN117557786B (zh) 物料质量检测方法、装置、计算机设备及存储介质
CN111179997B (zh) 一种半导体存储器测试数据的存储方法及装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Liu Guangjie

Inventor after: Liu Weiwei

Inventor after: Fang Jun

Inventor after: Zheng Tianyu

Inventor after: Yang Luhui

Inventor before: Fang Jun

Inventor before: Liu Guangjie

Inventor before: Zheng Tianyu

Inventor before: Liu Weiwei

Inventor before: Yang Luhui

CB03 Change of inventor or designer information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant