CN108574947A - 一种物联网测试方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种物联网测试方法及装置，通过将获取的待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成有效测试终端以接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据及联网配置信息保存为虚拟测试终端，用于在待测虚拟SIM卡与待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与待测物联网进行测试数据交互，也即，空白测试终端只有在待测虚拟SIM卡与待测物联网之间有测试数据交互时才需要被该待测虚拟SIM卡对应的虚拟测试终端使用，而在其他情况下，对应的空白测试终端处于没有被占用的状态，从而可以重复循环的被使用，所以可以在不增加硬件成本的条件下实现更多测试终端的接入，降低了测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种物联网测试方法及装置。
背景技术
NB-IoT(Narrow Band Internet of Things，窄带物联网)是低功耗广域网(LowPower Wide Access，LPWA)的众多技术之一，其可以支持低功耗设备在广域网的蜂窝数据连接。
NB-IoT具备四大特点：一是广覆盖，可以提供改进的室内覆盖，在同样的频段下，NB-IoT比现有的网络增益20dB，覆盖面积扩大100倍；二是具备支撑海量连接的能力，NB-IoT一个扇区能够支持10万个连接，支持低延时敏感度、超低的设备成本、低功耗和优化的网络架构；三是更低功耗，NB-IoT终端模块的待机时间可长达10年；四是更低的模块成本，企业预期的单个接连模块不超过5美元。
海量接入意味着产品开发测试和实际部署中都需要更多的终端，而在测试过程中按照现有的方法每个终端都绑定一个物理SIM(Subscriber Identification Module，客户识别模块)卡来计算时，不论是设备商还是最终用户，都是一笔不小的开销，这与NB-IoT追求更低的模块成本(包括研发成本和制造成本)是相悖的。随着技术的发展，虚拟SIM卡技术越来越成熟，将会逐渐取代现有的物理SIM卡，虚拟SIM卡技术的优点主要包括：一是终端设备不需要设计SIM卡槽，避免卡槽和SIM卡损坏给用户带来的不必要损失，从而降低了设计、制造和维护成本；二是虚拟SIM卡的数据修改方便，通过软件即可实现修改，不必更换硬件，在提升研发效率以及实际部署效率的同时可以有效降低研发及部署成本。但是，在对NB-IoT进行测试的过程中使用虚拟SIM卡技术时，与使用物理SIM卡存在同样的问题，因为现有的终端侧测试设备，不论是插入真实SIM卡还是使用虚拟SIM卡，软件如何优化，最终使用时还是受限于测试设备硬件本身。在测试设备硬件性能有限，又不能增加硬件投入成本的条件下，如何以有限的硬件开销，满足更多的终端侧接入需要，成为亟待解决的重要问题。
发明内容
本发明实施例提供的物联网测试方法及装置，主要解决的技术问题是：现有技术中对物联网进行测试时，在测试设备硬件资源有限的条件下无法满足接入海量终端的问题。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种物联网测试方法，包括：
获取测试设备上的空白测试终端以及待测虚拟SIM卡的配置数据；
按预设写入规则将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端；
将所述有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，所述虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与所述待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与所述待测物联网进行测试数据交互。
本发明实施例还提供一种物联网测试装置，包括：
获取模块，用于获取测试设备上的空白测试终端以及待测虚拟SIM卡的配置数据；
写入模块，用于按预设写入规则将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端；
处理模块，用于将所述有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，所述虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与所述待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与所述待测物联网进行测试数据交互。
本发明实施例还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行前述的物联网测试方法。
本发明的有益效果是：
根据本发明实施例提供的物联网测试方法、装置以及计算机存储介质，通过将获取到的各待测虚拟SIM卡的配置数据按预设写入规则写入对应从测试设备上获取到的空白测试终端形成有效测试终端，将有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，其中虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与待测物联网进行测试数据交互，也即是说，空白测试终端只有在待测虚拟SIM卡与待测物联网之间有测试数据交互时才需要被该待测虚拟SIM卡对应的虚拟测试终端使用，此时虚拟测试终端需要在该空白测试终端上恢复以得到有效测试终端，而在其他情况下，例如该待测虚拟SIM卡与该待测物联网之间没有测试数据交互时，该对应的空白测试终端就不需要被该待测虚拟SIM卡对应的虚拟测试终端使用，也即此时的空白测试终端处于没有被占用的状态，从而可以重复循环的供其他的待测虚拟SIM卡或者虚拟测试终端使用。所以通过本发明实施例提供的方案，虽然在测试设备上的空白测试终端资源有限，但是由于空白测试终端可以被重复循环使用，所以可以在不增加硬件成本的条件下实现更多测试终端的接入，从一定程度上解决了当测试设备上硬件资源有限时如何接入更多测试终端的问题，降低了研发测试成本。
附图说明
图1为本发明实施例一中物联网测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例一中有效测试终端与待测物联网进行上行测试数据交互的第一流程示意图；
图3为本发明实施例一中有效测试终端与待测物联网进行下行测试数据交互的第一流程示意图；
图4为本发明实施例一中有效测试终端与待测物联网进行上行测试数据交互的第二流程示意图；
图5为本发明实施例一中有效测试终端与待测物联网进行下行测试数据交互的第二流程示意图；
图6为本发明实施例二中在第一种示例中的物联网测试方法的流程示意图；
图7为本发明实施例二中在第二种示例中的物联网测试方法的流程示意图；
图8为本发明实施例二中在第三种示例中的物联网测试方法的流程示意图；
图9为本发明实施例三中物联网测试装置的第一结构示意图；
图10为本发明实施例三中物联网测试装置的第二结构示意图；
图11为本发明实施例三中物联网测试装置的第三结构示意图；
图12为本发明实施例三中物联网测试装置的第四结构示意图；
图13为本发明实施例三中物联网测试装置的第五结构示意图；
图14为本发明实施例三中物联网测试装置的第六结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明实施例作进一步详细说明。
实施例一：
为了解决现有技术中对物联网进行测试时，当测试设备无法满足接入海量终端时，不得不额外增加硬件资源以接入更多终端进行测试，导致测试成本增加的问题，本实施例提供一种物联网测试方法，需要说明的是，本实施例所提供的物联网测试方法可以应用于NB-IoT物联网测试，或者也可以应用于其他需要接入多个测试终端的物联网测试，具体的请参见图1所示，包括：
S101：获取测试设备上的空白测试终端以及待测虚拟SIM卡的配置数据。
首先，对本实施例中的待测虚拟SIM卡的配置数据进行说明，本实施例中的每一个待测虚拟SIM卡都有其对应的配置数据，其配置数据具体的可以包括结构数据以及用户数据，待测虚拟SIM卡的结构数据可以包括厂商号、SIM卡型号等等，待测虚拟SIM卡的用户数据主要包括鉴权和加密信息(Ki)、国际移动用户号(IMSI)、集成电路卡识别码(ICCID)等等。
其次，对本实施例中的空白测试终端进行说明，本实施例中的空白测试终端包括与待测虚拟SIM卡对应的实现SIM功能的电路资源。本实施例中的空白测试终端可以通过如下方式获得：将测试设备的硬件逻辑电路划分为N个单元，这N个单元即为N个逻辑电路，根据需要为这N个单元制定N份软件数据用于指定逻辑电路的连接，利用软件数据指定逻辑电路完成连接后得到的即为空白测试终端。应当理解的是，上述N的具体数值可以小于等于基带和射频资源所能承载的最大逻辑电路的数量，需要说明的是，本实施例中获取空白测试终端和获取配置数据的顺序不受任何限制，例如可以同时进行，或者也可以先获取空白测试终端，或者也可以先获取配置数据。
S102：按预设写入规则将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端。
需要说明的是，本实施例中的预设写入规则包括以下写入规则中的至少一个：
一对一写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
多对一写入：将多个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
一对多写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入多个空白测试终端。
应当理解的是，在对某一物联网进行测试时，可以同时利用上述三种写入规则将待测虚拟SIM卡的配置数据写入空白测试终端，或者也可以只同时利用上述三种写入规则中的任意两种将待测虚拟SIM卡的配置数据写入空白测试终端，或者也可以只利用上述三种写入规则中的任意一种将待测虚拟SIM卡的配置数据写入空白测试终端。当利用上述三种写入规则中的至少两种时，可以根据需要将空白测试终端进行分组，以组为单位按照不同的写入规则将待测虚拟SIM卡的配置数据写入相应的空白测试终端。
现有技术中当对物联网进行测试时，测试设备上无论是插入物理SIM卡还是使用虚拟SIM卡，SIM卡所包含的内容与测试设备的硬件资源都是相关联的，也即是在测试设备的硬件资源一定的条件下，现有技术无法灵活满足各种不同的实际应用场景，例如当测试设备的硬件资源中只能支持一个SIM卡接入一个测试终端时，此时对于该测试设备而言就无法对多个SIM卡接入一个测试终端和多个测试终端共享一个SIM的情形进行测试。而本实施例提供的方案，由于可以灵活利用不同的写入规则将配置数据写入空白测试终端，所以可以满足实际测试中不同的测试场景条件。
S103：将有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与待测物联网进行测试数据交互。
本实施例中的联网配置信息包括将有效测试终端接入待测物联网之后的上下文信息以及现场配置信息，本实施例中的上下文信息包括协议栈使用的数据信息，以衔接有效测试终端的业务处理，本实施例中的现场配置信息包括无线配置参数信息，例如可以包括频带资源、无线信道等等。
应当理解的是，本实施例在步骤S103之后还可以包括：
将有效测试终端内待测虚拟SIM卡的配置数据释放形成空白测试终端，以供写入其他待测虚拟SIM卡的配置数据形成新的有效测试终端。
在一些实施例中，待测虚拟SIM卡的数量小于空白测试终端的数量且是将待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入对应的空白测试终端，由于还有剩余的空白测试终端，所以此时不必将有效测试终端内待测虚拟SIM卡的配置数据释放就可满足对物联网进行测试的条件，也即此时只需执行步骤S101-步骤S103即可。
下面对有效测试终端与待测物联网进行测试数据交互的过程进行具体的说明。
参见图2所示，本实施例中，在将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，可以包括：
S201：在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端。
需要说明的是，步骤S201中为虚拟测试终端分配的空白测试终端可以是之前与该虚拟测试终端共同形成有效测试终端的空白测试终端，在某些情况下根据需要也可以是其他的空白测试终端。
S202：通过得到的有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据。
S203：在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
这里需要对将某待测虚拟SIM卡的配置数据以多对一写入对应的空白测试终端的情况进行进一步的说明，假设此时有M个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端，这M个配置数据会依次写入该空白测试终端形成M个有效测试终端，假设每次接入都成功，M个有效测试终端在接入待测物联网后就会形成M个虚拟测试终端，同时上述的空白测试终端也会被剥离，当上述其中一个虚拟终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，此时则会为这M个虚拟测试终端依次分配该空白测试终端，具体过程如下：将该空白测试终端分配给其中一个虚拟测试终端，该虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端，该有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据，在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端，再将该空白测试终端分配给上述其他的虚拟测试终端，直至所有的待测虚拟SIM卡的配置数据全部被使用。
请参见图3所示，本实施例中，在将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，还可以包括：
S301：在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收下行测试数据的虚拟测试终端，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端。
需要说明的是，步骤S301中为虚拟测试终端分配的空白测试终端可以是之前与该虚拟测试终端共同形成有效测试终端的空白测试终端，在某些情况下根据需要也可以是其他的空白测试终端。
S302：通过得到的有效测试终端接收待测物联网发送的下行测试数据。
S303：在下行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
请参见图4所示，本实施例中，在将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端时，还可以包括：
S401：在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端。
S402：通过得到的有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据和与有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息。
S403：在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有该待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端以供更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
这里需要对将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端的情况进行进一步的示例说明，假设此时有一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入X个空白测试终端，这一个待测虚拟SIM卡的配置数据可以同时分别写入这X个空白测试终端，也可以依次写入这X个空白测试终端形成X个有效测试终端，假设每次接入都成功，X个有效测试终端在接入待测物联网后就会形成X个虚拟测试终端，同时上述的空白测试终端也会被剥离，当上述其中一个虚拟终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，此时则会为这个虚拟测试终端分配空白测试终端，具体过程如下：将空白测试终端分配给该虚拟测试终端，该虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端，该有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据以及与该有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息，在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有该待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端以供更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。应当理解的是，当多个有效测试终端同时有上行测试数据需要发送时，可以按照优先级或者随机的策略选择一个有效测试终端发送上行测试数据。
请参见图5所示，本实施例中，在将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端时，还可以包括：
S501：在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收下行测试数据的虚拟测试终端，为待测虚拟SIM卡分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端。
S502：通过得到的有效测试终端接收待测物联网发送的下行测试数据和空白测试终端的标识信息。
S503：在有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息与待测物联网发送的空白测试终端的标识信息匹配后，对下行测试数据进行处理，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，将该待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有该待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
在此，还需要说明的是，本实施例中的上行测试数据和下行测试数据可以是按照预先设置好的测试策略生成的，或者也可以是有效测试终端在接入待测物联网后，在实际业务运行中产生的。
本实施例提供的物联网测试方法，通过将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据释放出来以剥离出空白测试终端，从而使得空白测试终端可以被重复利用从而可以写入其他更多的待测虚拟SIM卡的配置数据形成更多有效测试终端，所以可以在不增加硬件成本的条件下实现更多测试终端的接入，从一定程度上解决了当测试设备上硬件资源有限时如何接入更多测试终端的问题，降低了研发测试成本。
实施例二：
为了更好的理解本发明，本实施例在实施例一的基础上结合三种具体的场景提供更加具体的物联网测试方法以进行进一步的示例说明。
在本实施例提供的第一种示例中，有1000个虚拟SIM卡需要接入NB-IoT物联网进行测试，但是测试设备只能提供500个空白测试终端，为了让这1000个虚拟SIM卡全部接入NB-IoT物联网并能进行数据交互，请参见图6所示，本示例提供的物联网测试方法包括：
S601：批量获取1000个虚拟SIM卡的配置数据。
这里假设步骤S601中的1000个配置数据为SIM1-SIM1000。
S602：获取测试设备上的500个空白测试终端。
本实施例中获取空白测试终端的方式可以参照实施例一中的方式获取。这里假设获取到的500个空白测试终端为空白测试终端1-空白测试终端500。
S603：将SIM1-SIM500一对一写入空白测试终端1-空白测试终端500，形成有效测试终端1-有效测试终端500。
S604：将有效测试终端A(A大于等于1，小于等于500)接入待测物联网，接入成功后将有效测试终端A的SIMA以及联网配置信息保存为虚拟测试终端A。
S605：将有效测试终端A内的SIMA释放形成空白测试终端A。
S606：将SIMB(B大于500，小于等于1000)写入空白测试终端A，生成新的有效测试终端B并进行接入测试以生成虚拟测试终端B。
S607：判断是否存在虚拟测试终端1-虚拟测试终端1000，如是，转至S608，如否，转至S604。
需要说明的是，本示例的系统中存在虚拟测试终端1-虚拟测试终端1000时，这1000个待测虚拟SIM卡都应当完成了接入，且所有的联网配置信息都应当得到了保存，空白测试终端1-空白测试终端500也应当全部被释放。
S608：监测到虚拟测试终端C(C大于等于1，小于等于1000)需要向待测物联网发送上行测试数据时，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，恢复得到有效测试终端C。
S609：通过有效测试终端C向待测物联网发送上行测试数据。
S610：在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端C内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端C进行更新，并将有效测试终端C内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
S611：监测到有虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息查找需要接收下行测试数据的虚拟测试终端。
应当理解的是，对于步骤S611而言，一旦监测到待测物联网发送的下行测试数据无法被正确接收时，即可认为有虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据。
S612：查找结果为虚拟测试终端D(D大于等于1，小于等于1000)，则为虚拟测试终端D分配对应的空白测试终端，恢复得到有效测试终端D。
还需要说明的是，当查找结果为空时，也即没有查找到接收下行测试数据的虚拟测试终端时，表明查找失败，可以放弃本次下行测试数据的接收。
S613：通过有效测试终端D接收待测物联网发送的下行测试数据。
S614：在下行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端D内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端D进行更新，并将有效测试终端D内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
应当理解的是，步骤S608-步骤S610与步骤S612-步骤S614，可以没有必然的先后顺序，也即是步骤S612并非必须在步骤S608之后，步骤S612也可以在步骤S608之前，或者可以同时进行。
在本实施例提供的第二种示例中，需要在一个空白测试终端中写入5个虚拟SIM卡的配置数据，为了让这5个虚拟SIM卡全部写入同一个空白测试终端并接入NB-IoT物联网以进行数据交互，请参见图7所示，本示例提供的物联网测试方法包括：
S701：获取5个虚拟SIM卡的配置数据。
这里假设步骤S701中的5个配置数据为SIM1-SIM5。
S702：将SIMX(X大于等于1，小于等于5)写入空白测试终端形成有效测试终端X。
应当理解的是，步骤S702中可以根据随机策略或者按照预设策略或者按照优先级策略将SIM1-SIM5中的任意一个写入空白测试终端。
S703：将有效测试终端X接入待测物联网，接入成功后将有效测试终端X的SIMX以及联网配置信息保存为虚拟测试终端X。
S704：将有效测试终端X内的SIMX释放形成空白测试终端。
S705：判断是否已对所有的有效测试终端进行了接入操作，如否，转至S702，如是，转至S706。
需要说明的是，在实际测试中，存在接入失败的情况，例如有可能SIM1、SIM2、SIM4对应的有效测试终端能成功接入待测物联网，SIM3、SIM5对应的有效测试终端接入失败，则可以将接入成功的有效测试终端对应的SIM标记为可用，接入失败的有效测试终端对应的SIM标记为不可用，在后续要进行数据交互时，则只会选择可用的有效测试终端对应的SIM进行数据交互。
S706：判断是否所有的有效测试终端都接入失败，如是，转至S702，如否，转至S707。
S707：监测到有虚拟测试终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，为该虚拟测试终端分配该空白测试终端，恢复得到有效测试终端。
S708：通过该有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据。
S709：在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
S710：取出其他可用的SIM对应的虚拟测试终端直至所有可用的SIM对应的有效测试终端完成上行测试数据的发送。
S711：监测到有虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，分析空口资源使用特征，根据保存的联网配置信息查找需要接收下行测试数据的虚拟测试终端。
S712：查找成功，则为查找到的虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，恢复得到有效测试终端。
还需要说明的是，当查找结果为空时，也即没有查找到接收下行测试数据的虚拟测试终端时，表明查找失败，可以放弃本次下行测试数据的接收。
S713：通过该有效测试终端接收待测物联网发送的下行测试数据。
S714：在下行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
应当理解的是，步骤S707-步骤S710与步骤S711-步骤S714，可以没有必然的先后顺序，也即是步骤S711并非必须在步骤S707之后，步骤S711也可以在步骤S707之前，或者可以同时进行。
在本实施例提供的第三种示例中，需要将一个虚拟SIM卡的配置数据写入5个空白测试终端并接入NB-IoT物联网以进行数据交互，请参见图8所示，本示例提供的物联网测试方法包括：
S801：获取这一个虚拟SIM卡的配置数据。
S802：获取测试设备上的5个空白测试终端。
本实施例中获取空白测试终端的方式可以参照实施例一中的方式获取。这里假设获取到的5个空白测试终端为空白测试终端1-空白测试终端5。
S803：将虚拟SIM卡的配置数据分别写入空白测试终端1-空白测试终端5，形成有效测试终端1-有效测试终端5。
S804：将有效测试终端1接入待测物联网，接入成功后将有效测试终端1的SIM1以及联网配置新保存为虚拟终端1，并将联网配置信息共享给其他包含有该配置数据的有效测试终端。
需要说明的是，在实际测试过程中，有效测试终端1可能无法成功接入待测物联网，此时可以继续使用有效测试终端2-有效测试终端5接入待测物联网，直至有一个有效测试终端成功接入待测物联网才停止继续接入。
S805：将有效测试终端1内的待测虚拟SIM卡的配置数据释放形成空白测试终端1。
S806：监测到虚拟测试终端E(E大于等于1，小于等于5)需要向待测物联网发送上行测试数据时，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端E，恢复得到有效测试终端E。
S807：通过有效测试终端E向待测物联网发送上行测试数据和该有效测试终端E对应的空白测试终端E的标识信息。
S808：在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端E内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端E进行更新。
S809：将当前的联网配置信息共享给其他包含有该配置数据的虚拟测试终端以供更新，并将有效测试终端E内配置数据再次释放形成空白测试终端。
S810：监测到有虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，有效测试终端1-有效测试终端5同时接收待测物联网发送的下行测试数据和空白测试终端的标识信息。
S811：在有效测试终端1对应的空白测试终端1的标识信息与待测物联网发送的空白测试终端的标识信息匹配后，对下行测试数据进行处理。
S812：根据有效测试终端1内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端1进行更新，将待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有该待测虚拟SIM卡配置数据的有效测试终端。
S813：将有效测试终端1内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
同样的，本示例中步骤S806-步骤S809与步骤S810-步骤S813，可以没有必然的先后顺序，也即是步骤S810并非必须在步骤S806之后，步骤S810也可以在步骤S806之前，或者可以同时进行。
本实施例提供的物联网测试方法，通过将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据释放出来以剥离出空白测试终端，从而使得空白测试终端可以被重复利用从而可以写入其他更多的待测虚拟SIM卡的配置数据形成更多有效测试终端，所以可以在不增加硬件成本的条件下实现更多测试终端的接入，从一定程度上解决了当测试设备上硬件资源有限时如何接入更多测试终端的问题，降低了研发测试成本，同时可以根据需要在一台测试设备上实现不同测试场景的模拟。
实施例三：
本实施例提供一种物联网测试装置，请参见图9所示，包括：获取模块91、写入模块92、以及处理模块93，其中，获取模块91用于获取测试设备上的空白测试终端以及各待测虚拟SIM卡的配置数据，空白测试终端包括与待测虚拟SIM卡对应的实现SIM功能的电路资源；写入模块92用于按预设写入规则将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端；处理模块93用于将有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与待测物联网进行测试数据交互。当然，在一些实施例中，请参见图10所示，还可以包括释放模块94，其中，释放模块94用于将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡释放形成空白测试终端，以供写入其他待测虚拟SIM卡的配置数据形成新的有效测试终端。
需要说明的是，本实施例中的获取模块91、写入模块92、处理模块93以及释放模块94的功能可由控制终端内的处理器或者控制器实现，实现该获取模块91、写入模块92、处理模块93以及释放模块94功能的软件代码具体可以构造于处理器或者控制器内。
应当理解的是，本实施例中的每一个待测虚拟SIM卡都有其对应的配置数据，其配置数据具体的可以包括结构数据以及用户数据，待测虚拟SIM卡的结构数据可以包括厂商号、SIM卡型号等等，待测虚拟SIM卡的用户数据主要包括鉴权和加密信息(Ki)、国际移动用户号(IMSI)、集成电路卡识别码(ICCID)等等。本实施例中的空白测试终端包括与待测虚拟SIM卡对应的实现SIM功能的电路资源。本实施例中的空白测试终端可以通过如下方式获得：将测试设备的硬件逻辑电路划分为N个单元，这N个单元即为N个逻辑电路，根据需要为这N个单元制定N份软件数据用于指定逻辑电路的连接，利用软件数据指定逻辑电路完成连接后得到的即为空白测试终端。应当理解的是，上述N的具体数值可以小于等于基带和射频资源所能承载的最大逻辑电路的数量。
本实施例中的写入模块92可以用于按照以下写入规则中的至少一个将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端：
一对一写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
多对一写入：将多个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
一对多写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入多个空白测试终端。
应当理解的是，本实施例中的写入模块92可以同时利用上述三种写入规则将待测虚拟SIM卡的配置数据写入空白测试终端，或者也可以只同时利用上述三种写入规则中的任意两种将待测虚拟SIM卡的配置数据写入空白测试终端，或者也可以只利用上述三种写入规则中的任意一种将待测虚拟SIM卡的配置数据写入空白测试终端。当利用上述三种写入规则中的至少两种时，可以根据需要将空白测试终端进行分组，以组为单位按照不同的写入规则将待测虚拟SIM卡的配置数据写入相应的空白测试终端。
现有技术中当对物联网进行测试时，测试设备上无论是插入物理SIM卡还是使用虚拟SIM卡，SIM卡所包含的内容与测试设备的硬件资源都是相关联的，也即是在测试设备的硬件资源一定的条件下，现有技术无法灵活满足各种不同的实际应用场景，例如当测试设备的硬件资源中只能支持一个SIM卡接入一个测试终端时，此时对于该测试设备而言就无法对多个SIM卡接入一个测试终端和多个测试终端共享一个SIM的情形进行测试。而本实施例提供的方案，由于通过写入模块92可以灵活利用不同的写入规则将配置数据写入空白测试终端，所以可以满足实际测试中不同的测试场景条件。
在此，还需要说明的是，本实施例中的联网配置信息包括将有效测试终端接入待测物联网之后的上下文信息以及现场配置信息，本实施例中的上下文信息包括协议栈使用的数据信息，以衔接有效测试终端的业务处理，本实施例中的现场配置信息包括无线配置参数信息，例如可以包括频带资源、无线信道等等。
需要说明的是，在一些实施例中，本实施例中的释放模块94可以根据需要处于不使用状态，例如，当待测虚拟SIM卡的数量小于空白测试终端的数量且是将待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入对应的空白测试终端时，由于还有剩余的空白测试终端，所以此时不必将有效测试终端内待测虚拟SIM卡的配置数据释放就可满足对物联网进行测试的条件。
当本实施例中的写入模块92是将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，请参见图11所示，本实施例提供的物联网测试装置还可以包括第一上行测试数据处理模块95。
第一上行测试数据处理模块95，用于在某虚拟测试终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据；在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并通知释放模块94将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
需要说明的是，第一上行测试数据处理模块95为虚拟测试终端分配的空白测试终端可以是之前与该虚拟测试终端共同形成有效测试终端的空白测试终端，在某些情况下根据需要也可以是其他的空白测试终端。
本实施例中的第一上行测试数据处理模块95的功能可由控制终端内的处理器或者控制器实现，实现该第一上行测试数据处理模块95功能的软件代码具体可以构造于处理器或者控制器内。
这里对写入模块92将某待测虚拟SIM卡的配置数据以多对一写入对应的空白测试终端的情况进行进一步的说明，假设此时有M个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端，写入模块92会将这M个配置数据依次写入该空白测试终端形成M个有效测试终端，假设每次接入都成功，M个有效测试终端在接入待测物联网后就会形成M个虚拟测试终端，同时上述的空白测试终端也会被剥离，当上述其中一个虚拟终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，此时第一上行测试数据处理模块95则会为这M个虚拟测试终端依次分配该空白测试终端，具体过程如下：将该空白测试终端分配给其中一个虚拟测试终端，该虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端，该有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据，在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端，再将该空白测试终端分配给上述其他的虚拟测试终端，直至所有的待测虚拟SIM卡的配置数据全部被使用。
当本实施例中的写入模块92是将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，请参见图12所示，本实施例提供的物联网测试装置还可以包括第一下行测试数据处理模块96。
第一下行测试数据处理模块96，用于在某虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收下行测试数据的虚拟测试终端，为待测虚拟SIM卡分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端接收待测物联网发送的下行测试数据；在下行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并通知释放模块94将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
本实施例中的第一下行测试数据处理模块96的功能可由控制终端内的处理器或者控制器实现，实现该第一下行测试数据处理模块96功能的软件代码具体可以构造于处理器或者控制器内。
需要说明的是，第一下行测试数据处理模块96为虚拟测试终端分配的空白测试终端可以是之前与该虚拟测试终端共同形成有效测试终端的空白测试终端，在某些情况下根据需要也可以是其他的空白测试终端。
当本实施例中的写入模块92是将某待测虚拟SIM卡的配置数据以多对一写入对应的空白测试终端时，请参见图13所示，本实施例提供的物联网测试装置还可以包括第二上行测试数据处理模块97。
第二上行测试数据处理模块97，用于在某一虚拟测试终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，为虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据和与有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息；在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，将待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端，并通知释放模块94将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
本实施例中的第二上行测试数据处理模块97的功能可由控制终端内的处理器或者控制器实现，实现该第二上行测试数据处理模块97功能的软件代码具体可以构造于处理器或者控制器内。
这里对写入模块92将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端的情况进行进一步的示例说明，假设此时有一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入X个空白测试终端，写入模块92可以将这一个待测虚拟SIM卡的配置数据同时分别写入这X个空白测试终端，也可以依次写入这X个空白测试终端形成X个有效测试终端，假设每次接入都成功，X个有效测试终端在接入待测物联网后就会形成X个虚拟测试终端，同时上述的空白测试终端也会被剥离，当上述其中一个虚拟终端需要向待测物联网发送上行测试数据时，此时第二上行测试处理模块97则会为这个虚拟测试终端分配空白测试终端，具体过程如下：将空白测试终端分配给该虚拟测试终端，该虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端，该有效测试终端向待测物联网发送上行测试数据以及与该有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息，在上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，并将待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有该待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端以供更新，并将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。应当理解的是，当多个有效测试终端同时有上行测试数据需要发送时，可以按照优先级或者随机的策略选择一个有效测试终端发送上行测试数据。
当本实施例中的写入模块92是将某待测虚拟SIM卡的配置数据以多对一写入对应的空白测试终端时，请参见图14所示，本实施例提供的物联网测试装置还可以包括第二下行测试数据处理模块98。
第二下行测试数据处理模块98，用于在某一虚拟测试终端需要接收待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收下行测试数据的虚拟测试终端，为待测虚拟SIM卡分配对应的空白测试终端，并将虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端接收待测物联网发送的下行测试数据和空白测试终端的标识信息；在有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息与待测物联网发送的空白测试终端的标识信息匹配后，对下行测试数据进行处理，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对虚拟测试终端进行更新，将待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端，并通知释放模块94将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
本实施例中的第二下行测试数据处理模块98的功能可由控制终端内的处理器或者控制器实现，实现该第二下行测试数据处理模块98功能的软件代码具体可以构造于处理器或者控制器内。
在此，还需要说明的是，本实施例中的上行测试数据和下行测试数据可以是按照预先设置好的测试策略生成的，或者也可以是有效测试终端在接入待测物联网后，在实际业务运行中产生的。
应当理解的是，在实际的应用场景中，对于一个物联网测试装置而言，根据写入模块具体的写入规则，可以灵活设置第一上行测试数据处理模块95、第一下行测试数据处理模块96、第二上行测试数据处理模块97及第二下行测试数据处理模块98，例如物联网测试装置中可以只包含上述四个模块中的任意一个、两个、三个或者也可以全部都包含。
本实施例提供的物联网测试装置，通过释放模块将有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据释放出来以剥离出空白测试终端，从而使得空白测试终端可以被重复利用从而可以写入其他更多的待测虚拟SIM卡的配置数据形成更多有效测试终端，所以可以在不增加硬件成本的条件下实现更多测试终端的接入，从一定程度上解决了当测试设备上硬件资源有限时如何接入更多测试终端的问题，降低了研发测试成本。
显然，本领域的技术人员应该明白，上述本发明实施例的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在计算机存储介质(ROM/RAM、磁碟、光盘)中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。所以，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上内容是结合具体的实施方式对本发明实施例所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (14)
1.一种物联网测试方法，包括：
获取测试设备上的空白测试终端以及待测虚拟SIM卡的配置数据；
按预设写入规则将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端；
将所述有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，所述虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与所述待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与所述待测物联网进行测试数据交互。
2.如权利要求1所述的物联网测试方法，其特征在于，所述在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与所述待测物联网进行测试数据交互之后还包括：
将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据释放形成空白测试终端，以供写入其他待测虚拟SIM卡的配置数据形成新的有效测试终端。
3.如权利要求2所述的物联网测试方法，其特征在于，所述预设写入规则包括以下写入规则中的至少一个：
一对一写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
多对一写入：将多个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
一对多写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入多个空白测试终端。
4.如权利要求3所述的物联网测试方法，其特征在于，在将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，还包括：
在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要向所述待测物联网发送上行测试数据时，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；
通过得到的有效测试终端向所述待测物联网发送所述上行测试数据；
在所述上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，并将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
5.权利要求3或4所述的物联网测试方法，其特征在于，在将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，还包括：
在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要接收所述待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收所述下行测试数据的虚拟测试终端，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；
通过得到的有效测试终端接收所述待测物联网发送的下行测试数据；
在所述下行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，并将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
6.如权利要求3所述的物联网测试方法，其特征在于，在将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多的形式写入对应的空白测试终端时，还包括：
在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要向所述待测物联网发送上行测试数据时，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；
通过得到的有效测试终端向所述待测物联网发送所述上行测试数据和与所述有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息；
在所述上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，并将所述待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有所述待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端以供更新，并将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
7.如权利要求3或6所述的物联网测试方法，其特征在于，在将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端时，还包括：
在包含该待测虚拟SIM卡的配置数据的虚拟测试终端需要接收所述待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收所述下行测试数据的虚拟测试终端，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；
通过得到的有效测试终端接收所述待测物联网发送的下行测试数据和空白测试终端的标识信息；
在所述有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息与所述待测物联网发送的空白测试终端的标识信息匹配后，对所述下行测试数据进行处理，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，将所述待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有所述待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端，并将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
8.一种物联网测试装置，包括：
获取模块，用于获取测试设备上的空白测试终端以及待测虚拟SIM卡的配置数据；
写入模块，用于按预设写入规则将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端；
处理模块，用于将所述有效测试终端接入待测物联网，将该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据以及联网配置信息保存为虚拟测试终端，所述虚拟测试终端用于在待测虚拟SIM卡与所述待测物联网有测试数据交互时，在空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端以与所述待测物联网进行测试数据交互。
9.如权利要求8所述的物联网测试装置，其特征在于，还包括释放模块，用于将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡的配置数据释放形成空白测试终端，以供写入其他待测虚拟SIM卡的配置数据形成新的有效测试终端。
10.如权利要求9所述的物联网测试装置，其特征在于，所述写入模块用于按照以下写入规则中的至少一个将相应待测虚拟SIM卡的配置数据写入对应的空白测试终端形成具有网络接入及数据交互功能的有效测试终端：
一对一写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
多对一写入：将多个待测虚拟SIM卡的配置数据写入一个空白测试终端；
一对多写入：将一个待测虚拟SIM卡的配置数据写入多个空白测试终端。
11.如权利要求10所述的物联网测试装置，其特征在于，所述写入模块用于将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，还包括：
第一上行测试数据处理模块，用于在某虚拟测试终端需要向所述待测物联网发送上行测试数据时，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端向所述待测物联网发送所述上行测试数据；在所述上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，并通知所述释放模块将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
12.如权利要求10或11所述的物联网测试装置，其特征在于，所述写入模块用于将某待测虚拟SIM卡的配置数据以一对一写入或以多对一写入对应的空白测试终端时，还包括：
第一下行测试数据处理模块，用于在某虚拟测试终端需要接收所述待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收所述下行测试数据的虚拟测试终端，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端接收所述待测物联网发送的下行测试数据；在所述下行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，并通知所述释放模块将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
13.如权利要求10所述的物联网测试装置，其特征在于，所述写入模块用于将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端时，还包括：
第二上行测试数据处理模块，用于在某一虚拟测试终端需要向所述待测物联网发送上行测试数据时，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端向所述待测物联网发送所述上行测试数据和与所述有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息；在所述上行测试数据传输处理完成之后，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，将所述待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有所述待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端，并通知所述释放模块将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
14.如权利要求10或13所述的物联网测试装置，其特征在于，所述写入模块用于将某一待测虚拟SIM卡的配置数据以一对多写入对应的空白测试终端时，还包括：
第二下行测试数据处理模块，用于在某一虚拟测试终端需要接收所述待测物联网发送的下行测试数据时，根据保存的联网配置信息确定需要接收所述下行测试数据的虚拟测试终端，为所述虚拟测试终端分配对应的空白测试终端，并将所述虚拟测试终端在该空白测试终端上进行恢复得到有效测试终端；通过得到的有效测试终端接收所述待测物联网发送的下行测试数据和空白测试终端的标识信息；在所述有效测试终端对应的空白测试终端的标识信息与所述待测物联网发送的空白测试终端的标识信息匹配后，对所述下行测试数据进行处理，根据该有效测试终端内的待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息对所述虚拟测试终端进行更新，将所述待测虚拟SIM卡当前的联网配置信息共享给其他包含有所述待测虚拟SIM卡配置数据的虚拟测试终端，并通知所述释放模块将所述有效测试终端内的待测虚拟SIM卡再次释放形成空白测试终端。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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