CN109148332B - 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台 - Google Patents

一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台 Download PDF

Info

Publication number
CN109148332B
CN109148332B CN201810792201.8A CN201810792201A CN109148332B CN 109148332 B CN109148332 B CN 109148332B CN 201810792201 A CN201810792201 A CN 201810792201A CN 109148332 B CN109148332 B CN 109148332B
Authority
CN
China
Prior art keywords
photovoltaic module
mounting holes
rubber column
heat dissipation
supporting plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810792201.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109148332A (zh
Inventor
吴恒艳
徐根保
顾承越
王浩
李涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Triumph Photovoltaic Material Co ltd
Original Assignee
Triumph Photovoltaic Material Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Triumph Photovoltaic Material Co ltd filed Critical Triumph Photovoltaic Material Co ltd
Priority to CN201810792201.8A priority Critical patent/CN109148332B/zh
Publication of CN109148332A publication Critical patent/CN109148332A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109148332B publication Critical patent/CN109148332B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67253—Process monitoring, e.g. flow or thickness monitoring
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67276—Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台，包括托架，托架顶部水平设有散热托板，散热托板的板面设有一组装配孔；散热托板的上方设有松木板，松木板与散热托板之间留有间隙；松木板板面设有一组安装孔，安装孔与装配孔一一对应，安装孔的孔径大于装配孔的孔径；每个安装孔内均设有竖直的橡胶柱垫，橡胶柱垫能够沿安装孔自由移动，橡胶柱垫与散热托板之间设有复位弹簧，橡胶柱垫顶部设有能够与光伏组件形成配合的温度探头，温度探头的导线依次穿过橡胶柱垫与装配孔连接温度采集器，温度采集器连接有显示屏；在进行直流反向电流过载测试时，温度探头能够实时监测光伏组件不同位置的温度，并通过显示屏直观地进行显示，提高工作效率与测试的可靠性。

Description

一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台
技术领域
本发明涉及光伏发电技术领域，具体是一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台。
背景技术
光伏组件因需要长期在户外使用，所以就会经常经受各种恶劣天气的考验，这就使得组件的可靠性能和安全性能特别高。光伏组件的生产过程中会经过各种类型的性能测试实验，一是为了检验产品的性能，二是发现质量问题后为工艺研发提供数据支持。
目前，光伏组件实验室会定期对组件进行反向电流过载测试。通常是将待测光伏组件放在测试台上，用白薄纸和棉线布对组件进行包裹后，对组件通入135%的过流保护时的电流，持续通电2小时，观察白薄纸和棉线布有无变黄或者燃烧现象，若没有则表示光伏组件测试合格。
但目前很多光伏组件实验室进行的反向电流过载测试存在以下缺陷：一、没有监视其组件局部温度变化曲线的功能，光伏组件行业大部分实验室只能根据IEC61215标准规定的判断标准来进行判断，不能对组件温度进行量化监控；二、在光伏组件上粘贴温度探头费时费力。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台，该测试平台能够方便地对光伏组件进行反向电流过载测试，且能够监测光伏组件不同位置的温度变化，提高测试的效率及可靠性。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台，包括托架，托架顶部水平设有散热托板，散热托板的板面设有一组装配孔；散热托板的上方设有松木板，松木板与散热托板之间留有间隙；松木板板面设有一组安装孔，安装孔与装配孔一一对应，安装孔的孔径大于装配孔的孔径；每个安装孔内均设有竖直的橡胶柱垫，橡胶柱垫能够沿安装孔自由移动，橡胶柱垫与散热托板之间设有复位弹簧，橡胶柱垫顶部设有能够与光伏组件形成配合的温度探头，温度探头的导线依次穿过橡胶柱垫与装配孔连接温度采集器，温度采集器连接有显示屏。
进一步的，所述安装孔与装配孔呈阵列式分布。
进一步的，所述安装孔为阶梯孔，所述橡胶柱垫顶部设有止挡环，止挡环能够与阶梯孔的台阶形成止挡配合。
进一步的，所述橡胶柱垫为空心柱体，复位弹簧的一端设于橡胶柱垫内腔、另一端与散热托板形成配合。
本发明的有益效果是，利用松木板对温度探头进行安装，待测的光伏组件水平放置于测试平台上，光伏组件压缩复位弹簧，使温度探头与光伏组件良好接触，在进行直流反向电流过载测试时，温度探头能够实时监测光伏组件不同位置的温度，并通过显示屏直观地进行显示，通过量化的温度数据来观察和判断光伏组件是否合格，提高工作效率与测试的可靠性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：
图1是本发明的结构示意图；
图2是本发明温度探头的装配放大示意图。
具体实施方式
如图1所示，本发明提供一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台，包括托架1，托架1顶部水平设有散热托板2，散热托板2的板面设有一组装配孔3；散热托板2的顶面设有松木板4，松木板4板面设有一组安装孔5，安装孔5与装配孔3一一对应，安装孔5的孔径大于装配孔3的孔径；作为优选的，所安装孔与装配孔呈阵列式分布。
结合图2所示，每个安装孔5内均设有竖直的橡胶柱垫6，橡胶柱垫6能够与安装孔5滑动配合，橡胶柱垫6底部与散热托板2之间设有复位弹簧7，橡胶柱垫6顶部设有能够与光伏组件形成配合的温度探头8，温度探头8可采用顶部外形是圆形的探头，也可采用顶部是平面的探头，根据光伏组件测试需求不同灵活选择；作为优选的，安装孔5为阶梯孔，橡胶柱垫6顶部设有与橡胶柱垫一体的止挡环6a，止挡环6a能够与阶梯孔的台阶形成止挡配合；橡胶柱垫6为空心柱体，复位弹簧7的一端设于橡胶柱垫6内腔、另一端与散热托板2形成配合。
温度探头8的导线8a依次穿过橡胶柱垫6与装配孔3连接温度采集器9，温度采集器9连接有显示屏10。
使用时，在松木板上平铺白薄纸，并将温度探头8露出，待测光伏组件正面朝下放置于松木板4上，光伏组件压缩复位弹簧7，使温度探头8与光伏组件良好接触，使用棉线布对光伏组件进行包裹后，将直流电源反向连接到光伏组件上，通电2小时进行反向电流过载测试，观察白薄纸和棉线布有无变黄或者燃烧现象，同时通过显示屏10可以直观地查看光伏组件不同位置的温度，通过量化的温度数据来观察和判断光伏组件是否合格，提高工作效率与测试的可靠性。
橡胶柱垫6、复位弹簧7或温度探头8损坏时，都可以方便地进行更换。根据不同光伏组件的测试要求，还可以增加或减少温度探头的数量，改变温度探头的位置，适应性强，减少资源浪费。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (4)

1.一种用于测试光伏组件反向电流过载测试方法，其特征在于，包括托架，托架顶部水平设有散热托板，散热托板的板面设有一组装配孔；散热托板的上方设有松木板，松木板与散热托板之间留有间隙；松木板板面设有一组安装孔，安装孔与装配孔一一对应，安装孔的孔径大于装配孔的孔径；每个安装孔内均设有竖直的橡胶柱垫，橡胶柱垫能够沿安装孔自由移动，橡胶柱垫与散热托板之间设有复位弹簧，橡胶柱垫顶部设有能够与光伏组件形成配合的温度探头，温度探头的导线依次穿过橡胶柱垫与装配孔连接温度采集器，温度采集器连接有显示屏；
所述反向电流过载测试方法包括以下步骤：
在松木板上平铺白薄纸，并将温度探头（8）露出，待测光伏组件正面朝下放置于松木板（4）上，光伏组件压缩复位弹簧（7），使温度探头（8）与光伏组件良好接触，使用棉线布对光伏组件进行包裹后，将直流电源反向连接到光伏组件上，通电2小时进行反向电流过载测试，观察白薄纸和棉线布有无变黄或者燃烧现象，同时通过显示屏（10）可以直观地查看光伏组件不同位置的温度，通过量化的温度数据来观察和判断光伏组件是否合格，提高工作效率与测试的可靠性。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试光伏组件反向电流过载测试方法，其特征在于，所述安装孔与装配孔呈阵列式分布。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试光伏组件反向电流过载测试方法，其特征在于，所述安装孔为阶梯孔，所述橡胶柱垫顶部设有止挡环，止挡环能够与阶梯孔的台阶形成止挡配合。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试光伏组件反向电流过载测试方法，其特征在于，所述橡胶柱垫为空心柱体，复位弹簧的一端设于橡胶柱垫内腔、另一端与散热托板形成配合。
CN201810792201.8A 2018-07-18 2018-07-18 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台 Active CN109148332B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810792201.8A CN109148332B (zh) 2018-07-18 2018-07-18 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810792201.8A CN109148332B (zh) 2018-07-18 2018-07-18 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109148332A CN109148332A (zh) 2019-01-04
CN109148332B true CN109148332B (zh) 2024-03-01

Family

ID=64800792

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810792201.8A Active CN109148332B (zh) 2018-07-18 2018-07-18 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109148332B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09204939A (ja) * 1996-01-26 1997-08-05 Asuka Denshi Kk 導電接触ピン
CN101980378A (zh) * 2010-09-08 2011-02-23 常州亿晶光电科技有限公司 太阳能组件装框机的超温报警装置
CN201964964U (zh) * 2010-12-24 2011-09-07 河北汉盛光电科技有限公司 一种可控便携式温度传感器支架
CN103336234A (zh) * 2013-06-08 2013-10-02 中山大学 一种适用于背接触晶体硅太阳电池的测试平台
CN203310896U (zh) * 2013-05-03 2013-11-27 阿特斯(中国)投资有限公司 一种太阳能电池片的反向漏电流检测装置
CN203588411U (zh) * 2013-11-08 2014-05-07 英利能源（中国）有限公司 用于光伏组件实验的保护装置
CN104579168A (zh) * 2014-12-30 2015-04-29 中国电器科学研究院有限公司 一种光伏组件户外暴露试验方法
KR101549428B1 (ko) * 2014-05-13 2015-09-02 한국에너지기술연구원 태양전지모듈 모니터링 장치 및 그 방법
CN108233868A (zh) * 2017-12-23 2018-06-29 四川大学 一种可变温度且可调角度的光伏器件电流电压测试平台
CN208489174U (zh) * 2018-07-18 2019-02-12 凯盛光伏材料有限公司 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8519729B2 (en) * 2010-02-10 2013-08-27 Sunpower Corporation Chucks for supporting solar cell in hot spot testing

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09204939A (ja) * 1996-01-26 1997-08-05 Asuka Denshi Kk 導電接触ピン
CN101980378A (zh) * 2010-09-08 2011-02-23 常州亿晶光电科技有限公司 太阳能组件装框机的超温报警装置
CN201964964U (zh) * 2010-12-24 2011-09-07 河北汉盛光电科技有限公司 一种可控便携式温度传感器支架
CN203310896U (zh) * 2013-05-03 2013-11-27 阿特斯(中国)投资有限公司 一种太阳能电池片的反向漏电流检测装置
CN103336234A (zh) * 2013-06-08 2013-10-02 中山大学 一种适用于背接触晶体硅太阳电池的测试平台
CN203588411U (zh) * 2013-11-08 2014-05-07 英利能源（中国）有限公司 用于光伏组件实验的保护装置
KR101549428B1 (ko) * 2014-05-13 2015-09-02 한국에너지기술연구원 태양전지모듈 모니터링 장치 및 그 방법
CN104579168A (zh) * 2014-12-30 2015-04-29 中国电器科学研究院有限公司 一种光伏组件户外暴露试验方法
CN108233868A (zh) * 2017-12-23 2018-06-29 四川大学 一种可变温度且可调角度的光伏器件电流电压测试平台
CN208489174U (zh) * 2018-07-18 2019-02-12 凯盛光伏材料有限公司 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台

Also Published As

Publication number Publication date
CN109148332A (zh) 2019-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201886108U (zh) 一种开关插座测试治具
CN102288639B (zh) 应用功率半导体led热阻快速批量筛选装置进行筛选的方法
CN104052399A (zh) 一种光伏旁通二极管可靠性评估装置与方法
CN103712776B (zh) 激光器寿命试验用固定夹具
CN109148332B (zh) 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台
CN202159116U (zh) 功率半导体led热阻快速批量筛选装置
CN106124904B (zh) 一种电连接器电性检测系统
CN208638330U (zh) 一种光伏组件iv测试工装
CN201160086Y (zh) 一种电池贴标测试夹具
CN207623501U (zh) 一种用于电能质量监测的终端批量测试系统
CN208489174U (zh) 一种用于测试光伏组件反向电流过载测试台
CN207516526U (zh) 一种led灯具老化检测工作台
CN205984234U (zh) 尿流率仪的显示屏的检测装置
CN204556782U (zh) 一种在装片工序在线测试热阻的装置
CN221125892U (zh) 一种用于测试无框组件绝缘性能的装置
CN110749807A (zh) 一种500kV氧化锌避雷器高空测试装置
CN215067244U (zh) 一种互感器耐压测试仪
CN205941647U (zh) 多功能检测设备
CN216696394U (zh) 一种pds天线阻值测试治具
CN103995190A (zh) 架空导线载流量试验方法
CN219715512U (zh) 一种间歇寿命老化测试系统
CN203101576U (zh) 一种单面铝基pcb耐高压测试装置
CN201867202U (zh) 传感器老化测试装置
CN204007897U (zh) 一种散热模组自动测温装置
CN219016961U (zh) 一种烧录和测试的综合治具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant