CN108955564A - 激光数据重采样方法及系统 - Google Patents

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Abstract

公开了一种激光数据重采样方法及系统。该方法可以包括:设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与样点数量阈值不同时,标记测量样本为重采样样本;根据重采样样本的初始样点数与样点数量阈值,确定重采样样本的重采样样点数;根据重采样样点数对重采样样本进行重采样。本发明通过对目标样本重采样,可以较好的从重采样的数据中反映出目标样本的形状,得到更高精度的激光数据,实现目标样本的识别。

Description

激光数据重采样方法及系统
技术领域
本发明涉及信号处理领域,更具体地,涉及一种激光数据重采样方法及系统。
背景技术
激光传感器是用于探测物体以及其形状的器件,在自动化、机器人领域有广泛应用。激光传感器通过接收所发出去的激光射线来测量周围物体的距离,可以用于障碍物检测、机器人避障、物体识别等。
激光传感器返回的数据是每隔固定的角度对应一个距离的探测值,这样的探测数据具有一个特点,即:对于相同的传感器距物体越远,所表示的相同宽度的被测物体表面的激光点数越少;反之,传感器距物体越近,所表示的激光点数越多,如图1所示。此时,如果需要用激光传感器识别物体形状时,就会存在数据点数不一致的问题。因此,有必要开发一种激光数据重采样方法及系统。
公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的一般背景技术的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明提出了一种激光数据重采样方法及系统,其能够通过对目标样本重采样,可以较好的从重采样的数据中反映出目标样本的形状,得到更高精度的激光数据,实现目标样本的识别。
根据本发明的一方面,提出了一种激光数据重采样方法。所述方法可以包括:设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与所述样点数量阈值不同时,标记所述测量样本为重采样样本;根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数;根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样。
优选地,所述设定样点数量阈值包括:设定距离阈值;以所述距离阈值上的测量样本的初始样点数为所述样点数量阈值。
优选地,所述根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数为:以所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值的最小公倍数为所述重采样样本的重采样样点数。
优选地,所述根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样包括:在所述重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到所述重采样样点数,进而进行平滑处理,获得重采样后的样本。
优选地,还包括:在所述重采样后的样本中等间隔的选择出数量为所述样点数量阈值的样点,对所述重采样样本进行识别。
根据本发明的另一方面,提出了一种激光数据重采样系统,可以包括:确定重采样样本单元,用于设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与所述样点数量阈值不同时,标记所述测量样本为重采样样本;计算单元,用于根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数;重采样单元,用于根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样。
优选地,所述设定样点数量阈值包括:设定距离阈值;以所述距离阈值上的测量样本的初始样点数为所述样点数量阈值。
优选地,所述根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数为:以所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值的最小公倍数为所述重采样样本的重采样样点数。
优选地,所述根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样包括:在所述重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到所述重采样样点数,进而进行平滑处理,获得重采样后的样本。
优选地,还包括:在所述重采样后的样本中等间隔的选择出数量为所述样点数量阈值的样点,对所述重采样样本进行识别。
本发明具有其它的特性和优点,这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施方式中将是显而易见的,或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施方式中进行详细陈述,这些附图和具体实施方式共同用于解释本发明的特定原理。
附图说明
通过结合附图对本发明示例性实施例进行更详细的描述,本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显,其中,在本发明示例性实施例中,相同的参考标号通常代表相同部件。
图1示出了根据现有技术进行激光测量的示意图。
图2示出了根据本发明的激光数据重采样方法的步骤的流程图。
图3示出了根据本发明的一个实施例的对重采样样本进行识别的示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本发明。虽然附图中显示了本发明的优选实施例,然而应该理解,可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了使本发明更加透彻和完整,并且能够将本发明的范围完整地传达给本领域的技术人员。
图2示出了根据本发明的激光数据重采样方法的步骤的流程图。
在该实施例中,根据本发明的激光数据重采样方法可以包括:步骤101,设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与样点数量阈值不同时,标记测量样本为重采样样本;步骤102,根据重采样样本的初始样点数与样点数量阈值,确定重采样样本的重采样样点数;步骤103,根据重采样样点数对重采样样本进行重采样。
在一个示例中,设定样点数量阈值包括:设定距离阈值;以距离阈值上的测量样本的初始样点数为样点数量阈值。
在一个示例中,根据重采样样本的初始样点数与样点数量阈值,确定重采样样本的重采样样点数为:以重采样样本的初始样点数与样点数量阈值的最小公倍数为重采样样本的重采样样点数。
在一个示例中,根据重采样样点数对重采样样本进行重采样包括:在重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到重采样样点数,进而进行平滑处理,获得重采样后的样本。
在一个示例中,还包括:在重采样后的样本中等间隔的选择出数量为样点数量阈值的样点,对重采样样本进行识别。
具体地,激光数据重采样方法可以包括:设定激光发射点与测量样本的距离阈值,以距离阈值上的测量样本的初始样点数为样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与样点数量阈值不同时,标记测量样本为重采样样本;根据重采样样本的初始样点数与样点数量阈值,确定重采样样本的重采样样点数,可以以重采样样本的初始样点数与样点数量阈值的最小公倍数为重采样样本的重采样样点数;在重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到重采样样点数,根据重采样样本的初始样点通过低通滤波器进行平滑处理,获得重采样后的样本,在重采样后的样本中等间隔的选择出数量为样点数量阈值的样点,对重采样样本进行识别。
本发明通过对目标样本重采样,可以较好的从重采样的数据中反映出目标样本的形状,得到更高精度的激光数据,实现目标样本的识别。
应用示例
为便于理解本发明实施例的方案及其效果,以下给出一个具体应用示例。本领域技术人员应理解,该示例仅为了便于理解本发明,其任何具体细节并非意在以任何方式限制本发明。
图3示出了根据本发明的一个实施例的对重采样样本进行识别的示意图。
激光数据重采样方法包括:设定激光发射点与测量样本的距离阈值,以距离阈值上的测量样本(形状A)的初始样点数为样点数量阈值为17个,当测量样本(形状A’)上的初始样点数与样点数量阈值不同时,标记形状A’为重采样样本;以形状A’的初始样点数9与样点数量阈值17的最小公倍数为形状A’的重采样样点数为153个;在重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到153,根据重采样样本的初始样点通过低通滤波器进行平滑处理,获得重采样后的样本,在重采样后的样本中等间隔的选择出17个样点对形状A’进行识别,如图3所示,形状A’的实心圆为初始样点,空心圆为重采样的样点,由于激光发射点距离形状A’较远,初始样点稀疏,不能准确的反映形状A’的实际形状,对形状A’进行重采样后,可以较好的从重采样的数据中反映出形状A’的形状,得到更高精度激光数据,实现对形状A’的识别。
综上所述,本发明通过对目标样本重采样,可以较好的从重采样的数据中反映出目标样本的形状,得到更高精度的激光数据,实现目标样本的识别。
本领域技术人员应理解,上面对本发明的实施例的描述的目的仅为了示例性地说明本发明的实施例的有益效果,并不意在将本发明的实施例限制于所给出的任何示例。
根据本发明的激光数据重采样系统,可以包括:确定重采样样本单元,用于设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与样点数量阈值不同时,标记测量样本为重采样样本;计算单元,用于根据重采样样本的初始样点数与样点数量阈值,确定重采样样本的重采样样点数;重采样单元,用于根据重采样样点数对重采样样本进行重采样。
在一个示例中,设定样点数量阈值包括:设定距离阈值;以距离阈值上的测量样本的初始样点数为样点数量阈值。
在一个示例中,根据重采样样本的初始样点数与样点数量阈值,确定重采样样本的重采样样点数为:以重采样样本的初始样点数与样点数量阈值的最小公倍数为重采样样本的重采样样点数。
在一个示例中,根据重采样样点数对重采样样本进行重采样包括:在重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到重采样样点数,进而进行平滑处理,获得重采样后的样本。
在一个示例中,还包括:在重采样后的样本中等间隔的选择出数量为样点数量阈值的样点,对重采样样本进行识别。
本系统通过对目标样本重采样,可以较好的从重采样的数据中反映出目标样本的形状,得到更高精度的激光数据,实现目标样本的识别。
以上已经描述了本发明的各实施例,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。

Claims (10)

1.一种激光数据重采样方法,包括:
设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与所述样点数量阈值不同时,标记所述测量样本为重采样样本;
根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数;
根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样。
2.根据权利要求1所述的激光数据重采样方法,其中,所述设定样点数量阈值包括:
设定距离阈值;
以所述距离阈值上的测量样本的初始样点数为所述样点数量阈值。
3.根据权利要求1所述的激光数据重采样方法,其中,所述根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数为:
以所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值的最小公倍数为所述重采样样本的重采样样点数。
4.根据权利要求1所述的激光数据重采样方法,其中,所述根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样包括:
在所述重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到所述重采样样点数,进而进行平滑处理,获得重采样后的样本。
5.根据权利要求4所述的激光数据重采样方法,其中,还包括:
在所述重采样后的样本中等间隔的选择出数量为所述样点数量阈值的样点,对所述重采样样本进行识别。
6.一种激光数据重采样系统,包括:
确定重采样样本单元,用于设定样点数量阈值,当测量样本上的初始样点数与所述样点数量阈值不同时,标记所述测量样本为重采样样本;
计算单元,用于根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数;
重采样单元,用于根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样。
7.根据权利要求6所述的激光数据重采样系统,其中,所述设定样点数量阈值包括:
设定距离阈值;
以所述距离阈值上的测量样本的初始样点数为所述样点数量阈值。
8.根据权利要求6所述的激光数据重采样系统,其中,所述根据所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值,确定所述重采样样本的重采样样点数为:
以所述重采样样本的初始样点数与所述样点数量阈值的最小公倍数为所述重采样样本的重采样样点数。
9.根据权利要求6所述的激光数据重采样系统,其中,所述根据所述重采样样点数对所述重采样样本进行重采样包括:
在所述重采样样本的初始样点数中进行内插补零,使样点数达到所述重采样样点数,进而进行平滑处理,获得重采样后的样本。
10.根据权利要求9所述的激光数据重采样系统,还包括:
在所述重采样后的样本中等间隔的选择出数量为所述样点数量阈值的样点,对所述重采样样本进行识别。
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