CN108519344A - 一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪 - Google Patents

一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪 Download PDF

Info

Publication number
CN108519344A
CN108519344A CN201810187551.1A CN201810187551A CN108519344A CN 108519344 A CN108519344 A CN 108519344A CN 201810187551 A CN201810187551 A CN 201810187551A CN 108519344 A CN108519344 A CN 108519344A
Authority
CN
China
Prior art keywords
infrared
light
mirror
interferometer
under test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201810187551.1A
Other languages
English (en)
Inventor
隋峰
尤兴志
兰江
魏东
苏超
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Csic Anpel Instrument Co Ltd (hubei)
Original Assignee
Csic Anpel Instrument Co Ltd (hubei)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Csic Anpel Instrument Co Ltd (hubei) filed Critical Csic Anpel Instrument Co Ltd (hubei)
Priority to CN201810187551.1A priority Critical patent/CN108519344A/zh
Publication of CN108519344A publication Critical patent/CN108519344A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/0303Optical path conditioning in cuvettes, e.g. windows; adapted optical elements or systems; path modifying or adjustment
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N2021/3595Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • G01N2021/451Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods for determining the optical absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明提供了一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,包括激光器、红外光源部件、离轴抛物面反射镜、干涉仪、长光程吸收池、红外探测器和气泵;激光器用于提供控制干涉仪的参考光束;气泵将待测气体抽吸到长光程吸收池及排出;红外光源部件设置在干涉仪的入光口,红外光源部件出射的红外光经离轴抛物面反射镜准直后,进入干涉仪形成红外干涉光;红外干涉光经离轴抛物面反射镜耦合后进入长光程吸收池,红外干涉光与待测气体反应后出射,形成带有待测气体分子信息的红外干涉信号,红外探测器探测到所述红外干涉信号后传输给数据处理模块,经数据处理模块处理得到待测气体的组成成分及浓度。本发明能够实现在线对多组分气体定性、定量测量分析。

Description

一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪
技术领域
本发明涉及光谱仪技术领域,具体涉及一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪。
背景技术
为了解决严峻的环境污染问题,寻求一种强有力的监测手段是必不可少的。近年来,傅里叶红外光谱仪(FTIR)由于其测量速度快、探测波数范围宽、可同时测量多种组分的显著优势被广泛应用于大气、水源中污染物的检测领域,尤其利于对突发性灾害事件中环境安全的紧急检测。
傅里叶红外光谱仪在实验室中已得到广泛的应用,然而在工业现场、应急检测环境下,由于实验室的傅里叶红外光谱仪体积庞大,能耗高,易受到潮湿、振动、温度、湿度等环境因素影响,难以正常工作,并且在一般情况下,傅里叶红外光谱仪只能定性分析气体组成成分,不能快速精确定量计算气体浓度等问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,能够实现在线对多组分气体定性、定量测量分析。
本发明的具体实施方式如下:
一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,包括底座、激光器、红外光源部件、离轴抛物面反射镜、干涉仪、长光程吸收池、红外探测器和气泵;
所述激光器、红外光源部件、离轴抛物面反射镜、干涉仪、长光程吸收池、红外探测器和气泵均固定在所述底座上;所述激光器设置在干涉仪的出光口,用于提供控制干涉仪的参考光束;所述气泵用于将待测气体抽吸到长光程吸收池及排出;所述红外光源部件设置在干涉仪的入光口,红外光源部件出射的红外光经离轴抛物面反射镜准直后,进入干涉仪形成红外干涉光;所述红外干涉光经离轴抛物面反射镜耦合后进入长光程吸收池,所述红外干涉光与待测气体反应后出射,形成带有待测气体分子信息的红外干涉信号,红外探测器探测到所述红外干涉信号后传输给数据处理模块,经所述数据处理模块处理得到待测气体的组成成分及浓度。
进一步地,所述长光程吸收池出光口出设有离轴抛物面反射镜,所述离轴抛物面反射镜将反应后的红外干涉光聚焦整形到所述红外探测器。
进一步地,所述干涉仪包括基座、双角镜扭摆动镜、分束镜、固定反射镜和音圈电机;
所述双角镜扭摆动镜、分束镜、固定反射镜和音圈电机固定在所述基座上,所述音圈电机与所述双角镜扭摆动镜连接,当电流驱动音圈电机带动双角镜扭摆动镜发生转动时,双角镜扭摆动镜与固定反射镜之间形成光程差,红外光经过双角镜扭摆动镜与固定反射镜反射在分束镜再次相遇时,形成红外干涉光。
进一步地,所述双角镜扭摆动镜包括两个立体角反射镜,固定反射镜包括两个平面反射镜,一个立体角反射镜与一个平面反射镜相对应,从而使两束红外光在分束镜形成红外干涉光。
进一步地,所述红外光源部件包括宽光谱红外光源、凹面集光反射镜和光源散热底座;
所述宽光谱红外光源与凹面反射镜均固定在光源散热座上,宽光谱红外光源位于凹面反射镜光轴线上,凹面反射镜对红外光源发射的红外光聚焦整形。
进一步地,所述长光程吸收池下设有加热装置。
有益效果:
1、本发明加入了长光程吸收池,同时重新规划了傅里叶红外光谱仪的结构,利用反应后得到的红外干涉信号实现在线对多组分气体定性、定量测量分析,不仅能够定性分析气体组成成分,而且可以快速精确定量计算气体浓度等。
2、本发明利用离轴抛物面反射镜将反应后的红外干涉光聚焦整形到红外探测器,提升了探测精度。
3、本发明干涉仪的光程差是传统干涉仪光程差的2倍,因此在相同的转动角度下,该仪器具有更高的分辨率;同时,采用的立体角反射镜具有较强的抗震性。
附图说明
图1为本发明的整体结构布局图;
图2为红外光源部件的结构示意图;
图3为干涉仪的俯视图;
图4为干涉仪的后视图;
图5为多组分气体分析傅里叶红外光谱仪光路图。
其中,1-底座,2-激光器,3-红外光源部件,301-宽光谱红外光源,302-凹面集光反射镜,303-光源散热座,4-离轴抛物面反射镜,401-离轴抛物面准直反射镜,402-离轴抛物面耦合反射镜,403-离轴抛物面聚焦反射镜,5-干涉仪,501-干涉仪基座,502-双角镜扭摆动镜,503-分束镜,504-固定反射镜,505-音圈电机,6-长光程吸收池,7-红外探测器,8-气泵,
具体实施方式
下面结合附图并举实施例,对本发明进行详细描述。
基于迈克尔逊干涉、快速傅立叶变换以及朗博比尔特定律等技术,本发明提供了一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,包括底座1、激光器2、红外光源部件3、离轴抛物面反射镜4、干涉仪5、长光程吸收池6、红外探测器7和气泵8,如图1所示。
如图1所示,激光器2固定在底座1,采HeNe激光器,功耗为10mv,设置在干涉仪5的出光口,在左侧经过干涉仪5形成干涉后,作为控制干涉仪5的参考光束。
如图2所示,红外光源部件3固定在底座1,设置在干涉仪5的入光口,包括宽光谱红外光源301、凹面集光反射镜302和光源散热座303。宽光谱红外光源301与凹面反射镜302固定在光源散热座303上,宽光谱红外光源301位于凹面集光反射镜302光轴线上,凹面集光反射镜302具有对宽光谱红外光源301聚焦整形的作用,光源散热座303具有散热作用。
离轴抛物面反射镜4固定在底座1,包括离轴抛物面准直反射镜401、离轴抛物面耦合反射镜402和离轴抛物面聚焦反射镜403。离轴抛物面准直反射镜401位于干涉仪右侧入光口,离轴抛物面准直反射镜401与凹面集光反射镜302共焦点、同光轴,用于准直经过凹面反射镜302集光整形的红外光束。离轴抛物面耦合反射镜402位于干涉仪左侧出光口,距离长光程吸收池6入光口80mm,用于红外光束经过干涉仪5后形成的红外干涉光耦合在长光程吸收池6。离轴抛物面聚焦反射镜403位于长光程吸收池6左侧出光口,用于聚焦经过长光程吸收池6反应后的红外干涉光到红外探测器7。
如图3、图4所示,干涉仪5固定在底座1,包括干涉仪基座501、双角镜扭摆动镜502、分束镜503、固定反射镜504和音圈电机505。双角镜扭摆动镜502、分束镜503、固定反射镜504和音圈电机505固定在干涉仪基座501。双角镜扭摆动镜502包括两个立体角反射镜,能够实现仪器在各种恶劣的振动环境下,当平光入射到立体角镜的有效孔径范围之内后,出射光的方向与入射光绝对的平行反向射出,因此仪器具有较强的抗震性。固定反射镜504包括两个平面反射镜,每个立体角反射镜与固定反射镜表面均镀金,并且分别上下相对,即一个立体角反射镜与一个平面反射镜相对应。分束镜503位于双角镜扭摆动镜502与固定反射镜504之间的中心对称位置,材料为KBr,分束镜503表面镀半透半反膜,即具有50%透射与50%反射作用。音圈电机505属于摆动型音圈电机,与双角镜扭摆动镜502相连接,当电流驱动音圈电机505带动双角镜扭摆动镜502一起发生小角度转动时,双角镜扭摆动镜502与固定反射镜504之间形成光程差,两束红外光经过双角镜扭摆动镜502与固定反射镜504反射在分束镜503再次相遇,形成红外干涉光。干涉仪5的光程差是传统干涉仪光程差的2倍,因此在相同的转动角度下,该仪器具有更高的分辨率。
长光程吸收池6固定在底座1,采用怀特池结构,内部镜片均采用镀金反射镜,长光程吸收池6总光程长为4.8m,并且长光程吸收池6下有加热装置,具有保持50摄氏度恒温功能。长光程吸收池6具有体积小、耐腐蚀强特点,并依据Lambert-beer定律,可实现探测0.1ppm级多组分气体浓度。
红外探测器7固定于底座1,位于长光程吸收池6左侧,用于探测经过长光程吸收池6后带有待测气体分子信息的红外干涉信号,并将红外干涉信号传输到光谱仪主控硬件电路,通过FFT与相关解析算法,反演识别多组分气体的组成成分及其浓度信息。红外探测器7采用热释电DTGS探测器,探测器窗口片为ZnSe,具有较强的抗湿热环境,使探测器具有较强的使用寿命。
气泵8固定于底座1,气泵8用于采集待测气体,待测气体通过气泵8进入长光程吸收池6,并由气泵8排出。气泵8采用AC隔膜气泵,流量小于1L/Min。
如图5所示,为多组分气体分析傅里叶红外光谱仪光路图,细线代表激光光束光路,粗线代表红外光束光路。激光器2出射的激光进入干涉仪5形成干涉光,以此来调整干涉仪5中双角镜扭摆动镜502的转动。
红外光源部件3出射的红外光经离轴抛物面准直反射镜401准直后,进入干涉仪5形成红外干涉光,红外干涉光经过平面反射镜反射给离轴抛物面耦合反射镜402,通过离轴抛物面耦合反射镜402耦合后进入长光程吸收池6,红外干涉光与长光程吸收池6中的待测气体反应后出射,形成带有待测气体分子信息的红外干涉信号,红外探测器7探测到红外干涉信号后传输给数据处理模块,经数据处理模块处理得到待测气体的组成成分及浓度。
综上所述,以上仅为本发明的较佳实施例而已,并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,其特征在于,包括底座、激光器、红外光源部件、离轴抛物面反射镜、干涉仪、长光程吸收池、红外探测器和气泵;
所述激光器、红外光源部件、离轴抛物面反射镜、干涉仪、长光程吸收池、红外探测器和气泵均固定在所述底座上;所述激光器设置在干涉仪的出光口,用于提供控制干涉仪的参考光束;所述气泵用于将待测气体抽吸到长光程吸收池及排出;所述红外光源部件设置在干涉仪的入光口,红外光源部件出射的红外光经离轴抛物面反射镜准直后,进入干涉仪形成红外干涉光;所述红外干涉光经离轴抛物面反射镜耦合后进入长光程吸收池,所述红外干涉光与待测气体反应后出射,形成带有待测气体分子信息的红外干涉信号,红外探测器探测到所述红外干涉信号后传输给数据处理模块,经所述数据处理模块处理得到待测气体的组成成分及浓度。
2.如权利要求1所述的多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,其特征在于,所述长光程吸收池出光口出设有离轴抛物面反射镜,所述离轴抛物面反射镜将反应后的红外干涉光聚焦整形到所述红外探测器。
3.如权利要求1或2所述的多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,其特征在于,所述干涉仪包括基座、双角镜扭摆动镜、分束镜、固定反射镜和音圈电机;
所述双角镜扭摆动镜、分束镜、固定反射镜和音圈电机固定在所述基座上,所述音圈电机与所述双角镜扭摆动镜连接,当电流驱动音圈电机带动双角镜扭摆动镜发生转动时,双角镜扭摆动镜与固定反射镜之间形成光程差,红外光经过双角镜扭摆动镜与固定反射镜反射在分束镜再次相遇时,形成红外干涉光。
4.如权利要求3所述的多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,其特征在于,所述双角镜扭摆动镜包括两个立体角反射镜,固定反射镜包括两个平面反射镜,一个立体角反射镜与一个平面反射镜相对应,从而使两束红外光在分束镜形成红外干涉光。
5.如权利要求1或2所述的多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,其特征在于,所述红外光源部件包括宽光谱红外光源、凹面集光反射镜和光源散热底座;
所述宽光谱红外光源与凹面反射镜均固定在光源散热座上,宽光谱红外光源位于凹面反射镜光轴线上,凹面反射镜对红外光源发射的红外光聚焦整形。
6.如权利要求1所述的多组分气体分析傅里叶红外光谱仪,其特征在于,所述长光程吸收池下设有加热装置。
CN201810187551.1A 2018-03-07 2018-03-07 一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪 Pending CN108519344A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810187551.1A CN108519344A (zh) 2018-03-07 2018-03-07 一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810187551.1A CN108519344A (zh) 2018-03-07 2018-03-07 一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108519344A true CN108519344A (zh) 2018-09-11

Family

ID=63433516

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810187551.1A Pending CN108519344A (zh) 2018-03-07 2018-03-07 一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108519344A (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109781650A (zh) * 2019-02-01 2019-05-21 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于ftir光谱仪的数据采集装置
CN110790221A (zh) * 2019-11-27 2020-02-14 清远南玻节能新材料有限公司 分解炉闭环控制加温系统
CN111044474A (zh) * 2019-12-17 2020-04-21 北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司 适合野外复杂环境的便携式傅立叶变换红外气体分析仪
CN112492717A (zh) * 2020-11-27 2021-03-12 中船重工安谱(湖北)仪器有限公司 一种氙灯高压驱动电路
CN112834452A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 杭州谱育科技发展有限公司 Ftir分析仪
CN113295642A (zh) * 2021-05-17 2021-08-24 中国科学院合肥物质科学研究院 一种氨气分子吸收线参数的中红外光谱测量系统及方法
CN114965338A (zh) * 2022-04-24 2022-08-30 山东大学 一种红外气体传感器结构及其应用

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102072769A (zh) * 2010-11-05 2011-05-25 清华大学 一种新型傅立叶红外光谱仪和分析方法
CN203572578U (zh) * 2013-11-15 2014-04-30 四川威斯派克科技有限公司 便携式傅立叶近红外光谱仪
CN104990887A (zh) * 2015-08-07 2015-10-21 中国科学技术大学 一种高分辨红外标准光谱测量装置及测量方法
CN106066205A (zh) * 2016-05-25 2016-11-02 北京雪迪龙科技股份有限公司 微动机构、动镜干涉仪和采用动镜干涉仪的红外光谱仪
CN107255623A (zh) * 2017-06-15 2017-10-17 中国科学院合肥物质科学研究院 一种便携式多组分气体红外光谱检测系统

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102072769A (zh) * 2010-11-05 2011-05-25 清华大学 一种新型傅立叶红外光谱仪和分析方法
CN203572578U (zh) * 2013-11-15 2014-04-30 四川威斯派克科技有限公司 便携式傅立叶近红外光谱仪
CN104990887A (zh) * 2015-08-07 2015-10-21 中国科学技术大学 一种高分辨红外标准光谱测量装置及测量方法
CN106066205A (zh) * 2016-05-25 2016-11-02 北京雪迪龙科技股份有限公司 微动机构、动镜干涉仪和采用动镜干涉仪的红外光谱仪
CN107255623A (zh) * 2017-06-15 2017-10-17 中国科学院合肥物质科学研究院 一种便携式多组分气体红外光谱检测系统

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109781650A (zh) * 2019-02-01 2019-05-21 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于ftir光谱仪的数据采集装置
CN109781650B (zh) * 2019-02-01 2024-04-05 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于ftir光谱仪的数据采集装置
CN110790221A (zh) * 2019-11-27 2020-02-14 清远南玻节能新材料有限公司 分解炉闭环控制加温系统
CN110790221B (zh) * 2019-11-27 2024-07-19 清远南玻节能新材料有限公司 分解炉闭环控制加温系统
CN111044474A (zh) * 2019-12-17 2020-04-21 北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司 适合野外复杂环境的便携式傅立叶变换红外气体分析仪
CN111044474B (zh) * 2019-12-17 2024-05-17 北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司 适合野外复杂环境的便携式傅立叶变换红外气体分析仪
CN112492717A (zh) * 2020-11-27 2021-03-12 中船重工安谱(湖北)仪器有限公司 一种氙灯高压驱动电路
CN112834452A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 杭州谱育科技发展有限公司 Ftir分析仪
CN113295642A (zh) * 2021-05-17 2021-08-24 中国科学院合肥物质科学研究院 一种氨气分子吸收线参数的中红外光谱测量系统及方法
CN114965338A (zh) * 2022-04-24 2022-08-30 山东大学 一种红外气体传感器结构及其应用

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108519344A (zh) 一种多组分气体分析傅里叶红外光谱仪
CN107462405B (zh) 宽波段差动共焦红外透镜元件折射率测量方法与装置
US5767976A (en) Laser diode gas sensor
WO2017045641A1 (zh) 分光片及其激光共轴测距仪和应用
JP2016526172A (ja) マルチチャンネル・エアロゾル散乱吸収測定器
WO2021063003A1 (zh) 一种气体光谱分析仪
KR20100033487A (ko) 광학 특성 센서
EP2470063B1 (en) Apparatus and method for determination of tear osmolarity
CN105067546B (zh) 高温多光谱耦合光机系统
CN106525241A (zh) 一种干涉仪及光谱仪
CN211478058U (zh) 一种气体光谱分析仪
CN206832668U (zh) 气体测量池及设有气体测量池的气体分析仪
CN103439294A (zh) 角度调制与波长调制spr共用系统
CN107782697A (zh) 宽波段共焦红外透镜元件折射率测量方法与装置
CN214622270U (zh) 一种外球式漫反射光谱测量装置
CN212904513U (zh) 机动车尾气多组分实时光学遥测的装置
CN101281126B (zh) 光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置
CN212364066U (zh) 一种光程可调气体吸收池及气体检测装置
CN115468490A (zh) 共焦成像系统
CN111855611B (zh) 一种光程可调气体吸收池及气体检测装置
CN112782126B (zh) 遥测式免校准火灾早期特征气体探测装置及在线解调方法
CN112945857A (zh) 一种外球式漫反射光谱测量装置
CN206740638U (zh) 一种并联式气体光谱分析双气室
JP3637393B2 (ja) 入射角度可変の絶対反射率と絶対透過率測定光学系
CN219455938U (zh) 一种多次反射吸收池及二氧化碳浓度检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180911