CN108802746A - 一种抗干扰的测距方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种抗干扰的测距方法和装置，该方法中第一光测距装置会检测光探测过程中是否受到第二光测距装置的干扰，当检测到光探测过程中受到第二光测距装置的干扰时，则将光探测过程延迟预设时间，当检测到光探测过程中没有收到第二光测距装置的干扰时，则第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程以获得测距结果。可见，第一光测距装置检测到光探测过程受到其它光测距装置的干扰后，将光探测过程延迟预设时间，使得第一光测距装置的光探测过程，不会受到第二光测距装置的光探测过程的影响，确保第一光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据的准确性，进而提高了第一光测距装置测距的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及红外测距技术领域，特别是涉及一种抗干扰的测距方法及装置。
背景技术
由于利用光信号传输的测距方法具有探测速度快，探测精度高等优点，成为目前最常用的测距方式之一。以激光雷达测距技术为例，采用激光雷达测距技术进行测距时，包括两个工作过程，第一个工作过程是光探测过程，在光探测过程中，先由激光雷达中的激光器发射探测光，该探测光遇到障碍物被反射，再由激光雷达中的光电探测器对被反射的探测光进行接收，并且，对接收到的光信号进行光电转换；第二个工作过程是数据处理过程，由激光雷达中的处理器对光电探测器输出的电信号进行处理，从而获得激光雷达与障碍物的距离。
在很多应用场景下，存在多台光测距装置同时工作的情况。但是，多台光测距装置同时工作时，不同的光测距装置的光源发射的探测光会相互干扰，降低光测距装置测距的准确性。
发明内容
本发明实施例解决的技术问题之一在于提供一种抗干扰的测距方法及装置，从而能够提高光测距装置的准确性。
为此，第一方面，本申请实施例提供了一种抗干扰的测距方法，应用于测距系统中的任意一个光测距装置，所述方法包括：
第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；
当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；
当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
在一些可能的实施方式中，所述第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置采集环境图像，所述环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的环境信息；
所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述测距系统中各个光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，所述环境图像包括第一环境图像和第二环境图像，所述第一环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，所述第一时刻在所述光探测过程前，所述第二环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，所述第二时刻在所述光探测过程后，所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置根据所述第一环境图像和所述第二环境图像获得差值图像，所述差值图像用于表征所述第一环境图像和所述第二环境图像灰度值的差异；
所述第一光测距装置获得所述差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
当所述灰度值的绝对值的和大于所述预设的第一阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述环境图像用于表征在所述光探测过程前的环境信息；所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置获得所述环境图像的灰度梯度；
当所述灰度梯度大于预设的第二阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置分别计算每组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，所述探测数据对应的标准数据用于表征所述探测数据没有受到干扰时的光强值；
当存在至少一组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，大于预设的第三阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述方法还包括：
当所有探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程没有受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰；
所述第一光测距装置利用每个所述探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
在一些可能的实施方式中，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间包括：
所述第一光测距装置根据时间比，确定所述预设时间为所述光探测过程的N倍，其中，N为不大于所述时间比的正整数，所述时间比为所述第一光测距装置的数据处理过程与所述光探测过程的时间的比值；
所述第一光测距装置延迟所述预设时间后进行所述光探测过程。
第二方面，本申请实施例提供了一种抗干扰的测距装置，应用于测距系统中的任意一个光测距装置，所述装置包括：
检测模块，用于检测第一光测距装置的光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；
延迟模块，用于当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；
数据处理模块，用于当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
在一些可能的实施方式中，所述检测模块包括：
采集单元，用于采集环境图像，所述环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的环境信息；
检测单元，用于根据所述环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述测距系统中各个光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，所述环境图像包括第一环境图像和第二环境图像，所述第一环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，所述第一时刻在所述光探测过程前，所述第二环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，所述第二时刻在所述光探测过程后，所述检测单元包括：
第一获得子单元，用于根据所述第一环境图像和所述第二环境图像获得差值图像，所述差值图像用于表征所述第一环境图像和所述第二环境图像灰度值的差异；
第二获得子单元，用于获得所述差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
第一确定子单元，用于当所述灰度值的绝对值的和大于所述预设的第一阈值时，确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述环境图像用于表征在所述光探测过程前的环境信息；所述检测单元包括：
第三获得子单元，用于获得所述环境图像的灰度梯度；
第二确定子单元，用于当所述灰度梯度大于预设的第二阈值时，确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述检测模块包括：
计算单元，用于分别计算每组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，所述探测数据对应的标准数据用于表征探测数据没有受到干扰时的光强值；
第一确定单元，用于当存在至少一组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差大于预设的第三阈值时，确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述装置还包括：
确定模块，用于当所有探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，确定所述光探测过程没有受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰；
替换模块，用于利用每个所述探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
在一些可能的实施方式中，所述延迟模块包括：
第二确定单元，用于所述第一光测距装置根据时间比，确定所述预设时间为所述光探测过程的N倍，其中，N为不大于所述时间比的正整数，所述时间比为所述第一光测距装置的数据处理过程与所述光探测过程的时间的比值；
延迟单元，所述第一光测距装置延迟所述预设时间后进行所述光探测过程。
通过上述技术方案可知，本申请实施例有如下有益效果：
在测距系统中，对于该测距系统中的任意一个光测距装置，检测光探测过程中是否受到该测距系统中其它光测距装置的干扰，当检测到光探测过程中受到其它光测距装置的干扰时，则将光探测过程延迟预设时间，当检测到光探测过程中没有收到其它光测距装置的干扰时，则该光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程以获得测距结果。上述过程可见，对于测距系统中的任意一个光测距装置，如果检测到光探测过程中受到其它光测距装置的干扰，表明在该光测距装置进行光探测过程中，存在其它光测距装置也在进行光探则过程，在光探测过程中，该光测距装置的探测光会受到其它光测距装置的探测光的干扰，从而会导致该光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据不准确，此时，该光测距装置并不利用该光探测过程所采集的不准确的探测数据进行数据处理获得测距结果，而是延迟预设时间后，该光测距装置再执行光探测过程。采用上述方式，直至该光测距装置的光探测过程，不会受到其它光测距装置的光探测过程的影响，确保该光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据的准确性，进而提高了光测距装置测距的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为测距系统中的每一个光测距装置的测距过程的时序示意图。
图2为光测距装置A、B、C同时进行测距的测距过程的时序示意图。
图3为光测距装置A、B、C抗干扰后的测距过程的时序示意图。
图4为本申请实施例中一种抗干扰的测距方法流程示意图。
图5a为本申请实施例中第一光测距装置与第二光测距装置的光探测过程相互干扰的时序示意图。
图5b为本申请实施例中第一光测距装置与第二光测距装置的光探测过程相互干扰的时序示意图。
图5c为本申请实施例中第一光测距装置与第二光测距装置的光探测过程相互干扰的时序示意图。
图6a为本申请实施例中延迟前第一光测距装置与第二光测距装置的测距过程的时序示意图。
图6b为本申请实施例中延迟后第一光测距装置与第二光测距装置的测距过程的时序示意图。
图7为本申请实施例中一种抗干扰的测距装置结构示意图。
图8为本申请实施例中一种抗干扰的测距的硬件装置结构示意图。
具体实施方式
为了给出提高光测距装置（Light Detection And Ranging，LiDAR）测距的准确性的实现方案，本发明实施例提供了一种抗干扰的测距方法及装置，以下结合说明书附图对本发明的实施例进行说明，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
请一并参阅图1，图1示出了测距系统中的每一个光测距装置的测距过程的时序示意图，每个测距周期包括光探测过程I以及数据处理过程II。光测距装置进行测距的具体实现过程为：光测距装置首先会在光探测过程I中发出经过调制信号源调制的探测光（该探测光的光源为激光光源或者LED光源），并在探测光遇到障碍物被反射后，接收被反射回来的探测光，再对该探测光进行采样，得到探测数据；然后在数据处理过程II中，对光探测过程中采样得到的探测数据进行数据处理，从而获得测距装置与障碍物的距离。
但是申请人经研究发现，当测距系统中存在多个光测距装置时，对于每个光测距装置，其光探测过程可能受到其它光测距装置的光探测过程的干扰。以测距系统包括三个光测距装置A、B、C为例，请一并参阅图2，图2示出了三个光测距装置A、B、C进行测距时的测距过程的时序示意图。由图2可以看出，若光测距装置A、B、C同时进行测距，则光测距装置A的光探测过程IA，与光测距装置B的光探测过程IB存在重合时间段m。在该重合时间段m中，光测距装置A的光探测过程IA，会受到光测距装置B在光探测过程IB发出的探测光的干扰，即，光测距装置A的光探测过程IA中的对被反射回的探测光进行采样的过程中，夹杂了由光测距装置B所发出的干扰探测光。该干扰探测光可以是由光测距装置B直接发射向光测距装置A的，也可以是经过被障碍物反射而射向光测距装置A的。
同理，由于光测距装置A的光探测过程IA，与光测距装置C的光探测过程IC存在重合时间段n，在该重合时间段n中，光测距装置A的光探测过程IA，也会受到光测距装置C发出的探测光的干扰。也就是说，如果光测距装置A、B、C的光探测过程存在重合时间段，光测距装置A、B、C的光探测过程会存在相互干扰，即，光测距装置A的光探测过程IA，受到了光测距装置B和C的光探测过程的干扰。同理，光测距装置B的光探测过程IB，会受到光测距装置A和C的光探测过程的干扰；同样的，光测距装置C的光探测过程IC，也会受到光测距装置A和B的光探测过程的干扰。
可以理解，对于每一个光测距装置，如果在进行光探测过程期间受到其它光测距装置的探测光的干扰，则对受到干扰的探测光进行采样，所得到的探测数据不准确，进而根据该探测数据所获得的光测距装置与障碍物的距离也不准确，从而降低了光测距装置测距的准确性。
为了提高光测距装置测距的准确性，本申请实施例提供了一种抗干扰的测距方法，使得测距系统中的每一个光测距装置的光探测过程，不受到其它光测距装置的光探测过程的影响，以提高光测距装置测距的准确性。具体的，仍以三个光测距装置A、B、C为例，对于每一个光测距装置，都会检测光探测过程是否受到该测距系统中其它光测距装置的干扰，当检测到该光测距装置的光探测过程，受到其它光测距装置的干扰时，则该光测距装置将光探测过程延迟预设时间，使得该光测距装置的光探测过程，不会受到其它光测距装置的光探测过程的影响。如图3所示，光测距装置A、B、C之间的光探测过程并没有交集。这样，每一个光测距装置在进行光探测过程时，其它光测距装置都没有进行光探测过程，从而，该光测距装置的光探测过程，也就没有受到其它光测距装置的探测光的干扰，进而，该光测距装置对没有夹杂干扰光的探测光进行采样，获得准确的探测数据，而获得的光测距装置与障碍物的距离也是准确可靠的。
相应的，当检测到该光测距装置的光探测过程，没有受到其它光测距装置的干扰，表明在该光测距装置在光探测过程中，其它光测距装置并没有进行光探测过程，则该光测距装置获取光探测过程中所采集到的探测数据，并对该探测数据进行处理以获得测距结果。由于该光测距装置在进行光探测过程中，并没有受到其它光测距装置的干扰，因此，该光测距装置所获得的激光雷达与障碍物的距离自然也是准确可靠的。
作为一种示例，本发明实施例可以应用于多辆无人驾驶汽车或者自动运输车等应用场景中。在该应用场景中，每辆无人驾驶汽车或者自动运输车中均设置有对环境进行探测的光测距装置，为避免多个光测距装置的光探测过程相互干扰，每一个光测距装置都要检测光探测过程中是否受到其它光测距装置的干扰，当检测到该光测距装置的光探测过程，受到其它光测距装置的干扰时，则该光测距装置将光探测过程延迟预设时间，当检测到没有受到其它光测距装置的干扰时，则该光测距装置获取光探测过程中所采集的探测数据，并对采集到的探测数据进行数据处理以获得测距结果。
下面结合附图，通过实施例来详细说明本发明实施例中一种抗干扰的测距方法及装置的各种非限制性实施方式。
请一并参阅图4，图4示出了本发明实施例中一种抗干扰的测距方法流程示意图。在本实施例中，以探测系统的两个光测距装置（第一光测距装置和第二光测距装置）避免干扰为例进行说明，该方法可以包括以下步骤：
S401：第一光测距装置检测光探测过程是否受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
测距系统中至少包括第一光测距装置进行测距。可以理解的是，如果测距系统中只有一个光测距装置进行测距，则该光测距装置在进行光探测过程中，没有其它光测距装置会对其造成干扰。
当测距系统中至少有第一光测距装置和第二光测距装置进行测距时，如果第一光测距装置和第二光测距装置的光探测过程出现重合的时间段，则第一光测距装置的光探测过程，会受到第二光测距装置的干扰，相应的，第一光测距装置也会干扰第二光测距装置的光探测过程。
具体的，如图5a所示，第一光测距装置先进行光探测过程，在进行光探测过程一段时间后，第二光测距装置再开始进行光探测过程，则第一光测距装置的光探测过程，会受到第二光测距装置的光探测过程的影响，相应的，第一光测距装置的光探测过程，也会影响第二光测距装置的光探测过程；如图5b所示，第二光测距装置先进行光探测过程，在进行光探测过程一段时间后，第一光测距装置再开始进行光探测过程，则第一光测距装置的光探测过程，也会受到第二光测距装置的光探测过程的影响；如图5c所示，第一光测距装置和第二光测距装置同时进行光探测过程，则第一光测距装置和第二光测距装置的光探测过程也会相互干扰。
S402：当检测到第一光测距装置的光探测过程，受到测距系统中第二光测距装置的干扰时，第一光测距装置将光探测过程延迟预设时间。
当检测到第一光测距装置的光探测过程，受到第二光测距装置的干扰时，表明第一光测距装置在进行光探测过程期间，第二光测距装置也进行光探测过程，即第一光测距装置的光探测过程与第二光测距装置的光探测过程存在重合的时间段，如图2所示，光测距装置A和光测距装置B的光探测过程，存在重合时间段m。
为了避免第一光测距装置的光探测过程，受到第二光测距装置的干扰，第一光测距装置将光探测过程延迟预设时间，使得第一光测距装置的光探测过程的时间，与第二光测距装置的光探测过程的时间相互错开，这样第一光测距装置在进行光探测过程时，第二光测距装置不进行光探测过程，从而使得第一光测距装置的光探测过程，既不受第二光测距装置的光探测过程的干扰，也不会干扰第二光测距装置的光探测过程。
可以理解，光测距装置的测距过程，主要包括光探测过程以及数据处理过程，并且只有在进行光探测过程中，才会受到其它光测距装置的干扰，而在数据处理过程中，光测距装置并没有发射或者接收探测光，而是对接收到的被障碍物反射的探测光进行数据处理，以获得激光雷达与障碍物之间的距离。因此，可以将第一光测距装置的光探测过程与第二光测距装置光探测过程在时间上错开。也就是说，第一光测距装置在进行光探测过程时，第二光测距装置在进行数据处理过程，第一光测距装置在进行数据处理过程时，第二光测距装置在进行光探测过程。这样，第一光测距装置和第二光测距装置之间，就不会在光探测过程中发生光学上的干扰。
作为一种示例性的具体实施方式，本实施例中第一光测距装置将光探测过程延迟预设时间，具体可以包括以下步骤：
步骤a：第一光测距装置根据数据处理过程与光探测过程的时间比确定预设时间为光探测过程时间的N倍，其中，N为不大于时间比的正整数，该时间比为第一光测距装置的数据处理过程与其光探测过程的时间的比值；
步骤b：第一光测距装置延迟预设时间后进行光探测过程。
通常情况下，光测距装置进行数据处理过程的时间，不会小于进行光探测过程的时间。若光测距装置的数据处理过程比较复杂，则进行数据处理过程的时间会远大于光探测过程的时间。因此，在确定延迟时间时，可以以光探测过程的时间为单位，延迟N个单位的光探测过程的时间。其中，N为正整数，并且N个单位的光探测过程的时间，不能超过数据处理过程的时间，也即，N为不大于数据处理过程与光探测过程的时间比的正整数。
将第一光测距装置的光探测过程延迟N倍光探测过程的时间，目的在于使得第一光测距装置进行光探测过程时，第二光测距装置在进行数据处理过程，这样第一光测距装置的光探测过程，就不会受到第二光测距装置的干扰。可以理解，如果第一光测距装置检测到光探测过程受到干扰，并将光探测过程延迟预设时间后，第一光测距装置的延迟后的光探测过程，仍然可能与第二光测距装置的光探测过程存在重合的时间段，即，第一光测距装置的光探测过程，仍然会受到干扰，则第一光测距装置再次检查到光探测过程受到干扰后，也就需要再次将光探测过程延迟预设时间，重复上述方式，直至第一光测距装置检测到光探测过程不受干扰时，才停止将光探测过程延迟预设时间。其中，第一光测距装置每次将光探测过程延迟的预设时间可以相同，也可以不相同。
需要说明的是，每次将光探测过程延迟预设时间时，N的取值可以是区间[1，时间比]之间任意的正整数。其中，第一光测距装置的光探测过程可能需要进行多次延迟，则第一光测距装置从[1，时间比]之间的正整数中随机选择一个作为N时，每次延迟的预设时间可以相同，也可以不相同，这里不进行具体限定。但是，若第一光测距装置检测到第二光测距装置的干扰，同时，该第二光测距装置也会检测到第一光测距装置的干扰，此时，第一光测距装置和第二光测距装置的光探测过程，都分别需要进行延迟。
举例说明：请一并参考图6a以及图6b，以测距系统中第一光测距装置和第二光测距装置同时进行光探测过程为例：假设第一光测距装置和第二光测距装置的光探测过程的时间与数据处理过程的时间分别相同，并且数据处理过程的时间是光探测过程的时间的2倍，即时间比为2。如图6a所示，第一光测距装置检测到光探测过程，受到第二光测距装置的干扰，则可以将第一光测距装置的光探测过程，向后延迟1倍的光探测过程的时间；并且，第二光测距装置也会检测到光探测过程受到第一光测距装置的干扰，则第二光测距装置可以将光探测过程，向后延迟2倍的光探测过程的时间，从而使得第一光测距装置在进行光探测过程时，第二光测距装置在进行数据处理过程，如图6b所示。这样，第一光测距装置在进行光探测过程时，就不会受到第二光测距装置的干扰。
当然，也可以将第一光测距装置的光探测过程，向后延迟2倍的光探测过程的时间，将第二光测距装置的光探测过程，向后延迟1倍的光探测过程的时间。其具体实施方式，与上述实施方式类似，在此不再赘述。
S403：当检测到第一光测距装置的光探测过程，没有受到测距系统中第二光测距装置的干扰时，第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
当检测到第一光测距装置的光探测过程，没有受到第二光测距装置的干扰时，表明第一光测距装置在进行光探测过程时，第二光测距装置没有进行光探测过程，则采集的探测数据准确，则，第一光测距装置在数据处理过程中，对该探测数据进行数据处理，以获得第一光测距装置与障碍物之间的距离结果，由于该探测数据准确，则第一光测距装置所得的距离结果也准确。
需要说明的是，测距系统中各个光测距装置相互独立的完成测距工作，即对于每个的光测距装置，其是否进行测距工作，是由该光测距装置本身控制，与其它光测距装置是否进行测距工作无关，也不会控制测距系统中的其它光测距装置的测距工作。而只有在测距系统中存在至少两个光测距装置同时进行测距时，才可能会出现光探测装置的光探测过程之间相互进行干扰的情况。因此，上述抗干扰的测距方法，可以适用于测距系统中的每一个光探测装置，即每个光探测装置在进行测距时，都要检测该光测距装置的光探测过程，是否受到了其它光测距装置的光探测过程的干扰，如果检测到光探测过程受到其它光测距装置的光探测过程的干扰，则延迟预设时间。并且，在将光探测过程延迟预设时间后，光探测装置还会继续检测光探测过程，是否仍然受到其它光测距装置的光探测过程的干扰，重复上述步骤直至该光测距装置的光探测过程，没有受到其它光测距装置的光探测过程的干扰。即使该测距系统中仅存在一个光测距装置正在进行测距工作，虽然该光测距装置不会受到该测距系统中其它未工作的光测距装置的干扰，但是，该光测距装置并不会得知其它该光测距装置并未进行测距工作，还是会采用本发明提供的抗干扰的测距方法，执行是否存在其它光测距装置的干扰的步骤。
本实施例中，在至少包括第一光测距装置和第二光测距装置的测距系统中，第一光测距装置会检测光探测过程中是否受到第二光测距装置的干扰，当检测到光探测过程中受到第二光测距装置的干扰时，则将光探测过程延迟预设时间，当检测到光探测过程中没有收到第二光测距装置的干扰时，则第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程以获得测距结果。
可见，如果第一光测距装置检测到光探测过程，受到其它光测距装置的干扰，表明在第一光测距装置进行光探测过程中，存在第二光测距装置也在进行光探则过程，在光探测过程中，第一光测距装置的探测光，会受到第二光测距装置的探测光的干扰，从而会导致第一光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据不准确，此时，第一光测距装置并不利用该光探测过程所采集的不准确的探测数据，进行数据处理获得测距结果，而是延迟预设时间后，第一光测距装置再执行光探测过程。采用上述方式，直至第一光测距装置的光探测过程，不会受到第二光测距装置的光探测过程的影响，确保第一光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据的准确性，进而提高了第一光测距装置测距的准确性。
需要说明的是，上述实施例中是以测距系统中的第一光测距装置和第二光测距装置为例进行说明，而测距系统中还可以存在其它的光测距装置，例如存在第三光测距装置等。当测距系统中存在三个及三个以上的光测距装置，第一光测距装置抗干扰的方法与上述实施例类似，第一光测距装置在检测到光探测过程受到第二光测距装置和/或第三光测距装置的干扰后，将光探测过程延迟预设时间，直至第一光测距装置的光探测过程不受第二光测距装置和第三光测距装置的干扰后，根据光探测过程中所采集的探测数据获得第一光测距装置与障碍物之间的距离。第二光测距装置，第三光测距装置，以及该探测系统中的其它光测距装置，都需要采用上述方法避免探测光被干扰，以便对没有受到干扰的探测光进行采样，获得准确的探测数据，进而获得准确的测距结果。其中，探测系统中，各个光测距装置的光探测过程的时间和，不超过各个光测距装置中最小的测距周期。
此外，为了更加详细的介绍本申请的技术方案，本发明实施例还提供了以下几种第一光测距装置检测光探测过程是否受到第二光测距装置干扰的实施方式。
第一种检测干扰的实施方式在于，根据光探测过程前后的环境图像确定是否受到干扰。该实施方式具体包括以下步骤：
步骤A：所述第一光测距装置采集环境图像，所述环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的环境信息；
步骤B：所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
需要说明的是，第一光测距装置在光探测过程前后所处的环境信息，可以反映出第一光测距装置在进行光探测过程，是否受到第二光测距装置的影响。一方面，可以根据第一光测距装置进行光探测过程前的第一环境图像，以及第一光测距装置进行光探测过程后的第二环境图像，确定第一光测距装置的光探测过程，是否受到第二光测距装置的干扰；另一方面，也可以只根据第一光测距装置进行光探测过程前的环境图像，确定第一光测距装置的光探测过程，是否受到第二光测距装置的干扰。下面对两种方式分别进行详细说明。
作为一种示例性的实施方式，测距系统中第一光测距装置与第二光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，第一光测距装置采集第一环境图像，第一环境图像用于表征第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，即第一光测距装置在进行光探测过程前的环境信息；第一光测距装置采集第二环境图像，第二环境图像用于表征第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，即第一光测距装置在进行光探测过程后的环境信息；则根据第一环境图像以及第二环境图像，检测光探测过程是否受到第二光测距装置的干扰，具体可以包括：
步骤A1：第一光测距装置根据第一环境图像和第二环境图像获得差值图像，该差值图像用于表征第一环境图像和第二环境图像灰度值的差异；
步骤B1：第一光测距装置获得差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
步骤C1：当差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和大于预设的第一阈值时，第一光测距装置确定光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
可以理解的是，由于第一光测距装置和第二光测距装置的光探测过程的时间长度相同，并且光探测过程的时间通常比较短暂，如果第一光测距装置的光探测过程没有受到第二光测距装置的干扰，则第一环境图像和第二环境图像通常差异会很小。但是如果第一光测距装置的光探测过程，受到第二光测距装置的干扰，则第一环境图像和第二环境图像之间也会存在明显的差异，进而由第一环境图像和第二环境图像获得的差值图像中，各个像素点的灰度值的绝对值的和也会较大，若该差值图像灰度值的绝对值的和超过预设的第一阈值，表明第一环境图像和第二环境图像之间的差异已经超过允许的范围，则可以认为第一光测距装置的光探测过程，受到了第二光测距装置的干扰。
其中，预设的第一阈值可以是由技术人员预先设定，也可以由算法程序自动生成，存在多种设置方式，在此不再赘述。
作为另一种示例性的实施方式，第一光测距装置仅采集光探测过程前的环境图像，该环境图像能够表征光探测过程前的环境信息，则根据环境图像，检测光探测过程是否受到第二光测距装置的干扰，具体可以包括：
步骤A2：第一光测距装置获得环境图像的灰度梯度；
步骤B2：当灰度梯度大于预设的第二阈值时，第一光测距装置确定光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
将图像看成是二维离散函数，则灰度梯度就是对二维离散函数的求导。也就是说，灰度梯度能够反映环境图像中各个像素点的灰度值在指定的方向上的变化率。具体的，对于环境图像中的各个像素点，可以计算每个像素点在某个方向或某几个方向上，与相邻像素点之间的灰度值变化率，进而可以得到该环境图像的灰梯梯度。
可以理解，如果第一光测距装置的光探测过程，没有受到第二光测距装置的干扰，则光探测过程前的环境图像的灰度梯度变化很小或者没有变化。但是当环境图像的灰度梯度大于预设的第二阈值时，表明环境图像上部分像素点的灰度值发生了异常的突变，即表明第二光测距装置在进行光探测过程，并会对第一光测距装置的光探测过程造成干扰，也即，第一光测距装置的光探测过程，会受到第二光测距装置的干扰，此时，第一光测距装置不进行光探测过程，将光探测过程延迟，避开干扰。由此可知，第一光测距装置并不进行光探测过程，也不会对正在进行光探测过程的第二光测距装置产生任何干扰。
其中，灰度梯度可以是Roberts 梯度、Sobel 梯度、Prewitt 梯度、以及Laplacian梯度等，其计算得到过程存在多种实施方式，在此不做过多论述。
预设的第二阈值可以是由技术人员预先设定，也可以由算法程序自动生成，至于阈值的设置，存在多种实施方式，在此不再赘述。
比较上述两种根据环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰的实现方式可知：
第一种实现方式中，需要第一光测距装置执行光探测过程完毕后，对光探测过程前后所采集的第一环境图像和第二环境图像进行比较，才能确定是否受到干扰，此时，若第一光测距装置受到第二光测距装置的干扰，则第一光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据不准确；同样，第二光测距装置也会受到第一光测距装置的影响，第二光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据同样也不准确。
而第二种实现方式中，在第一光测距装置进行光探测过程前，获得环境图像以及环境图像的灰度梯度，并根据该环境图像的灰度梯度确定第一激光雷达测距装置是否受到第二光测距装置的干扰，若第一光测距装置受到第二光测距装置的干扰，则第一光测距装置的光探测过程会受到干扰，此时，第一光测距装置并不会进行光探测过程，而是直接延迟执行光探测过程的时间。因此，第二光测距装置不会受到第一光测距装置的影响，第二光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据是准确的。
也就是说，对于第二种实现方式来说，第一光测距装置一旦满足进行光探测过程的条件，即环境图像的灰度梯度不大于预设的第二阈值，则在执行光探测过程期间不会受到其它光测距装置的干扰，其它光测距装置检测到存在干扰时，不会执行光探测过程。第二种实现方式与第一中实现方式相比，能够更方便快捷的实现抗干扰测距。
上述检测干扰的示例性实施方式，适用于根据光探测过程采集的探测数据获得测距结果的实施方式的各种实施方式中。而作为一种示例，本实施例提供了根据光探测过程采集的探测数据获得测距结果的一种示例性实施方式。具体可以为：第一光测距装置在进行光探测过程中，会对接收到的被障碍物反射回来的探测光进行采样，假设在光探测过程中进行四次采样，得到四组探测像素阵列，并将其作为探测数据，根据探测数据可以得到四次采样信号的值，D0、D1、D2、D3，则第一光测距装置对该采样信号的值D0、D1、D2、D3采用公式（1）进行处理，得到第一光测距装置与障碍物之间的距离：
（1）
其中，D为第一光测距装置与障碍物之间的距离，C为光在真空中的传播速度，f为经过调制信号源调制的探测光的频率，D0、D1、D2、D3为四次信号采样时分别所得的采样信号的值。
需要说明的是，上述获得测距结果的实施方式仅仅作为解释说明根据探测数据获得测距结果的一种示例，并不用于限定本发明。实际应用中，也可以对接收到的探测光进行两次采样等，在此不做限定。
当采用上述实施方式来获得第一光测距装置与障碍物之间的距离时，本实施例还提供了第二种检测干扰的实施方式：利用第一光测距装置的光探测过程所获得的探测数据进行判断。具体的，该实施方式包括：
步骤I：第一光测距装置分别计算每组探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，该探测数据对应的标准数据用于表征该探测数据没有受到干扰时的光强值；
步骤II：当存在至少一组探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，大于预设的第三阈值时，第一光测距装置确定光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
如果第一光测距装置的光探测过程没有受到第二光测距装置的干扰，则第一光测距装置对被障碍物反射回来的探测光进行采样而得到的各组探测数据，通常与其对应的标准数据之间没有差异或者差异很小；但是如果第一光测距装置的光探测过程受到第二光测距装置的干扰，则各组探测数据会与其对应的标准数据相差较大。因此，可以先计算每组探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，然后可以根据该标准差来衡量第一光测距装置的光探测过程是否受到第二光测距装置的干扰。具体的，当存在探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差大于第三阈值时，表明存在某个或某些探测数据与其对应的标准数据之间相差较大，则可以认为造成该探测数据与其对应的标准数据之间存在较大差异的原因在于，第一光测距装置的光探测过程受到了第二光测距装置的干扰；而只有每组探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，均不大于第三阈值时，表明每组探测数据与该探测数据对应的标准数据之间的差异较小，才认为第一光测距装置的光探测过程没有受到第二光测距装置的光探测过程的干扰。
其中，预设的第三阈值可以是由技术人员预先设定，也可以由算法程序自动生成，至于阈值的设置，存在多种实施方式，在此不再赘述。
为了更好地理解该实施方式，下面进行举例说明：
假设第一雷达测距装置在进行光探测过程中，对被障碍物反射回来的探测光进行四次信号采样，得到四个组探测数据，每一组探测数据为一个探测像素阵列，然后对于每组探测像素阵列，假设该探测像素阵列上有k个像素点a1 ，a2 … ak，然后将该探测像素阵列上的每个像素点的灰度值，与该探测像素阵列对应的标准像素阵列（即标准数据）上的相应像素点的灰度值作差，得到探测像素阵列与该标准像素阵列之间对应像素点的灰度值的差值：△1 ，△2 … △k，然后计算出这些差值的标准差。具体的，先将这些差值△1 ，△2 … △k进行累加求和得到总差值M，然后将总差值M除以探测像素阵列上所有的像素点的个数值k，得到这些差值的平均值u，接着计算该探测像素阵列上所有像素点的灰度值与平均值u的差的平方和W，再将平方和W除以探测像素阵列上所有的像素点的个数值k，得到平方和的均值v，然后计算均值v的算术平方根，即可得到探测像素阵列与其对应的标准像素阵列之间对应像素点的灰度值的差值的标准差。采用上述过程，可以分别计算得到四组探测像素阵列与其对应的标准像素阵列之间对应像素点的灰度值的差值的标准差。
当存在至少一个标准差的值大于预设的第三阈值，则认为第一光测距装置的光探测过程受到了第二光测距装置的干扰；当每个标准差均不大于预设的第三阈值时，则认为第一光测距装置的光探测过程没有受到第二光测距装置的干扰。
进一步的，由于第一雷达测距装置所处的环境并不一定是一直不变的（比如光照变强或者变弱等），为了适应环境的变化，标准数据也可以适时更新。作为一种示例，本发明实施例还可以包括：
当所有探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，第一光测距装置确定光探测过程没有受到测距系统中第二雷达测距装置的干扰；
第一光测距装置可以利用每个探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
因此，为了尽可能减少环境变化所带来的影响，则可以当所有探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，更新标准数据。由于当所有的标准差不大于预设的第三阈值时，可以确定光探测过程没有受到第二雷达测距装置的干扰，则此次光探测过程所得到的探测数据即为没有受到干扰时的光强值，将该探测数据替换成对应的标准数据后，下次光探测过程中第一光测距装置所处的环境，与标准数据对应的环境基本相同，进而也就减少了环境变化所造成的影响。对应的，当存在任意一个标准差大于预设的第三阈值时，表明第一光测距装置的光探测过程，受到了第二雷达测距装置的干扰，则此次光探测过程所得到的探测数据即为受到干扰时的光强值。此时，不对标准数据进行更新，即不利用受到干扰的探测数据替换成对应的标准数据。
此外，本申请实施例还提供了一种抗干扰的测距装置，请一并参阅图7，图7示出了本申请实施例中一种抗干扰测距的装置结构示意图。该装置700应用于测距系统中的任意一个光测距装置，装置700包括：
检测模块701，用于检测第一光测距装置的光探测过程是否受到测距系统中第二光测距装置的干扰；
延迟模块702，用于当检测到第一光测距装置的光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰时，第一光测距装置将光探测过程延迟预设时间；
数据处理模块703，用于当检测到第一光测距装置的光探测过程没有受到测距系统中第二光测距装置的干扰时，第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
在一些可能的实施方式中，检测模块701包括：
采集单元，用于采集环境图像，环境图像用于表征第一光测距装置所处的环境信息；
检测单元，用于根据环境图像，检测光探测过程是否受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，测距系统中各个光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，环境图像包括第一环境图像和第二环境图像，第一环境图像用于表征第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，第一时刻在光探测过程前，第二环境图像用于表征第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，第二时刻在光探测过程后，检测单元包括：
第一获得子单元，用于根据第一环境图像和第二环境图像获得差值图像，差值图像用于表征第一环境图像和第二环境图像灰度值的差异；
第二获得子单元，用于获得差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
第一确定子单元，用于当灰度值的绝对值的和大于预设的第一阈值时，确定光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，环境图像用于表征在光探测过程前的环境信息；检测单元包括：
第三获得子单元，用于获得环境图像的灰度梯度；
第二确定子单元，用于当灰度梯度大于预设的第二阈值时，确定光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，检测模块701包括：
计算单元，用于分别计算每组探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，该探测数据对应的标准数据用于表征探测数据没有受到干扰时的光强值；
第一确定单元，用于当存在至少一组探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，大于预设的第三阈值时，确定光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，该装置700还包括：
确定模块，用于当所有探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，确定光探测过程没有受到测距系统中第二光测距装置的干扰；
替换模块，用于利用每个探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
在一些可能的实施方式中，延迟模块702包括：
第二确定单元，用于第一光测距装置根据时间比，确定预设时间为光探测过程的N倍，其中，N为不大于时间比的正整数，时间比为第一光测距装置的数据处理过程与光探测过程的时间的比值；
延迟单元，第一光测距装置延迟预设时间后进行光探测过程。
关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
本申请实施例还提供了一种抗干扰的测距的硬件装置，如图8所示，包括：
存储器801，处理器802，以及通信总线803，存储器801和处理器802通过该通信总线803进行数据交互，存储器801用于存储指令，处理器802用于从该存储器801调用指令执行，所述指令包括：
第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；
当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；
当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
在一些可能的实施方式中，所述第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置采集环境图像，所述环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的环境信息；
所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述测距系统中各个光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，所述环境图像包括第一环境图像和第二环境图像，所述第一环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，所述第一时刻在所述光探测过程前，所述第二环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，所述第二时刻在所述光探测过程后，所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置根据所述第一环境图像和所述第二环境图像获得差值图像，所述差值图像用于表征所述第一环境图像和所述第二环境图像灰度值的差异；
所述第一光测距装置获得所述差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
当所述灰度值的绝对值的和大于所述预设的第一阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述环境图像用于表征在所述光探测过程前的环境信息；所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置获得所述环境图像的灰度梯度；
当所述灰度梯度大于预设的第二阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置分别计算每组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，所述探测数据对应的标准数据用于表征所述探测数据没有受到干扰时的光强值；
当存在至少一组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差大于预设的第三阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
在一些可能的实施方式中，所述指令还包括：
当所有探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程没有受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰；
所述第一光测距装置利用每个所述探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
在一些可能的实施方式中，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间包括：
所述第一光测距装置根据时间比，确定所述预设时间为所述光探测过程的N倍，其中，N为不大于所述时间比的正整数，所述时间比为所述第一光测距装置的数据处理过程与所述光探测过程的时间的比值；
所述第一光测距装置延迟所述预设时间后进行所述光探测过程。
此外，本申请还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器，上述指令可由处理器执行以完成图4所示方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器（RAM）、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由移动终端的处理器执行时，使得移动终端能够执行一种抗干扰的测距方法，所述方法包括：
第一光测距装置检测光探测过程是否受到测距系统中第二光测距装置的干扰；
其中，测距系统中至少包括第一光测距装置和第二光测距装置；
当检测到第一光测距装置的光探测过程受到测距系统中第二光测距装置的干扰时，第一光测距装置将光探测过程延迟预设时间；
当检测到第一光测距装置的光探测过程没有受到测距系统中第二光测距装置的干扰时，第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本发明的其它实施方案。本发明旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本发明的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是，本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求来限制以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (14)
1.一种抗干扰的测距方法，其特征在于，应用于测距系统中的任意一个光测距装置，所述方法包括：
第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；
当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；
当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置采集环境图像，所述环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的环境信息；
所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测距系统中各个光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，所述环境图像包括第一环境图像和第二环境图像，所述第一环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，所述第一时刻在所述光探测过程前，所述第二环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，所述第二时刻在所述光探测过程后，所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置根据所述第一环境图像和所述第二环境图像获得差值图像，所述差值图像用于表征所述第一环境图像和所述第二环境图像灰度值的差异；
所述第一光测距装置获得所述差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
当所述灰度值的绝对值的和大于所述预设的第一阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述环境图像用于表征在所述光探测过程前的环境信息；所述第一光测距装置根据所述环境图像，检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置获得所述环境图像的灰度梯度；
当所述灰度梯度大于预设的第二阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰包括：
所述第一光测距装置分别计算每组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，所述探测数据对应的标准数据用于表征所述探测数据没有受到干扰时的光强值；
当存在至少一组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差大于预设的第三阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当所有所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，所述第一光测距装置确定所述光探测过程没有受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰；
所述第一光测距装置利用每个所述探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间包括：
所述第一光测距装置根据时间比，确定所述预设时间为所述光探测过程的N倍，其中，N为不大于所述时间比的正整数，所述时间比为所述第一光测距装置的数据处理过程与所述光探测过程的时间的比值；
所述第一光测距装置延迟所述预设时间后进行所述光探测过程。
8.一种抗干扰的测距装置，其特征在于，应用于测距系统中的任意一个光测距装置，所述装置包括：
检测模块，用于检测第一光测距装置的光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；
延迟模块，用于当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；
数据处理模块，用于当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：
采集单元，用于采集环境图像，所述环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的环境信息；
检测单元，用于根据所述环境图像，检测所述光探测过程是否受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述测距系统中各个光测距装置的光探测过程的时间长度都相同，所述环境图像包括第一环境图像和第二环境图像，所述第一环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第一时刻的环境信息，所述第一时刻在所述光探测过程前，所述第二环境图像用于表征所述第一光测距装置所处的第二时刻的环境信息，所述第二时刻在所述光探测过程后，所述检测单元包括：
第一获得子单元，用于根据所述第一环境图像和所述第二环境图像获得差值图像，所述差值图像用于表征所述第一环境图像和所述第二环境图像灰度值的差异；
第二获得子单元，用于获得所述差值图像中各个像素点的灰度值的绝对值的和；
第一确定子单元，用于当所述灰度值的绝对值的和大于所述预设的第一阈值时，确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述环境图像用于表征在所述光探测过程前的环境信息；所述检测单元包括：
第三获得子单元，用于获得所述环境图像的灰度梯度；
第二确定子单元，用于当所述灰度梯度大于预设的第二阈值时，确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述检测模块包括：
计算单元，用于分别计算每组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，所述探测数据对应的标准数据用于表征所述探测数据没有受到干扰时的光强值；
第一确定单元，用于当存在至少一组所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，大于预设的第三阈值时，确定所述光探测过程受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
确定模块，用于当所有所述探测数据，与该探测数据对应的标准数据的差的标准差，都不大于预设的第三阈值时，确定所述光探测过程没有受到所述测距系统中所述第二光测距装置的干扰；
替换模块，用于利用每个所述探测数据替换该探测数据对应的标准数据。
14.根据权利要求8-13任意一项所述的装置，其特征在于，所述延迟模块包括：
第二确定单元，用于所述第一光测距装置根据时间比，确定所述预设时间为所述光探测过程的N倍，其中，N为不大于所述时间比的正整数，所述时间比为所述第一光测距装置的数据处理过程与所述光探测过程的时间的比值；
延迟单元，所述第一光测距装置延迟所述预设时间后进行所述光探测过程。
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