CN108416743B - 列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质,属于医学成像领域。包括:根据列表模式数据获取响应线的信息,并获取探测到的响应线计数,之后根据该响应线的信息对响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,该校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据。本发明通过对响应线计数进行了校正,降低了量化误差,使得排序之后得到的3D正弦图数据更为精准,进而提高了重建图像的轴向分辨率。

Description

列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及医学成像领域,特别涉及一种列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质。
背景技术
正电子发射断层显像(英文:Positron Emission Tomography;简称:PET)是一种高端核医学影像诊断设备。在实际操作中,利用放射性核素对代谢物质进行标记,此标记代谢药物会通过衰变发射发出正电子,其与周围的电子湮灭产生一对出射方向相反的光子。如果两个光子同时被PET探测系统的探测器晶体探测到,则认为核素在相应捕捉到光子的一对探测器连线上,称为响应线(LOR)。每次检查所有响应线的集合组成了PET的原始数据,称为列表模式数据(List Mode Data)。在利用PET进行大范围成像时,通常采用连续移动扫描模式,床体的移动位置通常会实时传输到PET探测系统中,并存储在列表模式数据中。通过对列表模式数据进行排序,得到三维(英文:three dimensional;简称:3D)正弦图,正弦图数据再经过一系列的校正算法,最终由重建算法生成三维图像,进行功能代谢显像,反映生命代谢活动的情况。
传统的排序算法会将探测到的响应线结合实际晶体位置和床位移动位置对应到一个大范围虚拟PET探测系统中,PET虚拟探测器系统的轴向探测范围可以覆盖整个扫描范围,然后近似到位置最接近的PET晶体对,并存储到相应的3D正弦图的离散化位置中。
由于在连续移动扫描模式下采集到的响应线有着很高的轴向位置精度,但是在数据排序过程中将该响应线位置离散化到固有的PET探测器晶体位置,使得响应线的轴向位置精度降低为PET探测器晶体位置精度,丧失了连续移动扫描模式在轴向方向固有的位置准确度,降低了轴向分辨率。
发明内容
本发明提供了一种列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质,可以解决传统的排序算法中的问题。
所述技术方案如下:
一方面,提供一种列表模式数据的排序方法,所述方法包括:
根据列表模式数据获取响应线的信息,所述列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,所述响应线的信息包括所述响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息;
获取探测到的响应线计数;
根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,所述校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正;
基于所述校正后的响应线计数获取3D正弦图数据。
可选地,所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,包括:
获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正。
可选地,所述根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正,包括:
根据所述归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正:
N2=norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2);
其中,所述N2为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。
可选地,所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,包括:
获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子;
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。
可选地,所述根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正,包括:
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正:
Figure BDA0001562188620000031
其中,所述N3为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure BDA0001562188620000032
为衰变校正因子,所述t为测量时间,所述T1/2为核素的半衰期。
可选地,所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,包括:
获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子;
获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹得到的衰减校正因子;
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。
可选地,所述根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正,包括:
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正:
Figure BDA0001562188620000033
其中,所述N4为经过归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure BDA0001562188620000034
为衰变校正因子,所述t为测量时间,所述T1/2为核素的半衰期;所述
Figure BDA0001562188620000041
为衰减校正因子,所述μ为衰减系数分布;所述l表征为响应线穿过衰减系数图像的径迹,衰减系数图像的轴向分辨率高于PET图像的轴向分辨率。
可选地,所述基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,包括:
将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数;
将所述插值后的响应线计数转换到虚拟探测器对应的3D正弦图上,得到3D正弦图数据。
可选地,所述将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数,包括:
按照如下公式,将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数:
Figure BDA0001562188620000042
Figure BDA0001562188620000043
其中,所述N为校正后的响应线计数,所述Nm,m为插值到探测器晶体对(m,m)的响应线计数,所述Nm+1,m+1为插值到探测器晶体对(m+1,m+1)的响应线计数;所述b1为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m,m)的相对距离,所述b2为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m+1,m+1)的相对距离。
可选地,所述方法还包括:
对所述3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据;
根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像。
可选地,所述根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像,包括:
通过如下公式,根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像;
Figure BDA0001562188620000044
其中,
Figure BDA0001562188620000045
表示图像的估计值,M表示为图像空间的大小;所述y表示正弦图数据,所述r为随机事件的探测数据,所述s为散射事件的探测数据;所述A=[Aij]为系统矩阵,用于表达PET系统中空间位置点源j被探测器i探测到的概率,所述n表示迭代次数,所述k为小于M的正整数。
一方面,提供一种列表模式数据的排序装置,所述装置包括:
第一获取模块,用于根据列表模式数据获取响应线的信息,所述列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,所述响应线的信息包括所述响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息;
第二获取模块,用于获取探测到的响应线计数;
第一校正模块,用于根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,所述校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正;
第三获取模块,用于基于所述校正后的响应线计数获取3D正弦图数据。
可选地,所述第一校正模块,包括:
第一获取单元,用于获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第一校正单元,用于根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正。
可选地,所述第一校正单元,用于根据所述归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正:
N2=norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2);
其中,所述N2为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。
可选地,所述第一校正模块,包括:
第一获取单元,用于获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第二获取单元,用于获取基于测量时间和核素的半衰期确定的衰变校正因子;
第二校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。
可选地,所述第二校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正:
Figure BDA0001562188620000061
其中,所述N3为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure BDA0001562188620000062
为衰变校正因子,所述t为测量时间;所述T1/2为核素的半衰期。
可选地,所述第一校正模块,包括:
第一获取单元,用于获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第二获取单元,用于获取基于测量时间和核素的半衰期确定的衰变校正因子;
第三获取单元,用于获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹及衰减系数分布得到的衰减校正因子;
第三校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。
可选地,所述第三校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正:
Figure BDA0001562188620000063
其中,所述N4为经过归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure BDA0001562188620000064
为衰变校正因子,所述t为测量时间,所述T1/2为核素的半衰期;所述μ为衰减系数分布;所述l表征为响应线穿过衰减系数图像的径迹,衰减系数图像的轴向分辨率高于PET图像的轴向分辨率。
可选地,所述第三获取模块,包括:
插值单元,用于将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数;
转换单元,用于将所述插值后的响应线计数转换到虚拟探测器对应的3D正弦图上,得到3D正弦图数据。
可选地,所述插值单元,用于按照如下公式,将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数:
Figure BDA0001562188620000071
Figure BDA0001562188620000072
其中,所述N为校正后的响应线计数,所述Nm,m为插值到探测器晶体对(m,m)的响应线计数,所述Nm+1,m+1为插值到探测器晶体对(m+1,m+1)的响应线计数;所述b1为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m-m)的相对距离,所述b2为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m+1,m+1)的相对距离。
可选地,所述装置还包括:
第二校正模块,用于对所述3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据;
重建模块,用于根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像。
可选地,所述重建模块,用于通过如下公式,根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像;
Figure BDA0001562188620000073
其中,
Figure BDA0001562188620000074
表示图像的估计值,M表示为图像空间的大小;所述y表示正弦图数据,所述r为随机事件的探测数据,所述s为散射事件的探测数据;所述A=[Aij]为系统矩阵,用于表达PET系统中空间位置点源j被探测器i探测到的概率,所述n表示迭代次数,所述k为小于M的正整数。
一方面,提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有指令,所述指令由处理器加载并执行,以实现如上所述的列表模式数据的排序方法。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是:
本发明提供了一种列表模式数据的排序方法、装置及计算机可读存储介质,根据列表模式数据获取响应线的信息,并获取探测到的响应线计数后,通过根据该响应线的信息对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,从而降低了量化误差,使得排序之后得到的3D正弦图数据更为精准,进而提高了重建图像的轴向分辨率。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的,并不能限制本发明。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例提供的列表模式数据的排序方法的方法流程图;
图2是本发明一个实施例提供的列表模式数据的示意图;
图3是本发明一个实施例提供的响应线位置示意图;
图4是本发明一个实施例提供的响应线位置示意图;
图5是本发明一个实施例提供的列表模式数据的排序方法的方法流程图;
图6是本发明一个实施例提供的列表模式数据的排序装置的框图;
图7是本发明一个实施例提供的第一校正模块的框图;
图8是本发明一个实施例提供的第一校正模块的框图;
图9是本发明一个实施例提供的第一校正模块的框图;
图10是本发明一个实施例提供的第三获取模块的框图;
图11是本发明一个实施例提供的列表模式数据的排序装置的框图。
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本发明的实施例,并与说明书一起用于解释本发明的原理。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
在利用PET进行大范围成像时,传统的扫描模式为多床位扫描模式(也称多床位采集),即将被扫描物体沿轴向分为若干区域,每个扫描区域进行单床位扫描,最终再将多床位重建图像拼接起来。PET探测系统的另一种扫描模式为连续移动扫描模式,该种模式下,探测器与被扫描物体一直保持相对运动,移动速度在扫描过程中可变。在连续移动扫描模式下,被扫描物体依次通过探测器的每一个轴向位置,因此探测器轴向探测效率可以保持非常好的均匀性。由于连续移动扫描模式可以实时记录床体移动位置,位置精度通常会设置为0.5mm甚至更低。因此在连续移动扫描模式下探测到的响应线,与多床位扫描模式相比,有着高得多的轴向位置精度。为了充分利用连续移动扫描模式的轴向位置精度,本发明实施例提供了一种列表模式数据的排序方法,如图1所示,该方法包括:
在步骤101中,根据列表模式数据获取响应线的信息,列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,响应线的信息包括响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息。
在本发明实施例中,两个光子同时被PET探测系统的探测器晶体探测到,则将相应捕捉到光子的一对探测器的连线称为响应线(LOR),每次检查所有响应线的集合组成了PET的原始数据,称为列表模式数据,两个光子同时被PET系统的探测器探测到则认为是一个符合事例。在实际应用中,床体的移动位置通常会实时传输到PET探测系统中,并存储在列表模式数据中,关于列表模式数据的存储方式,本发明实施例不做具体限定。列表模式数据中可以记录每个符合事例对应的探测器晶体对的位置和光子对应的飞行时间参数。参见图2,其示出了本发明一个实施例提供的列表模式数据的示意图,一般情况下,床体的移动速度为0.1mm/s(毫米每秒)-10mm/s,可以选择每100ms(毫秒)的时间间隔在列表模式数据中存储一个位置标签来记录当前床移动的位置,此外,PET探测系统还可以每1ms往列表模式数据中存储一个时间标签来记录符合事例的时间信息。
由此可知响应线的信息包括响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息。通过列表模式数据提取响应线的信息,也即是提取一个符合事例的信息,该响应线的信息可以表示为LOR(i,det1,det2,t,d),其中i表示为所记录的第i个符合事例,det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置,t和d为对应的测量时间(也即是时间标签)和床体的运动位置(也即是位置标签)。
在步骤102中,获取探测到的响应线计数。
在一种实现方式中,根据所探测到的响应线开始进行计数,得到探测到的响应线计数。示例地,该响应线计数可以表示为:
N1=1;
在步骤103中,根据响应线的信息对响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正。
参见图3,其示出了本发明一个实施例提供的响应线位置示意图,为了与单床位重建算法兼容,通常完整的3D正弦图需要按照不同床位位置分割成对应的3D单床位正弦图。如图3所示,p为实际探测器的探测器晶体,m为虚拟探测器的探测器晶体,当将实际探测器的所探测到的响应线位置转换到虚拟探测器中时,该虚拟探测器所记录的响应线位置与该探测到的响应线的位置存在偏差,也即是,该虚拟探测器中的响应线计数存在偏差,因此,需要根据响应线的信息对该响应线计数进行校正,以减小该响应线计数中存在的偏差。
在本发明实施例中,根据响应线的信息对响应线计数进行校正至少有如下三种实现方式:
第一种实现方式,根据响应线的信息对响应线计数进行归一化校正和死时间校正,得到校正后的响应线计数:
该种方式下,获取基于响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子,根据该归一化校正因子和该死时间校正因子对响应线计数进行归一化校正和死时间校正。
其中,该归一化校正因子与该死时间校正因子取决于该PET探测系统中的探测晶体的位置与性质,并预先存储在该PET探测系统中。根据测量的响应线对应的探测器晶体位置便可以得到与响应线准确对应的归一化校正因子以及死时间校正因子。
进一步地,根据该归一化校正因子和该死时间校正因子对响应线计数进行归一化校正和死时间校正,包括:
根据归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对响应线计数进行归一化校正和死时间校正:
N2=norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2);
其中,N2为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数;det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。
第二种实现方式,根据响应线的信息对响应线计数进行归一化校正、死时间校正以及衰变校正,得到校正后的响应线计数:
由于列表模式数据中记录的扫描时间t是以开始采集时间为基准的,受到核素衰变的影响,测量到的计数会随着采集时间的增加而减少,因此响应线计数需要进行衰变校正。该种方式下,获取基于响应线对应的探测器晶体位置得到的与响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子,获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子,根据该归一化校正因子、该死时间校正因子、该衰变校正因子对响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。
进一步地,根据该归一化校正因子、该死时间校正因子和该衰变校正因子对响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正,包括:
根据归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正:
Figure BDA0001562188620000111
其中,N3为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数;norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;
Figure BDA0001562188620000112
为衰变校正因子,t为测量时间,T1/2为核素的半衰期。
第三种实现方式,根据响应线的信息对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正以及衰减校正,得到校正后的响应线计数:
为了消除衰减伪影,通常会配套其他模态(比如CT、MRI等)以得到患者的解剖结构成像,表征患者的组织密度分布,解剖结构图像通常有着比PET重建图像高得多的分辨率。传统的衰减校正的方法是将患者的组织密度分布按照PET重建空间的像素插值成衰减系数图像,像素的轴向大小为晶体轴向尺寸的一半。根据每条响应线穿过衰减系数图像的径迹利用线积分方法计算出组织对射线的衰减校正因子,然后运用至图像处理中,对PET数据进行衰减校正,最终获得组织实际放射性分布的图像。由于连续移床扫描模式的轴向位置精度高,患者组织密度分布图在轴向可以保留更高的轴向分辨率而非晶体轴向尺寸的一半。这样衰减校正因子可以与响应线位置更准确的对应,降低了由于PET轴向分辨率低而造成的衰减伪影概率。为此,本发明实施例提供的方法采取了衰减校正。
该种方式下,获取基于响应线对应的探测器晶体位置得到的与响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子,获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子,获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹得到的衰减校正因子,根据该归一化校正因子、该死时间校正因子、该衰变校正因子及该衰减校正因子对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。
进一步地,根据该归一化校正因子、该死时间校正因子、该衰变校正因子及该衰减校正因子对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正,包括:
根据归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子按照如下公式对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正:
Figure BDA0001562188620000121
其中,N4为经过归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正之后的响应线计数;norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;
Figure BDA0001562188620000122
为衰变校正因子,t为测量时间,T1/2为核素的半衰期;
Figure BDA0001562188620000123
为衰减校正因子,μ为衰减系数分布;l表征为响应线穿过衰减系数图像的径迹,衰减系数图像的轴向分辨率高于PET图像的轴向分辨率。
需要说明的是,根据响应线的信息对响应线计数进行校正可以仅包括一种校正或者多种校正,本发明实施例对此不作限定。除上述几种校正方式外,归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的每种校正可以单独进行,也可以进行组合校正。示例地,该校正可以仅包括归一化校正,则获取基于响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与响应线对应的归一化校正因子,根据该归一化校正因子进行归一化校正。或者,该校正还可以仅包括死时间校正,则获取基于响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与响应线对应的死时间校正因子,根据该死时间校正因子进行归一化校正。当然,还可以仅包括衰变校正或衰减校正,本发明实施例对此不再一一赘述。
在步骤104中,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据。
参见图4,其示出了本发明一个实施例提供的响应线位置示意图,p为实际探测器的探测器晶体,m为虚拟探测器的探测器晶体,床体长度为a,将床体刚刚进入探测器轴向范围时定位为床体位置原点,如图4所示,从此时起,PET探测器开始采集到响应线的信息。当床体移动的距离为d时,结合PET探测器中探测晶体在PET探测器的相对位置,可以推导出响应线与此时床头的距离为a。之后,将整个移动扫描过程等效为一个虚拟探测器,并且该床体相对于虚拟探测器是静止的,该虚拟探测器的边缘对应于床体位置原点,所有测量到的响应线都可以等效到虚拟完整探测器中,响应线相对于床体的距离a决定了响应线在虚拟探测器中的位置。
因此,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,包括:
将校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数,将插值后的响应线计数转换到虚拟探测器对应的3D正弦图上,得到3D正弦图数据。
进一步地,请继续参考图4,将校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数,包括:
按照如下公式,将校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数:
Figure BDA0001562188620000131
Figure BDA0001562188620000132
其中,N为校正后的响应线计数,Nm,m为插值到探测器晶体对(m,m)的响应线计数,Nm+1,m+1为插值到探测器晶体对(m+1,m+1)的响应线计数;b1为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m,m)的相对距离,b2为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m+1,m+1)的相对距离。
需要说明的是,当采用上述第一种方式进行校正时,N为N2;当采用上述第二种方式进行校正时,N为N3;当采用上述第三种方式进行校正时,N为N4。或者,当采用归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的每种单独校正,或者其他组合方式的校正时,N为对应的校正后的响应线计数。
此外,以上仅以线性插值为例进行说明,具体实施时,本发明实施例提供的方法还可以采用双线性插值、多项式插值、样条插值等,本发明实施例对此不做具体限定。
本发明实施例提供的方法,通过将一对一校正后的响应线计数累积到虚拟探测器对应的3D正弦图上,为了满足要求,正弦图数据的精度从整型变量(short)改为浮点类型(float),由于正弦图本身的维度并不大,因此,提升的内存需求有限。通过上述过程转换之后的正弦图数据可以表示为y=[y1,y2...yx]T,x表示探测数据正弦图的大小。
通过上述对列表模式数据的排序过程,能够准确定位事例的轴向位置,进行与响应线一一对应的归一化校正、死时间校正和衰变校正,并在衰减校正时使用有着更高轴向分辨率的衰减图像,最后按照分布概率将校正过的响应线准确分布在3D正弦图而去掉量化误差,最终产生更加准确、有着更高轴向分辨率的重建图像。
本发明实施例提供的方法,根据列表模式数据获取响应线的信息,并获取探测到的响应线计数后,通过根据该响应线的信息对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,从而降低了量化误差,使得排序之后得到的3D正弦图数据更为精准,进而提高了重建图像的轴向分辨率。
基于上述实施例,以对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正为例,本发明实施例提供了一种列表模式数据的排序方法,该方法为了充分利用连续移动扫描方式优秀的轴向位置精度,将采集记录到的每一条响应线进行准确对应的归一化校正、死时间校正和衰变校正,然后依照床体和扫描物体的相对位置以及探测到的晶体位置将响应线对应到虚拟探测器空间,依照实际位置进行高精度的衰减校正,并以位置概率为权重将校正完毕的响应线分散在周边离散的晶体位置上,最终存储在对应的3D正弦图中。如图5所示,该方法包括如下步骤:
在步骤501中,根据列表模式数据获取响应线的信息,列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,响应线的信息包括响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息。
在步骤502中,获取探测到的响应线计数。
在步骤503中,根据响应线的信息对响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正。
在步骤504中,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据。
上述步骤501至步骤504的具体实现方式可参考上述实施例中步骤101至步骤104对应的实现方式,此处不再赘述。
在步骤505中,对3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据。
基于上述实施例,以对响应线计数进行校正之后,可以基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,同时对3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据。
可选地,随机事件和散射事件的探测数据分别表示为r和s,3D正弦图数据为y,可以得到该校正后的正弦图数据为y-r-s。
需要说明的是,有关随机事件和散射事件的探测数据的确定可以参考相关技术,本发明实施例在此不再赘述。
在步骤506中,根据校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像。
在一种实现方式中,根据校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像,包括但不限于:
通过如下公式,根据校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像;
Figure BDA0001562188620000161
其中,
Figure BDA0001562188620000162
表示图像的估计值,M表示为图像空间的大小;y表示正弦图数据,r为随机事件的探测数据,s为散射事件的探测数据;A=[Aij]为系统矩阵,用于表达PET系统中空间位置点源j被探测器i探测到的概率,n表示迭代次数,k为小于M的正整数。
综上所述,本发明实施例提供的列表模式数据的排序方法,根据列表模式数据获取响应线的信息,并获取探测到的响应线计数后,通过根据该响应线的信息对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,从而降低了量化误差,使得排序之后得到的3D正弦图数据更为精准,进而提高了重建图像的轴向分辨率。
下述为本发明装置实施例,可以用于执行本发明方法实施例。对于本发明装置实施例中未披露的细节,请参照本发明方法实施例。
请参考图6,其示出了本发明实施例提供的一种列表模式数据进行排序的装置结构图,该装置用于执行图1或图5所示实施例提供的列表模式数据进行排序的方法。参见图6,该装置可以包括但不限于:
第一获取模块601,用于根据列表模式数据获取响应线的信息,列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,响应线的信息包括响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息;
第二获取模块602,用于获取探测到的响应线计数;
第一校正模块603,用于根据响应线的信息对响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正;
第三获取模块604,用于基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据。
参见图7,第一校正模块603,包括:
第一获取单元6031,用于获取基于响应线对应的探测器晶体位置得到的与响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第一校正单元6032,用于根据归一化校正因子和死时间校正因子对响应线计数进行归一化校正和死时间校正。
在一种实现方式中,第一校正单元6032,用于根据归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对响应线计数进行归一化校正和死时间校正:
N2=norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2);
其中,N2为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数;det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。
参见图8,第一校正模块603,包括:
第一获取单元6031,用于获取基于响应线对应的探测器晶体位置得到的与响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第二获取单元6033,用于获取基于测量时间和核素的半衰期确定的衰变校正因子;
第二校正单元6034,用于根据归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。
在一种实现方式中,第二校正单元6034,用于根据归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正:
Figure BDA0001562188620000171
其中,N3为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数;t为测量时间;T1/2为核素的半衰期。
参见图9,第一校正模块603,包括:
第一获取单元6031,用于获取基于响应线对应的探测器晶体位置得到的与响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第二获取单元6033,用于获取基于测量时间和核素的半衰期确定的衰变校正因子;
第三获取单元6035,用于获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹及衰减系数分布得到的衰减校正因子;
第三校正单元6036,用于根据归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。
在一种实现方式中,第三校正单元6036,用于根据归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子按照如下公式对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正:
Figure BDA0001562188620000181
其中,N4为经过归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正之后的响应线计数;μ为衰减系数分布;l表征为响应线穿过衰减系数图像的径迹,衰减系数图像的轴向分辨率高于PET图像的轴向分辨率。
参见图10,第三获取模块604,包括:
插值单元6041,用于将校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数;
转换单元6042,用于将插值后的响应线计数转换到虚拟探测器对应的3D正弦图上,得到3D正弦图数据。
在一种实现方式中,插值单元6041,用于按照如下公式,将校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数:
Figure BDA0001562188620000182
Figure BDA0001562188620000183
其中,N为校正后的响应线计数,Nm,m为插值到探测器晶体对(m,m)的响应线计数,Nm+1,m+1为插值到探测器晶体对(m+1,m+1)的响应线计数;b1为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m-m)的相对距离,b2为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m+1,m+1)的相对距离。
参见图11,该装置还包括:
第二校正模块605,用于对3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据;
重建模块606,用于根据校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像。
在一种实现方式中,重建模块606,用于通过如下公式,根据校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像;
Figure BDA0001562188620000191
其中,
Figure BDA0001562188620000192
表示未知图像的估计值,M表示为图像空间的大小;y表示正弦图数据,r为随机事件的探测数据,s为散射事件的探测数据;A=[Aij]为系统矩阵,用于表达PET系统中空间位置点源j被探测器i探测到的概率,n表示迭代次数,k为小于M的正整数。
综上所述,本发明实施例提供的列表模式数据的装置,根据列表模式数据获取响应线的信息,并获取探测到的响应线计数后,通过根据该响应线的信息对响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正中的至少一种校正,基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,从而降低了量化误差,使得排序之后得到的3D正弦图数据更为精准,进而提高了重建图像的轴向分辨率。
本发明实施例提供了一种计算机设备,该计算机设备包括存储器和处理器,存储器上存储有指令,指令由处理器加载并执行,以实现上述列表模式数据的排序方法。本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有指令,指令由处理器加载并执行,以实现上述列表模式数据的排序方法。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (21)

1.一种列表模式数据的排序方法,其特征在于,所述方法包括:
根据列表模式数据获取响应线的信息,所述列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,所述响应线的信息包括所述响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息;
获取探测到的响应线计数;
根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,所述校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正;
基于所述校正后的响应线计数获取3D正弦图数据;
所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,包括:
获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正,包括:
根据所述归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正:
N2=norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2);
其中,所述N2为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,还包括:
获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子;
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正,包括:
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正:
Figure FDA0002437574670000021
其中,所述N3为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure FDA0002437574670000022
为衰变校正因子,所述t为测量时间,所述T1/2为核素的半衰期。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,还包括:
获取基于测量时间和核素的半衰期得到的衰变校正因子;
获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹得到的衰减校正因子;
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正,包括:
根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正:
Figure FDA0002437574670000023
其中,所述N4为经过归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure FDA0002437574670000031
为衰变校正因子,所述t为测量时间,所述T1/2为核素的半衰期;所述
Figure FDA0002437574670000032
为衰减校正因子,所述μ为衰减系数分布;所述l表征为响应线穿过衰减系数图像的径迹,衰减系数图像的轴向分辨率高于正电子发射断层显像PET图像的轴向分辨率。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于校正后的响应线计数获取3D正弦图数据,包括:
将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数;
将所述插值后的响应线计数转换到虚拟探测器对应的3D正弦图上,得到3D正弦图数据。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数,包括:
按照如下公式,将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数:
Figure FDA0002437574670000033
Figure FDA0002437574670000034
其中,所述N为校正后的响应线计数,所述Nm,m为插值到探测器晶体对(m,m)的响应线计数,所述Nm+1,m+1为插值到探测器晶体对(m+1,m+1)的响应线计数;所述b1为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m,m)的相对距离,所述b2为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m+1,m+1)的相对距离。
9.根据权利要求1至8中任一所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对所述3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据;
根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像,包括:
通过如下公式,根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像;
Figure FDA0002437574670000041
其中,
Figure FDA0002437574670000042
表示图像的估计值,M表示为图像空间的大小;所述y表示正弦图数据,所述r为随机事件的探测数据,所述s为散射事件的探测数据;所述A=[Aij]为系统矩阵,用于表达正电子发射断层显像PET系统中空间位置点源j被探测器i探测到的概率,所述n表示迭代次数,所述k为小于M的正整数。
11.一种列表模式数据的排序装置,其特征在于,所述装置包括:
第一获取模块,用于根据列表模式数据获取响应线的信息,所述列表模式数据中记录有连续移动扫描模式下探测到的响应线的信息,所述响应线的信息包括所述响应线对应的探测器晶体位置信息、测量时间信息和床体的运动位置信息;
第二获取模块,用于获取探测到的响应线计数;
第一校正模块,用于根据所述响应线的信息对所述响应线计数进行校正,得到校正后的响应线计数,所述校正包括归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正;
第三获取模块,用于基于所述校正后的响应线计数获取3D正弦图数据;
所述第一校正模块,包括:
第一获取单元,用于获取基于所述响应线对应的探测器晶体位置信息得到的与所述响应线对应的归一化校正因子和死时间校正因子;
第一校正单元,用于根据所述归一化校正因子和死时间校正因子对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第一校正单元,用于根据所述归一化校正因子和死时间校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正和死时间校正:
N2=norm(det1)·norm(det2)·dt(det1)·dt(det2);
其中,所述N2为经过归一化校正和死时间校正后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子。
13.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第一校正模块,还包括:
第二获取单元,用于获取基于测量时间和核素的半衰期确定的衰变校正因子;
第二校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正。
14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述第二校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正及衰变校正:
Figure FDA0002437574670000051
其中,所述N3为经过归一化校正、死时间校正及衰变校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure FDA0002437574670000052
为衰变校正因子,所述t为测量时间;所述T1/2为核素的半衰期。
15.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第一校正模块,还包括:
第二获取单元,用于获取基于测量时间和核素的半衰期确定的衰变校正因子;
第三获取单元,用于获取基于响应线穿过衰减系数图像的径迹及衰减系数分布得到的衰减校正因子;
第三校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正。
16.根据权利要求15所述的装置,其特征在于,所述第三校正单元,用于根据所述归一化校正因子、死时间校正因子、衰变校正因子及衰减校正因子按照如下公式对所述响应线计数进行归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正:
Figure FDA0002437574670000061
其中,所述N4为经过归一化校正、死时间校正、衰变校正及衰减校正之后的响应线计数;所述det1和det2为响应线对应的探测器晶体对位置;所述norm(det1)、norm(det2)为响应线对应的归一化校正因子;所述dt(det1)、dt(det2)为响应线对应的死时间校正因子;所述
Figure FDA0002437574670000062
为衰变校正因子,所述t为测量时间,所述T1/2为核素的半衰期;所述μ为衰减系数分布;所述l表征为响应线穿过衰减系数图像的径迹,衰减系数图像的轴向分辨率高于正电子发射断层显像PET图像的轴向分辨率。
17.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第三获取模块,包括:
插值单元,用于将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数;
转换单元,用于将所述插值后的响应线计数转换到虚拟探测器对应的3D正弦图上,得到3D正弦图数据。
18.根据权利要求17所述的装置,其特征在于,所述插值单元,用于按照如下公式,将所述校正后的响应线计数按照位置插值到相邻两个响应线上,得到插值后的响应线计数:
Figure FDA0002437574670000063
Figure FDA0002437574670000064
其中,所述N为校正后的响应线计数,所述Nm,m为插值到探测器晶体对(m,m)的响应线计数,所述Nm+1,m+1为插值到探测器晶体对(m+1,m+1)的响应线计数;所述b1为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m,m)的相对距离,所述b2为虚拟探测器中响应线的实际位置到探测器晶体对(m+1,m+1)的相对距离。
19.根据权利要求11至18中任一所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二校正模块,用于对所述3D正弦图数据进行随机事件和散射事件校正,得到校正后的正弦图数据;
重建模块,用于根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像。
20.根据权利要求19所述的装置,其特征在于,所述重建模块,用于通过如下公式,根据所述校正后的正弦图数据进行图像重建,得到重建后的图像;
Figure FDA0002437574670000071
其中,
Figure FDA0002437574670000072
表示图像的估计值,M表示为图像空间的大小;所述y表示正弦图数据,所述r为随机事件的探测数据,所述s为散射事件的探测数据;所述A=[Aij]为系统矩阵,用于表达正电子发射断层显像PET系统中空间位置点源j被探测器i探测到的概率,所述n表示迭代次数,所述k为小于M的正整数。
21.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有指令,所述指令由处理器加载并执行,以实现如权利要求1-10中任一所述的列表模式数据的排序方法。
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