CN108957565A - 物品检测方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种物品检测方法和装置，其中，该方法包括：收发单元向置于该收发单元和反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收该发射信号经该待检测物品和该反射物反射后的接收信号；根据该接收信号检测该待检测物品；其中，该接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是发射信号经该待检测物品透射后的信号经过该反射物反射后再次经该待检测物品透射后获得的信号。通过本实施例的上述方法，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

Description

物品检测方法和装置

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种物品检测方法和装置。

背景技术

近年来，公共场所的安全问题越来越受到人们的重视，如何对诸如管制器具、易燃易爆品等危险品进行检测成为重要的问题。目前，针对危险品的检测装置广泛应用于机场、火车站、地铁站、体育场等各种人员密集场合，危险品检测装置可以分为两个类型：接触式和非接触式。接触式检测装置需要将可疑物品(例如装有液体的瓶子)放置在检测装置上进行检测，而非接触式检测装置能够在可疑物移动到距离检测装置一定范围内即启动检测并分辨可疑物是否属于危险品。

应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本发明的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本发明的背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

发明内容

目前针对非接触式检测装置，常见的检测方法之一是X射线探测方法，但是该方法成本通常较高，长期使用将会对工作人员的身体健康造成影响。

本发明实施例提出了一种物品检测方法和装置，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

根据本发明实施例的第一个方面，提供了一种物品检测装置，该装置包括：收发单元、处理单元和反射物；

该收发单元向置于该收发单元和该反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收该发射信号经该待检测物品和该反射物反射后的接收信号；

该处理单元根据该接收信号检测该待检测物品；

其中，该接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是该发射信号经该待检测物品透射后的信号经过该反射物反射后再次经该待检测物品透射后获得的信号。

根据本发明实施例的第二个方面，提供了一种物品检测方法，其中，该方法包括：

由收发单元向置于该收发单元和反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收该发射信号经该待检测物品和该反射物反射后的接收信号；

根据该接收信号检测该待检测物品；

其中，该接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是该发射信号经该待检测物品透射后的信号经过该反射物反射后再次经该待检测物品透射后获得的信号。

本发明实施例的有益效果在于，通过本实施例的上述方法和装置，通过向待检测物品发射信号，并设置反射物，能够接收经待检测物品和反射物反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，由此，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

参照后文的说明和附图，详细公开了本发明的特定实施方式，指明了本发明的原理可以被采用的方式。应该理解，本发明的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本发明的实施方式包括许多改变、修改和等同。

针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。

应该强调，术语“包括/包含”在本文使用时指特征、整件、步骤或组件的存在，但并不排除一个或更多个其它特征、整件、步骤或组件的存在或附加。

附图说明

参照以下的附图可以更好地理解本发明的很多方面。附图中的部件不是成比例绘制的，而只是为了示出本发明的原理。为了便于示出和描述本发明的一些部分，附图中对应部分可能被放大或缩小。在本发明的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或更多个其它附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。此外，在附图中，类似的标号表示几个附图中对应的部件，并可用于指示多于一种实施方式中使用的对应部件。

在附图中：

图1是本实施例1中物品检测装置的示意图；

图2是本实施例1中收发单元，待检测物品，反射物位置示意图；

图3是本实施例1中处理单元102构成示意图；

图4是本实施例2中物品检测装置的硬件构成示意图；

图5是本实施例3中物品检测方法流程图；

图6是本实施例3中步骤502流程图；

图7是本实施例3中物品检测方法流程图；

图8是本实施例1中微波传感器频率调制方式示意图；

图9和图10分别是本实施例3中第一参考特性范围和第二参考特性范围示意图。

具体实施方式

参照附图，通过下面的说明书，本发明实施例的前述以及其它特征将变得明显。这些实施方式只是示例性的，不是对本发明的限制。为了使本领域的技术人员能够容易地理解本发明的原理和实施方式，本发明实施例以发射微波信号为例进行说明，但可以理解，本发明实施例并不限于发射微波信号。

下面参照附图对本发明的具体实施方式进行说明。

实施例1

本实施例1提供一种物品检测装置；图1是该物品检测装置构成示意图，如图1所示，装置100包括：收发单元101、处理单元102和反射物103；

其中，收发单元101向待检测物品发送发射信号；并接收该发射信号经该待检测物品和反射物103反射后的接收信号；其中，该待检测物品放置于该收发单元101和该反射物103之间；

该处理单元102根据该接收信号检测该待检测物品。

其中，该接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是该发射信号经该待检测物品透射后的信号经过该反射物103反射后再次经该待检测物品透射后获得的信号。

通过本实施例的上述装置，其向待检测物品发射信号，通过设置反射物，能够接收经待检测物品和反射物反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，由此，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

在本实施例中，收发单元101具有发射信号和接收信号的功能，可由微波传感器实现。例如，收发单元101是工作在24.05GHz～24.25GHz的微波传感器，其向待检测物品发射微波信号，但本实施例并不以此作为限制，该收发单元101还可以是除微波传感器之外的其他传感器或者使用了除多普勒雷达技术外的微波传感器，例如，该收发单元101还可以是工作在Ka波段27GHz～40GHz的微波设备，或者该收发单元101也可以是太赫兹设备，此处不再一一列举。

图2是本实施例中该待检测物品和收发单元，反射物位置示意图，如图2所示，该待检测物品200放置于该收发单元101和该反射物103之间，该收发单元101发射的发射信号C接触到待检测物品200会反射一个第一反射信号A，另外，该收发单元101发射的发射信号经过待检测物品200会透射出一个信号E接触到反射物103，该透射出的信号E经过该反射物后会反射一个信号，该反射的信号再次经过该待检测物品200的透射后得到第二反射信号B，该收发单元101接收经待检测物品200和反射物103反射后的叠加接收信号，即第一反射信号A和第二反射信号B的叠加信号。

在本实施例中，该反射物103可以采用反射性高，散射性低的材质。这样，在经过待检测物品200透射的信号接触到该反射物103时，能够使该信号得到充分的反射，减少能量损失，提高检测精度。其中，为了实现该高反射性，以及低散射性，反射物103可以是金属板或者能够聚光的光学透镜，以上仅为示例说明，但本实施例并不以此作为限制。另外，该反射物103的反射面的尺寸可以小于待检测物品，这样，能够避免收发单元101发射的信号不经过待检测物品的透射而直接接触到反射物103上所引入的测量误差，从而提高检测精度。

在本实施例中，处理单元102根据收发单元101接收到的叠加的接收信号来区分不同物品，可以是根据该叠加的接收信号的第一特性来检测物品，也可以根据接收信号，分别获得第一反射信号和第二反射信号，根据该第一反射信号和第二反射信号的第一特性来检测物品，本实施例并不以此作为限制。

由于不同物品的材质不同，因此其反射特性也会存在差异，这样的差异，可以用于物品的识别，而由于某些物品的反射特性较为接近，仅仅依靠反射特性无法区分开物品，为了提高检测精度，本实施例提出了一种物品检测装置，其先利用经待检测物品反射的第一反射信号的第一特性确定待检测物品，在不能检测出待检测物品时，再根据反射物反射的第二反射信号的第一特性确定待检测物品。

其中，该第一特性可以是反射信号强度，但本实施例并不以此作为限制，其还可以是反射信号相位变化量等其他特性，需要说明的是，本实施例并不对获取上述第一特性的方法进行限制，即反射信号强度可以采用现有技术计算，例如，如果将使用了多普勒雷达技术的微波传感器作为收发单元101，多普勒雷达的回波中即包含了接收信号的幅度、相位、频移等大量信息，通过对多普勒雷达的回波进行处理，即可获得反射信号强度，以上仅为示例性的说明，但本实施例并不以此作为限制。

以下将说明该处理单元102如何根据该接收信号检测该待检测物品。

图3是该处理单元102构成示意图，如图3所示，该处理单元102包括：

第一处理模块301，其用于根据该接收信号中的第一反射信号的第一特性检测该待检测物品；

第二处理模块302，其用于在该第一处理模块301根据该第一反射信号的第一特性不能检测出该待检测物品时，根据该接收信号中的第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

根据上述说明可知，由于不同物品的材质不同，因此其反射特性也会存在差异，这样的差异，可以用于物品的识别(第一处理模块301)，而由于某些物品的反射特性较为接近，仅仅依靠第一反射信号的第一特性无法区分开物品，为了提高检测精度，在该第一处理模块301在根据该第一反射信号的第一特性不能检测出该待检测物品时，第二处理模块302根据该接收信号中的第二反射信号的第一特性检测该待检测物品，这样由于不同物品的材质不同，其透射特性也会存在差异，该第二反射信号经过了待检测物品的两次透射，因此，可以根据该第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

由此，仅发射一次信号，通过设置反射物，能够接收经待检测物品和反射物反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，可以利用待检测物品的反射和透射特性，更精确的进行物品检测。

在本实施例中，第一处理模块301可以根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及该第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

其中，该预存的第一参考特性范围与该待检测物品和收发单元101的距离对应，例如，该物品检测装置100还可以包括：训练单元(未图示，可选)，其可以预先使用收发单元101，在与待检测物品的同一距离下，针对不同的物品进行测试，得到不同物品的第一反射信号的第一特性的训练数据，使用现有的机器学习的方法预先对不同的物品的第一反射信号的第一特性训练数据进行训练，得到参与测试的各个物品对应的第一参考特性范围(例如将每种物品测试得到的最小第一特性值与最大第一特性值之间的取值范围作为该物品在该距离下对应的第一参考特性范围，但本实施例并不以此作为限制)，从而得到在该距离下第一参考特性范围和物品的对应关系。在实际检测时，并不知道待测的目标物品，但根据实际得到的第一反射信号的第一特性，以及该对应关系，即可以确定目标物品。

在本实施例中，该物品的第一参考特性范围可以存在多组，分别与不同的收发单元和待检测物品的距离对应，例如，如表1所示，可以预存N组第一参考特性范围S₁,S₂,...,S_N，其中S_N可以包括不同物品(m种)对应的不同参考特性范围[aN,bN]、[cN,dN]、[eN,fN]、…、[gN,hN]、[kN,lN]，分别对应收发单元101和待检测物品200的第一距离d₁,d₂,...,d_N，在第一处理模块301实际测量时，在该收发单元101和待检测物品200的第一距离为d_N时，将该第一参考特性范围S_N中的[aN,bN]、[cN,dN]、[eN,fN]、…、[gN,hN]、[kN,lN]与第一反射信号的第一特性进行对比，确定该第一反射信号的第一特性落入S_N中的哪个范围内，即可确定该待检测物品200。

表1

物品	d1	d2	…	dN-1	dN
						物品1	[a1，b1]	[a2，b2]		[aN-1，bN-1]	[aN，bN]
物品2	[c1，d1]	[c2，d2]		[cN-1，dN-1]	[cN，dN]
						物品3	[e1，f1]	[e2，f2]		[eN-1，fN-1]	[eN，fN]
…	…	…		…	…
						物品m-1	[g1，h1]	[g2，h2]		[gN-1，hN-1]	[gN，hN]
物品m	[k1，l1]	[k2，l2]		[kN-1，lN-1]	[kN，lN]

在本实施例中，在一种以上物品的第一参考特性范围有重叠时，该第一处理模块301根据该第一反射信号的第一特性不能检测出该待检测物品，这时，第二处理模块302根据该接收信号中的第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

在本实施例中，第二处理模块302可以根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及该第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。其中，该预存的第二参考特性范围与该反射物和收发单元101的第二距离，以及待检测物品和收发单元101的第一距离对应。

例如，如表2所示，在一种以上物品(m’种)的第一参考特性范围有重叠时，可以预存N组第二参考特性范围S₁,S₂,...,S_N，其中S_N可以包括不同物品(m’种)对应的不同参考特性范围[pN,qN]、[rN,sN]、…、[xN,yN]，分别对应收发单元101和待检测物品200的第一距离为d₁,d₂,...,d_N，收发单元101和反射物103的第二距离为d₁',d₂',...,d_N'。该训练单元(未图示)可以预先使用收发单元101，在收发单元101与反射物103处于同一第二距离，与待检测物品200处于同一第一距离下，针对不同的物品进行测试，得到不同物品的第二反射信号的第一特性的训练数据，使用现有的机器学习的方法预先对不同的物品的第二反射信号的第一特性训练数据进行训练，得到参与测试的各个物品对应的第二参考特性范围，其具体确定方式与第一参考特性范围类似，第二处理模块302在实际测量时，在该收发单元101和待检测物品200的距离为d_N，收发单元101和反射物103的距离为d_N'时，将该第二参考特性范围S_N中的[pN,qN]、[rN,sN]、…、[xN,yN]与第二反射信号的第一特性进行对比，确定该第二反射信号的第一特性落入S_N中的哪个范围内，即可确定该物品。

表2

物品	d1，d1'	d2，d2'	…	dN-1，dN-1'	dN，dN'
						物品1	[p1，q1]	[p2，q2]		[pN-1，qN-1]	[pN，qN]
物品2	[r1，s1]	[r2，s2]		[rN-1，sN-1]	[rN，sN]
						…	…	…		…	…
物品m’	[x1，y1]	[x2，y2]		[xN-1，yN-1]	[xN，yN]

在本实施例中，如图3所示，该处理单元102还可以包括：

确定模块303，其用于将接收信号与发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对该基带信号进行快速傅里叶变换(Fast Fourier Transformation，FFT)处理，以得到该第一反射信号的第一特性和该第二反射信号的第一特性。

在本实施例中，其具体混频处理的方式可以参考现有技术，其中，在使用上述多普勒雷达传感器时，混频后得到的基带信号是两个正交的I,Q信号，根据该正交I,Q信号进行FFT处理可以分别提取第一反射信号的第一特性和第二反射信号的第一特性。

以下举例说明如何根据该正交I,Q信号进行FFT处理提取该第一特性。

例如，在该收发单元101是以连续调频(Frequency-modulated Continuous Wave，FMCW)方式工作的微波传感器，图8是该微波传感器频率调制方式示意图，如图8所示，其中，B表示发射信号的频率在一个周期内的变化量，T表示周期，c表示光速，在第一距离为D1，第二距离为D2时，其第一反射信号的频率为第二反射信号的频率为利用FFT对I/Q信号进行处理得到I/Q信号的频谱，该频谱在频率f1和f2处的幅值即为第一反射信号的第一特性值(例如反射信号强度值)和第二反射信号的第一特性值(例如反射信号强度值)。

在本实施例中，为了便于从该接收信号中区分开第一反射信号和第二反射信号，如图2所示，该反射物103和收发单元101的第二距离D2是待检测物品200和收发单元101的第一距离D1的倍数，且该第一距离D1可以与该收发单元101的分辨率有关，但本实施例并不以此作为限制。

以下以4种物品为例对本实施例中的处理单元102如何进行物品检测进行说明。

例如，预定4种不同的物品，如物品1，物品2，物品3，物品4，根据表1和2可知，预先得到的每种物品在第一距离d_N，反射物在第二距离d_N'时的第一参考特性范围是[aN,bN]、[cN,dN]、[eN,fN]、[gN,hN](其中，由于物品3和4的反射特性类似，因此，[eN,fN]、[gN,hN]有重叠范围)，物品3和4的第二参考特性范围是[pN,qN]、[rN,sN]。将待检测物品放置在收发单元101和反射物103之间，该收发单元101发送发射信号并接收经待检测物品200和反射物103反射后的叠加信号，确定模块303得到该第一反射信号的第一特性是X，第一处理模块301判断X是否落入[aN,bN]、[cN,dN]、[eN,fN]、[gN,hN]，如果落入范围[aN,bN]或[cN,dN]，则可以直接确定该物品为物品1或物品2，如果落入范围[eN,fN]或[gN,hN]，则无法区分该待检测物品是物品3还是物品4，确定模块303得到该第二反射信号的第一特性是Y，第二处理模块302判断Y是否落入范围[pN,qN]、[rN,sN]，如果落入范围[pN,qN]或[rN,sN]，则确定该物品为物品3或物品4。

通过本实施例的上述装置，向待检测物品发射信号，通过设置反射物，能够接收经物品和反射物后的反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，由此，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

实施例2

本实施例2还提供了一种物品检测装置，图4是本发明实施例物品检测装置的硬件构成示意图，如图4所示，装置400可以包括：一个接口(图中未示出)，中央处理器(CPU)420，存储器410和收发器440；存储器410耦合到中央处理器420。其中存储器410可存储各种数据；此外还存储物品检测的程序，并且在中央处理器420的控制下执行该程序，并存储各种预设的值和预定的条件等。

在一个实施方式中，物品检测装置的功能可以被集成到中央处理器420中。其中，中央处理器420可以被配置为：控制收发器440向置于收发器和反射物之间的待检测物品发送发射信号，并接收该发射信号经该待检测物品和反射物反射后的接收信号；根据该接收信号检测该待检测物品；其中，该接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是该发射信号经该待检测物品透射后的信号经过该反射物反射后再次经该待检测物品透射后获得的信号。

其中，中央处理器420还可以被配置为：根据该接收信号中的第一反射信号的第一特性检测该待检测物品；在根据该第一反射信号的第一特性不能检测出该待检测物品时，根据该接收信号中的第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

其中，中央处理器420还可以被配置为：将该接收信号与该发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对该基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到该第一反射信号的第一特性和该第二反射信号的第一特性。

其中，中央处理器420还可以被配置为：根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及该第一反射信号的第一特性检测该待检测物品，根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及该第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

中央处理器420的具体实施方式可以参考实施例1，此处不再重复。

在另一个实施方式中，也可以将上述物品检测装置配置在与中央处理器420连接的芯片(图中未示出)上，通过中央处理器420的控制来实现物品检测装置的功能。

值得注意的是，装置400也并不是必须要包括图4中所示的所有部件；此外，该装置400还可以包括图4中没有示出的部件，可以参考现有技术。

通过本实施例的上述装置，向待检测物品发射信号，通过设置反射物，能够接收经物品和反射物后的反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，由此，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

实施例3

本发明实施例3提供了一种物品检测方法，由于该方法解决问题的原理与实施例1和2的装置类似，因此其具体的实施可以参考实施例1和2的装置的实施，内容相同之处，不再重复说明。

图5是本实施例的物品检测方法的一个实施方式的流程图，请参照图5，该方法包括：

步骤501，收发单元向置于该收发单元和反射物之间的待检测物品发送发射信号，并接收该发射信号经该待检测物品和该反射物反射后的接收信号；

步骤502，根据该接收信号检测所述待检测物品。

其中，该接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，该第一反射信号是该发射信号经该待检测物品反射后的信号，该第二反射信号是该发射信号经该待检测物品透射后的信号经过该反射物反射后再次经该待检测物品透射后获得的信号。

在本实施例中，步骤501-502的具体实施方式可以参考实施例1中收发单元101，处理模块102，其内容合并于此，重复之处不再赘述。

通过本实施例的上述方法，向待检测物品发射信号，通过设置反射物，能够接收经物品和反射物后的反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，由此，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

图6是本实施例中该步骤502的一种实施方式示意图，如图6所示，步骤502包括：

步骤601，将该接收信号与该发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对该基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到该第一反射信号的第一特性和该第二反射信号的第一特性。

步骤602，根据该接收信号中的第一反射信号的第一特性检测该待检测物品；

步骤603，在根据该第一反射信号的第一特性不能检测出该待检测物品时，根据该接收信号中的第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

其中，在步骤602中，根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及该第一反射信号的第一特性检测该待检测物品，在步骤603中，根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及该第二反射信号的第一特性检测该待检测物品。

在本实施例中，步骤601-603的具体实施方式可以参考实施例1中第一处理模块301，第二处理模块302，确定模块303，其内容合并于此，重复之处不再赘述。

在本实施例中，该反射物可以采用反射性高，散射性低的材质。这样，在经过待检测物品后透射的信号接触到该反射物时，能够使该信号得到充分的反射，减少能量损失，提高检测精度。其中，为了实现该高反射性，以及低散射性，反射物可以是金属板、或者能够聚光的光学透镜，以上仅为示例说明，但本实施例并不以此作为限制。另外，该反射物的反射面的尺寸可以小于待检测物品，这样，能够避免收发单元发射的信号不经过待检测物品的透射而直接接触到反射物上，引入测量误差，从而提高检测精度。

在本实施例中，为了便于从接收信号中区分第一反射信号和第二反射信号，可以将反射物103和收发单元101的第二距离D2设置为待检测物品200和收发单元101的第一距离D1的倍数。

图7是本实施例中该物品检测方法流程图，如图7所示，该方法包括：

步骤701，收发单元向待检测物品发送发射信号；并接收该发射信号经该待检测物品和反射物反射后的接收信号；

步骤702，将接收信号与发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到该第一反射信号的第一特性；

步骤703，将该第一反射信号的第一特性与预存的第一参考特性范围进行比较；

步骤704，判断根据该第一特性是否能够确定物品，在判断结果为是时，执行步骤707，否则执行步骤705；

步骤705，对基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到该第二反射信号的第一特性；

步骤706，将该第二反射信号的第一特性与预存的第二参考特性范围进行比较，执行步骤707；

步骤707，输出物品检测结果。

在本实施例中，步骤701-707的具体实施方式可以参考实施例1，重复之处不再赘述。

为了更好的说明上述物品检测方法，以下以该第一特性是反射信号强度，且待检测的物品为4种(水、金属、空瓶和油)为例，对本实施例3中的物品检测方法进行详细说明，其中，预先获得在第一距离为80cm处的4种物品的第一参考特性范围和第二距离为160cm处的4种物品的第二参考特性范围，图9和图10分别是该第一参考特性范围和该第二参考特性范围示意图。

如图9所示，从上至下的点线分别为金属、水、空瓶和油在第一距离的第一特性测试值，计算测试值的平均值，取相邻两种物品的该测试值的平均值的中位线为该两种物品第一参考特性范围的临界，以该临界作为第一参考特性范围。如图9所示，金属的第一参考特性范围为[1.20964,+∞)，水的第一参考特性范围为[0.69562,1.20964)，空瓶和油的第一参考特性范围重叠，都是[0,0.69562)。如图10所示，从上至下的点线分别为空瓶和油在第二距离的第一特性测试值，采用同样的方法得到空瓶和油的第二参考特性范围，例如，空瓶的第二参考特性范围是[0.741593,+∞)，油的第二参考特性范围是[0,0.741593)。

在步骤701中，收发单元向待检测物品发送发射信号，并接收该发射信号经待检测物品和反射物后的接收信号；在步骤702-704中，得到该第一反射信号的第一特性是A，将该A与附图9中的4个第一参考特性范围进行比较，如果A落在范围[1.20964,+∞)，则待检测物品为金属，如果A落在[0.69562,1.20964)，则待检测物品为水，如果A落在[0,0.69562)，无法区分待检测物品是空瓶还是油，则执行步骤705-707，在步骤705-706中，由于该待检测物品为油或空瓶时，该第一反射信号的第一特性无法区分，那么得到该第二反射信号的第一特性B，将该第二反射信号的第一特性B与附图10中的2个第二参考特性范围进行比较，如果B落在范围[0.741593,+∞)，则待检测物品为空瓶，如果B落在[0,0.741593)，则待检测物品为油；在步骤707中，输出物品检测结果。

通过本实施例的上述方法，向待检测物品发射信号，通过设置反射物，能够接收经物品和反射物后的反射后的叠加信号，基于该叠加信号进行物品检测，由此，能够提高物品的检测精度，并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性，缩短检测时间，同时降低检测成本。

本发明实施例还提供一种计算机可读程序，其中当在物品检测装置中执行该程序时，该程序使得计算机在该物品检测装置中执行如上面实施例3中的物品检测方法。

本发明实施例还提供一种存储有计算机可读程序的存储介质，其中该计算机可读程序使得计算机在物品检测装置中执行上面实施例3中的物品检测方法。

结合本发明实施例描述的在物品检测装置中物品检测的方法可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或二者组合。例如，图1，3，4中所示的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，既可以对应于计算机程序流程的各个软件模块，亦可以对应于各个硬件模块。这些软件模块，可以分别对应于图5所示的各个步骤。这些硬件模块例如可利用现场可编程门阵列(FPGA)将这些软件模块固化而实现。

软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域已知的任何其它形式的存储介质。可以将一种存储介质耦接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息；或者该存储介质可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该软件模块可以存储在图像形成装置的存储器中，也可以存储在可插入图像形成装置的存储卡中。

针对图1，3，4描述的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，可以实现为用于执行本申请所描述功能的通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑器件、分立门或晶体管逻辑器件、分立硬件组件、或者其任意适当组合。针对图1，3，4描述的功能框图中的一个或多个和/或功能框图的一个或多个组合，还可以实现为计算设备的组合，例如，DSP和微处理器的组合、多个微处理器、与DSP通信结合的一个或多个微处理器或者任何其它这种配置。

以上结合具体的实施方式对本发明进行了描述，但本领域技术人员应该清楚，这些描述都是示例性的，并不是对本发明保护范围的限制。本领域技术人员可以根据本发明的精神和原理对本发明做出各种变型和修改，这些变型和修改也在本发明的范围内。

关于包括以上多个实施例的实施方式，还公开下述的附记。

附记1、一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元、处理单元和反射物；

所述收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收所述发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的接收信号；

所述处理单元根据所述接收信号检测所述待检测物品；

其中，所述接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述发射信号经所述待检测物品透射后的信号经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射后获得的信号。

附记2、根据附记1所述的装置，其中，所述处理单元包括：

第一处理模块，其用于根据所述接收信号中的第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品；

第二处理模块，其用于在所述第一处理模块根据所述第一反射信号的第一特性不能检测出所述待检测物品时，根据所述接收信号中的第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

附记3、根据附记1所述的装置，其中，所述反射物采用反射性高，散射性低的材质。

附记4、根据附记1所述的装置，其中，所述反射物和所述收发单元的第二距离是所述待检测物品和所述收发单元的第一距离的倍数。

附记5、根据附记2所述的装置，其中，所述第一特性是反射信号强度。

附记6、根据附记1所述的装置，其中，所述反射物是金属板、或者能够聚光的光学透镜。

附记7、根据附记2所述的装置，其中，所述处理单元还包括：

确定模块，其用于将所述接收信号与所述发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对所述基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到所述第一反射信号的第一特性和所述第二反射信号的第一特性。

附记8、根据附记2所述的装置，其中，所述第一处理模块根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及所述第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品，所述第二处理模块根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及所述第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

附记9、根据附记1所述的装置，其中，所述反射物的反射面的尺寸小于所述待检测物品。

附记10、一种物品检测方法，其中，所述方法包括：

由收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收所述发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的接收信号；

根据所述接收信号检测所述待检测物品；

其中，所述接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述发射信号经所述待检测物品透射后的信号经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射后获得的信号。

附记11、根据附记10所述的方法，其中，根据所述接收信号检测所述待检测物品包括：

根据所述接收信号中的第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品；

在根据所述第一反射信号的第一特性不能检测出所述待检测物品时，根据所述接收信号中的第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

附记12、根据附记10所述的方法，其中，所述反射物采用反射性高，散射性低的材质。

附记13、根据附记10所述的方法，其中，所述反射物和所述收发单元的第二距离是所述待检测物品和所述收发单元的第一距离的倍数。

附记14、根据附记11所述的方法，其中，所述第一特性是反射信号强度。

附记15、根据附记10所述的方法，其中，所述反射物是金属板、或者能够聚光的光学透镜。

附记16、根据附记11所述的方法，其中，所述方法还包括：

将所述接收信号与所述发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对所述基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到所述第一反射信号的第一特性和所述第二反射信号的第一特性。

附记17、根据附记11所述的方法，其中，根据所述接收信号中的第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品包括：根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及所述第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品，根据所述接收信号中的第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品包括：根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及所述第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

附记18、根据附记10所述的方法，其中，所述反射物的反射面的尺寸小于所述待检测物品。

Claims (10)

1.一种物品检测装置，其中，所述装置包括：收发单元、处理单元和反射物；

所述收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收所述发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的接收信号；

所述处理单元根据所述接收信号检测所述待检测物品；

其中，所述接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述发射信号经所述待检测物品透射后的信号经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射后获得的信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述处理单元包括：

第一处理模块，其用于根据所述接收信号中的第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品；

第二处理模块，其用于在所述第一处理模块根据所述第一反射信号的第一特性不能检测出所述待检测物品时，根据所述接收信号中的第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物采用反射性高，散射性低的材质。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物和所述收发单元的第二距离是所述待检测物品和所述收发单元的第一距离的倍数。

5.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一特性是反射信号强度。

6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物是金属板、或者能够聚光的光学透镜。

7.根据权利要求2所述的装置，其中，所述处理单元还包括：

确定模块，其用于将所述接收信号与所述发射信号进行混频处理，以获得相应的基带信号，对所述基带信号进行快速傅里叶变换处理，以得到所述第一反射信号的第一特性和所述第二反射信号的第一特性。

8.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一处理模块根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及所述第一反射信号的第一特性检测所述待检测物品，所述第二处理模块根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及所述第二反射信号的第一特性检测所述待检测物品。

9.根据权利要求1所述的装置，其中，所述反射物的反射面的尺寸小于所述待检测物品。

10.一种物品检测方法，其中，所述方法包括：

由收发单元向置于所述收发单元和反射物之间的待检测物品发送发射信号；并接收所述发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的接收信号；

根据所述接收信号检测所述待检测物品；

其中，所述接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号，所述第一反射信号是所述发射信号经所述待检测物品反射后的信号，所述第二反射信号是所述发射信号经所述待检测物品透射后的信号经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射后获得的信号。