CN108761265B - 漏电检测电路周期性测试装置及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种漏电检测电路测试装置，解决了现有技术的不足，技术方案为：用于漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路的检测，包括寿命自测主控芯片U2、整流桥D5‑8、漏电信号模拟电路和报警电路，所述寿命自测主控芯片U2的电源端通过整流桥D5‑8与交流电连接，所述寿命自测主控芯片U2的控制输出端与漏电保护芯片U1的检测端连接，寿命自测主控芯片U2的控制输出端还与漏电信号模拟电路的控制端连接，漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，漏电信号模拟电路的输出端接地，寿命自测主控芯片U2的比较输入端与交流电的相线连接。
Description
技术领域
本发明涉及一种漏电检测电路测试装置及其检测方法，具体涉及一种自动在线周期测试用于检测交流供电漏电检测电路系统关键元件和回路是否正常工作的装置及其方法。
背景技术
在工业、农业、交通、国防、企业、医院、学校及居民等用电中均广泛采用50/60HZ频率交流电，为确保人身生命和财产安全，在各级交流供电系统及居民入户用电中均要求安装漏电检测电路装置，以便能够有效检测到漏电或触电事故，及时切断电源，杜绝安全事故的发生。然而，目前使用的漏电检测电路装置均没有安装或者具有自动寿命检测功能电路，当漏电检测电路装置因老化或器件失效等因素不能正常使用时，由于无法及时发现，始终存在极大的安全隐患。尽管专用的漏电检测电路装置或漏电保护设备中设置有人工测试按钮，按下按钮，可以测试漏电保护电路是否正常，但在实际使用过程中，很少有人在每次交流用电设备开启使用前后定期使用该测试电路，同时，使用测试按钮方法会触发切断电源，影响正常使用，且测试按钮操作时间太长容易烧毁电路。
发明内容
本发明的目的在于解决上述现有技术使用测试按钮方法会触发切断电源，影响正常使用，且测试按钮操作时间太长容易烧毁电路的问题，提供一种漏电检测电路周期性测试装置及其检测方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种漏电检测电路测试装置，用于漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路的检测，其特征在于：包括寿命自测主控芯片U2、整流桥D5-8、漏电信号模拟电路和报警电路，所述寿命自测主控芯片U2的电源端通过整流桥D5-8与交流电连接，所述寿命自测主控芯片U2的控制输出端与漏电保护芯片U1的检测端连接，寿命自测主控芯片U2的控制输出端还与漏电信号模拟电路的控制端连接，漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，漏电信号模拟电路的输出端接地，寿命自测主控芯片U2的比较输入端与交流电的相线连接，寿命自测主控芯片U2的检测端与被测的可控硅阳极连接，寿命自测主控芯片U2的报警输出端与报警电路连接。本发明能有效检测漏电检测电路系统关键器件及回路包括：电流感应线圈L1、漏电保护专用芯片U1、可控硅SCR、脱扣器K1及相关回路。上述电路元件在漏电检测电路中的连接关系较为常见，本发明不做赘述。本发明中，寿命自测主控芯片U2通过管脚1端口及串联电阻检测漏电检测电路系统外部供电电压，当电压/电流值低于设定的阀值电压时，则判定为欠电压状态，驱动输出报警信号；寿命自测主控芯片U2通过管脚1端口检测可控硅及脱扣器串联回路，若出现脱扣器失效、开/短路等不正常则触发驱动报警；寿命自测主控芯片U2通过管脚4端口检测相线回路，若相线出现开/短路等不正常则触发驱动报警；若正常，当相线电压进入负半周时，寿命自测主控芯片U2管脚6产生模拟漏电信号，同时，可控硅阳极由寿命自测主控芯片U2管脚1端提供正电压，若正常工作，漏电保护专用芯片接收到模拟漏电信号并放大比较后，将驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2管脚1端电压下降，主控芯片检测到电压变化情况则判定漏电检测电路系统正常，撤除模拟漏电信号；反之，若寿命自测主控芯片U2管脚6产生模拟漏电信号后，漏电保护专用芯片无法正常工作并检测到漏电信号输出驱动可控硅导通，则连续4次在相线电压负半周产生模拟漏电信号检测，若漏电检测电路系统仍旧不能正常工作并驱动可控硅导通，则判定漏电检测电路系统异常，寿命自测主控芯片U2管脚5输出报警方波信号。漏电检测电路系统的在线周期寿命自测试方法可周期性产生模拟漏电信号对漏电检测电路系统功能进行检测。寿命自测主控芯片U2的管脚1为检测端、寿命自测主控芯片U2的管脚6为控制输出端、寿命自测主控芯片U2的管脚5为报警输出端、寿命自测主控芯片U2的管脚4为比较输入端。
作为优选，所述可控硅的门极与漏电保护芯片U1的输出端连接，可控硅的阳极通过脱扣器线圈与交流电相线连接，可控硅的阴极接地，所述可控硅的阳极还通过电阻R6与寿命自测主控芯片U2的检测端连接，可控硅的阳极还与二极管D4的阴极连接，二极管D4的阳极与寿命自测主控芯片U2的检测端连接。
作为优选，所述漏电信号模拟电路包括电阻R11、电阻R10、三极管Q1、电容C9和二极管D10，二极管D10的阳极与交流电的零线连接，二极管D10的阴极通过电阻R11与三极管Q1的集电极连接，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的基极通过电容C9与三极管Q1的发射极连接，三极管Q1的基极通过电阻R10与寿命自测主控芯片U2的控制输出端连接。
作为优选，寿命自测主控芯片U2的比较输入端通过电阻R8与交流电的相线连接，所述报警电路包括发光二极管D9和电阻R9，发光二极管D9通过电阻R9与寿命自测主控芯片U2的报警输出端电连接。
作为优选，所述寿命自测主控芯片U2为具有计时、滤波、比较、逻辑控制和电压钳位功能的单芯片控制器。本发明这样设置，可以选择较为常见的单片机，也可以选择其他类似的控制器，只要能够实现相应功能即可，寿命自测主控芯片U2能够根据设定进行周期性的自检测试，达到自动在线周期测试用于检测交流供电漏电检测电路系统关键元件和回路是否正常工作的目的。
作为优选，还包括有一个定时器、第一触发器、第二触发器和一个自检通过灯，所述定时芯片所述可控硅的阳极端还电连接有第一插接口，所述可控硅的门极也电连接有第二插接口，所述第一插接口与第一触发器第一输入端连接，所述第二插接口与第一触发器第二输入端连接，所述定时器的电源端与寿命自测主控芯片U2的电源端连接，所述定时器的使能端与寿命自测主控芯片U2的控制输出端连接，定时器的输出端与第二触发器的使能端连接，第一触发器的输出端与第二触发器的输入端连接，第二触发器的输出端与自检通过灯连接。本发明中还包括一个由定时器、第一触发器、第二触发器和一个自检通过灯构成的可拆卸式的自检电路，这个自检电路用于检测寿命自测主控芯片U2本身的电路工作状态，由于寿命自测主控芯片U2的工作状态并不直接影响电路本身，无需实时在线检测，检测周期也很长，所以对寿命自测主控芯片U2的检测可以采用可拆卸的电路器件进行检测，只要在系统上电的同时，插入可拆卸式的自检电路，即可在第一个检测周期的时候检测寿命自测主控芯片U2本身的工作状态，因此，可以手动对多个寿命自测主控芯片U2分别检测。
一种漏电检测电路周期性测试方法，采用如上所述的漏电检测电路测试装置，对漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路进行检测，包括以下步骤，
步骤一，系统上电初始，等到达预设时间后执行步骤二，
步骤二，通过寿命自测主控芯片U2检测端的输入电流与设定阈值的比较，确定可控硅的连通性；
步骤三，交流电正半周期时，与内部参考电压比较，若交流电相线电压不在参考电压范围内，则寿命自测主控芯片U2输出报警信号；
步骤四，交流电进入负半周，寿命自测主控芯片U2漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片U1，漏电保护芯片U1进入自测试模式；
步骤五，漏电保护芯片U1接收到模拟漏电信号，驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2检测端电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片U2撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片U2若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则立即重复多次模拟漏电信号的检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则寿命自测主控芯片U2驱动输出报警信号或者驱动切断电源。
作为优选，在步骤一中，系统上电后，寿命自测主控芯片U2内部供电电压上升，在步骤二中，寿命自测主控芯片U2检测端与被测的可控硅阳极连接，通过寿命自测主控芯片U2检测端的输入电流与设定阈值的比较，若输入电流在设定阈值范围内则判定可控硅的连通。
作为优选，在步骤三中，交流电正半周期时，寿命自测主控芯片U2接收交流电相线电压钳位并与内部参考电压比较，在火线正半周期结束前，若交流电相线电压不在参考电压范围内，则寿命自测主控芯片U2输出报警信号。
作为优选，在步骤四中，交流电进入负半周，寿命自测主控芯片U2漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片U1，漏电保护芯片U1进入自测试模式，同时，可控硅阳极由寿命自测主控芯片U2提供正电压，若漏电检测电路正常工作，漏电保护芯片U1接收到模拟漏电信号，将驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2管脚检测端电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片U2撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片U2若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则连续在设定时间之内的相线负半周进行连续发生若干个模拟漏电信号进行周期性检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则寿命自测主控芯片U2驱动输出报警信号或者驱动切断电源。
本发明的实质性效果是：与现有漏电检测电路技术相比，本发明所述方法能够在不影响漏电检测电路系统正常在线漏电检测和保护功能前提下，实现自动在线周期性对漏电检测电路系统关键器件如漏电保护专用芯片、可控硅、脱扣器、感应线圈等及各电子元件之间电气回路连接进行自动测试，以确定检测电路或元件是否失效及电路连接关系是否正常，并在检测到异常后自动驱动报警或脱扣器切断电源，整个过程不需要人工干预，使得漏电检测电路装置使用的安全性得到有效保障。
附图说明
图1为本发明的整体结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施例，并结合附图，对本发明的技术方案作进一步的具体说明。
实施例1：
一种漏电检测电路测试装置（参见附图1），用于漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路的检测，包括寿命自测主控芯片U2、整流桥D5-8、漏电信号模拟电路和报警电路，所述寿命自测主控芯片U2的电源端通过整流桥D5-8与交流电连接，所述寿命自测主控芯片U2的控制输出端与漏电保护芯片U1的检测端连接，寿命自测主控芯片U2的控制输出端还与漏电信号模拟电路的控制端连接，漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，漏电信号模拟电路的输出端接地，寿命自测主控芯片U2的比较输入端与交流电的相线连接，寿命自测主控芯片U2的检测端与被测的可控硅阳极连接，寿命自测主控芯片U2的报警输出端与报警电路连接。所述可控硅的门极与漏电保护芯片U1的输出端连接，可控硅的阳极通过脱扣器线圈与交流电相线连接，可控硅的阴极接地，所述可控硅的阳极还通过电阻R6与寿命自测主控芯片U2的检测端连接，可控硅的阳极还与二极管D4的阴极连接，二极管D4的阳极与寿命自测主控芯片U2的检测端连接。所述漏电信号模拟电路包括电阻R11、电阻R10、三极管Q1、电容C9和二极管D10，二极管D10的阳极与交流电的零线连接，二极管D10的阴极通过电阻R11与三极管Q1的集电极连接，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的基极通过电容C9与三极管Q1的发射极连接，三极管Q1的基极通过电阻R10与寿命自测主控芯片U2的控制输出端连接。寿命自测主控芯片U2的比较输入端通过电阻R8与交流电的相线连接，所述报警电路包括发光二极管D9和电阻R9，发光二极管D9通过电阻R9与寿命自测主控芯片U2的报警输出端电连接。所述寿命自测主控芯片U2为具有计时、滤波、比较、逻辑控制和电压钳位等功能的单芯片控制器。本实施例能有效检测漏电检测电路系统关键器件及回路包括：电流感应线圈L1、漏电保护专用芯片U1、可控硅SCR、脱扣器K1及相关回路。上述电路元件在漏电检测电路中的连接关系较为常见，本实施例不做赘述。本实施例中，寿命自测主控芯片U2通过管脚4端口及串联电阻检测电路系统外部相线供电电压，当电压/电流值低于设定的阀值电压时，则判定为欠电压状态，驱动输出报警信号；寿命自测主控芯片U2通过管脚1端口检测漏电检测电路系统及脱扣器串联回路，若出现脱扣器失效、开/短路等不正常则触发驱动报警；若正常，当相线电压进入负半周时，寿命自测主控芯片U2管脚6产生模拟漏电信号，同时，可控硅阳极由寿命自测主控芯片U2管脚1端提供正电压，若正常工作，漏电保护专用芯片接收到模拟漏电信号并放大比较后，将驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2管脚1端电压下降，主控芯片检测到电压变化情况则判定漏电检测电路系统正常，撤除模拟漏电信号；反之，若寿命自测主控芯片U2管脚6产生模拟漏电信号后，漏电保护专用芯片无法正常工作并检测到漏电信号输出驱动可控硅导通，则连续4次在相线电压负半周产生模拟漏电信号检测，若漏电检测电路系统仍旧不能正常工作并驱动可控硅导通，则判定漏电检测电路系统异常，寿命自测主控芯片U2管脚5输出报警方波信号。漏电检测电路系统的在线周期寿命自测试方法可周期性产生模拟漏电信号对漏电检测电路系统功能进行检测。寿命自测主控芯片U2的管脚1为检测端、寿命自测主控芯片U2的管脚6为控制输出端、寿命自测主控芯片U2的管脚5为报警输出端、寿命自测主控芯片U2的管脚4为比较输入端。
一种漏电检测电路周期性测试方法，采用如上所述的漏电检测电路测试装置，对漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路进行检测，包括以下步骤，
步骤一，系统上电初始，等到达预设时间后执行步骤二，系统上电后，寿命自测主控芯片U2内部供电电压上升，上电后第一次自检测周期在1.25秒开始，之后为每隔2小时一次。本实施例中的周期由人工设定，且不限定只存在一种检测周期。
步骤二，通过寿命自测主控芯片U2检测端的输入电流与设定阈值的比较，确定可控硅的连通性；在步骤二中，寿命自测主控芯片U2检测端与被测的可控硅阳极连接，通过寿命自测主控芯片U2检测端的输入电流与设定阈值的比较，若输入电流在设定阈值范围内则判定可控硅的连通。具体为：正半周期即火线LINE对中线NEU 为正时，U2管脚1通过D4钳位此管脚电压在VDD（5V左右），通过R6与可控硅SCR1阳极相连接，经过R6的电流通过U2内部滤波器电路并与参考阀值电压比较来确定脱扣器与可控硅的连通性。通过U2 管脚4端口串联电阻R8与火线相连接，U2管脚4内部电路将其钳位于VDD+0.7V，正半周期，火线LINE电流通过R8到内部滤波电路，并与内部参考电压比较。
步骤三，交流电正半周期时，更具体的是：在火线正半周期即将结束时，与内部参考电压比较，若交流电相线电压不在参考电压范围内，则寿命自测主控芯片U2输出报警信号；更具体的是：管脚4内部电路将检测到。若火线LINE连接不正常如开路则被U2检测到，U2管脚5端口输出报警信号；
步骤四，交流电进入负半周，寿命自测主控芯片U2漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片U1，漏电保护芯片U1进入自测试模式；在步骤四中，交流电进入负半周，寿命自测主控芯片U2漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片U1，漏电保护芯片U1进入自测试模式，同时，可控硅阳极由寿命自测主控芯片U2提供正电压，若漏电检测电路正常工作，漏电保护芯片U1接收到模拟漏电信号，将驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2管脚检测端电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片U2撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片U2若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则连续在设定时间之内的相线负半周进行连续发生若干个模拟漏电信号进行周期性检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则寿命自测主控芯片U2驱动输出报警信号或者驱动切断电源。
步骤五，漏电保护芯片U1接收到模拟漏电信号，驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2检测端电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片U2撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片U2若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则立即重复多次模拟漏电信号的检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则寿命自测主控芯片U2驱动输出报警信号或者驱动切断电源。
步骤四和步骤五更具体的为：若火线LINE连接正常，当检测到U2 管脚4相线进入负半周时，主控芯片U2控制管脚6通过导通三极管Q1在NEU端产生模拟漏电信号并提供给U1管脚1进入TEST模式使能信号TESE_EN，U1将进入自测试模式。同时，可控硅SCR1阳极端由主控芯片U2 管脚SCR端提供正电压，若漏电检测电路正常工作，U1接收到模拟漏电信号，将驱动可控硅导通，U2管脚 1端电压下降并被U2内部电路检测到，则判定漏电检测电路系统正常，U2自动撤除管脚6模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个自测试周期；反之，若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则连续在80ms之内相线负半周连续4个模拟漏电信号检测周期检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则证明漏电保护检测回路或者可控硅驱动回路因器件失效或者回路开/短路，不能正常工作，U2管脚5驱动输出报警信号或者驱动切断电源。输出报警脉冲信号周期320ms,占空比为50%。漏电检测电路系统的在线寿命自测试系统可周期性(上电第一次1.25秒开始自检，后2小时/1天/1周周期性自检可选）自动检测关键元件及回路。
本实施例与现有漏电检测电路技术相比，本实施例所述方法能够在不影响漏电检测电路系统正常在线漏电检测和保护功能前提下，实现自动在线周期性对漏电检测电路系统关键器件如漏电保护专用芯片、可控硅、脱扣器、感应线圈等及各电子元件之间电气回路连接进行自动测试，以确定检测电路或元件是否失效及电路连接关系是否正常，并在检测到异常后自动驱动报警或脱扣器切断电源，整个过程不需要人工干预，使得漏电检测电路装置使用的安全性得到有效保障。
实施例2：
本实施例与实施例1基本相同，不同之处在于，本实施例还包括有一个定时器、第一触发器、第二触发器和一个自检通过灯，所述定时芯片所述可控硅的阳极端还电连接有第一插接口，所述可控硅的门极也电连接有第二插接口，所述第一插接口与第一触发器第一输入端连接，所述第二插接口与第一触发器第二输入端连接，所述定时器的电源端与寿命自测主控芯片U2的电源端连接，所述定时器的使能端与寿命自测主控芯片U2的控制输出端连接，定时器的输出端与第二触发器的使能端连接，第一触发器的输出端与第二触发器的输入端连接，第二触发器的输出端与自检通过灯连接。还包括一个由定时器、第一触发器、第二触发器和一个自检通过灯构成的可拆卸式的自检电路，这个自检电路用于检测寿命自测主控芯片U2本身的电路工作状态，由于寿命自测主控芯片U2的工作状态并不直接影响电路本身，无需实时在线检测，检测周期也很长，所以对寿命自测主控芯片U2的检测可以采用可拆卸的电路器件进行检测，只要在系统上电的同时，插入可拆卸式的自检电路，即可在第一个检测周期的时候检测寿命自测主控芯片U2本身的工作状态，因此，可以手动对多个寿命自测主控芯片U2分别检测。
以上所述的实施例只是本发明的一种较佳的方案，并非对本发明作任何形式上的限制，在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。
Claims (9)
1.一种漏电检测电路测试装置，用于漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路的检测，其特征在于：包括寿命自测主控芯片U2、整流桥D5-8、漏电信号模拟电路和报警电路，所述寿命自测主控芯片U2的电源端通过整流桥D5-8与交流电连接，所述寿命自测主控芯片U2的控制输出端与漏电保护芯片U1的检测端连接，寿命自测主控芯片U2的控制输出端还与漏电信号模拟电路的控制端连接，漏电信号模拟电路的输入端与交流电的零线连接，漏电信号模拟电路的输出端接地，寿命自测主控芯片U2的比较输入端与交流电的相线连接，寿命自测主控芯片U2的检测端与被测的可控硅阳极连接，寿命自测主控芯片U2的报警输出端与报警电路连接; 还包括有一个定时器、第一触发器、第二触发器和一个自检通过灯，所述可控硅的阳极端还电连接有第一插接口，所述可控硅的门极也电连接有第二插接口，所述第一插接口与第一触发器第一输入端连接，所述第二插接口与第一触发器第二输入端连接，所述定时器的电源端与寿命自测主控芯片U2的电源端连接，所述定时器的使能端与寿命自测主控芯片U2的控制输出端连接，定时器的输出端与第二触发器的使能端连接，第一触发器的输出端与第二触发器的输入端连接，第二触发器的输出端与自检通过灯连接。
2.根据权利要求1所述的漏电检测电路测试装置，其特征在于：所述可控硅的门极与漏电保护芯片U1的输出端连接，可控硅的阳极通过脱扣器线圈与交流电相线连接，可控硅的阴极接地，所述可控硅的阳极还通过电阻R6与寿命自测主控芯片U2的检测端连接，可控硅的阳极还与二极管D4的阴极连接，二极管D4的阳极与寿命自测主控芯片U2的检测端连接。
3.根据权利要求1所述的漏电检测电路测试装置，其特征在于：所述漏电信号模拟电路包括电阻R11、电阻R10、三极管Q1、电容C9和二极管D10，二极管D10的阳极与交流电的零线连接，二极管D10的阴极通过电阻R11与三极管Q1的集电极连接，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的基极通过电容C9与三极管Q1的发射极连接，三极管Q1的基极通过电阻R10与寿命自测主控芯片U2的控制输出端连接。
4.根据权利要求1所述的漏电检测电路测试装置，其特征在于：寿命自测主控芯片U2的比较输入端通过电阻R8与交流电的相线连接，所述报警电路包括发光二极管D9和电阻R9，发光二极管D9通过电阻R9与寿命自测主控芯片U2的报警输出端电连接。
5.根据权利要求1所述的漏电检测电路测试装置，其特征在于：所述寿命自测主控芯片U2为具有计时、滤波、比较、逻辑控制和电压钳位功能的单芯片控制器。
6.一种漏电检测电路周期性测试方法，采用如权利要求1所述的漏电检测电路测试装置，对漏电检测电路中电流感应线圈、漏电保护芯片U1、可控硅、脱扣器及脱扣回路进行检测，其特征在于：包括以下步骤，
步骤一，系统上电初始，等到达预设时间后执行步骤二，
步骤二，通过寿命自测主控芯片U2检测端的输入电流与设定阈值的比较，确定可控硅的连通性；
步骤三，交流电正半周期时，与内部参考电压比较，若交流电相线电压不在参考电压范围内，则寿命自测主控芯片U2输出报警信号；
步骤四，交流电进入负半周，寿命自测主控芯片U2漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片U1，漏电保护芯片U1进入自测试模式；
步骤五，漏电保护芯片U1接收到模拟漏电信号，驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2检测端电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片U2撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片U2若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则立即重复多次模拟漏电信号的检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则寿命自测主控芯片U2驱动输出报警信号或者驱动切断电源。
7.根据权利要求6所述的漏电检测电路周期性测试方法，其特征在于：在步骤一中，系统上电后，寿命自测主控芯片U2内部供电电压上升，在步骤二中，寿命自测主控芯片U2检测端与被测的可控硅阳极连接，通过寿命自测主控芯片U2检测端的输入电流与设定阈值的比较，若输入电流在设定阈值范围内则判定可控硅的连通。
8.根据权利要求6所述的漏电检测电路周期性测试方法，其特征在于：在步骤三中，交流电正半周期时，寿命自测主控芯片U2接收交流电相线电压钳位并与内部参考电压比较，在火线正半周期结束前，若交流电相线电压不在参考电压范围内，则寿命自测主控芯片U2输出报警信号。
9.根据权利要求8所述的漏电检测电路周期性测试方法，其特征在于：在步骤四中，交流电进入负半周，寿命自测主控芯片U2漏电信号模拟电路产生模拟漏电信号并提供给漏电保护芯片U1，漏电保护芯片U1进入自测试模式，同时，可控硅阳极由寿命自测主控芯片U2提供正电压，若漏电检测电路正常工作，漏电保护芯片U1接收到模拟漏电信号，将驱动可控硅导通，寿命自测主控芯片U2管脚检测端电压下降则判定漏电检测电路系统正常，寿命自测主控芯片U2撤除模拟漏电信号并恢复正常模式等待下一个时间；寿命自测主控芯片U2若无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则连续在设定时间之内的相线负半周进行连续发生若干个模拟漏电信号进行周期性检测，若仍旧无法检测到模拟漏电信号或者无法驱动可控硅导通，则寿命自测主控芯片U2驱动输出报警信号或者驱动切断电源。
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