CN108959028B - 磁盘生命周期分析方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种磁盘生命周期分析方法及装置，所述方法包括：获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。采用本方案，可实现对磁盘失效时间的自动化预测，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。

Description

磁盘生命周期分析方法及装置

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种磁盘生命周期分析方法及装置。

背景技术

随着信息化社会的不断发展，各类数据呈现井喷式的增长，从而需大量的存储介质来实现对数据的存储。而磁盘以其存储性能高、存储容量大、存储可靠性高等特点成为重要的存储介质之一。

在使用磁盘对数据存储过程中，由于磁盘的正常磨损、人为操作、及环境影响等会造成磁盘的失效，从而引发磁盘中存储的数据的破坏或丢失，所以，磁盘性能的检测尤为重要。

然而，目前在对磁盘性能的检测过程中，通常是收集当前磁盘性能数据，确定当前磁盘的可用性，从而使得对磁盘性能的检测具有较高的滞后性，提高数据的存储风险；并且，现有技术中需运维或采购人员等以人工的方式判断磁盘的失效时间，从而大大降低磁盘的性能测试效果，提高磁盘维护的人力成本。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的磁盘生命周期分析方法及装置。

根据本发明的一个方面，提供了一种磁盘生命周期分析方法，包括：

获取目标磁盘的监控指标信息；

根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

根据本发明的另一方面，提供了一种磁盘生命周期分析装置，包括：

获取模块，适于获取目标磁盘的监控指标信息；

生成模块，适于根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

分析模块，适于根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

根据本发明的又一方面，提供了一种计算设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；

所述存储器用于存放至少一可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行上述磁盘生命周期分析方法对应的操作。

根据本发明的再一方面，提供了一种计算机存储介质，所述存储介质中存储有至少一可执行指令，所述可执行指令使处理器执行如上述磁盘生命周期分析方法对应的操作。

根据本发明提供的磁盘生命周期分析方法及装置，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；最终根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。采用本方案，可实现对磁盘失效时间的自动化预测，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1示出了根据本发明一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图；

图2示出了根据本发明另一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图；

图3示出了根据本发明另一个实施例提供目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线及预测磁盘磨损率变化曲线；

图4示出了根据本发明一个实施例提供的磁盘生命周期分析装置的功能结构示意图；

图5示出了根据本发明一个实施例提供的一种计算设备的结构示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

图1示出了根据本发明一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图。如图1所示，该方法包括：

步骤S110，获取目标磁盘的监控指标信息。

其中，目标磁盘为当前待分析磁盘，监控指标信息包括与目标磁盘的磁盘性能相关的指标信息，本领域技术人员可根据实际的业务情况自行选择目标磁盘的监控指标，如可选择磁盘容量、磁盘读写速度、及磁盘转速等指标作为目标磁盘的监控指标。并且，本实施例对获取目标磁盘的监控指标信息的具体方法不做限定，例如，可通过磁盘查看工具等方式获得目标磁盘的监控指标信息。

步骤S120，根据目标磁盘的监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。

根据步骤S110中获取的目标磁盘的监控指标信息，绘制目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。具体地，根据目标磁盘的监控指标信息，确定多个时刻对应的目标磁盘的磁盘磨损率，其中，该多个时刻早于或等于当前时间，根据确定的各个时刻的磁盘磨损率获得目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。

步骤S130，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

具体地，获取历史的磁盘生命周期数据。其中，历史的磁盘生命周期数据包含除目标磁盘之外的其他磁盘的历史磁盘生命周期数据。并结合步骤S120中生成的目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，确定目标磁盘的失效时间。其中，本实施例对根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间的方法不做限定，例如，可通过机器学习的方法，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

上文所述的历史磁盘生命周期数据可以是磁盘完整的生命周期数据，即从磁盘使用开始到磁盘报废为止的时间段内多个时刻对应的信息，也可以是磁盘部分的生命周期数据，即从磁盘磨损的某个时刻开始到另一时刻的时间段内多个时刻对应的信息，当然也可以从磁盘磨损的某个时刻开始直到磁盘报废为止的时间段内多个时刻对应的信息。本领域技术人员应可理解，对于分析目标磁盘的失效时间而言，与磁盘后续生命周期(磨损率)对应的历史磁盘生命周期数据更有参考价值。

根据本实施例提供的磁盘生命周期分析方法，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；最终根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。本方案中根据当前时间之前目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及其他磁盘的历史磁盘生命周期数据，自动预测磁盘失效时间，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。

图2示出了根据本发明另一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图。如图2所示，该方法包括：

步骤S210，获取目标磁盘的监控指标信息。

首先，根据目标磁盘信息确定该目标磁盘的监控指标。其中，监控指标为与目标磁盘的磁盘性能相关的指标，如可影响目标磁盘的失效时间的指标等。本领域技术人员可根据实际的业务情况自行选择目标磁盘的监控指标，例如，可根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。

进一步地，获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。其中，本实施例中的监控指标信息具体为S.M.A.R.T指标信息。S.M.A.R.T(Self-Monitoring Analysis andReporting Technology，自动检测分析及报告技术)能对磁盘的磁头单元、磁盘温度、盘片表面介质材料、马达及其驱动系统、和/或磁盘内部电路等进行监测及报告。所以，在具体的实施过程中，可通过S.M.A.R.T查看工具，选择确定的目标磁盘的监控指标，并获取S.M.A.R.T定期上传的该目标磁盘的监控指标信息。

步骤S220，根据目标磁盘的监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。

具体地，根据周期性上报的目标磁盘的监控指标信息，确定多个时刻对应的目标磁盘的磁盘磨损率，其中，该多个时刻早于或等于当前时间，根据确定的各个时刻的磁盘磨损率获得目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。如图3所示，根据目标磁盘在T₀、T₁、T₂、T₃、以及T₄时刻所对应的磁盘磨损率获得目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线L₁。

可选的，本实施例中所述的目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线还包括可通过相应的方法转换为目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的曲线。例如，本实施例中还可根据目标磁盘的监控指标信息，生成目标磁盘的写入速度变化曲线，而目标磁盘的写入速度变化曲线可通过相应的转换方法与目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线进行转换。

步骤S230，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线。

获取历史的磁盘生命周期数据。其中，历史的磁盘生命周期数据包含除目标磁盘之外的其他磁盘的历史磁盘生命周期数据。结合步骤S220中生成的目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，确定目标磁盘的失效时间。具体地，可采用机器学习方法，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。如图3所示，采用机器学习方法，根据步骤S220中生成的目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线L₁，以及其他磁盘的磁盘生命周期数据生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线L₂。

步骤S240，确定目标磁盘的失效时间。

具体地，将步骤S230中生成的预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。如图3所示，若预设磨损率阈值为M％，与磨损率M％对应的时间点为T，则将T作为目标磁盘的失效时间。

步骤S250，根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。

为进一步地提高预测的目标磁盘的失效时间的准确度，本步骤中可根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。具体地，可根据历史的其他磁盘的磁盘业务量和/或工作温度对磁盘生命周期数据的影响，以及目标磁盘的业务量和/或工作温度通过机器学习或其他修正方法修正目标磁盘的失效时间。

此外，在一种可选的实施方式中，为提高目标磁盘中数据的稳定性及安全性，可进一步地根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息。具体地，当目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度大于预设波动阈值时，发送警报信息。其中，发送警报信息可以采用邮件、短信、微信、app通知、网页消息等各种方式实现，本发明对具体发送警报信息的形式不做限定，本领域技术人员可根据实际的业务需求自行设定。

在又一种可选的实施方式中，为便于后续对磁盘性能的检测及磁盘的维护，可进一步地根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因。具体地，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析业务量和/或工作温度对磁盘磨损率的影响，从而便于对后续磁盘的维护。

根据本实施例提供的磁盘生命周期分析方法，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；并通过机器学习的方法，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及其他磁盘的历史磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线，并将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率等于预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间，从而实现磁盘失效时间的快速及自动化预测，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施；另外，通过目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间，可进一步地提高预测的目标磁盘的失效时间的准确度；并且，可根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息，从而进一步提高目标磁盘中数据的稳定性及安全性；此外，还可根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因，从而便于后续对磁盘性能的检测及磁盘的维护。

图4示出了根据本发明一个实施例提供的磁盘生命周期分析装置的功能结构示意图。如图4所示，该装置包括：获取模块41、生成模块42、分析模块43。

其中，获取模块41，适于获取目标磁盘的监控指标信息。

生成模块42，适于根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。

分析模块43，适于根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

可选的，分析模块43进一步适于：根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。

可选的，该装置还包括：修正模块(图中未示出)，适于根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。

可选的，分析模块43进一步适于：根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，通过机器学习的方法分析目标磁盘的失效时间。

可选的，该装置还包括：警报模块(图中未示出)，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息。

可选的，警报模块进一步适于：当目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度大于预设波动阈值时，发送警报信息。

可选的，该装置还包括：归因模块(图中未示出)，适于根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因。

可选的，归因模块进一步适于：根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析业务量和/或工作温度对磁盘磨损率的影响。

可选的，该装置还包括：确定模块(图中未示出)，适于在所述获取模块获取目标磁盘的监控指标信息之前，根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。

可选的，获取模块41进一步适于：获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。

可选的，监控指标信息具体为：S.M.A.R.T指标信息。

根据本实施例提供的磁盘生命周期分析装置，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；最终根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。本方案中根据当前时间之前目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及其他磁盘的历史磁盘生命周期数据，自动预测磁盘失效时间，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本装置结构简单，适于大规模生产应用。

根据本发明一个实施例提供了一种非易失性计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有至少一可执行指令，当该计算机可执行指令被处理器执行时，可实现上述任意方法实施例中的磁盘生命周期分析方法。

图5示出了根据本发明一个实施例提供的一种计算设备的结构示意图，本发明具体实施例并不对计算设备的具体实现做限定。

如图5所示，该终端可以包括：处理器(processor)502、通信接口(CommunicationsInterface)504、存储器(memory)506、以及通信总线508。

其中：

处理器502、通信接口504、以及存储器506通过通信总线508完成相互间的通信。

通信接口504，用于与其它设备比如客户端或其它服务器等的网元通信。

处理器502，用于执行程序510，具体可以执行上述磁盘生命周期分析方法实施例中的相关步骤。

具体地，程序510可以包括程序代码，该程序代码包括计算机操作指令。

处理器502可能是中央处理器CPU，或者是特定集成电路ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)，或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。计算设备包括的一个或多个处理器，可以是同一类型的处理器，如一个或多个CPU；也可以是不同类型的处理器，如一个或多个CPU以及一个或多个ASIC。

存储器506，用于存放程序510。存储器506可能包括高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。

程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：

获取目标磁盘的监控指标信息；

根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，通过机器学习的方法分析目标磁盘的失效时间。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：当目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度大于预设波动阈值时，发送警报信息。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析业务量和/或工作温度对磁盘磨损率的影响。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。

在一种可选的实施方式中，程序510具体可以用于使得处理器502执行以下操作：获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。

在一种可选的实施方式中，所述监控指标信息具体为：S.M.A.R.T指标信息。

在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的磁盘生命周期分析装置中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

Claims (24)

1.一种磁盘生命周期分析方法，包括：

获取目标磁盘的监控指标信息；

根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间；

所述监控指标信息包括与目标磁盘的磁盘性能相关的指标信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间进一步包括：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述方法还包括：

根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间进一步包括：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，通过机器学习的方法分析目标磁盘的失效时间。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线之后，所述方法还包括：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息进一步包括：

当目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度大于预设波动阈值时，发送警报信息。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线之后，所述方法还包括：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，所述根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因进一步包括：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析业务量和/或工作温度对磁盘磨损率的影响。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述获取目标磁盘的监控指标信息之前，所述方法还包括：

根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，所述获取目标磁盘的监控指标信息进一步包括：

获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，所述监控指标信息具体为：S.M.A.R.T指标信息。

12.一种磁盘生命周期分析装置，包括：

获取模块，适于获取目标磁盘的监控指标信息；

生成模块，适于根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；

分析模块，适于根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间；

所述监控指标信息包括与目标磁盘的磁盘性能相关的指标信息。

13.根据权利要求12所述的装置，其中，所述分析模块进一步适于：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；

将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。

14.根据权利要求12或13所述的装置，其中，所述装置还包括：

修正模块，适于根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。

15.根据权利要求12所述的装置，其中，所述分析模块进一步适于：

根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，通过机器学习的方法分析目标磁盘的失效时间。

16.根据权利要求12所述的装置，其中，所述装置还包括：

警报模块，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度，发送警报信息。

17.根据权利要求16所述的装置，其中，所述警报模块进一步适于：

当目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线的波动程度大于预设波动阈值时，发送警报信息。

18.根据权利要求12所述的装置，其中，所述装置还包括：

归因模块，适于根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析引起目标磁盘的磁盘磨损率变化的原因。

19.根据权利要求18所述的装置，其中，所述归因模块进一步适于：

根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，分析业务量和/或工作温度对磁盘磨损率的影响。

20.根据权利要求12所述的装置，其中，所述装置还包括：

确定模块，适于在所述获取模块获取目标磁盘的监控指标信息之前，根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。

21.根据权利要求12所述的装置，其中，所述获取模块进一步适于：获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。

22.根据权利要求12所述的装置，其中，所述监控指标信息具体为：S.M.A.R.T指标信息。

23.一种计算设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；

所述存储器用于存放至少一可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行如权利要求1-11中任一项所述的磁盘生命周期分析方法对应的操作。

24.一种计算机存储介质，所述存储介质中存储有至少一可执行指令，所述可执行指令使处理器执行如权利要求1-11中任一项所述的磁盘生命周期分析方法对应的操作。

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