CN108923866B - 天线校准方法、装置、终端设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种天线校准方法、装置、终端设备及存储介质,该方法包括当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线;确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数;依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准,本方案显著的提高了天线校准精度。
Description
技术领域
本申请实施例涉及通信技术,尤其涉及一种天线校准方法、装置、终端设备及存储介质。
背景技术
天线作为终端设备发射和接收信号的重要装置之一,被集成在各个终端设备中。终端设备中的无线电发射机输出的发射信号通过馈线(电缆)输送到天线后,再由天线以电磁波形式辐射出去。
由于制备工艺以及器件的误差、摆放等使得通过天线进行信号发射时和原始发射信号存在一定误差,需要执行天线校准的步骤,现有技术中的天线校准模式存在缺陷,需要改进。
发明内容
本发明提供了一种天线校准方法、装置、终端设备及存储介质,显著的提高了天线校准精度。
第一方面,本申请实施例提供了一种天线校准方法,包括:
当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线;
确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数;
依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
第二方面,本申请实施例还提供了一种天线校准装置,包括:
天线确定模块,用于当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线;
参数确定模块,用于确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数;
校准模块,用于依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
第三方面,本申请实施例还提供了一种终端设备,包括:处理器、存储器发射天线以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如本申请实施例所述的天线校准方法。
第四方面,本申请实施例还提供了一种包含终端设备可执行指令的存储介质,所述终端设备可执行指令在由终端设备处理器执行时用于执行本申请实施例所述的天线校准方法。
本方案中,当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线,确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数,依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准,本方案显著的提高了天线校准精度。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1是本申请实施例提供的一种天线校准方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的另一种天线校准方法的流程图;
图3是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图;
图4是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图;
图5是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图;
图6是本申请实施例提供的一种天线校准装置的结构框图;
图7是本申请实施例提供的一种终端设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图1是本申请实施例提供的一种天线校准方法的流程图,可适用于对终端设备的天线进行校准,该方法可以由本申请实施例提供的终端设备来执行,该终端设备的天线校准装置可采用软件和/或硬件的方式实现,如图1所示,本实施例提供的具体方案如下:
步骤S101、当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线。
终端设备可通过天线发射信号到基站以和其它终端设备进行通信,或接入互联网进行网络通信。为了保证通信质量,终端设备中通常设置多个天线,例如一个主天线和一个辅天线。在天线发射信号过程中为了保证发送通道的一致性需要进行发射功率校准。
当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线。在一个实施例中,可通过检测终端设备的运行和网络状态确定是否进行信号发射,示例性的,如当检测到终端设备处于通话状态或非飞行模式状态下时,确定发射信号所使用的发射天线,还可以是,当检测到终端设备处于开机状态下,则确定发射信号所使用的发射天线。在另一个实施例中,当检测到信号发射模块工作时,则确定终端设备正在进行信号发射,此时确定发射信号所使用的发射天线。在一个实施例中,通过控制DPDT(Double Pole Double Throw,双刀双掷)的状态以进行不同发射天线之间的切换,故可通过读取DPDT的连通状态以识别确定出当前发射信号所使用的发射天线。示例性的,DPDT通过不同的接线方式可设置4种连通状态,如A、B、C和D,其中每种连通状态可分别对应使用4个发射天线,如a、b、c和d,当识别到DPDT处于不同的连通状态时,可相应的确定终端设备当前使用的发射天线。
步骤S102、确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数。
其中,发射校准参数用于对发射信号的相位、幅值进行校准,在一个实施例中,不同的发射天线对应有不同的发射校准参数。
现有技术中,通过射频测试座来测试天线的校准参数,并将该校准参数应用在信号发射中,传统的终端设备如智能手机,射频测试座设置在DPDT开关输入和发射模块(如蜂窝发射模块)之间,当针对射频测试座设置在DPDT开关输出和天线之间时,不同的天线射频测试座(如主天线射频测试座和辅天线射频测试座)距离DPDT开关的长度不同,示例性的,主天线射频测试座和辅天线射频测试座距离DPDT开关的长度差在2cm时,二者测得的发射功率插损为1.2dB。在一个实施例中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数,当确定出使用的发射天线后,相应的确定该发射天线对应的发射校准参数进行发射功率校准,具体的,可通过查询本地存储的校准参数表确定发射天线对应的发射校准参数,该校准参数表通过测试生成,如控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存。
步骤S103、依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
在一个实施例中,该发射校准参数以校准参数表的形式存储在终端设备中,其中,不同的发射天线对应不同的校准参数表,该校准参数表可以xml形式存在,该校准参数表可被导入到系统中,还可以在进行天线校准时导入该xml形式的校准参数表,根据校准参数表中的参数(以高通芯片为例,示例性的,如TxRGI参数和Power参数)进行功率校准,该校准过程可以是基于3/4g的Tx校准,在一个实施例中,终端设备包含主发射天线和辅发射天线,确定出的主天线校准参数表以及辅天线校准参数表中的参数值可参考下表1和表2,其中,TxRGI为线性校准参数,参数值范围是26~60,表中仅展示部分数值点,Power为TxRGI中各个参数值对应的功率值,即发射天线的校准功率。
表1
表2
具体的,在终端设备进行信号发射过程中,如果使用主发射天线,则相应的利用上述表1中的校准参数进行天线校准,如果使用辅发射天线则相应的使用上述表2中的校准参数进行天线校准,在校准过程中,可根据发射信号对应的线性校准参数查询校准参数表以得到校准后的天线发射功率,并驱动相应的控制元件按照该校准后的功率进行发射。
由上述内容可知,当终端设备进行信号发射时,基于不同的发射天线调用对应的校准参数,提高了终端设备信号发射效率,改善了由于射频测试座距离DPDT开关位置不同带来的不同天线校准功率不同的问题,满足了射频性能需要。
图2是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图,可选的,在检测终端设备进行信号发射之前,还包括:控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存。如图2所示,技术方案具体如下:
步骤S201、控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存。
在一个实施例中,终端设备包含多个发射天线,发射天线对应的射频测试座在DPDT开关和发射天线之间时,由于射频测试座和DPDT开关的距离不同而导致射频测试座到DPDT开关的输出口存在插损,插损越大,射频测试座测量得到的校准功率差异也越大,以终端设备包含两个发射天线为例,主发射天线和辅发射天线测试座距离DPDT开关的距离差为2cm,主发射天线在LTEBAND1 18300信道的发射功率为23.0dBm时,辅天线测试座相同信道测量得到的功率为22dBm,存在1dBm的差异。
在一个实施例中,确定不同发射天线对应的校准参数的过程可以是(以包含两个发射天线,其中一个为主发射天线另一个为辅发射天线为例):控制测试信号通过主发射天线进行信号发射,依据和所述主发射天线对应的主发射测试座的测试结果确定和所述主发射天线对应的主发射校准参数;控制测试信号通过辅发射天线进行信号发射,依据和所述辅发射天线对应的辅发射测试座的测试结果确定和所述辅发射天线对应的辅发射校准参数。即分别测试得到主发射天线和辅发射天线的校准参数并相应保存。其中,可通过控制双刀双掷开关的连通状态控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射。
步骤S202、当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线。
步骤S203、确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数。
步骤S204、依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
由上述可知,在检测到信号发射时,依据保存的不同校准参数对不同的发射天线进行校准,得到输出功率,提高了天线校准精度,避免了射频测试座和DPDT开关距离差异产生的插损影响。
图3是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图,可选的,在所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准之后,还包括:检测所述终端设备是否满足发射天线切换条件,如果满足,则进行发射天线的切换,并依据切换后的发射天线对应的发射校准参数对发射信号进行校准。如图3所示,技术方案具体如下:
步骤S301、控制测试信号通过主发射天线进行信号发射,依据和所述主发射天线对应的主发射测试座的测试结果确定和所述主发射天线对应的主发射校准参数。
步骤S302、控制测试信号通过辅发射天线进行信号发射,依据和所述辅发射天线对应的辅发射测试座的测试结果确定和所述辅发射天线对应的辅发射校准参数。
步骤S303、判断是否使用主发射天线进行信号发射,如果是则执行步骤S304,如果否,则执行步骤S305。
步骤S304、依据主发射校准参数进行天线校准。
步骤S305、依据辅发射校准参数进行天线校准。
步骤S306、判断终端设备是否满足发射天线切换条件,如果是,则执行步骤S307。
在一个实施例中,终端设备包括至少两个发射天线,如一个主发射天线和一个辅发射天线,在使用发射天线进行信号发射过程中,会对发射天线性能进行评估,使用性能好的发射天线进行信号发射,当判断发射天线满足切换条件时,相应的,进行步骤S307进行发射天线的切换以提高终端设备的信号收发性能。可选的,分别对主发射天线和辅发射天线接收的信号强度进行检测,当其中一个发射天线接收的信号强度大于另一个发射天线时(如大于5dBm),且接收信号强度大的发射天线不是当前终端设备的信号发射使用的发射天线时,执行步骤S307。
步骤S307、进行发射天线的切换,切换完毕后,执行步骤S303。
由上述可知,终端设备在进行信号发射过程中可根据发射天线性能进行天线的切换,同时依据切换后的发射天线进行相应的天线校准,进一步完善了天线校准机制。
图4是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图,可选的,在所述检测所述终端设备是否满足发射天线切换条件之前,还包括:判断终端设备是否处于握持状态。如图4所示,技术方案具体如下:
步骤S401、控制测试信号通过主发射天线进行信号发射,依据和所述主发射天线对应的主发射测试座的测试结果确定和所述主发射天线对应的主发射校准参数。
步骤S402、控制测试信号通过辅发射天线进行信号发射,依据和所述辅发射天线对应的辅发射测试座的测试结果确定和所述辅发射天线对应的辅发射校准参数。
步骤S403、判断是否使用主发射天线进行信号发射,如果是则执行步骤S404,如果否,则执行步骤S405。
步骤S404、依据主发射校准参数进行天线校准。
步骤S405、依据辅发射校准参数进行天线校准。
步骤S406、获取终端设备的状态参数。
其中,该状态参数可以是加速度传感器、陀螺仪测得的终端设备的运动状态参数,还可以是触摸屏检测到的触摸状态参数。
步骤S407、依据所述状态参数判断终端设备当前是否处于握持状态,如果是,则执行步骤S408,如果否,则执行步骤S406。
在一个实施例中,该状态参数为加速度参数和/或陀螺仪参数,当参数满足预设条件(如加速度或陀螺仪参数不为0)时,即判定终端设备处于握持状态。在另一个实施例中,该状态参数为触摸屏的触摸状态参数,该参数用于表征触摸屏检测到的触摸区域,如果触摸区域满足握持判断条件(如大于等于1/8的屏幕面积占比)则确定为终端设备处于握持状态。
步骤S408、判断终端设备是否满足发射天线切换条件,如果是,则执行步骤S409。
步骤S409、进行发射天线的切换,切换完毕后,执行步骤S403。
由上述可知,当检测到终端设备处于握持状态时,进行发射天线是否切换的判断,提高了发射天线切换效率,在切换发射天线后,相应的调用对应的校准参数进行天线校准,显著的提高了天线校准精度。
图5是本申请实施例提供的另一种天线校准方法的流程图,可选的,所述确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数包括:依据存储的校准参数表确定所述发射信号所使用的发射天线的校准参数,所述校准参数表中包含线性校准参数和对应的功率值。所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准包括:依据所述发射信号对应的线性校准参数查询所述校准参数表得到对应的功率值,将所述功率值确定为天线发射功率。如图5所示,技术方案具体如下:
步骤S501、控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数并生成校准参数表。
步骤S502、当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括主发射天线和辅发射天线。
步骤S503、依据存储的校准参数表确定所述发射信号所使用的发射天线的校准参数,所述校准参数表中包含线性校准参数和对应的功率值。
示例性的,以高通芯片为例,采用Tx天线校准方式,其中线性校准参数(TxRGI)的取值范围可以是22~99中的任一整数,其对应的校准功率(Power)依据射频测试座测试结果对应保存。
步骤S504、依据所述发射信号对应的线性校准参数查询所述校准参数表得到对应的功率值,将所述功率值确定为天线发射功率。
在一个实施例中,当终端设备进行通信时,需要发射不同功率的发射信号,不同发射功率分别对应校准参数表中的线性校准参数范围中的一个数值(如22~99中的任一数值),根据发射功率对应的TxRGI值查询校准参数表,确定对应的发射功率值(Power值),进而驱动电子元件使得发射天线发出的信号的发射功率为该发射功率值以保证发射功率的大小符合一致性要求。
由上述可知,当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,并确定发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,再依据发射校准参数对发射信号进行校准,显著的提高了天线校准精度,克服了不同发射天线在射频测试座测试过程中存在插损的问题。
图6是本申请实施例提供的一种天线校准装置的结构框图,该装置用于执行上述实施例提供的天线校准方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。如图6所示,该装置具体包括:天线确定模块101、参数确定模块102和校准模块103,其中,
天线确定模块101,用于当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线。
当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线。在一个实施例中,可通过检测终端设备的运行和网络状态确定是否进行信号发射,示例性的,如当检测到终端设备处于通话状态或非飞行模式状态下时,确定发射信号所使用的发射天线,还可以是,当检测到终端设备处于开机状态下,则确定发射信号所使用的发射天线。在另一个实施例中,当检测到信号发射模块工作时,则确定终端设备正在进行信号发射,此时确定发射信号所使用的发射天线。在一个实施例中,通过控制DPDT(Double Pole Double Throw,双刀双掷)的状态以进行不同发射天线之间的切换,故可通过读取DPDT的连通状态以识别确定出当前发射信号所使用的发射天线。示例性的,DPDT通过不同的接线方式可设置4种连通状态,如A、B、C和D,其中每种连通状态可分别对应使用4个发射天线,如a、b、c和d,当识别到DPDT处于不同的连通状态时,可相应的确定终端设备当前使用的发射天线。
参数确定模块102,用于确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数。
其中,发射校准参数用于对发射信号的相位、幅值进行校准,在一个实施例中,不同的发射天线对应有不同的发射校准参数。
现有技术中,通过射频测试座来测试天线的校准参数,并将该校准参数应用在信号发射中,传统的终端设备如智能手机,射频测试座设置在DPDT开关输入和发射模块(如蜂窝发射模块)之间,当针对射频测试座设置在DPDT开关输出和天线之间时,不同的天线射频测试座(如主天线射频测试座和辅天线射频测试座)距离DPDT开关的长度不同,示例性的,主天线射频测试座和辅天线射频测试座距离DPDT开关的长度差在2cm时,二者测得的发射功率插损为1.2dB。在一个实施例中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数,当确定出使用的发射天线后,相应的确定该发射天线对应的发射校准参数进行发射功率校准,具体的,可通过查询本地存储的校准参数表确定发射天线对应的发射校准参数,该校准参数表通过测试生成,如控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存。
校准模块103,用于依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
在一个实施例中,该发射校准参数以校准参数表的形式存储在终端设备中,其中,不同的发射天线对应不同的校准参数表,该校准参数表可以xml形式存在,该校准参数表可被导入到系统中,还可以在进行天线校准时导入该xml形式的校准参数表,根据校准参数表中的参数(以高通芯片为例,示例性的,如TxRGI参数和Power参数)进行功率校准,该校准过程可以是基于3/4g的Tx校准,在一个实施例中,终端设备包含主发射天线和辅发射天线,确定出的主天线校准参数表以及辅天线校准参数表中的参数值可参考下表1和表2,其中,TxRGI为线性校准参数,参数值范围是26~60,表中仅展示部分数值点,Power为TxRGI中各个参数值对应的功率值,即发射天线的校准功率。
由上述内容可知,当终端设备进行信号发射时,基于不同的发射天线调用对应的校准参数,提高了终端设备信号发射效率,改善了由于射频测试座距离DPDT开关位置不同带来的不同天线校准功率不同的问题,满足了射频性能需要。
在一个可能的实施例中,所述参数确定模块102还用于:在检测终端设备进行信号发射之前,控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存。
在一个可能的实施例中,所述终端设备包括主发射天线和辅发射天线,所述参数确定模块102具体用于:
控制测试信号通过主发射天线进行信号发射,依据和所述主发射天线对应的主发射测试座的测试结果确定和所述主发射天线对应的主发射校准参数;
控制测试信号通过辅发射天线进行信号发射,依据和所述辅发射天线对应的辅发射测试座的测试结果确定和所述辅发射天线对应的辅发射校准参数。
在一个可能的实施例中,所述参数确定模块102具体用于:
通过控制双刀双掷开关的连通状态控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射。
在一个可能的实施例中,所述天线确定模块101还用于:在所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准之后,检测所述终端设备是否满足发射天线切换条件,如果满足,则进行发射天线的切换,并依据切换后的发射天线对应的发射校准参数对发射信号进行校准。
在一个可能的实施例中,所述参数确定模块102具体用于:
依据存储的校准参数表确定所述发射信号所使用的发射天线的校准参数,所述校准参数表中包含线性校准参数和对应的功率值。
在一个可能的实施例中,所述校准模块103具体用于:
依据所述发射信号对应的线性校准参数查询所述校准参数表得到对应的功率值,将所述功率值确定为天线发射功率。
本实施例在上述各实施例的基础上提供了一种终端设备,图7是本申请实施例提供的一种终端设备的结构示意图,如图7所示,该终端设备200包括:存储器201、处理器(Central Processing Unit,CPU)202、外设接口203、RF(Radio Frequency,射频)电路205、音频电路206、扬声器211、电源管理芯片208、输入/输出(I/O)子系统209、触摸屏212、天线模块213、其他输入/控制设备210以及外部端口204,这些部件通过一个或多个通信总线或信号线207来通信。
应该理解的是,图示终端设备200仅仅是终端设备的一个范例,并且终端设备200可以具有比图中所示出的更多的或者更少的部件,可以组合两个或更多的部件,或者可以具有不同的部件配置。图中所示出的各种部件可以在包括一个或多个信号处理和/或专用集成电路在内的硬件、软件、或硬件和软件的组合中实现。
下面就本实施例提供的用于多开应用的权限管理的终端设备进行详细的描述,该终端设备以智能手机为例。
存储器201,所述存储器201可以被CPU202、外设接口203等访问,所述存储器201可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如一个或多个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
外设接口203,所述外设接口203可以将设备的输入和输出外设连接到CPU202和存储器201。
I/O子系统209,所述I/O子系统209可以将设备上的输入输出外设,例如触摸屏212和其他输入/控制设备210,连接到外设接口203。I/O子系统209可以包括显示控制器2091和用于控制其他输入/控制设备210的一个或多个输入控制器2092。其中,一个或多个输入控制器2092从其他输入/控制设备210接收电信号或者向其他输入/控制设备210发送电信号,其他输入/控制设备210可以包括物理按钮(按压按钮、摇臂按钮等)、拨号盘、滑动开关、操纵杆、点击滚轮。值得说明的是,输入控制器2092可以与以下任一个连接:键盘、红外端口、USB接口以及诸如鼠标的指示设备。
触摸屏212,所述触摸屏212是用户终端与用户之间的输入接口和输出接口,将可视输出显示给用户,可视输出可以包括图形、文本、图标、视频等。
I/O子系统209中的显示控制器2091从触摸屏212接收电信号或者向触摸屏212发送电信号。触摸屏212检测触摸屏上的接触,显示控制器2091将检测到的接触转换为与显示在触摸屏212上的用户界面对象的交互,即实现人机交互,显示在触摸屏212上的用户界面对象可以是运行游戏的图标、联网到相应网络的图标等。值得说明的是,设备还可以包括光鼠,光鼠是不显示可视输出的触摸敏感表面,或者是由触摸屏形成的触摸敏感表面的延伸。
RF电路205,主要用于建立手机与无线网络(即网络侧)的通信,实现手机与无线网络的数据接收和发送。例如收发短信息、电子邮件等。具体地,RF电路205接收并发送RF信号,RF信号也称为电磁信号,RF电路205将电信号转换为电磁信号或将电磁信号转换为电信号,并且通过该电磁信号与通信网络以及其他设备进行通信。RF电路205可以包括用于执行这些功能的已知电路,其包括但不限于天线系统、RF收发机、一个或多个放大器、调谐器、一个或多个振荡器、数字信号处理器、CODEC(COder-DECoder,编译码器)芯片组、用户标识模块(Subscriber Identity Module,SIM)等等。
音频电路206,主要用于从外设接口203接收音频数据,将该音频数据转换为电信号,并且将该电信号发送给扬声器211。
扬声器211,用于将手机通过RF电路205从无线网络接收的语音信号,还原为声音并向用户播放该声音。
电源管理芯片208,用于为CPU202、I/O子系统及外设接口所连接的硬件进行供电及电源管理。
上述实施例中提供的终端设备的天线校准装置及终端设备可执行本发明任意实施例所提供的终端设备的天线校准方法,具备执行该方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例所提供的终端设备的天线校准方法。
本申请实施例还提供一种包含终端设备可执行指令的存储介质,所述终端设备可执行指令在由终端设备处理器执行时用于执行一种天线校准方法,该方法包括:
当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线;
确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数;
依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
在一个可能的实施例中,在检测终端设备进行信号发射之前,还包括:
控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存。
在一个可能的实施例中,所述终端设备包括主发射天线和辅发射天线,所述控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数包括:
控制测试信号通过主发射天线进行信号发射,依据和所述主发射天线对应的主发射测试座的测试结果确定和所述主发射天线对应的主发射校准参数;
控制测试信号通过辅发射天线进行信号发射,依据和所述辅发射天线对应的辅发射测试座的测试结果确定和所述辅发射天线对应的辅发射校准参数。
在一个可能的实施例中,所述控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射包括:
通过控制双刀双掷开关的连通状态控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射。
在一个可能的实施例中,在所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准之后,还包括:
检测所述终端设备是否满足发射天线切换条件,如果满足,则进行发射天线的切换,并依据切换后的发射天线对应的发射校准参数对发射信号进行校准。
在一个可能的实施例中,所述确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数包括:
依据存储的校准参数表确定所述发射信号所使用的发射天线的校准参数,所述校准参数表中包含线性校准参数和对应的功率值。
在一个可能的实施例中,所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准包括:
依据所述发射信号对应的线性校准参数查询所述校准参数表得到对应的功率值,将所述功率值确定为天线发射功率。
存储介质——任何的各种类型的存储器设备或存储设备。术语“存储介质”旨在包括:安装介质,例如CD-ROM、软盘或磁带装置;计算机系统存储器或随机存取存储器,诸如DRAM、DDR RAM、SRAM、EDO RAM,兰巴斯(Rambus)RAM等;非易失性存储器,诸如闪存、磁介质(例如硬盘或光存储);寄存器或其它相似类型的存储器元件等。存储介质可以还包括其它类型的存储器或其组合。另外,存储介质可以位于程序在其中被执行的第一计算机系统中,或者可以位于不同的第二计算机系统中,第二计算机系统通过网络(诸如因特网)连接到第一计算机系统。第二计算机系统可以提供程序指令给第一计算机用于执行。术语“存储介质”可以包括可以驻留在不同位置中(例如在通过网络连接的不同计算机系统中)的两个或更多存储介质。存储介质可以存储可由一个或多个处理器执行的程序指令(例如具体实现为计算机程序)。
当然,本申请实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的天线校准方法操作,还可以执行本发明任意实施例所提供的天线校准方法中的相关操作。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (9)
1.天线校准方法,其特征在于,包括:
当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线;
确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,所述发射校准参数基于发射测试座与双刀双掷开关的距离进行调整,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数,控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存;
依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述终端设备包括主发射天线和辅发射天线,所述控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数包括:
控制测试信号通过主发射天线进行信号发射,依据和所述主发射天线对应的主发射测试座的测试结果确定和所述主发射天线对应的主发射校准参数;
控制测试信号通过辅发射天线进行信号发射,依据和所述辅发射天线对应的辅发射测试座的测试结果确定和所述辅发射天线对应的辅发射校准参数。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射包括:
通过控制双刀双掷开关的连通状态控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准之后,还包括:
检测所述终端设备是否满足发射天线切换条件,如果满足,则进行发射天线的切换,并依据切换后的发射天线对应的发射校准参数对发射信号进行校准。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数包括:
依据存储的校准参数表确定所述发射信号所使用的发射天线的校准参数,所述校准参数表中包含线性校准参数和对应的功率值。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准包括:
依据所述发射信号对应的线性校准参数查询所述校准参数表得到对应的功率值,将所述功率值确定为天线发射功率。
7.天线校准装置,其特征在于,包括:
天线确定模块,用于当确定出终端设备进行信号发射时,确定发射信号所使用的发射天线,其中,所述终端设备包括至少两个发射天线;
参数确定模块,用于确定所述发射信号所使用的发射天线对应的发射校准参数,所述发射校准参数基于发射测试座与双刀双掷开关的距离进行调整,其中,不同的发射天线对应不同的发射校准参数,控制测试信号通过不同的发射天线进行信号发射,依据和不同发射天线对应的发射测试座的测试结果确定发射校准参数,并进行保存;
校准模块,用于依据所述发射校准参数对所述发射信号进行校准。
8.一种终端设备,包括:处理器、存储器、发射天线以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6中任一项所述的天线校准方法。
9.一种包含终端设备可执行指令的存储介质,其特征在于,所述终端设备可执行指令在由终端设备处理器执行时用于执行如权利要求1-6中任一项所述的天线校准方法。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101809874A (zh) * | 2007-08-08 | 2010-08-18 | 高通股份有限公司 | 用于无线通信系统中精确发射功率调整的方法和系统 |
CN102780518A (zh) * | 2011-05-09 | 2012-11-14 | 华为技术有限公司 | 校准天线增益的方法和装置 |
CN106922014A (zh) * | 2015-12-28 | 2017-07-04 | 联芯科技有限公司 | 一种生产校准初表生成方法、系统及移动终端 |
CN107566054A (zh) * | 2017-09-06 | 2018-01-09 | 青岛海信移动通信技术股份有限公司 | 移动终端的通信方法、移动终端及其射频校准电路 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20160020862A1 (en) * | 2014-07-17 | 2016-01-21 | Qualcomm Incorporated | Impedance tuning for a power amplifier load tuner, a receive tuner, and an antenna tuner |
-
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101809874A (zh) * | 2007-08-08 | 2010-08-18 | 高通股份有限公司 | 用于无线通信系统中精确发射功率调整的方法和系统 |
CN102780518A (zh) * | 2011-05-09 | 2012-11-14 | 华为技术有限公司 | 校准天线增益的方法和装置 |
CN106922014A (zh) * | 2015-12-28 | 2017-07-04 | 联芯科技有限公司 | 一种生产校准初表生成方法、系统及移动终端 |
CN107566054A (zh) * | 2017-09-06 | 2018-01-09 | 青岛海信移动通信技术股份有限公司 | 移动终端的通信方法、移动终端及其射频校准电路 |
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