CN108572142B - 一种高信噪比的光计算光学相干成像系统 - Google Patents
一种高信噪比的光计算光学相干成像系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光;参考光发射到第一光相位调制器进行调制后发射到色散器件,经色散器件的光发射到第二光相位调制器再次进行调制,调制后的光经一聚焦透镜发射到一反射镜后沿着原光路返回并发射到第二耦合器;测量光进入色散器件,经色散器件出射的光经一聚焦透镜进入二维扫描系统,二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品的不同位置,经待测样品不同位置、不同深度反射的光沿着原光路返回进入第二耦合器与参考光发生干涉;经第二耦合器出射的干涉光依次经平衡探测器、滤波器和解调器发送到计算机得到样品的结构图像。
Description
技术领域
本发明涉及一种光学相干成像系统(Optical Coherence Tomograpgy,简称OCT),特别是关于一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,属于生物医学光子学技术领域。
背景技术
光学相干成像技术已经由传统的时域光学相干成像(Time Domain-OCT,简称TD-OCT)发展为频域光学相干成像(Fourier Domain-OCT,简称FD-OCT)。随后出现了基于光计算的光学相干成像系统,该光学相干成像系统最大的优势就是速度快。但是,现有技术中基于光计算的光学相干成像系统信噪比略低(<50dB)。对于生物样品的成像,信噪比是至关重要的指标。无论成像速度多快,如果图像信号淹没在噪声里,那么实际使用中就会受到很多限制。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的是提供一种高信噪比的光计算光学相干成像系统。
为实现上述目的,本发明采取以下技术方案:一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,包括宽带光源、两耦合器、信号发生装置、两光相位调制器、色散器件、四环形器、二维扫描系统、平衡探测器、滤波器、解调器和计算机;其中,第一光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at2)信号进行驱动,第二光相位调制器经所述信号产生装置产生形状为cos(at2+2πf0t)信号进行驱动,其中,t为时间,a和f0为常数;所述宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光;所述参考光经所述第一光相位调制器进行调制后通过第一环形器发射到所述色散器件,经所述色散器件出射的光经第二环形器发射到所述第二光相位调制器再次进行调制后发射到第三环形器,经所述第三环形器出射的光经一聚焦透镜发射到一反射镜后沿着原光路返回并经所述第三环形器发射到第二耦合器;测量光经所述第二环形器进入所述色散器件,所述色散器件出射的光经所述第一环形器发射到第四环形器,经所述第四环形器出射的光经一聚焦透镜进入所述二维扫描系统,所述二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品,经所述待测样品反射的光沿着原光路返回经所述第四环形器进入所述第二耦合器与参考光发生干涉;经所述第二耦合器出射的干涉光依次经所述平衡探测器、滤波器和解调器发送到所述计算机得到待测样品的结构图像。
优选地,所述色散器件采用色散光纤。
为实现上述目的,本发明还可以采取以下技术方案:一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,包括宽带光源、两耦合器、信号发生装置、两光相位调制器、两色散器件、两环形器、二维扫描系统、平衡探测器、滤波器、解调器和计算机;其中,第一光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at2)信号进行驱动,第二光相位调制器经所述信号产生装置产生形状为cos(at2+2πf0t)信号进行驱动,其中,t为时间,a和f0为常数;所述宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光;参考光发射到所述第一光相位调制器进行调制后发射到第一色散器件,经所述第一色散器件出射的光发射到所述第二光相位调制器再次调制后发射到第一环形器,经所述第一环形器出射的光经一聚焦透镜会聚后发射到一反射镜后沿着原光路返回经所述第一环形器发射到第二耦合器;测量光经第二色散器件发射到第二环形器,经所述第二环形器出射的光经一聚焦透镜进入所述二维扫描系统,所述二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品,经所述待测样品反射的光沿着原光路返回经所述第二环形器进入所述第二耦合器与参考光发生干涉;经所述第二耦合器出射的干涉光依次经所述平衡探测器、滤波器和解调器发送到所述计算机得到待测样品的结构图像。
优选地,所述第一色散器件和第二色散器件结构完全相同,均包括环形器和光纤布拉格光栅。
优选地,所述第一光相位调制器和第二光相位调制器采用电光相位调制器。
优选地,所述信号发生装置包括波形发生器,所述波形发生器与所述第一光相位调制器之间设置第一射频放大器,所述波形发生器与所述第二光相位调制器之间设置第二射频放大器。
优选地,所述宽带光源的工作波段采用850nm、1064nm、1310nm和1550nm中的一种。
本发明由于采取以上技术方案,具有以下优点:1、本发明在马赫-曾德耳干涉仪的参考臂上设置光相位调制器,相对于现有基于光计算的光学相干成像系统采用的光强度调制器,具有以下优势:1)光相位调制器不需要光强度调制器所必需的偏置电压,同时也避免了温漂的问题;2)光相位调制器的插损通常比光强度调制器的插损低3dB,降低了光的损耗;3)马赫-曾德耳干涉仪的参考臂上设置光相位调制器的插损只会影响到此臂上的光功率而不是总的光功率,大大节约了总的光功率,因此能够直接增强系统的光功率,提高整个系统信噪比。2、本发明由于设置有第二个光相位调制器和滤波器,因此可以将光计算信号的变频率载波转换成固定频率载波,降低了光信号的探测带宽,提高信噪比。3、本发明的整个光路不但结构简单,而且均可以采用全光纤器件,使系统的能量利用率、稳定性、集成度更高。4、本发明由于设置有第二耦合器,经第二耦合器出射的同比例的光经平衡探测器接收,其中的直流信号以及共模噪声均被平衡探测器去除,有效提高信噪比。综上所述,本发明从两方面极大地提高了系统信噪比,一方面是改变了光调制器的类型以及位置,提高了光功率;另一方面是将随时间变化的载波频率固定在了某一特定频率,减小了探测带宽,这样可将信噪比提高至少30dB,达到整个系统应有的散粒噪声极限。本发明具有结构简单、全光纤化、工作稳定的特点,可以广泛应用于光学相干成像中。
附图说明
图1为本发明的光计算光学相干成像系统实施例1的结构示意图;
图2为本发明的光计算光学相干成像系统实施例2的结构示意图;
图3为本发明采用镜面作为样品时,理论计算得到的平衡探测器输出信号示意图;
图4为本发明采用镜面作为样品时,实验测得的平衡探测器输出信号示意图。
具体实施方式
以下结合附图来对本发明进行详细的描绘。然而应当理解,附图的提供仅为了更好地理解本发明,它们不应该理解成对本发明的限制。在本发明的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”等仅仅是用于描述的目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在现有技术公开的专利文件中记载的基于光计算的光学相干成像系统所输出的信号是cos(at2)*S(ω=t/D0),该信号的包络就是待测样品的一线空间结构信息,其中,“*”为卷积运算符号,a为一常数,t为时间,S(ω)为OCT干涉光谱形状,D0为色散量,具体详见申请号为201510107496.7的具体实施方式记载,在此不作赘述。
卷积cos(at2)*S(ω=t/D0)当中有意义的是卷积结果的包络(代表所测样品的一线空间结构信息),该信号的载波是无意义的。而且这个载波的频率是随时间变化的,导致增加了光信号的探测带宽,进而引起信噪比降低(散粒噪声极限情况下,信噪比反比于探测带宽)。因此,要减小带宽,提高信噪比,还需要将代表卷积cos(at2)*S(ω=t/D0)的光信号输入到另一个光调制器中,用一个与信号载波存在固定频率差f0的信号对其调制,最后就得到cos(at2+2πf0t)[cos(at2)*S(ω=t/D0)]。根据积化和差公式,调制后的信号分成和频与差频两部分,选取合适的参数可以保证和频部分与差频部分在频谱上无交集,采用滤波器将和频部分移除,留下的差频部分的载波频率即是f0,这样就大大减小了探测带宽,显著提高了信噪比,该差频信号的包络就是所测样品的一线空间结构信息,下面通过两个具体实施例详细说明可以明显提高信噪比的光计算光学相干成像系统的光路结构。
实施例1:
如图1所示,本实施例提供的光计算光学相干成像系统,包括一光计算系统和一图像显示系统。光计算系统包括宽带光源1、第一耦合器2、信号发生装置3、第一光相位调制器4、第二光相位调制器5、第一~第四环形器6~9、色散器件10、第一聚焦透镜11、第二聚焦透镜12、第二耦合器13、二维扫描系统14和反射镜19,图像显示系统包括平衡探测器15、滤波器16、解调器17和计算机18。其中,第一光相位调制器4经信号发生装置3产生形状为cos(at2)信号进行驱动,第二光相位调制器5经信号产生装置3产生形状为cos(at2+2πf0t)信号进行驱动,本实施例的色散器件10可以采用色散光纤。
工作波段为1550nm的宽带光源1发出的直流宽带光经第一耦合器2分为参考光和测量光;
参考光发射到第一光相位调制器4进行调制后经第一环形器6发射到色散器件10,经色散器件10出射的光经第二环形器7发射到第二光相位调制器5再次进行调制,调制后的光经第三环形器8发射到第一聚焦透镜11,经第一聚焦透镜11会聚后的光信号发射到反射镜19后沿着原光路返回经第三环形器8发射到第二耦合器13;
测量光经第二环形器7进入色散器件10,色散器件10出射的光经第一环形器6发射到第四环形器9,经第四环形器9出射的光通过第二聚焦透镜12进入二维扫描系统14,二维扫描系统14将测量光反射到待测样品20的不同位置,经待测样品20不同位置、不同深度反射的光沿着原光路返回进入第四环形器9,经第四环形器9出射的光发射到第二耦合器13与参考光发生干涉;
经第二耦合器13出射的干涉光发射到平衡探测器15,平衡探测器15将光信号转换为电信号后发送到滤波器16,滤波器16将和频部分移除,仅保留差频部分。经滤波器16滤波后的信号进入解调器17得到包络信号,包络信号发送到计算机18得到样品的结构图像。
实施例2:
如图2所示,本实施例与实施例1的光路结构和光路器件基本相同,不同的是实施例1是参考光和测量光同时使用一个色散器件10,本实施例中参考光和测量光单独使用各自的色散器件,两个色散器件结构和功能完全相同,第一色散器件21采用一环形器211和一光纤布拉格光栅212,第二色散器件22采用一环形器221和一光纤布拉格光栅222。本实施例的光路传播具体过程为:
宽带光源1发出的直流宽带光经第一耦合器2分为参考光和测量光;
参考光发射到第一光相位调制器4进行调制后发射到环形器211,经环形器211出射的光信号经光纤布拉格光栅212反射返回环形器211,将环形器211出射的光发射到第二光相位调制器5进行调制后发射到第三环形器8,经第三环形器8出射的光经第一聚焦透镜11会聚后发射到反射镜19后沿着原光路返回经第三环形器8发射到第二耦合器13;
测量光发射到环形器221,经环形器221出射的光发射到光纤布拉格光栅222反射进入环形器221,经环形器221出射的光发射到第四环形器9,经第四环形器9出射的光经第二聚焦透镜12进入二维扫描系统14,二维扫描系统14将测量光反射到待测样品20的不同位置,经待测样品20不同位置、不同深度反射的光沿着原光路返回进入第四环形器9,经第四环形器9出射的光发射到第二耦合器13与参考光发生干涉;
经第二耦合器13出射的干涉光经平衡探测器15接收,平衡探测器15将光信号转换为电信号后发送到滤波器16,滤波器16将和频部分移除,仅保留差频部分。经滤波器16滤波后的信号进入解调器17得到包络信号,包络信号发送到计算机18得到样品的结构图像。
如图3和图4所示,当将镜面作为待测样品20时,采用本发明系统经试验证明,平衡探测器15输出信号的实验结果与理论计算结果一致,因此证明本发明的光计算光学相干成像系统的原理正确可行。
上述各实施例中,第一光相位调制器4和第二光相位调制器5均可以采用电光相位调制器。
上述各实施例中,第一耦合器2和第二耦合器13的耦合比根据实际试验需要进行设置,在此不做限定,本发明实施例中的第一耦合器2的耦合比参数为10/90,第二耦合器13的耦合比例参数为50/50。
上述各实施例中,信号发生装置3可以采用波形发生器31,由于现有的光相位调制器的半波电压显著大于波形发生器31输出电压的幅度,因此波形发生器31与第一光相位调制器4、第二光相位调制器5之间可以设置第一射频放大器32、第二射频放大器33用于提高调制深度;波形发生器31分别与第一射频放大器32和第二射频放大器33用于驱动第一光相位调制器4、第二光相位调制器5以便将输入的光分别调制为波形cos(at2)、cos(at2+2πf0t)的形状,其中,t为时间,a和f0均为常数。
上述各实施例中,宽带光源1的工作波段不局限于1550nm,还可以根据实际需要采用850nm、1064nm和1310nm中的一种;相应地,光路中的相应光学器件的工作波长与宽带光源1所选择的输出波长相适应。
上述实施例中,为了提高输出信号的功率,在宽带光源1和第二耦合器13之间的任一位置可以设置助推光学放大器或掺杂光纤放大器。
上述实施例中,二维扫描系统14为现有系统,包括X方向和Y方向的两个扫描振镜,具体工作原理在此不再赘述。
上述各实施例仅用于说明本发明,其中各部件的结构、连接方式和制作工艺等都是可以有所变化的,凡是在本发明技术方案的基础上进行的等同变换和改进,均不应排除在本发明的保护范围之外。
Claims (7)
1.一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,包括宽带光源、两耦合器、信号发生装置、两光相位调制器、色散器件、四环形器、二维扫描系统、平衡探测器、滤波器、解调器和计算机;其中,第一光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at 2)信号进行驱动,第二光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at 2+2πf 0 t)信号进行驱动,其中,t为时间,a和f 0为常数;
所述宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光;所述参考光经所述第一光相位调制器进行调制后通过第一环形器发射到所述色散器件,经所述色散器件出射的光经第二环形器发射到所述第二光相位调制器再次进行调制后发射到第三环形器,经所述第三环形器出射的光经一聚焦透镜发射到一反射镜后沿着原光路返回并经所述第三环形器发射到第二耦合器;测量光经所述第二环形器进入所述色散器件,所述色散器件出射的光经所述第一环形器发射到第四环形器,经所述第四环形器出射的光经一聚焦透镜进入所述二维扫描系统,所述二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品,经所述待测样品反射的光沿着原光路返回经所述第四环形器进入所述第二耦合器与参考光发生干涉;经所述第二耦合器出射的干涉光依次经所述平衡探测器、滤波器和解调器发送到所述计算机得到所述待测样品的结构图像。
2.如权利要求1所述的一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,所述色散器件采用色散光纤。
3.一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,包括宽带光源、两耦合器、信号发生装置、两光相位调制器、两色散器件、两环形器、二维扫描系统、平衡探测器、滤波器、解调器和计算机;其中,第一光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at 2)信号进行驱动,第二光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at 2+2πf 0 t)信号进行驱动,其中,t为时间,a和f 0为常数;
所述宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光;参考光发射到所述第一光相位调制器进行调制后发射到第一色散器件,经所述第一色散器件出射的光发射到所述第二光相位调制器再次调制后发射到第一环形器,经所述第一环形器出射的光经一聚焦透镜会聚后发射到一反射镜后沿着原光路返回经所述第一环形器发射到第二耦合器;测量光经第二色散器件发射到第二环形器,经所述第二环形器出射的光经一聚焦透镜进入所述二维扫描系统,所述二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品,经所述待测样品反射的光沿着原光路返回经所述第二环形器进入所述第二耦合器与参考光发生干涉;经所述第二耦合器出射的干涉光依次经所述平衡探测器、滤波器和解调器发送到所述计算机得到所述待测样品的结构图像。
4.如权利要求3所述的一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,所述第一色散器件和第二色散器件结构完全相同,均包括环形器和光纤布拉格光栅。
5.如权利要求1到4任一项所述的一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,所述第一光相位调制器和第二光相位调制器采用电光相位调制器。
6.如权利要求1到4任一项所述的一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,所述信号发生装置包括波形发生器,所述波形发生器与所述第一光相位调制器之间设置第一射频放大器,所述波形发生器与所述第二光相位调制器之间设置第二射频放大器。
7.如权利要求1到4任一项所述的一种高信噪比的光计算光学相干成像系统,其特征在于,所述宽带光源的工作波段采用850nm、1064nm、1310nm和1550nm中的一种。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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