CN108399138A - 芯片的信号处理方法、装置、存储介质和处理器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片的信号处理方法、装置、存储介质和处理器。该信号处理方法包括：检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上；在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，并检测目标接口的第二电压；在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态，在对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间、且在检测到第二电压大于或等于目标电压的情况下，如果第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则控制目标芯片进入正常工作状态。通过本发明，达到了提高芯片的兼容性的效果。

Description

芯片的信号处理方法、装置、存储介质和处理器

技术领域

本发明涉及信号处理领域，具体而言，涉及一种芯片的信号处理方法、装置、存储介质和处理器。

背景技术

目前，在对产品的接口进行测试的过程中，接口会存在漏电现象。比如，在对USBType-C芯片的接口进行测试中，发现USB Type-C芯片的接口到高清晰度多媒体接口(HighDefinition Multimedia Interface，简称为HDMI)，或者到数字视频接口(Digital VisualInterface，简称为DVI)的转接线，在连接上显示器时，通用串行总线(Universal SerialBus，简称为USB)接口的电压存在漏电现象，比如，有0.8V以上的漏电。

当上述转接线连接到其它的USB Type-C芯片时，比如，连接到具有USB Type-C芯片的接口的笔记本或者手机上时，会导致该芯片无法进入正常工作状态，芯片的兼容性低，从而导致与该转接线连接时，产品的显示器无法显示图像，降低了用户体验。

针对现有技术中由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种芯片的信号处理方法、装置、存储介质和处理器，以至少解决由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的技术问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种芯片的信号处理方法。该方法包括：检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上；在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，并检测目标接口的第二电压；在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

可选地，检测目标接口的第二电压包括：在目标放电时间内，检测目标接口的第二电压，其中，目标放电时间为允许对目标接口进行放电的最大时间；在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态包括：在目标放电时间内、且在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

可选地，该方法还包括：在对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间、且在检测到第二电压大于或等于目标电压的情况下，如果第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则控制目标芯片进入正常工作状态。

可选地，在检测目标接口的第一电压之前，该方法还包括：在对目标芯片进行初始化操作时，将目标门限电压写入目标芯片中。

可选地，在将目标门限电压写入目标芯片中之前，该方法还包括：获取多个门限电压；在多个门限电压中，选取用于使目标芯片跳转至正常工作状态的门限电压；将选取的门限电压确定为目标门限电压。

可选地，在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电包括：在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，开启目标芯片的放电回路；通过放电回路对目标芯片进行放电。

可选地，目标芯片为USB Type-C芯片。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种芯片的信号处理装置。该装置包括：第一检测单元，用于检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上；放电单元，用于在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电；第二检测单元，用于在对目标接口进行放电的过程中，检测目标接口的第二电压；控制单元，用于在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种存储介质。该存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行本发明实施例的芯片的信号处理方法。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种处理器。该处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行本发明实施例的芯片的信号处理方法。

在本发明实施例中，检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上；在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，并检测目标接口的第二电压；在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。由于在检测到的第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，使得目标接口的电压小于目标电压，并控制目标芯片进入正常工作状态，解决了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的技术问题，进而达到了提高芯片的兼容性的技术效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的一种芯片的信号处理方法的流程图；以及

图2是根据本发明实施例的一种芯片的信号处理装置的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

本发明实施例提供了一种芯片的信号处理方法。

图1是根据本发明实施例的一种芯片的信号处理方法的流程图。如图1所示，该信号处理方法包括以下步骤：

步骤S102，检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上。

在本发明上述步骤S102提供的技术方案中，目标芯片可以为USB Type-C芯片，USBType-C芯片的接口尺寸小，并且接口没有方向性，也即，正反面插拔都可以完成配对，从而方便使用，同时拥有很强的可扩展性，比如，能够传输影音信号，可以扩展为多种音视频接口，比如，扩展为HDMI接口、DVI接口、视频图形阵列(Video Graphics Array，简称为VGA)接口等，甚至能够达到4K的分辨率。可选地，目标芯片为设置在移动终端，或者设置在电脑等影音发送端的USB Type-C芯片。其中，移动终端可以为智能手机(如Android手机、iOS手机等)，电脑可以为平板电脑、掌上电脑等，此处不做限制。该实施例目标接口部署在目标芯片上，可以为USB接口。

对目标芯片的目标接口进行检测，检测目标接口的第一电压，该第一电压可以为目标芯片的漏电电压，比如，为在USB上的电压VBUS。

步骤S104，在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，并检测目标接口的第二电压。

在本发明上述步骤S104提供的技术方案中，在检测目标接口的第一电压之后，可以检测第一电压是否大于或等于目标电压，该目标电压可以为致使目标芯片无法进入正常的工作状态的漏电电压的阈值，比如，第一目标电压为0.8V，在第一电压为0.8V以上时，目标芯片无法进入正常的工作状态。

如果检测到第一电压大于或等于目标电压，对目标接口进行放电，比如，对USB上的电压VBUS进行放电，可以通过放电电路对目标接口进行放电，以降低目标接口上的电压。

在对目标接口进行放电的过程中，目标接口上的电压会降低，检测目标接口的第二电压，判断目标接口的第二电压是否小于目标电压，也即，判断目标接口的电压是否被放电到小于目标电压。

步骤S106，在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

在本发明上述步骤S106提供的技术方案中，在判断目标接口的第二电压是否小于目标电压之后，如果判断出目标接口的第二电压小于目标电压，也即，目标接口的第二电压在致使目标芯片无法进入正常的工作状态的漏电电压的阈值以下，则立刻对目标接口停止放电，控制目标芯片进入正常工作状态，该正常工作状态可以为在与该目标芯片的转接线相连接时，显示器可以正常显示图像的工作状态，从而提升了用户体验。

通过上述步骤S102至步骤S106，检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上；在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，并检测目标接口的第二电压；在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。由于在检测到的第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，使得目标接口的电压小于目标电压，并控制目标芯片进入正常工作状态，解决了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

作为一种可选的实施方式，步骤S104，检测目标接口的第二电压包括：在目标放电时间内，检测目标接口的第二电压，其中，目标放电时间为允许对目标接口进行放电的最大时间；步骤S106，在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态包括：在目标放电时间内、且在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

在该实施例中，可以设置目标放电时间，该目标放电时间为允许对目标接口进行放电的最大时间，比如，目标放电时间为Tdischarge。可以获取对目标接口进行放电的持续放电时间，比如，在开始对目标接口进行放电的同时，就开启定时器，通过定时器对目标接口的持续放电时间进行计时，得到持续放电时间，判断持续放电时间是否小于目标放电时间，如果判断出持续放电时间小于目标放电时间，检测目标接口的第二电压。如果在目标放电时间内，检测到第二电压小于目标电压，则立刻停止对目标接口放电，并控制目标芯片进入正常工作状态，从而避免了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

作为一种可选的实施方式，该方法还包括：在对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间、且在检测到第二电压大于或等于目标电压的情况下，如果第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则控制目标芯片进入正常工作状态。

在该实施例中，如果对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间，并且检测到第二电压大于或等于目标电压，比如，如果对目标接口进行放电的时间已经达到了Tdischarge的时间，而VBUS电压依然大于或等于0.8V，可以判断第二电压是否小于目标芯片的目标门限电压，该目标门限电压可以为目标芯片预先设置的、使目标芯片跳转正常状态的门限值Th，比如，为0.8V，1.8V，2.8V等。在判断第二电压是否小于目标芯片的目标门限电压之后，如果判断出第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则允许目标芯片进入正常工作状态，比如，如果VBUS电压在放电后虽然仍然大于0.8V，但是却小于门限电压值Th，则允许目标芯片进入正常工作状态，从而避免了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

作为一种可选的实施方式，在步骤S102，检测目标接口的第一电压之前，该方法还包括：在对目标芯片进行初始化操作时，将目标门限电压写入目标芯片中。

在该实施例中，在检测目标接口的第一电压之前，对目标芯片进行初始化操作。在对目标芯片进行初始化操作时，可以将目标门限电压写入目标芯片中，以在对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间、且在检测到第二电压大于或等于目标电压的情况下，如果第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则控制目标芯片进入正常工作状态，从而避免了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

作为一种可选的实施方式，在将目标门限电压写入目标芯片中之前，该方法还包括：获取多个门限电压；在多个门限电压中，选取用于使目标芯片跳转至正常工作状态的门限电压；将选取的门限电压确定为目标门限电压。

在该实施例中，将目标门限电压写入目标芯片中之前，获取多个门限电压，定义可选的使目标芯片跳转正常工作状态的门限电压，比如，为0.8V、1.8V、2.8V等，门限值的可选择性能够适用于目标芯片的不同的应用场景，进一步提高了目标芯片的兼容性，给消费者带来更好的使用体验。

在获取多个门限电压之后，从多个门限电压中，选取用于使目标芯片跳转至正常工作状态的门限电压，进而将选取的门限电压确定为目标门限电压，在目标芯片进行初始化操作时，将目标门限电压向目标芯片写入，以在对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间、且在检测到第二电压大于或等于目标电压的情况下，如果第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则控制目标芯片进入正常工作状态，从而避免了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

作为一种可选的实施方式，在步骤S104，检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电包括：在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，开启目标芯片的放电回路；通过放电回路对目标芯片进行放电。

在该实施例中，在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，可以开启目标芯片的放电回路，通过放电回路对目标芯片进行放电，以使得目标接口的电压降低，进而使得目标芯片进入正常工作状态，从而避免了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

实施例2

下面结合优选的实施例对本发明的技术方案进行举例说明，具体以目标芯片为USB Type-C芯片进行举例说明。

在该实施例中，应用到手机和电脑等影音发送端的USB Type-C芯片，设计以下技术方案。

该实施例定义可选的用于使USB Type-C芯片跳转至正常工作状态的门限值Th，比如，门限值Th为0.8V、1.8V、2.8V等。

在对USB Type-C芯片进行初始化操作时，将选择的门限值Th值写入对USB Type-C芯片中。

当检测到USB Type-C芯片的VBUS上电压大于或等于0.8V时，开启放电回路，来对VBUS进行放电，同时开启定时器，通过定时器对USB Type-C芯片的VBUS进行放电的时间进行计时，其中，最大的放电时间定义为Tdischarge。

如果在最大的放电时间Tdischarge时间内，VBUS已经被放电到小于0.8V时，则立刻停止放电，控制USB Type-C芯片进入正常工作状态。

如果对USB Type-C芯片的VBUS进行放电的时间已经达到了Tdischarge，VBUS电压依然大于或等于0.8V，但是VBUS电压却小于该门限值Th，则允许芯片进入正常工作状态。

该实施例通过门限值的可选择性能够适用于不同的应用场景，从而提高USBType-C产品的兼容性，给消费者带来更好的使用体验，并且由于在检测到的VBUS大于或等于VBUS的情况下，对VBUS进行放电，使得VBUS的电压小于0.8V，并控制USB Type-C芯片进入正常工作状态，解决了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

实施例3

本发明实施例还提供了一种芯片的信号处理装置。需要说明的是，该实施例的芯片的信号处理装置可以用于执行本发明实施例的芯片的信号处理方法。

图2是根据本发明实施例的一种芯片的信号处理装置的示意图。如图2所示，该装置可以包括：第一检测单元10、放电单元20和控制单元30。

第一检测单元10，用于检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上。

放电单元20，用于在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，并检测目标接口的第二电压。

控制单元30，用于在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

可选地，放电单元20包括：检测模块，用于在目标放电时间内，检测目标接口的第二电压，其中，目标放电时间为允许对目标接口进行放电的最大时间；控制单元30包括：控制模块，用于在目标放电时间内、且在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。

可选地，该装置还包括：第一控制单元，用于在对目标接口进行放电的时间超过目标放电时间、且在检测到第二电压大于或等于目标电压的情况下，如果第二电压小于目标芯片的目标门限电压，则控制目标芯片进入正常工作状态。

可选地，该装置还包括：写入单元，用于在检测目标接口的第一电压之前，在对目标芯片进行初始化操作时，将目标门限电压写入目标芯片中。

可选地，该装置还包括：获取单元、选取单元和确定单元。其中，获取单元，用于在将目标门限电压写入目标芯片中之前，获取多个门限电压；选取单元，用于在多个门限电压中，选取用于使目标芯片跳转至正常工作状态的门限电压；确定单元，用于将选取的门限电压确定为目标门限电压。

可选地，放电单元20包括：开启模块和放电模块。其中，放电模块开启模块，用于在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，开启目标芯片的放电回路；放电模块，用于通过放电回路对目标芯片进行放电。

可选地，目标芯片为USB Type-C芯片。

该实施例通过第一检测单元10检测目标接口的第一电压，其中，目标接口部署在目标芯片上，通过放电单元20在检测到第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，通过第二检测单元30在对目标接口进行放电的过程中，检测目标接口的第二电压，通过控制单元30在检测到第二电压小于目标电压的情况下，对目标接口停止放电，并控制目标芯片进入正常工作状态。由于在检测到的第一电压大于或等于目标电压的情况下，对目标接口进行放电，使得目标接口的电压小于目标电压，并控制目标芯片进入正常工作状态，解决了由于接口漏电，芯片无法进入正常工作状态，导致芯片的兼容性低的技术问题，进而达到了提高芯片的兼容性的效果。

实施例4

本发明实施例还提供了一种存储介质。该存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行本发明实施例的芯片的信号处理方法。

实施例5

本发明实施例还提供了一种处理器。该处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行本发明实施例的芯片的信号处理方法。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种芯片的信号处理方法，其特征在于，包括：

检测目标接口的第一电压，其中，所述目标接口部署在目标芯片上；

在检测到所述第一电压大于或等于目标电压的情况下，对所述目标接口进行放电，并检测所述目标接口的第二电压；

在检测到所述第二电压小于所述目标电压的情况下，对所述目标接口停止放电，并控制所述目标芯片进入正常工作状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

检测所述目标接口的第二电压包括：在目标放电时间内，检测所述目标接口的第二电压，其中，所述目标放电时间为允许对所述目标接口进行放电的最大时间；

在检测到所述第二电压小于所述目标电压的情况下，对所述目标接口停止放电，并控制所述目标芯片进入所述正常工作状态包括：在所述目标放电时间内、且在检测到所述第二电压小于所述目标电压的情况下，对所述目标接口停止放电，并控制所述目标芯片进入所述正常工作状态。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在对所述目标接口进行放电的时间超过所述目标放电时间、且在检测到所述第二电压大于或等于所述目标电压的情况下，如果所述第二电压小于所述目标芯片的目标门限电压，则控制所述目标芯片进入所述正常工作状态。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在检测所述目标接口的所述第一电压之前，所述方法还包括：

在对所述目标芯片进行初始化操作时，将所述目标门限电压写入所述目标芯片中。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在将所述目标门限电压写入所述目标芯片中之前，所述方法还包括：

获取多个门限电压；

在所述多个门限电压中，选取用于使所述目标芯片跳转至所述正常工作状态的门限电压；

将选取的门限电压确定为所述目标门限电压。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的方法，其特征在于，在检测到所述第一电压大于或等于所述目标电压的情况下，对所述目标接口进行放电包括：

在检测到所述第一电压大于或等于所述目标电压的情况下，开启所述目标芯片的放电回路；

通过所述放电回路对所述目标芯片进行放电。

7.根据权利要求1至5中任意一项所述的方法，其特征在于，所述目标芯片为USBType-C芯片。

8.一种芯片的信号处理装置，其特征在于，包括：

第一检测单元，用于检测目标接口的第一电压，其中，所述目标接口部署在目标芯片上；

放电单元，用于在检测到所述第一电压大于或等于目标电压的情况下，对所述目标接口进行放电，并检测所述目标接口的第二电压；

控制单元，用于在检测到所述第二电压小于所述目标电压的情况下，对所述目标接口停止放电，并控制所述目标芯片进入正常工作状态。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至7中任意一项所述的芯片的信号处理方法。

10.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至7中任意一项所述的芯片的信号处理方法。