CN109116223A - 一种光电开关板的检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及开关检测技术领域，公开了一种光电开关板的检测装置，用于提升光电开关板的检测效率，所述检测装置包括：遮挡结构以及中控结构，所述遮挡结构与所述中控结构电连接；所述中控结构，用于控制所述遮挡结构运动至待测试的光电开关板产生光柱的区域以遮挡所述光柱，或控制所述遮挡结构远离所述区域，进而不遮挡所述光柱；以及用于在所述光柱被所述遮挡结构遮挡时，采集所述光电开关板产生的第一电压，在所述光柱未被所述遮挡结构遮挡时，采集所述光电开关板产生的第二电压，并根据所述第一电压以及所述第二电压，确定所述光电开关板功能是否异常。

Description

一种光电开关板的检测装置

技术领域

本发明涉及开关检测技术领域，尤其涉及一种光电开关板的检测装置。

背景技术

光电开关板是空调内的重要器件，例如，在空调的导风板开启或关闭的过程中，可以利用空调内设置的光电开关板检测导风板是否能够完全开启或完全关闭，因此，在空调出厂之前，需要对空调内的光电开关板进行检测，以确保光电开关板的功能供正常使用。

然而，如何提升调光电开关板的检测效率，也是一个需要解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种光电开关板的检测装置，用于提升调光电开关板的检测效率。

本发明实施例提供的光电开关板的检测装置，包括：

遮挡结构以及中控结构，所述遮挡结构与所述中控结构电连接；

所述中控结构，用于控制所述遮挡结构运动至待测试的光电开关板产生光柱的区域以遮挡所述光柱，或控制所述遮挡结构远离所述区域，进而不遮挡所述光柱；以及

用于在所述光柱被所述遮挡结构遮挡时，采集所述光电开关板产生的第一电压，在所述光柱未被所述遮挡结构遮挡时，采集所述光电开关板产生的第二电压，并根据所述第一电压以及所述第二电压，确定所述光电开关板功能是否异常。

可选的，所述遮挡结构包括遮挡片和遮挡气缸，所述遮挡片设置在所述遮挡气缸上，所述遮挡气缸与所述中控结构电连接，进而通过所述中控结构控制所述遮挡气缸带动所述遮挡片运动，以遮挡或不遮挡所述光柱。

可选的，所述中控结构包括电压采集组件以及控制器，所述电压采集组件分别与所述控制器、所述光电开关板电连接；

其中，所述电压采集组件，用于采集所述第一电压和所述第二电压，并将所述第一电压和所述第二电压传输给所述控制器；

所述控制器，用于判断所述第一电压是否小于第一阈值以及判断所述第二电压是否大于第二阈值，并在所述第一电压小于第一阈值，且所述第二电压大于所述第二阈值时，判定所述光电开关板功能正常，否则，判定所述光电开关板功能异常。

可选的，还包括：光电固定板，所述光电固定板设置若干检测工位，所述若干检测工位用于放置所述光电开关板。

可选的，还包括：基座结构以及下压装置，所述下压装置、所述光电固定板分别安装在所述基座结构上，且所述下压装置位于所述光电固定板的上方，所述下压装置与所述中控结构电连接；

其中，所述中控结构还用于：控制所述下压装置朝向所述基座结构上的所述光电固定板运动，以挡住所述光电固定板的检测工位上放置的所述光电开关板。

可选的，所述下压装置还包括下压气缸以及与所述下压气缸连接的下压板；

所述下压气缸与所述中控结构电连接，进而通过所述中控结构控制所述下压气缸带动所述下压板朝向所述基座结构上的所述若干检测工位运动，或控制所述下压气缸带动所述下压板背离所述基座结构上的所述若干检测工位运动。

可选的，所述中控结构和/或所述遮挡结构位于所述基座结构内部。

可选的，还包括光幕结构，所述光幕结构与所述中控结构电连接。

可选的，还包括电源结构，所述电源结构与所述中控结构电连接。

可选的，还包括显示屏，所述显示屏设置与所述中控结构电连接，用于提供人机交互界面。

本发明实施例中提供光电开关板的检测装置，可以通过装置中的中控结构控制遮挡结构运动至待测试的光电开关板产生光柱的区域，以遮挡住光柱，进而可以采集光柱被遮挡结构遮挡时，光电开关板产生的第一电压，还可以控制遮挡结构远离光电开关板产生光柱的区域，不遮挡产生的光柱，进而可采集光柱未被遮挡结构遮挡时产生的第二电压，从而能够根据采集的第一电压以及第二电压，来确定光电开关板功能是否异常，所以，实现了光电开关板功能检测的自动化，进而提高了光电开关板功能检测效率，也提高了光电开关板检测质量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例。

图1为本发明实施例提供的光电开关板检测装置一部分结构示意图；

图2为本发明实施例提供的光电开关板检测装置再一部分结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种光电开关板的检测装置结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种光电开关板的检测装置结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明技术方案的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请文件中记载的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明技术方案保护的范围。

请参考图1，为本发明实施例提供的一种光电开关板的检测装置示意图，包括：待测试的光电开关板10，遮挡结构11以及中控结构12，其中，光电开关板10、遮挡结构11分别与中控结构12电连接，中控结构12可以控制遮挡结构11运动，以便让遮挡结构11运行至光电开关板10产生光柱的区域，进而遮挡住光柱，或者中控结构12还可以控制遮挡结构11远离光电开关板10产生光柱的区域，进而光电开关板10不遮挡产生的光柱。

中控结构12还可以在光柱被遮挡结构11遮挡时，采集光电开关板10产生的第一电压，在光柱未被遮挡结构11遮挡时，采集光电开关板产生的第二电压，并根据采集的第一电压以及第二电压，来确定光电开关板功能是否异常。

所以，本发明实施例中提供光电开关板的检测装置，可以通过装置中的中控结构控制遮挡结构运动至待测试的光电开关板产生光柱的区域，以遮挡住光柱，进而可以采集光柱被遮挡结构遮挡时，光电开关板产生的第一电压，还可以控制遮挡结构远离光电开关板产生光柱的区域，不遮挡产生的光柱，进而可采集光柱未被遮挡结构遮挡时产生的第二电压，从而能够根据采集的第一电压以及第二电压，来确定光电开关板功能是否异常，所以，实现了光电开关板功能检测的自动化，进而提高了光电开关板功能检测效率，也提高了光电开关板检测质量。

需要说明的是，本发明实施例中的光电开关板功可以是空调中的光电开关板，也可以是其他电器设备中的光电开关板，这样的电器设备如冰箱、洗衣机等等。

请参考图2，本发明实施例中的遮挡结构还包括遮挡片和遮挡气缸，遮挡片设置在遮挡气缸上，在实际应用中，可以将遮挡片焊接在遮挡气缸，遮挡气缸与中控结构电连接，进而中控结构控制遮挡气缸带动遮挡气缸上的遮挡片运动。

例如，在需要遮挡待测试的光电开关板产生的光柱时，中控结构可以控制遮挡气缸带动遮挡气缸上的遮挡片运动至光电开关板产生光柱的区域，进而通过遮挡片遮挡光电开关板产生的光柱；当需要不遮挡待测试的光电开关板产生的光柱时，中控结构可以控制遮挡气缸带动遮挡气缸上的遮挡片运动，以远离光电开关板产生光柱的区域，进而让遮挡片不遮挡光电开关板产生的光柱。

本发明实施例中，中控结构包括控制器和电压采集组件，控制器分别与遮挡气缸、电压采集组件电连接，电压采集组件可以具体为AD采样器件，当然，也可以为其他能够采集光电开关板的电压的组件。

控制器可以具体为PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器，)，当然，也可以为其他类型的控制器，例如中央处理器CPU、微处理器等。

在本发明实施例中，具体以电压采集组件为AD采样器件，控制器为PLC为例，那么，PLC就可以控制遮挡气缸运动，进而通过遮挡气缸带动遮挡片运动至光电开关板产生光柱的区域，以遮挡住光柱，然后控制AD采样器件，采集光电开关板产生光柱被遮挡时，光电开关板产生的电压；或在控制遮挡气缸带动遮挡片背离光电开关板产生光柱的区域，不遮挡产生的光柱，控制AD采样器件，采集光电开关板产生光柱未被遮挡时，光电开关板产生的电压。

在实际应用中，还可以设置光电固定板，光电固定板中设置若干个测试工位，若干个测试工位用于安装若干个待测试的光电开关板，例如图3中所示，在光电固定板中设置了8个测试工位，进而可以在8个测试工位上按照8个待测试的光电开关板，可以同时检测多个光电开关板的功能是否异常，所以，能够进一步提升检测效率。

在实际应用中，在待测试的光电开关板为多个时，使用的AD采样器件可以为对应个数的AD采样器件，例如，图3所示，在待测试的光电开关板为8个时，可使用8AD采样器件。

在本发明实施例中，电开关板检测装置还包括下压装置，该下压装置可以如图2或图3所示，可以进一步包括下压气缸以及下压板(图中未画出)，下压板设置在下压气缸上，下压气缸与PLC电连接，进而通过PLC控制下压气缸带动下压板朝向光电固定板上的若干检测工位运动，进而挡住检测工位上设置的若干个光电开关板，以避免在遮挡板遮挡光电开关板产生的光柱的过程中，光电开关板弹起而顶坏光电开关板的情况。

请结合图3和图4进行参考，在实际应用中，光电开关板的检测装置还包括基座结构，基座结构可以如图4所示，近似“L”形状，可以将下压装置、光电固定板分别安装在基座结构上，且下压装置位于光电固定板的上方，以便通过中控结构中的PLC控制下压装置中的下压气缸带动下压板朝向基座结构上的光电固定板运动，以挡住光电固定板的检测工位上的光电开关板。

在本发明实施例中，还可以将中控结构设置在基座结构内部，也可以同时将遮挡结构设置在基座结构内部，以便减少机械伤害(图中未画出)。

本发明实施例中的电开关板检测装置还包括光幕，光幕与PLC电连接，在检测过程中，光幕用于保护检验员不会被气缸压到手，当光幕被遮挡时气缸悬停，并同时自动上升，进而保护检验员安全。在具体实践过程中，光幕可以设置在基座机构上，并通过导线与基座结构内的中控结构中的PLC电连接。

例如，图4所示将光幕设置在基座结构上临近放置下压装置中的下压板所处的位置，以便PLC检测到在下压板朝着光电固定板方向运动，且下压板与光电固定板之间的区域有操作人员在操作时，控制下压板动上升，进而保护检验员安全。

在本发明实施例中，为了便于观察电开关板检测过程中产生的数据，还可以在基座结构上设置显示屏，将显示屏通过导线与中控结构中的PLC电连接，进而通过显示屏中的人机交互界面，显示电开关板检测过程中产生的数据。如图4所示，显示屏可以具体为具有触摸功能的触摸屏，以便操作人员对触摸屏中显示的内容进行操作。

在实际应用中，为了进一步方便检测光电开关板，还可以如图4所示，在基座结构上设置气缸下键按钮，进而可以通过气缸下键按钮来手动控制下压装置中的下压气缸带动下压板运动，气缸下键按钮个数可以为一个也可以为多个，例如，图4所示，设置了两个气缸下键按钮，这样在测试过程中，操作人员可以双手启动测试，即双手操作两个气缸下键按钮，避免单手造作造成安全事故。

在本发明实施例中，还可以在基座结构上设置气缸上键按钮，同样的，气缸上键按钮个数可以为一个也可以为多个，如图4中设置了1个气缸上键按钮，进而可以通过气缸上键按钮来手动控制遮挡装置中的遮挡气缸带动下遮挡板运动，基座结构还可以设置电源开关按钮，以控制光电开关板检测装置中的电源的接通与断开。

上文对本发明实施例中给提供的光电开关板检测装置中各个结构及其连接关系进行了介绍，下面将基于上文介绍光电开关板检测装置，对光电开关板的检测原理进行进一步的说明书。

在本发明实施例中，用户可以在检测工位上安装若干各待测试的光电开关板，然后可以通过操作图4中的基座结构上的电源按钮，接通制光电开关板检测装置中的电源，以便给待测试的光电开关板、PLC、AD采用器件等供电。

PLC在检测到电源接通时，可以控制下压装置中的下压气缸带动下压板朝向光电固定板上的若干检测工位运动，以挡住检测工位上的光电开关板。

下压板挡住检测工位上的光电开关板之后，PLC可以控制遮挡气缸运动，进而通过遮挡气缸带动遮挡片运动至光电开关板产生光柱的区域，以遮挡住光柱，在遮挡片遮挡住光柱之后，PLC控制AD采样模块采集光电开关板此时产生的电压，为方便叙述，将该电压称为第一电压。

然后，PLC可以再控制遮挡气缸运动，进而通过遮挡气缸带动遮挡片背离光电开关板产生光柱的区域，以使得遮挡片没有遮挡光柱，在遮挡片没有遮挡光柱之后，PLC控制AD采样模块采集光电开关板此时产生的电压，为方便叙述，将该电压称为第二电压。

当然，在实际应用中，PLC也可以先控制AD采样模块采集动遮挡片没有遮挡光柱时，光电开关板产生的第二电压，然后，控制遮挡气缸带动遮挡片运动至光电开关板产生光柱的区域，以遮挡住光柱，在遮挡片遮挡住光柱之后，PLC控制AD采样模块采集光电开关板此时产生的第一电压。

AD采样模块将采集到的第一电压与第二电压分别发送给PLC之后，PLC可以将第一电压与预设的第一阈值进行比较，第二电压与预设的第二阈值进行比较，其中，预设的第一阈值可以事先通过大量的试验获得，该第一阈值为功能正常的光电开关，在其产生的光柱被遮挡时能够产生的最大电压值，若光电开关板产生的光柱被遮挡时产生的电压值超过该第一阈值，表明该光电开关板的功能出现了异常，本发明的发明人经过事先的多次试验，测试出第一阈值的取值范围为0.8v～1.2v(伏)，在本发明实施例中，具体以第一阈值取值1v为例。

同样的，预设的第二阈值可以事先通过大量的试验获得，该第而阈值为功能正常的光电开关，在其产生的光柱没有遮挡时能够产生的最小电压值，若光电开关板产生的光柱未被遮挡时，电开关板产生的电压值低于该第二阈值，表明该光电开关板的功能出现了异常。本发明的发明人经过事先的多次试验，测试出第二阈值的取值范围为4.4～4.6v(伏)，在本发明实施例中，具体以第二阈值取值4.56v为例。

这里假设，第一电压为0.8v，第二电压为4.7v，那么，PLC就可以判断出第一电压小于预设的第一阈值，第二电压大于预设的第二阈值，因此，PLC就可以确定出待测试的光电开关板功能正常。

若PLC判断出第一电压等于或大于预设的第一阈值，且第二电压大于预设的第二阈值，PLC就可以确定出待测试的光电开关板功能异常；若PLC判断出第一电压小于预设的第一阈值，且第二电压小于或等于预设的第二阈值，PLC就可以确定出待测试的光电开关板功能异常；若PLC判断出第一电压等于或大于预设的第一阈值，且第二电压小于或等于预设的第二阈值，PLC就可以确定出待测试的光电开关板功能异常。

所以，通过上述方法，本发明实施例中提供光电开关板的检测装置，可以通过装置中的中控结构控制遮挡结构运动至待测试的光电开关板产生光柱的区域，以遮挡住光柱，进而可以采集光柱被遮挡结构遮挡时，光电开关板产生的第一电压，还可以控制遮挡结构远离光电开关板产生光柱的区域，不遮挡产生的光柱，进而可采集光柱未被遮挡结构遮挡时产生的第二电压，从而能够根据采集的第一电压以及第二电压，来确定光电开关板功能是否异常，所以，实现了光电开关板功能检测的自动化，进而提高了光电开关板功能检测效率，也提高了光电开关板检测质量。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种光电开关板的检测装置，其特征在于，包括：

遮挡结构以及中控结构，所述遮挡结构与所述中控结构电连接；

所述中控结构，用于控制所述遮挡结构运动至待测试的光电开关板产生光柱的区域以遮挡所述光柱，或控制所述遮挡结构远离所述区域，进而不遮挡所述光柱；以及

用于在所述光柱被所述遮挡结构遮挡时，采集所述光电开关板产生的第一电压，在所述光柱未被所述遮挡结构遮挡时，采集所述光电开关板产生的第二电压，并根据所述第一电压以及所述第二电压，确定所述光电开关板功能是否异常。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述遮挡结构包括遮挡片和遮挡气缸，所述遮挡片设置在所述遮挡气缸上，所述遮挡气缸与所述中控结构电连接，进而通过所述中控结构控制所述遮挡气缸带动所述遮挡片运动，以遮挡或不遮挡所述光柱。

3.如权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，所述中控结构包括电压采集组件以及控制器，所述电压采集组件分别与所述控制器、所述光电开关板电连接；

其中，所述电压采集组件，用于采集所述第一电压和所述第二电压，并将所述第一电压和所述第二电压传输给所述控制器；

所述控制器，用于判断所述第一电压是否小于第一阈值以及判断所述第二电压是否大于第二阈值，并在所述第一电压小于第一阈值，且所述第二电压大于所述第二阈值时，判定所述光电开关板功能正常，否则，判定所述光电开关板功能异常。

4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，还包括：光电固定板，所述光电固定板设置若干检测工位，所述若干检测工位用于放置所述光电开关板。

5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，还包括：基座结构以及下压装置，所述下压装置、所述光电固定板分别安装在所述基座结构上，且所述下压装置位于所述光电固定板的上方，所述下压装置与所述中控结构电连接；

其中，所述中控结构还用于：控制所述下压装置朝向所述基座结构上的所述光电固定板运动，以挡住所述光电固定板的检测工位上放置的所述光电开关板。

6.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述下压装置还包括下压气缸以及与所述下压气缸连接的下压板；

所述下压气缸与所述中控结构电连接，进而通过所述中控结构控制所述下压气缸带动所述下压板朝向所述基座结构上的所述若干检测工位运动，或控制所述下压气缸带动所述下压板背离所述基座结构上的所述若干检测工位运动。

7.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述中控结构和/或所述遮挡结构位于所述基座结构内部。

8.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括光幕结构，所述光幕结构与所述中控结构电连接。

9.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括电源结构，所述电源结构与所述中控结构电连接。

10.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括显示屏，所述显示屏设置与所述中控结构电连接，用于提供人机交互界面。