CN108742531A - 一种基于大范围oct扫描的成像修正方法 - Google Patents

一种基于大范围oct扫描的成像修正方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种基于大范围OCT扫描的成像修正方法,包括二维成像修正方法和三维成像修正方法,其中二维成像修正方法包括:搭建频域OCT系统,所述频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,所述样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜;采用频域OCT系统对样品进行二维扫描,得到二维截面图;将所述二维截面图视作二维像素阵列,根据所述二维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移,对所述二维截面图轴向上的所有像素进行光程差修正。本发明能够抵消误差,获得准确的扫描图像。

Description

一种基于大范围OCT扫描的成像修正方法
技术领域
本发明涉及光学检测和生物医学工程领域,尤其涉及一种基于大范围OCT扫描的成像修正方法。
背景技术
光学相干层析技术(Optical Coherence Tomography,OCT)是近年来迅速发展起来的一种成像技术,它在保证一定探测深度的同时,达到了高于其他方法的分辨率和灵敏度;从而以其高分辨率、高灵敏度、非侵入、非接触的特点,在诸多成像方法中占据了一席之地,并有着很好的发展前景,也受到了人们越来越多的关注。光学相干层析成像技术建立在光学、电子学、计算机技术学科的基础上,将半导体和超快激光技术、超灵敏探测、精密自动控制和计算机图像处理等多项技术结合为一整体,是继电子计算机X射线断层扫描成像、超声波成像和核磁共振成像技术之后,又一新的断层成像技术。OCT有两大发展趋势,其一是从时域OCT到频域OCT;时域OCT依靠机械方法使参考臂反射镜前后移动来实现深度方向的扫描,而频域OCT使用光谱仪分光加傅里叶分析的方法实现深度方向的扫描,成像速度大大提高;其二是从结构成像到功能成像,例如偏振OCT、多普勒OCT,利用偏振、相位提供更多维度的生物组织信息。
由于OCT中的扫描是以振镜为中心,焦距为半径扫描并成像,当扫描角度较大时,会引入额外的光程差,致使本来平坦的样品图像发生弯曲。在传统OCT应用领域,如视网膜成像,只需要小范围的扫描,所以误差很小可以忽略。但当OCT应用到其它一些领域,如指纹采集的时候,由于需要大范围扫描(整个手指),由于振镜产生的误差就会比较明显。
以上背景技术内容的公开仅用于辅助理解本发明的构思及技术方案,其并不必然属于本专利申请的现有技术,在没有明确的证据表明上述内容在本专利申请的申请日已经公开的情况下,上述背景技术不应当用于评价本申请的新颖性和创造性。
发明内容
为解决大范围OCT扫描中存在的误差问题,本发明提出一种基于大范围OCT扫描的成像修正方法,能够抵消误差,获得准确的扫描图像。
为了达到上述目的,本发明采用以下技术方案:
本发明公开了一种基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法,包括以下步骤:
A1:搭建频域OCT系统,所述频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,所述样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜;
A2:采用频域OCT系统对样品进行二维扫描,得到二维截面图;
A3:将所述二维截面图视作二维像素阵列,根据所述二维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移,对所述二维截面图轴向上的所有像素进行光程差修正。
优选地,步骤A3具体包括:
A31:将所述二维截面图视作二维像素阵列,提取所述二维截面图的实际尺寸与像素数的对应关系;
A32:计算所述二维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,d是所述振镜到所述聚焦透镜的距离,f是所述聚焦透镜的焦距,θ是所述振镜扫描时的偏转角度,且θ=tan-1(L/f),L是所述样品上的扫描位置偏离扫描中心的距离;
A33:对距离所述扫描中心L处的像素列整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL。
优选地,所述振镜的扫描范围大于或等于10mm。
优选地,所述聚焦透镜的焦距的长度大于或等于5mm。
本发明还公开了一种基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法,包括以下步骤:
B1:搭建频域OCT系统,所述频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,所述样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜,其中所述振镜包括X振镜和Y振镜,所述X振镜和所述Y振镜分别进行两个方向的扫描;
B2:采用频域OCT系统对样品进行三维扫描,得到三维立体图像;
B3:将所述三维立体图像视作三维像素阵列,根据所述三维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移,对所述三维立体图像轴向上的所有像素进行光程差修正。
优选地,步骤B3包括以下步骤:
B31:将所述三维立体图像视作三维像素阵列,提取所述三维像素阵列的实际尺寸与像素数的对应关系;
B32:计算所述三维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,d是所述振镜到所述聚焦透镜的距离,f是所述聚焦透镜的焦距,θ是所述振镜扫描时的偏转角度,且(X0,Y0)是扫描中心坐标,(X,Y)是所述样品上的扫描位置的坐标;
B33:将扫描坐标为(X,Y)处的像素列整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL。
优选地,所述X振镜和所述Y振镜的扫描范围分别大于或等于10mm。
优选地,所述聚焦透镜的焦距的长度大于或等于5mm。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:本发明提出的基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法以及三维成像修正方法,可以修正OCT成像的误差,使得结果更真实。在大范围扫描中,由于光程差导致图像失真会对样品的识别和判定造成影响,通过该成像修正方法修正后,可以抵消这个误差,获得准确的扫描的图像,也即使得样品图更接近真实样品。
附图说明
图1是本发明一个优选实施的基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法的流程示意图;
图2是本发明优选实施例的搭建的OCT系统的偏差计算原理示意图;
图3a是采用频域OCT系统对手指某一部位进行二维扫描得到的二维截面图;
图3b是采用本发明优选实施例的成像修正方法对图3a进行修正后的示意图;
图4是本发明另一个优选实施的基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法的流程示意图。
具体实施方式
下面对照附图并结合优选的实施方式对本发明作进一步说明。
如图1所示,本发明的一个优选实施例公开了一种基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法,包括以下步骤:
A1:搭建频域OCT系统,频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜;
其中该OCT系统满足大范围扫描的要求,振镜扫描角度较大(例如振镜的扫描范围大于或等于10mm),样品臂的聚焦透镜焦距较长(例如聚焦透镜的焦距的长度大于或等于5mm)。
A2:采用频域OCT系统对样品进行二维扫描,得到二维截面图;
A3:将二维截面图视作二维像素阵列,该阵列的元素是对应像素点的灰度,根据二维像素阵列上的像素点相对于振镜扫描的初始点的偏移,对二维截面图轴向上的所有像素进行光程差修正;
其中,步骤A3具体包括:
A31:将二维截面图视作二维像素阵列,提取二维截面图的实际尺寸与像素数的对应关系;
A32:计算二维像素阵列上的像素点相对于振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,d是振镜到聚焦透镜的距离,f是聚焦透镜的焦距,θ是振镜扫描时的偏转角度,且θ=tan-1(L/f),L是样品上的扫描位置偏离扫描中心的距离;
A33:对距离扫描中心L处的像素列整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL。
在一个具体的实例中,步骤A1中的频域OCT系统光源是中心波长为1310nm,频谱宽度为90nm的SLED宽带光源,使用2048像素线阵CCD采集数据;样品臂准直光束直径为2.8mm,该振镜可以包括X振镜和Y振镜,X振镜尺寸12.5mm*12.5mm,Y振镜尺寸为12.5mm*17.5mm,最大扫描角度22.5度,样品臂聚焦透镜焦距50mm。步骤A3的目的是为了修正由于振镜产生的不同扫描位置的光程差,振镜扫描角度越大,光程差越明显,会造成图片弯曲。具体步骤如下:
(1)提取二维截面图,设置图像分辨率为每毫米100个像素,那么10mm二维扫描的结果是一幅横向1000像素的图片,令纵向存在500个像素,最终成像结果为1000*500像素的bmp图片(也即二维像素阵列),其中每个像素点对应了一个灰度值;
(2)样品臂的振镜结构如图2所示,入射光线10打到振镜20上后反射,然后经过聚焦透镜30聚焦到样品40上。振镜20转动会使得入射光线10打到样品40上的不同位置,其中A点为入射光线10打到振镜20上的点,O点为聚焦透镜30的中心,D点为扫描的中心点,光线是偏转时的光路,C点为实时扫描点,与扫描中心点D点相距L,聚焦透镜30的焦距为f,聚焦透镜30到振镜20的光程为d。振镜20在位置S1处时,光路为AOD,振镜20转动到位置S2时,光路为ABC。
其中振镜20到聚焦透镜30的距离d=30mm,聚焦透镜30的焦距f=50mm,θ是振镜20扫描时的偏转角度,L对应样品的扫描位置偏离扫描中心的距离,也即二维像素阵列上的像素点相对于振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,θ=tan-1(L/f)。
(3)将二维截面图的位置与公式中的位置相对应,由于1mm对应100个像素,每个像素对应0.01mm,该公式中的所有物理量以1个像素(0.01mm)为单位计算,计算出不同位置的误差量;将图片中与扫描中心的距离为L的位置对应的像素列整体向上平移ΔL(也即整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL),得到修正后的图片。
在另一个实例中,搭建一套频域OCT系统,光源为英飞华1310nm的SLED光源,功率18W,样品臂聚焦透镜焦距50mm,进行10mm的二维扫描,设置每一毫米采取100个点;则横向有1000个点,深度方向取500个点。系统对手指某一部位进行扫描得到二维图截面图;分析系统中影响成像结果的参数,振镜到聚焦透镜距离d=30mm,聚焦透镜焦距f=50mm;这样一来获得了一张1000*500像素的bmp图像文件,设x轴有1000个点,y轴有500个点。用对应的函数将x不同时候的y方向像素整体向y轴正方向平移一个对应的数值ΔL,计算过程如下所示:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
θ=tan-1(|x-500|/f)
振镜扫描中心为第500个像素,也就是x=500的位置,|x-500|代表偏转振镜扫描中心的距离。平移结束之后即完成修正。图3a是手指的某一部位的原始图像,可以发现,本来按压在玻璃上的手指上表面应该是平坦的,但是由于大范围的光程误差导致上表面有些弯曲,经过修正之后的图3b则比较平整,因此,通过本发明的成像修正方法能够抵消因扫描范围过大导致的误差,获得正确的指纹图像。
如图4所示,本发明的另一个优选实施例公开了一种基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法,包括以下步骤:
B1:搭建频域OCT系统,频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜,其中振镜包括X振镜和Y振镜,X振镜和Y振镜分别进行两个方向的扫描;
其中该OCT系统满足大范围扫描的要求,振镜扫描角度较大(例如振镜的扫描范围大于或等于10mm*10mm,也即X振镜和Y振镜的扫描范围分别大于或等于10mm),样品臂聚焦透镜焦距较长(例如聚焦透镜焦距的长度大于或等于5mm)。
B2:采用频域OCT系统对样品进行三维扫描,得到三维立体图像;
B3:将三维立体图像视作三维像素阵列,根据三维像素阵列上的像素点相对于振镜扫描的初始点的偏移,对三维立体图像轴向上的所有像素进行光程差修正;
其中,步骤B3具体包括:
B31:将三维立体图像视作三维像素阵列,提取三维像素阵列的实际尺寸与像素数的对应关系;
B32:计算三维像素阵列上的像素点相对于振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,d是振镜到聚焦透镜的距离,f是聚焦透镜的焦距,θ是振镜扫描时的偏转角度,且(X0,Y0)是扫描中心坐标,(X,Y)是样品上的扫描位置的坐标;
B33:将扫描坐标为(X,Y)处的像素列整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL。
通过该优选实施例的三维成像修正方法修正后的图像非常接近真实样品,且计算过程中的误差非常小。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干等同替代或明显变型,而且性能或用途相同,都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法,其特征在于,包括以下步骤:
A1:搭建频域OCT系统,所述频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,所述样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜;
A2:采用频域OCT系统对样品进行二维扫描,得到二维截面图;
A3:将所述二维截面图视作二维像素阵列,根据所述二维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移,对所述二维截面图轴向上的所有像素进行光程差修正。
2.根据权利要求1所述的基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法,其特征在于,步骤A3具体包括:
A31:将所述二维截面图视作二维像素阵列,提取所述二维截面图的实际尺寸与像素数的对应关系;
A32:计算所述二维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,d是所述振镜到所述聚焦透镜的距离,f是所述聚焦透镜的焦距,θ是所述振镜扫描时的偏转角度,且θ=tan-1(L/f),L是所述样品上的扫描位置偏离扫描中心的距离;
A33:对距离所述扫描中心L处的像素列整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL。
3.根据权利要求1所述的基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法,其特征在于,所述振镜的扫描范围大于或等于10mm。
4.根据权利要求1所述的基于大范围OCT扫描的二维成像修正方法,其特征在于,所述聚焦透镜的焦距的长度大于或等于5mm。
5.一种基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法,其特征在于,包括以下步骤:
B1:搭建频域OCT系统,所述频域OCT系统包括光谱仪、光源、样品臂和参考臂,所述样品臂用于放置样品,包括振镜、聚焦透镜和准直透镜,其中所述振镜包括X振镜和Y振镜,所述X振镜和所述Y振镜分别进行两个方向的扫描;
B2:采用频域OCT系统对样品进行三维扫描,得到三维立体图像;
B3:将所述三维立体图像视作三维像素阵列,根据所述三维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移,对所述三维立体图像轴向上的所有像素进行光程差修正。
6.根据权利要求5所述的基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法,其特征在于,步骤B3包括以下步骤:
B31:将所述三维立体图像视作三维像素阵列,提取所述三维像素阵列的实际尺寸与像素数的对应关系;
B32:计算所述三维像素阵列上的像素点相对于所述振镜扫描的初始点的偏移:
ΔL=(dcosθ-d)+(f/tanθ-f)
其中,d是所述振镜到所述聚焦透镜的距离,f是所述聚焦透镜的焦距,θ是所述振镜扫描时的偏转角度,且(X0,Y0)是扫描中心坐标,(X,Y)是所述样品上的扫描位置的坐标;
B33:将扫描坐标为(X,Y)处的像素列整体沿轴向向光程差变小的方向平移ΔL。
7.根据权利要求5所述的基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法,其特征在于,所述X振镜和所述Y振镜的扫描范围分别大于或等于10mm。
8.根据权利要求5所述的基于大范围OCT扫描的三维成像修正方法,其特征在于,所述聚焦透镜的焦距的长度大于或等于5mm。
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