CN108964754B - 光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统 - Google Patents
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Abstract
本发明适用于光通信器件测试技术领域，提供一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统，可以根据不同待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，自动的从同一插损测量系统中选择对应的测试链路来测量插损值并进行校正，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现，并且测试结果精度高。
Description
技术领域
本发明属于光通信器件测试技术领域，尤其涉及一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统。
背景技术
随着光通信技术的不断发展，光通信器件的结构趋于复杂化，用于测试光通信器件性能的测试系统的光信号链路和电信号链路的结构也随之复杂化。通常光通信器件是指光模块、光有源器件、光无源器件，而光通信器件的光功率损失需精确控制及测量，测量光通信器件的插损非常重要，传统的测试方法通常采用分拆测试项目的方式来测量插损，以达到简化测试链路的目的，插损可以通过这种方式直接简单测量，但测试效率较低，需要使用较多的测试机台；还可以采用多模块测试板，在一套测试机台上尽量实现多项功能测试，由于插损的测量过程较为复杂，一套测试机台通常存在多个同类型的测试仪器，对于不同光通信器件的不同测试需求难以统一考量和实现，并且通常是手动操作测试仪器，然后自动计算插损值，测量结果精度低。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统，以解决传统的测试方法测试效率较低，需要使用较多的测试机台，对于不同光通信器件的不同测试需求难以统一考量和实现，并且测量结果精度低的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种光通信器件的插损校正方法，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述方法包括：
当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；
当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；
针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；
针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；
根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；
根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
本发明实施例的第二方面提供了一种光通信器件的插损校正系统，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述系统包括：
波长信息获取模块，用于当至少一个光通信器件接入测试链路时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；
显示模块，用于当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；
第一选择模块，用于针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；
第二选择模块，用于针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；
第一校正模块，用于根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；
第二校正模块，用于根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
本发明实施例的第三方面提供了一种光通信器件的插损测量系统，其包括至少五个光开关、第一波分复用器、第二波分复用器、第一～第三分光器、示波器、光接收器件、单模长光纤、第一光衰减器、第二光衰减器、光功率计和光网络单元，所述至少五个光开关包括第一～第五光开关；
光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第二光开关、所述第一分光器和所述示波器依次连接，所述第一分光器还与所述光接收器件连接，所述第一波分复用器还通过所述第三光开关与所述第二光开关连接，所述第三光开关、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述第二波分复用器和所述光网络单元依次连接，所述第三光开关还通过所述单模长光纤与所述第四光开关连接，所述第二分光器还与所述光功率计连接，所述第二波分复用器、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器和所述第一波分复用器依次连接，所述光网络单元还与所述第五光开关连接；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第二光开关、所述第一分光器、所述示波器和所述光接收器件构成第一发射插损链路；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述第一分光器、所述示波器和所述光接收器件构成第二发射插损链路；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述光功率计、所述第二波分复用器和所述光网络单元构成发射不经过长光纤的传输代价插损链路；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述单模长光纤、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述光功率计、所述第二波分复用器和所述光网络单元构成发射经过长光纤的传输代价插损链路；
所述光网络单元、所述第二波分复用器、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器、所述第一波分复用器、所述第一光开关和所述光通信器件构成第一接收插损链路；
所述光网络单元、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器、所述第一波分复用器、所述第一光开关和所述光通信器件构成第二接收插损链路；
当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第一发射接收自环插损链路，所述发射经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第二发射接收自环插损链路。
在一个实施例中，所述第一发射插损链路为所述光通信器件发射第一波长光信号的发射插损链路；
所述第二发射插损链路为所述光通信器件发射第二波长光信号的发射插损链路；
所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射不经过长光纤的传输代价插损链路；
所述发射经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射经过长光纤的传输代价插损链路；
所述第一接收插损链路为第三波长光信号的接收插损链路；
所述第二接收插损链路为第四波长光信号的接收插损链路；
当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述第一发射接收自环插损链路和所述第二发射接收自环插损链路均为第二波长光信号和第四波长光信号的发射接收自环插损链路。
在一个实施例中，所述第一光开关为M×1光开关、所述第一波分复用器为1×N波分复用器、所述第二光开关为I×1光开关、所述第三光开关为1×J光开关、所述第四光开关为K×1光开关、所述第二波分复用器为1×m波分复用器、所述第五光开关为n×1光开关；
其中，M、J大于或等于4且为整数，N、I、K、m、n大于或等于2且为整数。
本发明实施例的第四方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
本发明实施例的第五方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
本发明实施例通过当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取光通信器件输出的光信号的波长信息，以获取波长个数和波长，当有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；然后针对非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；最后根据上一次测量的第一待测光通信器件的插损值和通过第一测试链路自动测量的光功率，得到第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正第一测试链路自动测量的光功率；根据通过第二测试链路自动测量的光功率和用户通过第二测试链路手动测量的光功率，得到第二待测光通信器件的当前插损值并校正第二测试链路自动测量的光功率；从而可以根据不同待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，自动的从同一插损测量系统中选择对应的测试链路来测量插损值并进行校正，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现，并且测试结果精度高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的光通信器件的插损测量系统的结构示意图；
图2是本发明实施例二提供的光通信器件的插损校正方法的流程示意图；
图3是本发明实施例二提供的测试链路界面的示意图；
图4是本发明实施例三提供的光通信器件的插损校正系统的结构示意图；
图5是本发明实施例四提供的终端设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含一系列步骤或单元的过程、方法或系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。
实施例一
如图1所示，本实施例提供一种光通信器件的插损测量系统，其包括第一～第五光开关(optical switch)01～05、第一波分复用器(WDM)11、第二波分复用器(WDM)12、第一～第三分光器(Optical Splitter)21～23、示波器3、光接收器件(Optical Subassembly)4、单模长光纤5、第一光衰减器(light wane)61、第二光衰减器62、光功率计(optical powermeter)7和光网络单元(Optical Network Unit，ONU)8。
在具体应用中，插损测量系统包括至少五个光开关，图1中示例性的示出了五个光开关。
在具体应用中，光接收器件是主要用于将光信号转化成电信号(O/E转换)，主要性能指标有灵敏度(Sen)等。
在具体应用中，长光纤可以根据实际需要选择任意长度的长光纤，例如10km～100km长光纤，具体可以选用20km或40km长光纤。
如图1所示，本实施例所提供的插损测量系统中，各仪器之间的连接关系如下：
光通信器件9、第一光开关01、第一波分复用器11、第二光开关02、第一分光器21和示波器3依次连接，第一分光器21还与光接收器件4连接；
第一波分复用器12还通过第三光开关03与第二光开关02连接；
第三光开关03、第四光开关04、第一光衰减器61、第二分光器22、第二波分复用器12和光网络单元8依次连接，
第三光开关03还通过单模长光纤5与第四光开关04连接；
第二分光器22还与光功率计7连接；
第二波分复用器12、第五光开关05、第二光衰减器62、第三分光器23和第一波分复用器11依次连接；
光网络单元8还与第五光开关05连接。
图1中带箭头连接线表示光信号的传输，箭头方向表示光信号传输方向，箭头的数量并不用于限定各器件的接口数量。
在具体应用中，光通信器件可以根据实际需要选择光模块、光有源器件或光无源器件，光通信器件可以仅具备光信号发射或光信号接收功能，也可以同时具备光信号发射和光信号接收功能。如图1所示，光通信器件9、第一光开关01、第一波分复用器11、第二光开关02、第一分光器21、示波器3和光接收器件4构成第一发射插损链路(11)；
光通信器件9、第一光开关01、第一波分复用器11、第三光开关03、第一分光器21、示波器3和光接收器件4构成第二发射插损链路(12)；
光通信器件9、第一光开关01、第一波分复用器11、第三光开关03、第四光开关04、第一光衰减器61、第二分光器22、光功率计7、第二波分复用器12和光网络单元8构成发射不经过长光纤的传输代价插损链路(21)；
光通信器件9、第一光开关01、第一波分复用器11、第三光开关03、单模长光纤5、第四光开关04、第一光衰减器61、第二分光器22、光功率计7、第二波分复用器12和光网络单元8构成发射经过长光纤的传输代价插损链路(22)；
光网络单元8、第二波分复用器12、第五光开关05、第二光衰减器62、第三分光器23、第一波分复用器11、第一光开关01和光通信器件9构成第一接收插损链路(31)；
光网络单元8、第五光开关05、第二光衰减器62、第三分光器03、第一波分复用器11、第一光开关01和光通信器件9构成第二接收插损链路(32)。
在具体应用中，所述插损测量系统包括发射插损链路、发射不经过长光纤的传输代价插损链路、发射经过长光纤的传输代价插损链路、接收插损链路和发射接收自环插损链路共五种测试链路，每种测试链路的数量由光通信器件和光网络单元发射的光信号的波长数量。
在具体应用中，光衰减器、示波器等各仪器的端口数量以及光开光的数量由光通信器件和光网络单元发射的光信号的波长数量决定，或者由各仪器所属的测试链路的数量决定。
如图1所示，示例性的示出光通信器件9发出的光信号的波长数量为2且光网络单元发射的光信号的波长数量为2的情况。
在一个实施例中，当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第一发射接收自环插损链路，所述发射经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第二发射接收自环插损链路。
在具体应用中，光通信器件为光收发一体器件时，光通信器件发射的光信号经过发射接收自环插损链路之后回到光通信器件被接收。
在一个实施例中，所述第一发射插损链路为所述光通信器件发射第一波长光信号的发射插损链路；
所述第二发射插损链路为所述光通信器件发射第二波长光信号的发射插损链路；
所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射不经过长光纤的传输代价插损链路；
所述发射经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射经过长光纤的传输代价插损链路；
所述第一接收插损链路为第三波长光信号的接收插损链路；
所述第二接收插损链路为第四波长光信号的接收插损链路；
当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述第一发射接收自环插损链路和所述第二发射接收自环插损链路均为第二波长光信号和第四波长光信号的发射接收自环插损链路。
在具体应用中，第一波长、第二波长、第三波长或第四波长为1490nm、1577nm、1270nm和1310nm中的任一种，并且第一波长和第二波长不同，第三波长和第四波长不同。
在一个实施例中，第一波长为1490nm、第二波长为1577nm、第三波长为1270nm、第四波长为1310nm。
在一个实施例中，所述第一光开关为M×1光开关、所述第一波分复用器为1×N波分复用器、所述第二光开关为I×1光开关、所述第三光开关为1×J光开关、所述第四光开关为K×1光开关、所述第二波分复用器为1×m波分复用器、所述第五光开关为n×1光开关；
其中，M、J大于或等于4且为整数，N、I、K、m、n大于或等于2且为整数。
在一个实施例中，M、J等于4，N、I、K、m、n等于2。
在具体应用中，光通信器件输出的不同波长的光信号可通过滤光片分为多束光信号，即分为多个通道的光信号；然后通过第一光开关分别将不同波长的通道接入测试链路进行测试。例如：某一光发射器件可发射两种波长的光信号，经过滤光片后分为两个通道的光信号，分别编号为DUT1，DUT2，并进一步通过第一光开关分别对两个通道选择所需的测试链路。
在具体应用中，第一光衰减器和第二光衰减器的光衰减比例以及第一～第三分光器的分光比例可以根据实际需要进行设置。
在一个实施例中，第一～第三分光器的分光比例分别为1:9、1:9和5:5，即第一分光器输出到示波器的光信号比例为10％、输出到光接收器件的光信号比例为90％，第二分光器输出到光功率计的光信号比例为10％、输出到第二波分复用器的光信号比例为90％；第三分光器输出到第一波分复用器的第一波长光信号和第二波长光信号比例各为50％。
本实施例通过提供一种光通信器件的插损测量系统，可以实现对多种不同的光通信器件的五种光纤插损的测量，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现。
实施例二
如图2所示，本实施例提供一种光通信器件的插损校正方法，基于实施例一的光通信器件的插损测量系统实现，所述方法可以应用于任意的具有界面显示、人机交互和数据处理功能的终端设备，例如，桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述方法包括：
步骤S201、当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长。
在具体应用中，当多个光通信器件接入插损测量系统时，则分别获取每个光通信器件输出的光信号的波长信息。
在一个实施例中，光通信器件输出的光信号包括波长为1490nm和1577nm两个波长的光信号。
在一个实施例中，步骤S201之前包括：
根据预设命名规则对用于构建插损测量系统的所有测试仪器进行命名；其中，所述预设命名规则包括将测试仪器的名称命名为：测试仪器的功能代码+测试链路代码+测试仪器的编号。
在具体应用中，定义测试仪器时，无需制定测试仪器的具体名称，将不同厂家、不同型号的测试仪器按照测试仪器的类型，以别名方式进行归类定义，命名规则是：测试仪器的功能代码+测试链路代码+测试仪器的编号(例如：别名DCA代表光示波器；ATTOPP中的ATT表示光衰器，OPP代表光传输代价链路，测试仪器ATTOPP代表测试光传输代价用的光衰减器，POWOPP代表测试光传输代价用的光功率计，OSWNTDP中的OSW表示光开关、NTD表示非长光纤测试，测试仪器OSWNTDP表示非长纤测试的光开关，OSWTDP表示长纤测试的光开关；测试仪器别名后的“_x”数字编码代表同类测试仪器编号，以区分一条测试链路中多台相同功能的测试仪器)。因不同厂家、不同型号的测试仪器的接口和命名不同，需对其通信协议进行转化后统一进行管理，实现功能统一配置，因此，同一测试功能的测试仪器不论厂家和型号是否相同，采用同一个功能代码。
步骤S202、当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面。
在一个实施例中，步骤S202之前，包括：
判断是否需要对所述光通信器件进行插损校正；
当所述至少一个光通信器件中没有需要进行插损校正的待测光通信器件时，结束测试。
在具体应用中，当光通信器件接入插损测量系统时，需要分别判断每个光通信器件是否需要进行插损校正，如果没有光通信器件需要进行插损校正，则直接结束测试。光通信器件不需要进行插损校正的情况通常为当前已经对光通信器件进行了插损校正，但是光通信器件仍然连接与插损测量系统，导致当前终端设备检测到光通信器件接入插损测量系统。对于这种情况，可以由用户手动输入测试结束指令来结束测试，也可以在一个较长的预设时间段后未接收到用户输入的开始测试指令时，结束测试。
在本实施例中，插损链路类型包括与插损测量系统的五种测试链路对应的5种类型。
如图3所示，示例性的示出了一个测试链路界面，其中，对光类型即为插损链路类型。
步骤S203、针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路。
在一个实施例中，步骤S203之前，包括：
根据所述待测光通信器件的插损链路类型和波长，判断所述待测光通信器件是否为首次进行插损校正。
在具体应用中，待测光通信器件的插损链路类型包括与插损测量系统的五种测试链路对应的5种类型，待测光通信器件的波长则由其输出的光信号的具体波长决定。如果待测光通信器件发出的某一波长的光信号没有进行某一插损链路类型的测试，则认为待测光通信器件对应的该波长和该插损链路类型为首次进行插损校正，对应的，如果待测光通信器件发出的某一波长的光信号进行过某一插损链路类型的测试，则认为待测光通信器件对应的该波长和该插损链路类型为非首次进行插损校正，可自动选择与第一待测光通信器件的该插损链路类型和该波长对应的第一测试链路。第一测试链路的类型与插损链路类型相同。
步骤S204、针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路。
在具体应用中，如果待测光通信器件发出的某一波长的光信号没有进行某一插损链路类型的测试，则需要由人工辅助输入用于选择与没有进行测试的插损链路类型相同的测试链路，对待测光通信器件进行测试。
步骤S205、根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率。
在一个实施例中，步骤S205之前，包括：
获取上一次测量的与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的插损值。
在具体应用中，如果待测光通信器件发出的某一波长的光信号进行过某一插损链路类型的测试，则当前终端设备会记录有上一次测试得到的插损值，直接自动获取并调用该插损值即可。
在具体应用中，假设上一次测量的插损值为C0，本次通过第一测试链路自动测量的光功率为A1，则第一待测光通信器件的当前的实际光功率P1＝A1+C0，然后将本次通过第一测试链路自动测量的光功率A1校正为当前的实际光功率P1。本次通过第一测试链路自动测量的光功率A1为第一测试链路中的示波器、光接收器件或光功率计测得的光功率。
步骤S206、根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
在具体应用中，如果待测光通信器件发出的某一波长的光信号没有进行过某一插损链路类型的测试，则本次需要获取通过第二测试链路自动测量的光功率和用户通过第二测试链路手动测量的光功率(即当光通信器件为发射器件时，在测试链路的末端测量得到的实际光功率；当光通信器件为接收器件时，在光通信器件端测量得到的实际光功率)。
在具体应用中，假设本次通过第二测试链路自动测量的光功率为A2，用户通过第二测试链路手动测量的光功率为B2，则第二待测光通信器件的当前插损值C2＝B2-A2，然后将本次通过第二测试链路自动测量的光功率A2校正为当前的实际光功率B2。本次通过第二测试链路自动测量的光功率A2为第二测试链路中的示波器、光接收器件或光功率计测得的光功率。
本实施例通过当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取光通信器件输出的光信号的波长信息，以获取波长个数和波长，当有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；然后针对非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；最后根据上一次测量的第一待测光通信器件的插损值和通过第一测试链路自动测量的光功率，得到第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正第一测试链路自动测量的光功率；根据通过第二测试链路自动测量的光功率和用户通过第二测试链路手动测量的光功率，得到第二待测光通信器件的当前插损值并校正第二测试链路自动测量的光功率；从而可以根据不同待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，自动的从同一插损测量系统中选择对应的测试链路来测量插损值并进行校正，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现，并且测试结果精度高。
应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
实施例三
如图4所示，本实施例提供一种光通信器件的插损校正系统4，基于实施例一的光通信器件的插损测量系统实现，用于执行实施例二中的方法步骤，所述系统可以应用于任意的具有界面显示、人机交互和数据处理功能的终端设备中的软件程序系统，例如，桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述系统包括：
波长信息获取模块401，用于当至少一个光通信器件接入测试链路时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；
显示模块402，用于当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；
第一选择模块403，用于针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；
第二选择模块404，用于针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；
第一校正模块405，用于根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；
第二校正模块406，用于根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
在一个实施例中，所述系统还包括：
命名模块，用于根据预设命名规则对用于构建插损测量系统的所有测试仪器进行命名；其中，所述预设命名规则包括测试仪器的名称为：测试仪器的功能代码+测试链路代码+测试仪器的编号。
在一个实施例中，所述系统还包括：
第一判断模块，用于判断是否需要对所述光通信器件进行插损校正；
结束模块，用于当所述至少一个光通信器件中没有需要进行插损校正的待测光通信器件时，结束测试。
在一个实施例中，所述系统还包括：
第二判断模块，用于根据所述待测光通信器件的插损链路类型和波长，判断所述待测光通信器件是否为首次进行插损校正；
获取模块，用于获取上一次测量的与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的插损值。
本实施例通过当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取光通信器件输出的光信号的波长信息，以获取波长个数和波长，当有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；然后针对非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；针对首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；最后根据上一次测量的第一待测光通信器件的插损值和通过第一测试链路自动测量的光功率，得到第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正第一测试链路自动测量的光功率；根据通过第二测试链路自动测量的光功率和用户通过第二测试链路手动测量的光功率，得到第二待测光通信器件的当前插损值并校正第二测试链路自动测量的光功率；从而可以根据不同待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，自动的从同一插损测量系统中选择对应的测试链路来测量插损值并进行校正，测试效率高，可有效减少测试机台的数量，对不同光通信器件的不同测试需求可以统一考量和实现，并且测试结果精度高。
实施例五
如图5所示，本实施例提供一种终端设备5，其包括：处理器50、存储器51以及存储在所述存储器51中并可在所述处理器50上运行的计算机程序52，例如光通信器件的插损校正程序。所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述光通信器件的插损校正方法实施例中的步骤，例如图2所示的步骤S201至S206。或者，所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图4所示模块401至406的功能。
示例性的，所述计算机程序52可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器51中，并由所述处理器50执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序52在所述终端设备5中的执行过程。例如，所述计算机程序52可以被分割成波长信息获取模块、显示模块、第一选择模块、第二选择模块、第一校正模块、第二校正模块，各模块具体功能如下：
波长信息获取模块，用于当至少一个光通信器件接入测试链路时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；
显示模块，用于当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；
第一选择模块，用于针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；
第二选择模块，用于针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；
第一校正模块，用于根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；
第二校正模块，用于根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
所述终端设备5可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端服务器等计算设备。所述终端设备可包括，但不仅限于，处理器50、存储器51。本领域技术人员可以理解，图5仅仅是终端设备5的示例，并不构成对终端设备5的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述终端设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器50可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器51可以是所述终端设备5的内部存储单元，例如终端设备5的硬盘或内存。所述存储器51也可以是所述终端设备5的外部存储设备，例如所述终端设备5上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，所述存储器51还可以既包括所述终端设备5的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器51用于存储所述计算机程序以及所述终端设备所需的其他程序和数据。所述存储器51还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种光通信器件的插损校正方法，其特征在于，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述方法包括：
当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；
当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；
针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；
针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；
根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；
根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
2.如权利要求1所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，当至少一个光通信器件接入插损测量系统时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息之前，包括：
根据预设命名规则对用于构建插损测量系统的所有测试仪器进行命名；其中，所述预设命名规则包括将测试仪器的名称命名为：测试仪器的功能代码+测试链路代码+测试仪器的编号。
3.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，所述插损测量系统包括发射插损链路、发射不经过长光纤的传输代价插损链路、发射经过长光纤的传输代价插损链路、接收插损链路和发射接收自环插损链路共五种测试链路。
4.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面之前，包括：
判断是否需要对所述光通信器件进行插损校正；
当所述至少一个光通信器件中没有需要进行插损校正的待测光通信器件时，结束测试。
5.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路之前，包括：
根据所述待测光通信器件的插损链路类型和波长，判断所述待测光通信器件是否为首次进行插损校正；
根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率之前，包括：
获取上一次测量的与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的插损值。
6.如权利要求1或2所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，所述插损测量系统包括至少五个光开关、第一波分复用器、第二波分复用器、第一~第三分光器、示波器、光接收器件、单模长光纤、第一光衰减器、第二光衰减器、光功率计和光网络单元，所述至少五个光开关包括第一~第五光开关；
光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第二光开关、所述第一分光器和所述示波器依次连接，所述第一分光器还与所述光接收器件连接，所述第一波分复用器还通过所述第三光开关与所述第二光开关连接，所述第三光开关、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述第二波分复用器和所述光网络单元依次连接， 所述第三光开关还通过所述单模长光纤与所述第四光开关连接，所述第二分光器还与所述光功率计连接，所述第二波分复用器、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器和所述第一波分复用器依次连接，所述光网络单元还与所述第五光开关连接；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第二光开关、所述第一分光器、所述示波器和所述光接收器件构成第一发射插损链路；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述第一分光器、所述示波器和所述光接收器件构成第二发射插损链路；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述光功率计、所述第二波分复用器和所述光网络单元构成发射不经过长光纤的传输代价插损链路；
所述光通信器件、所述第一光开关、所述第一波分复用器、所述第三光开关、所述单模长光纤、所述第四光开关、所述第一光衰减器、所述第二分光器、所述光功率计、所述第二波分复用器和所述光网络单元构成发射经过长光纤的传输代价插损链路；
所述光网络单元、所述第二波分复用器、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器、所述第一波分复用器、所述第一光开关和所述光通信器件构成第一接收插损链路；
所述光网络单元、所述第五光开关、所述第二光衰减器、所述第三分光器、所述第一波分复用器、所述第一光开关和所述光通信器件构成第二接收插损链路；
当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第一发射接收自环插损链路，所述发射经过长光纤的传输代价插损链路和所述第二接收插损链路构成第二发射接收自环插损链路。
7.如权利要求6所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，所述第一发射插损链路为所述光通信器件发射第一波长光信号的发射插损链路；
所述第二发射插损链路为所述光通信器件发射第二波长光信号的发射插损链路；
所述发射不经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射不经过长光纤的传输代价插损链路；
所述发射经过长光纤的传输代价插损链路为所述第二波长光信号发射经过长光纤的传输代价插损链路；
所述第一接收插损链路为第三波长光信号的接收插损链路；
所述第二接收插损链路为第四波长光信号的接收插损链路；
当所述光通信器件为光收发一体器件时，所述第一发射接收自环插损链路和所述第二发射接收自环插损链路均为第二波长光信号和第四波长光信号的发射接收自环插损链路。
8.如权利要求6所述的光通信器件的插损校正方法，其特征在于，所述第一光开关为M×1光开关，所述第一波分复用器为1×N波分复用器，所述第二光开关为I×1光开关，所述第三光开关为1×J光开关，所述第四光开关为K×1光开关，所述第二波分复用器为1×m波分复用器，所述第五光开关为n×1光开关；
其中，M、J大于或等于4且为整数，N、I、K、m、n大于或等于2且为整数。
9.一种光通信器件的插损校正系统，其特征在于，基于光通信器件的插损测量系统实现，所述插损测量系统包括多种测试链路，所述插损校正系统包括：
波长信息获取模块，用于当至少一个光通信器件接入测试链路时，获取所述光通信器件输出的光信号的波长信息；其中，所述波长信息包括波长个数和波长；
显示模块，用于当所述至少一个光通信器件中有需要进行插损校正的待测光通信器件时，根据待测光通信器件的个数以及所述待测光通信器件的插损链路类型和波长个数，显示对应的测试链路界面；
第一选择模块，用于针对所述待测光通信器件中非首次进行插损校正的第一待测光通信器件，自动选择与所述第一待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第一测试链路；
第二选择模块，用于针对所述待测光通信器件中首次进行插损校正的第二待测光通信器件，根据用户输入的手动选择指令，选择与所述第二待测光通信器件的插损链路类型和波长对应的第二测试链路；
第一校正模块，用于根据上一次测量的所述第一待测光通信器件的插损值和通过所述第一测试链路自动测量的光功率，得到所述第一待测光通信器件的当前实际光功率并校正所述第一测试链路自动测量的光功率；
第二校正模块，用于根据通过所述第二测试链路自动测量的光功率和用户通过所述第二测试链路手动测量的光功率，得到所述第二待测光通信器件的当前插损值并校正所述第二测试链路自动测量的光功率。
10.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810943390.4A CN108964754B (zh) | 2018-08-17 | 2018-08-17 | 光通信器件的插损校正方法、系统及插损测量系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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