CN109118273A - 电子设备的回收处理方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子设备的回收处理方法及系统，所述电子设备的回收处理方法包括：检测待回收设备是否可启动；若所述待回收设备可启动，则删除所述待回收设备存储的用户数据，并检测所述待回收设备是否具有再流通价值；若所述待回收设备具有再流通价值，则对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁，否则对所述数据存储区域进行物理销毁。本发明提供的电子设备的回收处理方法及系统，确保了所述待回收设备的用户信息无泄露，并能够让所述待回收设备得到最大程度的再利用和环保处理。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种电子设备的回收处理方法及系统。
背景技术
随着经济和科技的飞速发展，各种电子设备层出不穷，电子设备更新换代的速度极快。随意丢弃电子设备会对人们的健康和生活环境带来巨大危害，对于电子设备的回收应该由专门的回收机构和回收人员来进行，并采取必要的安全防护措施来处置。
我国的手机持有量居世界之首，但手机的回收利用率却远不及世界平均水平。通过回收渠道回收的手机不足百分之五，很多手机被用户闲置在家。用户不愿将手机进行回收的一个重要原因就是认为手机的信息安全无法保证，担心手机隐私泄露带来财务风险和各种损失。传统的手机回收处理方式因为缺乏对手机进行隐私保护，可能造成用户信息被盗取，给用户带来极大的损失。
发明内容
本发明所要解决的是现有的电子设备回收处理方式缺乏对电子设备进行隐私保护的问题。
本发明通过下述技术方案实现：
一种电子设备的回收处理方法，包括：
检测待回收设备是否可启动；若所述待回收设备可启动，则删除所述待回收设备存储的用户数据，并检测所述待回收设备是否具有再流通价值；若所述待回收设备具有再流通价值，则对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁，否则对所述数据存储区域进行物理销毁。
可选的，在所述检测待回收设备是否可启动之后，还包括：若所述待回收设备不可启动，则对所述数据存储区域进行物理销毁。
可选的，所述删除所述待回收设备存储的用户数据包括：控制所述待回收设备恢复出厂设置。
可选的，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。
可选的，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。
可选的，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区；扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据区进行加密；删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据。
可选的，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。
可选的，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。
可选的，所述检测所述待回收设备是否具有再流通价值包括：
对所述待回收设备进行如下一项或者多项检测：对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；
根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
可选的，所述根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值包括：
根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像，获得所述待回收设备的N个状态参数，所述N个状态参数与所述待回收设备的价格相关，其中，N为不小于2的整数；
根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价；
若所述回收报价高于预设报价，则确定所述待回收设备具有再流通价值，否则确定所述待回收设备不具有再流通价值。
可选的，所述根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数包括：
根据所述身份标识，获得所述待回收设备的保修状态参数和/或账号解除状态参数；根据所述零部件编号，获得所述待回收设备的零部件更换状态参数；根据所述功能检测结果，获得所述待回收设备的使用功能状态参数；根据所述外观图像，获得所述待回收设备的外观成色参数。
可选的，所述根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价包括：
将所述N个状态参数发送至回收平台；
接收所述回收平台根据所述N个状态参数获取的与所述待回收设备对应的M个报价，其中，M为不小于2的整数；
根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价。
可选的，所述根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价包括：
将所述M个报价的平均值确定为所述回收报价。
基于同样的发明构思，本发明还提供一种电子设备的回收处理系统，包括：
第一检测模块，用于检测待回收设备是否可启动；删除模块，用于在所述待回收设备可启动时，删除所述待回收设备存储的用户数据；第二检测模块，用于检测所述待回收设备是否具有再流通价值；逻辑销毁模块，用于在所述待回收设备具有再流通价值时，对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁；物理销毁模块，用于在所述待回收设备不具有再流通价值时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
可选的，所述物理销毁模块还用于在所述待回收设备不可启动时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
可选的，所述删除模块用于控制所述待回收设备恢复出厂设置。
可选的，所述逻辑销毁模块用于随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。
可选的，所述逻辑销毁模块用于采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。
可选的，所述逻辑销毁模块包括：转移单元，用于将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区；加密单元，用于扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据进行加密；清除单元，用于删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据。
可选的，所述物理销毁模块用于对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。
可选的，所述物理销毁模块用于对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。
可选的，所述第二检测模块包括评估单元以及基本信息检测单元、功能通检测单元、外观检测单元中的一个或者多个检测单元；
所述基本信息检测单元用于对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；
所述功能通检测单元用于对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；
所述外观检测单元用于对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；
所述评估单元用于根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
可选的，所述评估单元包括：
状态参数获得单元，用于根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数，所述N个状态参数与所述待回收设备的价格相关，其中，N为不小于2的整数；
价格估分单元，用于根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价；
流通价值确定单元，用于在所述回收报价高于预设报价时，确定所述待回收设备具有再流通价值，否则确定所述待回收设备不具有再流通价值。
可选的，所述状态参数获得单元包括：
第一参数获得单元，用于根据所述身份标识，获得所述待回收设备的保修状态参数和/或账号解除状态参数；
第二参数获得单元，用于根据所述零部件编号，获得所述待回收设备的零部件更换状态参数；
第三参数获得单元，用于根据所述功能检测结果，获得所述待回收设备的使用功能状态参数；
第四参数获得单元，用于根据所述外观图像，获得所述待回收设备的外观成色参数。
可选的，所述价格估分单元包括：
发送单元，用于将所述N个状态参数发送至回收平台；
接收单元，用于接收所述回收平台根据所述N个状态参数获取的与所述待回收设备对应的M个报价，其中，M为不小于2的整数；
回收报价确定单元，用于根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价。
可选的，所述回收报价确定单元用于将所述M个报价的平均值确定为所述回收报价。
本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
本发明提供的电子设备的回收处理方法及系统，通过删除可启动的待回收设备存储的用户数据，使所述用户数据无法通过所述待回收设备本身被直接查看，避免所述用户数据被轻易泄露；通过对所述待回收设备的数据存储区域进行销毁，避免所述数据存储区域存储的数据被调取甚至拼装还原。因此，本发明提供的电子设备的回收处理方法及系统，通过对所述待回收设备进行两轮信息粉碎处理，确保了所述待回收设备的用户信息无泄露。并且，本发明提供的电子设备的回收处理方法及系统，在对所述待回收设备进行第二轮信息粉碎处理时，即对所述待回收设备的数据存储区域进行销毁时，是根据所述待回收设备是否具有再流通价值，对所述待回收设备采用不同的销毁方式，能够让所述待回收设备得到最大程度的再利用和环保处理。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：
图1是本发明实施例的电子设备的回收处理方法的流程示意图；
图2是本实施例的检测待回收设备是否具有再流通价值的流程示意图；
图3是本实施例的根据身份标识、零部件编号、功能检测结果以及外观图像中的一项或者多项评估待回收设备是否具有再流通价值的流程示意图；
图4是本发明实施例的电子设备的回收处理系统的结构示意图。
具体实施方式
本发明提供一种电子设备的回收处理方法及系统，通过对可启动的待回收设备进行两轮信息粉碎处理，保证所述待回收设备的用户信息无泄露，并在对所述待回收设备进行第二轮信息粉碎处理时，根据所述待回收设备是否具有再流通价值，对所述待回收设备采用不同的销毁方式，让所述待回收设备得到最大程度的再利用和环保处理。本发明提供的电子设备的回收处理方法及系统，应用于电子设备回收时的场景。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
实施例1
本实施例提供一种电子设备的回收处理方法，图1是所述电子设备的回收处理方法的流程示意图，所述电子设备的回收处理方法包括：
步骤S11，检测待回收设备是否可启动；
步骤S12，若所述待回收设备可启动，则删除所述待回收设备存储的用户数据，并检测所述待回收设备是否具有再流通价值；
步骤S13，若所述待回收设备具有再流通价值，则对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁，否则对所述数据存储区域进行物理销毁。
具体地，所述待回收设备为被用户淘汰而即将被回收的电子设备，例如可以是智能手机、平板电脑、笔记本电脑等。在确定对某个电子设备进行回收后，该电子设备即为所述待回收设备。在保证对所述待回收设备供电充足的情况下，通过对所述待回收设备进行开机操作，可检测所述待回收设备是否可启动。即：若所述待回收设备可开机，则确定所述待回收设备可启动；若所述待回收设备不可开机，则确定所述待回收设备不可启动。为避免所述待回收设备启动后，其存储的用户数据被直接查看，需要删除所述用户数据，所述用户数据包括但不限于图片数据、文档数据、音频数据、视频数据、通讯录数据、短信数据、通讯记录数据、应用程序及其储存的账号数据中的任意一种或多种组合。所述用户数据可通过所述待回收设备本身的删除功能进行逐项删除，也可通过控制所述待回收设备恢复出厂设置，一次性清空所有用户数据。
删除所述用户数据后，所述待回收设备中的用户信息已经无法通过所述待回收设备本身被直接查看和获取。但是，所述用户数据通过逐项删除或者恢复出厂设置的方式删除时，实际上都只删除了文件系统中所述用户数据对应的摘要信息，使得所述用户数据不被显示，所述用户数据的实质内容仍然保存在存储所述用户数据的数据存储区域中，所述数据存储区域中的数据通过专业的数据恢复工具和数据恢复手段，仍可以被调取甚至拼装还原。因此，本实施例提供的电子设备的回收处理方法，会对所述待回收设备进行第二轮信息粉碎处理，即对存储所述用户数据的数据存储区域进行销毁。在本实施例中，在对所述数据存储区域进行销毁前，先检测所述待回收设备是否具有再流通价值，根据所述待回收设备是否具有再流通价值对所述数据存储区域采用不同的销毁方式。
现有技术中，评估一个电子设备是否具有再流通价值，通常依赖于评估人员对电子设备的再流通价值进行主观评估。由于工作经验不同，对于不同的评估人员，其对同一个电子设备会给出不同的评估结果，因而这种依赖于人工对电子设备的再流通价值进行评估是不准确的。并且，对电子设备的再流通价值进行评估时，评估人员需要逐项对影响电子设备的再流通价值的因素进行检查，评估效率较低。因此，本实施例提供一种检测所述待回收设备是否具有再流通价值的具体方法，通过对影响所述待回收设备的再流通价值的因素进行客观检测，提高评估所述待回收设备的再流通价值的准确性和评估效率。
图2是本实施例的检测所述待回收设备是否具有再流通价值的流程示意图，所述检测所述待回收设备是否具有再流通价值包括：
步骤S21，对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；
步骤S22，对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；
步骤S23，对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；
步骤S24，根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
所述待回收设备的身份标识是能够证明所述待回收设备身份的凭证，以所述待回收设备为智能手机为例，所述待回收设备的身份标识可以为智能手机的序列号。所述待回收设备的零部件编号用于评估所述待回收设备的零部件配置是否为原始配置，以所述待回收设备为智能手机为例，所述待回收设备的零部件编号包括但不限于显示屏编号、摄像头编号以及主板编号中的任意一种或多种组合。根据零部件的不同类型，所述零部件编号的编号规则也不相同。但通常来讲，从所述零部件编号可以获知该零部件的生产厂商以及性能等信息。
根据所述待回收设备的不同类型，对所述待回收设备的基本信息进行检测的方法也不相同。以所述待回收设备为Android系统的智能手机为例，对所述待回收设备的基本信息进行检测包括：通过公开的adb命令获得所述零部件编号和所述身份标识；以所述待回收设备为IOS系统的智能手机为例，对所述待回收设备的基本信息进行检测包括：通过iTunes动态库导出的接口获得所述零部件编号和所述身份标识。因此，本实施例对如何对所述待回收设备的基本信息进行检测不作限定。
所述待回收设备的功能检测结果用于评估所述待回收设备的各项使用功能是否完好，以所述待回收设备为智能手机为例，所述待回收设备的使用功能包括但不限于拍摄功能、WIFI功能、蓝牙功能、GPS功能、麦克风功能、充电接口功能、指纹功能以及传感器功能中的任意一种或多种组合。根据所述待回收设备的不同类型，对所述待回收设备的各项使用功能进行检测的方法也不相同。下面以所述待回收设备为智能手机为例，具体描述几种典型使用功能的具体检测方法。
对所述待回收设备的传感器功能进行检测包括：对传感器的输出端进行监听；若从所述传感器的输出端监听到输出数据，并且根据预设算法可以确定所述输出数据是有效的，则确定所述传感器功能良好，否则确定所述传感器功能已损坏。
若所述待回收设备为Android5.0以下系统的智能手机，对所述待回收设备的拍摄功能进行检测包括：开启拍摄装置X次，X为正整数；若每次所述拍摄装置无法获取到视频帧或者获取到的视频帧的亮度不满足预设亮度阈值，则确定所述拍摄功能已损坏，否则确定所述拍摄功能良好。
若所述待回收设备为Android5.0及以上系统或者IOS系统的智能手机，对所述待回收设备的拍摄功能进行检测包括：开启拍摄装置；若所述拍摄装置能够获取到人脸数据且所述人脸数据正常，则确定所述拍摄功能良好，否则确定所述拍摄功能已损坏。
对所述待回收设备的充电接口功能进行检测包括：监测所述待回收设备在充电时的充电状态；若所述充电状态正常，则确定所述充电接口功能良好，否则确定所述充电接口功能已损坏。
对所述待回收设备的WIFI功能进行检测包括：监测所述待回收设备在WIFI开启时的网络连接状态；若所述网络连接状态正常，则确定所述WIFI功能良好，否则确定所述WIFI功能已损坏。
对所述待回收设备的麦克风功能进行检测包括：对麦克风进行监听；若所述麦克风获取到音频帧，并且根据预设算法可以确定所述音频帧是有效的，则确定所述麦克风功能良好，否则确定所述麦克风功能已损坏。
以上只是以所述待回收设备为智能手机为例，具体描述的几种典型使用功能的具体检测方法，并不构成对本实施例的限定。所述待回收设备的使用功能良多，在此不再一一列举。
所述待回收设备的外观图像用于评估所述待回收设备的外观是否完好，可以采用带有图像采集装置的智能手机或者平板电脑等设备采集所述待回收设备的外观。
需要说明的是，步骤S21～步骤S23并不需要都执行，可根据实际需求执行步骤S21～步骤S23中的一个步骤或者多个步骤。并且，本实施例并不限定步骤S21、步骤S22以及步骤S23的执行顺序，该三个步骤可以按照任意顺序先后进行，也可以同时进行。进一步，步骤S21可以通过编写在检测设备中的应用程序来实现，所述检测设备可以为安装有操作系统的电子设备，例如可以为个人计算机、平板电脑以及智能手机等；步骤S22可以通过编写在所述待回收设备中的应用程序来实现。并且，所述检测设备和所述待回收设备可以安装同一应用程序的不同部分，实现不同信息的检测。
获得所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像后中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。本实施例提供一种步骤S24的具体实现方法，请参考图3，包括步骤S31至步骤S33。
步骤S31，根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数，所述N个状态参数与所述待回收设备的价格相关，其中，N为不小于2的整数。根据所述待回收设备的不同类型，获得与所述待回收设备的价格相关的N个状态参数的方法也不一样。以所述待回收设备为智能手机为例，所述根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数包括：
根据所述身份标识，获得所述待回收设备的保修状态参数和/或账号解除状态参数。具体地，可将所述身份标识发送至所述待回收设备的官网，在所述待回收设备的官网中查询所述待回收设备的保修状态和/或账号解除状态，以从所述待回收设备的官网获得保修状态参数和/或账号解除状态参数。所述保修状态参数例如可以为：在保修期内、不在保修期内等；所述账号解除状态参数例如可以为：账号已解除、账号未解除等。
根据所述待回收设备的零部件编号，获得所述待回收设备的零部件更换状态参数。具体地，在所述待回收设备对应的零部件数据库中依次查找所述待回收设备的零部件编号，其中，所述零部件数据库为预先建立的用于存储所述待回收设备的原始零部件编号的数据库，所述原始零部件编号为所述待回收设备出厂时的零部件编号，每个数据库中对应存储一种待回收设备的原始零部件编号；若在所述待回收设备对应的数据库中查找到所述待回收设备的所有零部件编号，则表示所述待回收设备未更换过该零部件，否则表示所述待回收设备已更换过该零部件。所述零部件更换状态参数例如可以为：已更换过零部件、未更换过零部件等。
根据所述待回收设备的功能检测结果，获得所述待回收设备的使用功能状态参数。具体地，根据所述待回收设备的功能检测结果，可直接获得所述使用功能状态参数，所述使用功能状态参数例如可以为：传感器功能良好、传感器功能已损坏、拍摄功能良好、拍摄功能已损坏等。
根据所述待回收设备的外观图像，获得所述待回收设备的外观成色参数。具体地，采用图像识别算法对所述待回收设备的外观图像进行识别，例如可以采用深度学习的方式，判断所述待回收设备是否存在磕碰、屏碎、变形、残裂等问题。所述外观成色参数例如可以为：外观完好、屏幕已损坏、边框已损坏等。
步骤S32，根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价。作为一具体实现方式，所述根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价包括：
将所述N个状态参数发送至回收平台。在获取到所述N个状态参数之后，将所述N个状态参数发送给所述回收平台，所述回收平台中存在M个回收商回收所述待回收设备，以使得所述回收平台收到所述N个状态参数之后，将所述N个状态参数发送给所述M个回收商中的每一个回收商。
接收所述回收平台根据所述N个状态参数获取的与所述待回收设备对应的M个报价，其中，M为不小于2的整数。在所述回收平台收到所述N个状态参数之后，将所述N个状态参数发送给所述M个回收商中的每一个回收商，而每一个回收商根据所述N个状态参数均会对所述待回收设备进行报价，从而使得所述回收平台收集到所述M个报价，所述回收平台然后将所述M个报价进行反馈，使得所述服务器能够接收到所述M个报价。
根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分以确定所述待回收设备的回收报价。在获取到所述M个报价之后，可以取所述M个报价的平均值作为所述待回收设备的回收报价，当然还可以从所述M个报价中取一个中位值作为所述待回收设备的回收估价，在取中位值作为所述待回收设备的回收估价时，所述M的值不小于3。
例如，以所述待回收设备为智能手机为例，在获取到所述智能手机的N个状态参数之后，将所述N个状态参数发送给回收平台，而回收平台中有M个回收商回收所述智能手机，所述M个回收商为c1回收商和c2回收商，而这时回收平台将所述N个状态参数发送给所述M个回收商中的每一个回收商，而每一个收回商根据所述N个状态参数均会对所述智能手机进行报价。例如，c1回收商对所述智能手机的报价为1000，c2回收商对所述智能手机的报价为800，如此使得回收平台收到M个报价为1000和800，然后将其反馈给所述服务器，从而使得所述服务器接收到所述M个报价为1000和800。取所述M个报价的平均值作为所述智能手机的回收报价，即为(1000+800)/2＝900，即所述智能手机的回收报价为900；当然，在回收平台B中还有一个c3回收商对所述智能手机的报价为850，取所述M个报价中的中位值作为所述智能手机的回收报价，由于1000<850<800，则可以确定所述智能手机的回收报价为850。
步骤S33，若所述回收报价高于预设报价，则确定所述待回收设备具有再流通价值，否则确定所述待回收设备不具有再流通价值。所述回收报价越低，表明所述待回收设备的各个状态参数不佳，所述待回收设备无法再进行流通，只能进行零部件拆解回收；所述回收报价越高，表明所述待回收设备的各个状态参数良好，所述待回收设备还可以再流通，进行二次销售。因此，通过对所述回收报价与所述预设报价进行比较，可以确定所述待回收设备是否具有再流通价值。所述预设报价可根据所述待回收设备的不同类型以及具体型号进行设置，本实施例对此不作限定。
若所述待回收设备具有再流通价值，则对所述数据存储区域进行逻辑销毁。对所述数据存储区域进行逻辑销毁，是指在不拆解且不破坏所述待回收设备的前提下，彻底清除所述数据存储区域存储的数据。
作为一具体实施例，所述对所述数据存储区域进行逻辑销毁包括：随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。具体地，进入所述待回收设备的测试模式，经过所述待回收设备的授权，取得所述待回收设备的最高权限，然后读取所述数据存储区域的底层结构，每扇区字节位置取0到512随机数，替换到该随机数位置上，达到无法恢复或还原所述待回收设备的用户信息的目的。
作为另一具体实施例，所述对所述数据存储区域进行逻辑销毁包括：采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。具体地，进入所述待回收设备的测试模式，经过所述待回收设备的授权，取得所述待回收设备的最高权限，将“#”、“—”等特殊字符写入所述数据存储区域，达到无法恢复或还原所述待回收设备的用户信息的目的。
上述两种逻辑销毁方式较为复杂，且只适用于有测试模式的电子设备。因此，本实施例还提供另一种对所述数据存储区域进行逻辑销毁的方法：将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区，所述待加密数据区用于放置转移过来的需要加密的数据；扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据区进行加密；删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据，所述底层数据用于生成所述秘钥。具体地，在所述待回收设备安装加密应用程序；通过所述加密应用程序获取所述待回收设备的最高权限；将所述数据存储区域存储的数据转移至所述加密应用程序的待加密数据区；通过所述加密应用程序获取所述待回收设备的剩余空间大小，改变所述加密应用程序文件记录的结束位置，即扩大所述待加密数据区；通过加密算法(例如，RES加密算法)对扩大后的待加密数据区进行加密，以改变所述数据存储区域存储的数据结构；加密结束后，找到所述加密应用程序文件记录的底层位置，将该文件位置记录清零，即清除所述秘钥对应的底层数据。此种逻辑销毁方式虽然耗时较长，但适用于大多数电子设备。
若所述待回收设备不具有再流通价值，则对所述数据存储区域进行物理销毁。对所述数据存储区域进行物理销毁，是指通过拆解或者破坏所述待回收设备，彻底清除所述数据存储区域存储的数据。
作为一具体实施例，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。具体地，拆解所述待回收设备，找到所述数据存储区域所在的物理存储芯片；采用外接供电设备，加所述第一电压击穿所述物理存储芯片，保证所述物理存储芯片损坏，以清除原有存储电位，无法恢复或还原所述数据存储区域存储的数据。所述第一电压可根据实际需求进行设置，只要保证能够击穿所述物理存储芯片即可。
上述物理销毁方式会损坏所述物理存储芯片，所述物理存储芯片无法再次利用。因此，本实施例还提供另一种对所述数据存储区域进行物理销毁的方法：对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。具体地，拆解所述待回收设备，找到所述待回收设备的物理存储芯片；采用外接供电设备，加所述第二电压改变所述物理存储芯片原有物理电位，无法恢复或还原所述数据存储区域存储的数据。所述第二电压可根据实际需求进行设置，由于所述物理存储芯片设置在所述待回收设备主板上，因而只要保证所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压即可。
进一步，本实施例提供的电子设备的回收处理方法还包括：若所述待回收设备不可启动，则对所述数据存储区域进行物理销毁。
本实施例提供的电子设备的回收处理方法，通过对可启动的待回收设备进行两轮信息粉碎处理，确保了所述待回收设备的用户信息无泄露。并且，在对所述待回收设备进行第二轮信息粉碎处理时，即对所述待回收设备的数据存储区域进行销毁时，是根据所述待回收设备是否具有再流通价值，对所述待回收设备采用不同的销毁方式，能够让所述待回收设备得到最大程度的再利用和环保处理。
实施例2
本实施例提供一种电子设备的回收处理系统，图4是所述电子设备的回收处理系统的结构示意图，所述电子设备的回收处理系统包括第一检测模块41、删除模块42、第二检测模块43、逻辑销毁模块44以及物理销毁模块45。
具体地，所述第一检测模块41用于检测待回收设备是否可启动；所述删除模块42用于在所述待回收设备可启动时，删除所述待回收设备存储的用户数据；所述第二检测模块43用于检测所述待回收设备是否具有再流通价值；所述逻辑销毁模块44用于在所述待回收设备具有再流通价值时，对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁；所述物理销毁模块45用于在所述待回收设备不具有再流通价值时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
进一步，所述物理销毁模块45还用于在所述待回收设备不可启动时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
进一步，所述删除模块42用于控制所述待回收设备恢复出厂设置。
进一步，所述逻辑销毁模块44用于随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。
进一步，所述逻辑销毁模块44用于采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。
进一步，所述逻辑销毁模块44包括：转移单元，用于将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区；加密单元，用于扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据进行加密；清除单元，用于删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据。
进一步，所述物理销毁模块45用于对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。
进一步，所述物理销毁模块45用于对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。
进一步，所述第二检测模块43包括评估单元以及基本信息检测单元、功能通检测单元、外观检测单元中的一个或者多个检测单元；所述基本信息检测单元用于对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；所述功能通检测单元用于对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；所述外观检测单元用于对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；所述评估单元用于根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
进一步，所述评估单元包括：状态参数获得单元，用于根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数，所述N个状态参数与所述待回收设备的价格相关，其中，N为不小于2的整数；价格估分单元，用于根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价；流通价值确定单元，用于在所述回收报价高于预设报价时，确定所述待回收设备具有再流通价值，否则确定所述待回收设备不具有再流通价值。
进一步，所述状态参数获得单元包括：第一参数获得单元，用于根据所述身份标识，获得所述待回收设备的保修状态参数和/或账号解除状态参数；第二参数获得单元，用于根据所述零部件编号，获得所述待回收设备的零部件更换状态参数；第三参数获得单元，用于根据所述功能检测结果，获得所述待回收设备的使用功能状态参数；第四参数获得单元，用于根据所述外观图像，获得所述待回收设备的外观成色参数。
进一步，所述价格估分单元包括：发送单元，用于将所述N个状态参数发送至回收平台；接收单元，用于接收所述回收平台根据所述N个状态参数获取的与所述待回收设备对应的M个报价，其中，M为不小于2的整数；回收报价确定单元，用于根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价。
进一步，所述回收报价确定单元用于将所述M个报价的平均值确定为所述回收报价。
所述电子设备的回收处理系统的具体工作原理可参考实施例1中对于步骤S11至步骤S13的描述，本实施例不再赘述。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
本发明公开A1、一种电子设备的回收处理方法，包括：
检测待回收设备是否可启动；
若所述待回收设备可启动，则删除所述待回收设备存储的用户数据，并检测所述待回收设备是否具有再流通价值；
若所述待回收设备具有再流通价值，则对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁，否则对所述数据存储区域进行物理销毁。
A2、根据A1所述的电子设备的回收处理方法，在所述检测待回收设备是否可启动之后，还包括：
若所述待回收设备不可启动，则对所述数据存储区域进行物理销毁。
A3、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述删除所述待回收设备存储的用户数据包括：
控制所述待回收设备恢复出厂设置。
A4、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：
随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。
A5、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：
采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。
A6、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：
将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区；
扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据区进行加密；
删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据。
A7、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：
对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。
A8、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：
对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。
A9、根据A1或A2所述的电子设备的回收处理方法，所述检测所述待回收设备是否具有再流通价值包括：
对所述待回收设备进行如下一项或者多项检测：对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；
根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
A10、根据A9所述的电子设备的回收处理方法，所述根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值包括：
根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数，所述N个状态参数与所述待回收设备的价格相关，其中，N为不小于2的整数；
根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价；
若所述回收报价高于预设报价，则确定所述待回收设备具有再流通价值，否则确定所述待回收设备不具有再流通价值。
A11、根据A10所述的电子设备的回收处理方法，所述根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数包括：
根据所述身份标识，获得所述待回收设备的保修状态参数和/或账号解除状态参数；
根据所述零部件编号，获得所述待回收设备的零部件更换状态参数；
根据所述功能检测结果，获得所述待回收设备的使用功能状态参数；
根据所述外观图像，获得所述待回收设备的外观成色参数。
A12、根据A10所述的电子设备的回收处理方法，所述根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价包括：
将所述N个状态参数发送至回收平台；
接收所述回收平台根据所述N个状态参数获取的与所述待回收设备对应的M个报价，其中，M为不小于2的整数；
根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价。
A13、根据A12所述的电子设备的回收处理方法，所述根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价包括：
将所述M个报价的平均值确定为所述回收报价。
本发明还公开了B14、一种电子设备的回收处理系统，包括：
第一检测模块，用于检测待回收设备是否可启动；
删除模块，用于在所述待回收设备可启动时，删除所述待回收设备存储的用户数据；
第二检测模块，用于检测所述待回收设备是否具有再流通价值；
逻辑销毁模块，用于在所述待回收设备具有再流通价值时，对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁；
物理销毁模块，用于在所述待回收设备不具有再流通价值时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
B15、根据B14所述的电子设备的回收处理系统，所述物理销毁模块还用于在所述待回收设备不可启动时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
B16、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述删除模块用于控制所述待回收设备恢复出厂设置。
B17、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述逻辑销毁模块用于随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。
B18、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述逻辑销毁模块用于采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。
B19、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述逻辑销毁模块包括：
转移单元，用于将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区；
加密单元，用于扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据进行加密；
清除单元，用于删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据。
B20、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述物理销毁模块用于对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。
B21、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述物理销毁模块用于对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。
B22、根据B14或B15所述的电子设备的回收处理系统，所述第二检测模块包括评估单元以及基本信息检测单元、功能通检测单元、外观检测单元中的一个或者多个检测单元；
所述基本信息检测单元用于对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；
所述功能通检测单元用于对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；
所述外观检测单元用于对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；
所述评估单元用于根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
B23、根据B22所述的电子设备的回收处理系统，所述评估单元包括：
状态参数获得单元，用于根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，获得所述待回收设备的N个状态参数，所述N个状态参数与所述待回收设备的价格相关，其中，N为不小于2的整数；
价格估分单元，用于根据所述N个状态参数对所述待回收设备进行价格估分，获得所述待回收设备的回收报价；
流通价值确定单元，用于在所述回收报价高于预设报价时，确定所述待回收设备具有再流通价值，否则确定所述待回收设备不具有再流通价值。
B24、根据B23所述的电子设备的回收处理系统，所述状态参数获得单元包括：
第一参数获得单元，用于根据所述身份标识，获得所述待回收设备的保修状态参数和/或账号解除状态参数；
第二参数获得单元，用于根据所述零部件编号，获得所述待回收设备的零部件更换状态参数；
第三参数获得单元，用于根据所述功能检测结果，获得所述待回收设备的使用功能状态参数；
第四参数获得单元，用于根据所述外观图像，获得所述待回收设备的外观成色参数。
B25、根据B23所述的电子设备的回收处理系统，所述价格估分单元包括：
发送单元，用于将所述N个状态参数发送至回收平台；
接收单元，用于接收所述回收平台根据所述N个状态参数获取的与所述待回收设备对应的M个报价，其中，M为不小于2的整数；
回收报价确定单元，用于根据所述M个报价对所述待回收设备进行价格估分，确定所述回收报价。
B26、根据B25所述的电子设备的回收处理系统，所述回收报价确定单元用于将所述M个报价的平均值确定为所述回收报价。
Claims (10)
1.一种电子设备的回收处理方法，其特征在于，包括：
检测待回收设备是否可启动；
若所述待回收设备可启动，则删除所述待回收设备存储的用户数据，并检测所述待回收设备是否具有再流通价值；
若所述待回收设备具有再流通价值，则对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁，否则对所述数据存储区域进行物理销毁。
2.根据权利要求1所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，在所述检测待回收设备是否可启动之后，还包括：
若所述待回收设备不可启动，则对所述数据存储区域进行物理销毁。
3.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述删除所述待回收设备存储的用户数据包括：
控制所述待回收设备恢复出厂设置。
4.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：
随机打乱所述数据存储区域的逻辑存储结构。
5.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：
采用特殊字符覆盖所述数据存储区域的逻辑存储结构。
6.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁包括：
将所述数据存储区域存储的数据转移至加密应用程序的待加密数据区；
扩大所述待加密数据区，并采用秘钥对扩大后的待加密数据区进行加密；
删除所述秘钥，并清除所述秘钥对应的底层数据。
7.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：
对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第一电压，其中，所述第一电压不小于所述物理存储芯片的击穿电压。
8.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述对所述数据存储区域进行物理销毁包括：
对所述数据存储区域所在的物理存储芯片施加第二电压，其中，所述第二电压小于所述待回收设备主板的最大可承受电压。
9.根据权利要求1或2所述的电子设备的回收处理方法，其特征在于，所述检测所述待回收设备是否具有再流通价值包括：
对所述待回收设备进行如下一项或者多项检测：对所述待回收设备的基本信息进行检测，获得所述待回收设备的零部件编号和所述待回收设备的身份标识；对所述待回收设备的各项使用功能进行检测，获得所述待回收设备的功能检测结果；对所述待回收设备的外观进行图像采集，获得所述待回收设备的外观图像；
根据所述身份标识、所述零部件编号、所述功能检测结果以及所述外观图像中的一项或者多项，评估所述待回收设备是否具有再流通价值。
10.一种电子设备的回收处理系统，其特征在于，包括：
第一检测模块，用于检测待回收设备是否可启动；
删除模块，用于在所述待回收设备可启动时，删除所述待回收设备存储的用户数据；
第二检测模块，用于检测所述待回收设备是否具有再流通价值；
逻辑销毁模块，用于在所述待回收设备具有再流通价值时，对存储所述用户数据的数据存储区域进行逻辑销毁；
物理销毁模块，用于在所述待回收设备不具有再流通价值时，对所述数据存储区域进行物理销毁。
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