CN108667527B - 一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法。该装置包括:第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤,第一激光器、第一光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接,第二激光器、第二光衰减器、保偏偏振合束器和第三光衰减器通过光纤依次相连接;以及第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片,第一延迟器分别与FPGA芯片和第一激光器电连接,第二延迟器分别与FPGA芯片和第二激光器电连接,FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。该方法基于上述检测装置输出检测光,通过FPGA芯片与待测单光子探测器进行数据交互得到DEM值。本发明结构简单,能够提升QKD系统的安全性。

Description

一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法
技术领域
本发明涉及量子通信技术领域,尤其涉及一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法。
背景技术
量子通信是目前公认的理论上可被证明无条件安全的通信方式,具有广阔的应用前景。然而,实际量子密钥分发(quantum key distribution;简称QKD)系统使用器件存在非完美性,包括单光子探测器不完美性。QKD系统采用的单光子探测器一般都是用门控的雪崩光电二极管,这种设计能有效降级单光子探测器的暗计数。由于在现实中很难找到两个探测效率一致的雪崩光电二极管,如图1所示,ηi(tj)表示探测器i在tj时刻的探测效率(i=0,1)。探测器效率不匹配(detection efficien-cy mismatch;简称DEM)一般定义为当DEM值较大时容易受到伪态攻击或时移攻击,对QKD系统的安全性造成严重的威胁。
实际QKD系统在进行量子密钥分发过程前,为了使得接收方单光子探测器可以有效探测发送方发送的单光子信号,需要进行校准:包括调节门控信号的开门时间,使多路单光子探测器在同一个门控信号下的计数率尽量一致,归一化处理后DEM值近似等于1。
探测器效率不匹配问题广泛存在于实际QKD系统。如图4所示,单光子探测器0和单光子探测器1在同一时刻t的探测效率η不一致。一方面,实际QKD系统接收方大多使用多个单光子探测器,很难保证多个探测器的探测效率在时间维度上完全一致,实际QKD系统出现DEM较大情况的概率为4%;另一方面,实际QKD系统可能存在人为引入较大DEM的情况,因为攻击者通过干扰校准环节,可以成功引入非常大的探测器效率不匹配值,对实际QKD系统的安全性提出了巨大的挑战。因此需要在线检测接收方单光子探测器的DEM情况,以提升实际QKD系统通信过程的安全性。
发明内容
为了提升实际QKD系统通信过程的安全性,本发明提供一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法。
一方面,本发明提供一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置,该装置包括:光学模块和电学模块;其中,
所述光学模块包括第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤,所述第一激光器、所述第一光衰减器、所述保偏偏振合束器和所述第三光衰减器通过所述光纤依次相连接,所述第二激光器、所述第二光衰减器、所述保偏偏振合束器和所述第三光衰减器通过所述光纤依次相连接;
所述电学模块包括第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片,所述第一延迟器分别与所述FPGA芯片和所述第一激光器电连接,所述第二延迟器分别与所述FPGA芯片和所述第二激光器电连接,所述FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。
进一步地,该装置还包括:光控制模块,所述光控制模块的输入端与所述第三光衰减器相连接,所述光控制模块的输出端与光纤通道相连接,所述光纤通道用于将脉冲光接入至待测单光子探测器。
进一步地,所述光控制模块为光开光或耦合器。
另一方面,本发明提供一种基于上述检测装置的单光子探测器探测效率失配度的检测方法,该方法包括:
所述第一激光器和所述第二激光器分别发送第一脉冲光和第二脉冲光,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光正交;所述第一光衰减器和所述第二光衰减器分别对所述第一脉冲光和所述第二脉冲光进行光强调制,使得所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的光强均为第一预设光强值;所述保偏偏振合束器对光强调制后的第一脉冲光和第二脉冲光进行合束处理,得到探测效率失配度检测光;所述第三光衰减器对所述探测效率失配度检测光进行光强调制,使得所述探测效率失配度检测光的光强为第二预设光强值;
所述FPGA芯片接收待测单光子探测器发送的触发信号并根据所述触发信号驱动所述第一延迟器和所述第二延迟器改变所述第一激光器和所述第二激光器的发光时刻;待测单光子探测器统计探测周期内各个发光时刻对所述探测效率失配度检测光的计数率信息并将所述计数率信息发送至所述FPGA芯片,以供所述FPGA芯片计算待测单光子探测器的探测效率失配DEM值。
进一步地,该方法中的所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的光波长和平均光子数分别与待测单光子探测器所在量子密钥分发QKD系统的校准光的光波长和平均光子数一致,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的脉冲宽度不大于所述校准光的脉冲宽度。
进一步地,该方法还包括:若判断获知探测周期内所有的探测效率失配DEM值均不大于预设DEM阈值,则待测单光子探测器所在的QKD系统开始进行密钥传输。
本发明的有益效果:
本发明提供的单光子探测器探测效率失配度的检测装置及方法,通过在实际QKD系统中设置所述检测装置,可以对实际QKD系统的校准效果进行检测,从而实际QKD系统可以根据检测结果进行对校准过程进行修正,可弥补实际QKD系统校准环节可能存在的安全漏洞,提升实际QKD系统分发密钥过程的安全性;并且该检测装置结构简单兼容性好,检测方法流程简单,能够有效检测到单光子探测器探测效率失配度情况。
附图说明
图1为本发明实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测装置的结构示意图;
图2为本发明又一实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测装置的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测方法的流程示意图;
图4为现有技术中两路单光子探测器探测效率不匹配的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测装置的结构示意图。如图1所示,该检测装置10包括光学模块10a和电学模块10b。
所述光学模块10a由第一激光器41a、第二激光器41b,保偏偏振合束器43、第一光衰减器42a、第二光衰减器42b、第三光衰减器42c以及光纤20组成。其中,第一激光器41a和第一激光器41b的输出端分别与第一光衰减器42a和第一光衰减器42b的输入端通过光纤20相连;第一光衰减器42a和第一光衰减器42b的输出端分别通过光纤20与保偏偏振合束器43的输入端相连,保偏偏振合束器43的输出端通过光纤20与衰减器42c相连。
所述电学模块10b由第一延迟器45a、第二延迟器45b和FPGA芯片44组成。其中,第一延迟器45a和第二延迟器45b的输入端均与FPGA芯片44相连,第一延迟器45a和第二延迟器45b的输出端分别与第一激光器41a和第一激光器41b相连;所述FPGA芯片44通过与待测单光子探测器60电连接进行数据交互。
图2为本发明又一实施例实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测装置的结构示意图。如图2所示,与上述实施例不同之处在于,在上述实施例的基础上,本发明实施例在检测装置中又增加了光控制模块10c。如此,通过光开光或耦合器10c可以实现实际QKD系统校准光和检测装置发出的检测光进行隔离。需要说明的是,本发明实施例中的光学模块10a和电学模块10b与上述实施例相同,此处不再赘述。
可选地,所述光控制模块可以是光开光,也可以是耦合器。
本发明提供的单光子探测器探测效率失配度的检测装置,通过在实际QKD系统中设置所述检测装置,可以对实际QKD系统的校准效果进行检测,从而实际QKD系统可以根据检测结果进行对校准过程进行修正,可弥补实际QKD系统校准环节可能存在的安全漏洞,提升实际QKD系统分发密钥过程的安全性;并且该检测装置结构简单兼容性好,能够有效检测到单光子探测器探测效率失配度情况。
图3为本发明实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测方法的流程示意图。如图3所示,该检测方法包括以下步骤:
S301、所述第一激光器和所述第二激光器分别发送第一脉冲光和第二脉冲光,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光正交;所述第一光衰减器和所述第二光衰减器分别对所述第一脉冲光和所述第二脉冲光进行光强调制,使得所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的光强均为第一预设光强值;所述保偏偏振合束器对光强调制后的第一脉冲光和第二脉冲光进行合束处理,得到探测效率失配度检测光;所述第三光衰减器对所述探测效率失配度检测光进行光强调制,使得所述探测效率失配度检测光的光强为第二预设光强值;
具体地,当QKD系统校准环节完成之后,密钥分发过程开始之前,在线检测模块开始工作。具体流程如下:
第一激光器41a和第二激光器41b分别发送第一脉冲光和第二脉冲光,第一光衰减器42a第二光衰减器42b分别对第一脉冲光和第二脉冲光的光强进行调节,保证第一脉冲光和第二脉冲光的光强一致,然后保偏偏振合束器43将光强调制后的第一脉冲光和第二脉冲光进行偏振得到一束脉冲光,即探测效率失配度检测光。该探测效率失配度检测光经第三光衰减器42c衰减,将其光强强度调节至单光子的光强强度。
S302、所述FPGA芯片接收待测单光子探测器发送的触发信号并根据所述触发信号驱动所述第一延迟器和所述第二延迟器改变所述第一激光器和所述第二激光器的发光时刻;待测单光子探测器统计探测周期内各个发光时刻对所述探测效率失配度检测光的计数率信息并将所述计数率信息发送至所述FPGA芯片,以供所述FPGA芯片计算待测单光子探测器的探测效率失配DEM值。
具体地,待测单光子探测器向FPGA芯片44发送触发信号,该触发信号用于检测装置10与待测单光子探测器60之间的信号同步。在实际操作中,QKD系统在进行密钥分配之前,需要对收发方之间的通信装置进行校准,在QKD系统完成校准之后,接收方侧的待测单光子探测器会向检测装置10中的FPGA芯片发送该触发信号,FPGA芯片通过解析该触发信号获知所述第一激光器和所述第二激光器的发光时刻。因此,FPGA芯片44根据该触发信号驱动第一延迟器和第二延迟器,确定第一激光器41a和第二激光器41b发送第一脉冲光和第二脉冲光的发光时刻。在一个探测周期内,第一激光器41a和第二激光器41b根据重复频率会间歇地发送脉冲光,待测单光子探测器60通过统计一个探测周期内各个发光时刻的计数率信息并将所述计数率信息发送至FPGA芯片44,如此FPGA芯片44即可根据该计数率信息和检测装置发送的发光次数计算待测单光子探测器44的探测效率失配DEM值。
本发明实施例提供的单光子探测器探测效率失配度的检测方法,在QKD系统完成校准之后进行检测,可弥补QKD系统校准环节可能存在的安全漏洞,保证QKD过程的安全性。
在上述实施例的基础上,该方法还包括:在所述第一激光器和第二激光器发送第一脉冲光和第二脉冲光之前,通过光控制模块阻断待测单光子探测器所在量子密钥分发QKD系统的校准光。
具体地,光控制模块10c的输出端与光纤通道相连接,该光纤通道用于将脉冲光接入至待测单光子探测器60,该光纤通道可以是QKD系统本身的光纤通道,通过光控制模块10c(例如光开光或耦合器)阻断待测单光子探测器60所在量子密钥分发QKD系统的校准光在该光纤通道传输,从而能够不对QKD系统造成额外的信道传输损耗。
在上述实施例的基础上,该方法还包括:若判断获知探测周期内所有的探测效率失配DEM值均不大于预设DEM阈值,则待测单光子探测器所在的QKD系统开始进行密钥分发。
具体地,在实际操作过程中,可根据不同QKD系统的光纤通道的信道传输效率及待测单光子探测器60的额定探测效率等信息确定暗计数阈值及DEM阈值。检测装置根据待测单光子探测器统计的计数率信息,当同一时刻点相同基矢下的多路单光子探测器60的计数均低于暗计数阈值时,不统计DEM情况;当一个完整的探测周期内所有的DEM均在预设DEM阈值内,QKD系统的密钥传输过程开启;当检测装置10检测到在探测周期内某个时刻点的DEM超过预设DEM阈值,则将该检测结果反馈给QKD系统,QKD系统重新进行校准。
在上述实施例的基础上,该方法中的所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的光波长和平均光子数分别与待测单光子探测器所在量子密钥分发QKD系统的校准光的光波长和平均光子数一致,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的脉冲宽度不大于所述校准光的脉冲宽度。
具体地,在实际操作过程中,可根据不同QKD系统的光纤通道的信道传输效率及待测单光子探测器60的额定探测效率等信息确定光学模块10a发送的脉冲正交光的波长、平均光子数及脉冲宽度等参数值。在本发明实施例中,第一脉冲光和第二脉冲光的光波长和平均光子数分别与QKD系统的校准光的光波长和平均光子数一致,第一脉冲光和第二脉冲光的脉冲宽度不大于所述校准光的脉冲宽度,如此可更精确地模拟得到多路单光子探测器60之间的探测效率的匹配情况。
最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种单光子探测器探测效率失配度的检测装置,其特征在于,包括:光学模块和电学模块;其中,
所述光学模块包括第一激光器、第二激光器、第一光衰减器、第二光衰减器、第三光衰减器、保偏偏振合束器以及光纤,所述第一激光器、所述第一光衰减器、所述保偏偏振合束器和所述第三光衰减器通过所述光纤依次相连接,所述第二激光器、所述第二光衰减器、所述保偏偏振合束器和所述第三光衰减器通过所述光纤依次相连接;
所述电学模块包括第一延迟器、第二延迟器和FPGA芯片,所述第一延迟器分别与所述FPGA芯片和所述第一激光器电连接,所述第二延迟器分别与所述FPGA芯片和所述第二激光器电连接,所述FPGA芯片与待测单光子探测器电连接。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括:光控制模块,所述光控制模块的输入端与所述第三光衰减器相连接,所述光控制模块的输出端与光纤通道相连接,所述光纤通道用于将脉冲光接入至待测单光子探测器。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述光控制模块为光开关或耦合器。
4.一种基于如权利要求1或2任一所述的检测装置的单光子探测器探测效率失配度的检测方法,其特征在于,所述方法包括:
所述第一激光器和所述第二激光器分别发送第一脉冲光和第二脉冲光,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光正交;所述第一光衰减器和所述第二光衰减器分别对所述第一脉冲光和所述第二脉冲光进行光强调制,使得所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的光强均为第一预设光强值;所述保偏偏振合束器对光强调制后的第一脉冲光和第二脉冲光进行合束处理,得到探测效率失配度检测光;所述第三光衰减器对所述探测效率失配度检测光进行光强调制,使得所述探测效率失配度检测光的光强为第二预设光强值;
所述FPGA芯片接收待测单光子探测器发送的触发信号并根据所述触发信号驱动所述第一延迟器和所述第二延迟器改变所述第一激光器和所述第二激光器的发光时刻;待测单光子探测器统计探测周期内各个发光时刻对所述探测效率失配度检测光的计数率信息并将所述计数率信息发送至所述FPGA芯片,以供所述FPGA芯片计算待测单光子探测器的探测效率失配DEM值。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括;
在所述第一激光器和第二激光器发送第一脉冲光和第二脉冲光之前,通过光控制模块阻断待测单光子探测器所在量子密钥分发QKD系统的校准光。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括:
若判断获知探测周期内所有的探测效率失配DEM值均不大于预设DEM阈值,则待测单光子探测器所在的QKD系统开始进行密钥分发。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的光波长和平均光子数分别与待测单光子探测器所在量子密钥分发QKD系统的校准光的光波长和平均光子数一致,所述第一脉冲光和所述第二脉冲光的脉冲宽度不大于所述校准光的脉冲宽度。
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