CN108680779A - 一种ptc发热组件冲击电流的测试方法 - Google Patents

一种ptc发热组件冲击电流的测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，包括以下主要步骤：同时布置多个冲击电流的测试台，用于多个PTC发热组件冲击电流的测试；在一些冲击电流测试台上设置温度控制箱，温度控制箱能模拟不同的温度环境；将PTC发热组件以及一些测试设备放置在温度控制箱中，对PTC发热组件进行冲击电流测试，本发明能同时对多组PTC发热组件进行冲击电流测试，减少试验时间，提高PTC发热组件冲击电流的测试的效率。

Description

一种PTC发热组件冲击电流的测试方法
技术领域
本发明涉及PTC发热组件性能检测技术领域，尤其涉及一种PTC发热组件冲击电流的测试方法。
背景技术
PTC发热体采用PTC陶瓷发热元件与铝管组成，热阻小、换热效率高的优点，是一种自动恒温、省电的电加热器。PTC发热组件广泛用于与空调机、热风幕机、去湿机、干燥机、干衣机、暖风机、浴霸、汽车等需要提供暖风的设备上。
PTC的电阻和其本身的温度关系有关，温度越低，电阻越小。当PTC发热组件接通时，由于自身温度较低，电阻较小，会产生较大的冲击电流。一般对PTC发热组件进行冲击电流进项测试时，在一次冲击电流测试完成后，由于PTC发热组件本身的温度还维持在高点上，不宜马上对试验后PTC进项再次试验，会影响实验数据，但是等待PTC发热组件降温后再进行测试，影响了冲击电流测试的连续性，也会花费较长测试时间。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，包括以下主要步骤：
S1：同时布置多个冲击电流的测试台，用于多个PTC发热组件冲击电流的测试；
S2：在一些冲击电流测试台上设置温度控制箱，温度控制箱能模拟不同的温度环境；
S3：将PTC发热组件以及一些测试设备放置在温度控制箱中，并连接好测试电路，将示波器设置在温度控制箱的外部；
S4：根据需求，设置和调节温度控制箱中的温度，对PTC发热组件进行冲击电流测试，观察示波器记录数据。
优选的，所述PTC发热组件可为同种型号，也可为不同种型号。
优选的，所述温度控制箱中设置温度传感器与显示器。
优选的，所述多个冲击电流的测试台可用于多个PTC发热组件同时进行冲击电流的测试。
优选的，所述测试设备包括试验电源、示波器和电流探测器，将试验电源施加于PTC发热组件两端，用电流探测器出PTC发热组件的冲击电流，PTC发热组件的实际冲击电流值显示在示波器上。
优选的，所述温度控制箱中的温度可以调节。
优选的，所述温度传感器为热敏电阻传感器。
本发明的有益效果是：
1、本PTC发热组件冲击电流的测试方法设置了多个试验台，能同时对多个PTC发热组件同时进行冲击电流的测试，能同时得出多组数据，减少试验时间，提高PTC发热组件冲击电流的测试的效率。
2、本PTC发热组件冲击电流的测试方法设置了温度控制箱，温度控制箱能模拟不同的温度环境，将PTC发热组件以及一些测试设备放置在温度控制箱中，把温度控制箱中的温度调整到测试需要温度，可以测试出PTC发热组在不同温度环境下的冲击电流值，打破环境障碍，便于对PTC发热组件进行不同温度下的测试。
3、本PTC发热组件冲击电流的测试方法设置了多个试验台，能同时对同种PTC发热组件在不同温度下进行冲击电流的测试，便于数据的对比，也能同时对不同规格的PTC发热组件在同种温度下进行冲击电流的测试，便于数据的对比。
附图说明
图1为本发明提出的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法的流程图；
图2为本发明提出的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法的电路连接示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-2，一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，包括以下主要步骤：
S1：同时布置多个冲击电流的测试台，用于多个PTC发热组件冲击电流的测试，多个冲击电流的测试台可用于多个PTC发热组件同时进行冲击电流的测试，PTC发热组件可为同种型号，PTC发热组件也可为不同型号，当对同种PTC发热组件在不同温度下进行冲击电流的测试，便于数据的对比，也能同时对不同规格的PTC发热组件在同种温度下进行冲击电流的测试，便于数据的对比。
S2：在一些冲击电流测试台上设置温度控制箱，温度控制箱连接空调机的出风口，使得温度控制箱中的温度可以调节，从而使温度控制箱能模拟不同的温度环境，温度控制箱中设置温度传感器与显示器，温度传感器能检测温度控制箱中的温度，显示器能显示温度控制箱中的温度，温度传感器为热敏电阻传感器，成本较低。
S3：将PTC发热组件以及一些测试设备放置在温度控制箱中，并连接好测试电路，测试设备包括试验电源、示波器和电流探测器，试验电源给PTC发热组件提供电能，电流探测器用于测试PTC发热组件两端的电流，示波器能显示PTC发热组件的冲击电流的情况，将试验电源施加于PTC发热组件两端，用电流探测器出PTC发热组件的冲击电流，PTC发热组件的实际冲击电流值显示在示波器上，将示波器设置在温度控制箱的外部，便于读数。
S4：根据需求，设置和调节温度控制箱中的温度，对PTC发热组件进行冲击电流测试，观察示波器记录数据。
实施例1
测试同种PTC发热组件在不种温度下的冲击电流值
将各个PTC发热组件以及测试设备放置在温度控制箱中，并连接好测试电路，将示波器设置在温度控制箱的外部，根据需求，保持每个温度控制箱中的温度不同，对PTC发热组件进行冲击电流测试，观察示波器记录数据。
实施例2
测试不同规格PTC发热组件在同种种温度下的冲击电流值
将各个PTC发热组件以及测试设备放置在温度控制箱中，并连接好测试电路，将示波器设置在温度控制箱的外部，根据需求，保持每个温度控制箱中的温度相同，对PTC发热组件进行冲击电流测试，观察示波器记录数据。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，包括以下主要步骤：
S1：同时布置多个冲击电流的测试台，用于多个PTC发热组件冲击电流的测试；
S2：在一些冲击电流测试台上设置温度控制箱，温度控制箱能模拟不同的温度环境；
S3：将PTC发热组件以及一些测试设备放置在温度控制箱中，并连接好测试电路，将示波器设置在温度控制箱的外部；
S4：根据需求，设置和调节温度控制箱中的温度，对PTC发热组件进行冲击电流测试，观察示波器记录数据。
2.根据权利要求1所述的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，所述PTC发热组件可为同种型号，也可为不同种型号。
3.根据权利要求1所述的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，所述温度控制箱中设置温度传感器与显示器。
4.根据权利要求1所述的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，所述多个冲击电流的测试台可用于多个PTC发热组件同时进行冲击电流的测试。
5.根据权利要求1所述的TC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，所述测试设备包括试验电源、示波器和电流探测器，将试验电源施加于PTC发热组件两端，用电流探测器出PTC发热组件的冲击电流，PTC发热组件的实际冲击电流值显示在示波器上。
6.根据权利要求1所述的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，所述温度控制箱中的温度可以调节。
7.根据权利要求1或者3所述的一种PTC发热组件冲击电流的测试方法，其特征在于，所述温度传感器为热敏电阻传感器。
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