CN108226986A - 一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及辐射测量技术领域，具体公开了一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置，包括四个主探测器、三个反符合探测器、设于主探测器和反符合探测器之间的样品盘抽拉装置以及反符合晶体。本发明针对四路低本底α、β测量仪，选择三个反符合探测器两两等间距排列进行探测，在兼顾经济的前提下，有效降低了本底，保证了仪器微弱放射性水平的精确测量。

Description

一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置

技术领域

本发明属于辐射测量技术领域，具体涉及一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置。

背景技术

现阶段，我国正在大力发展核能，随着核电站、核反应堆的建立，以及放射性同位素的广泛应用，核辐射对生存环境及个人健康的影响的关注程度也在逐步地提高。微弱放射性同位素的测量，越来越多的被应用于饮用水、辐射防护、环境监测、商品检验、食品卫生等各个领域。目前，微弱放射性测量已成为核辐射测量的一个重要的独立学科。低本底α、β测量仪是微弱放射性测量的重要仪器。

想要对微弱αβ进行测量，要求测量仪的本底尽量低，而反符合技术是降低本底的有效方法。宇宙射线的硬成分产生的本底是无法用屏蔽的方法消除的，但是反符合技术可以消除此类本底。在主探测器的周围及顶部放上反符合探测器，当宇宙射线穿过主探测器时，必然要首先穿过反符合探测器，此时两个探测器均有信号输出，把两个信号同时送至反符合线路中，把主探测器信号反符合掉，从而可达到降低本底的目的。

根据仪器单次测量的样品数的不同，分为单路、双路、四路和六路等多路低本底α、β测量仪。单路低本底α、β测量仪由一路主探测器和一路反符合探测器组成；双路低本底α、β测量仪由两路主探测器和一路反符合探测器组成。含四路主探测器的四路低本底α、β测量仪的探测效率相对较高，但其反符合晶体的体积较大，应用环境有限；而若只用一路反符合探测器，则难以保证被主探测器测到同时又穿过反符合晶体的本底信号被该反符合探测器探测到。

发明内容

本发明的目的在于提供一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置，实现对微弱αβ信号的精确测量。

本发明的技术方案如下：

一种反符合装置，适用于四路低本底α、β测量仪，包括主探测器一、主探测器二、主探测器三、主探测器四、样品盘抽拉装置、反符合晶体、反符合探测器一、反符合探测器二、反符合探测器三；

所述的样品盘抽拉装置为圆柱体形状，在其侧面设有可推拉的抽屉，抽屉内设有样品盘，样品设于样品盘上；

在样品盘抽拉装置的上方设有上铅室，在样品盘抽拉装置的下方设有下铅室；

所述主探测器一、主探测器二、主探测器三和主探测器四，均设于样品盘抽拉装置的上方，位于上铅室内；

主探测器一、主探测器二、主探测器三和主探测器四的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置的上表面垂直；

在样品盘抽拉装置的下方设有反符合晶体，反符合晶体位于下铅室顶端，在反符合晶体的下表面设有凹槽；

所述的反符合探测器一、反符合探测器二和反符合探测器三位于下铅室，且内嵌设于反符合晶体的凹槽内；

所述的反符合探测器一、反符合探测器二和反符合探测器三的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置的下表面垂直。

所述的主探测器一、主探测器二、主探测器三和主探测器四的排列位置的连线成正方形。

所述的反符合探测器一、反符合探测器二和反符合探测器三两两等间距设置，排列位置的连线成等边三角形。

所述的正方形的中心与等边三角形的中心均位于样品盘抽拉装置的中轴线上。

所述的主探测器一、主探测器二、主探测器三和主探测器四用于探测样品发出的α、β射线信号以及宇宙射线产生的本底信号。

所述的反符合探测器一、反符合探测器二和反符合探测器三可探测宇宙射线产生的本底信号。

本发明的显著效果在于：

本发明针对四路低本底α、β测量仪，选择了三个反符合探测器两两等间距排列进行探测，在兼顾经济的前提下，有效降低了本底，保证了仪器微弱放射性水平的精确测量。

附图说明

图1为反符合装置示意图。

图中：1.主探测器一；2.主探测器二；3.主探测器三；4.主探测器四；5.样品盘抽拉装置；6.反符合探测器一；7.反符合探测器二；8.反符合探测器三。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。

如图1所示的一种适用于四路低本底α、β测量仪的反符合装置，包括主探测器一1、主探测器二2、主探测器三3、主探测器四4、样品盘抽拉装置5、反符合晶体、反符合探测器一6、反符合探测器二7、反符合探测器三8。

所述的样品盘抽拉装置5为圆柱体形状，在其侧面设有可推拉的抽屉，抽屉内设有样品盘，样品设于样品盘上。在样品盘抽拉装置5的上方设有上铅室，在样品盘抽拉装置5的下方设有下铅室。

所述主探测器一1、主探测器二2、主探测器三3和主探测器四4，均设于样品盘抽拉装置5的上方，位于上铅室内。主探测器一1、主探测器二2、主探测器三3和主探测器四4的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置5的上表面垂直。所述的主探测器一1、主探测器二2、主探测器三3和主探测器四4的排列位置的连线成正方形。所述主探测器一1、主探测器二2、主探测器三3和主探测器四4用于探测样品发出的α、β射线信号以及宇宙射线产生的本底信号。

在样品盘抽拉装置5的下方设有反符合晶体，反符合晶体位于下铅室顶端。在反符合晶体的下表面设有凹槽，用于固定反符合探测器。所述的反符合探测器一6、反符合探测器二7和反符合探测器三8位于下铅室，且内嵌设于反符合晶体的凹槽内。反符合探测器一6、反符合探测器二7和反符合探测器三8可探测宇宙射线产生的本底信号。

所述的反符合探测器一6、反符合探测器二7和反符合探测器三8的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置5的下表面垂直。所述的反符合探测器一6、反符合探测器二7和反符合探测器三8两两等间距设置，排列位置的连线成等边三角形。

所述正方形的中心与等边三角形的中心均位于样品盘抽拉装置5的中轴线上。

测量样品时，样品放出的α、β射线同宇宙射线产生的本底一同进入主探测器并被探测到，而反符合探测器仅能同时探测到本底信号。即样品放出的α、β射线仅能被主探测器探测到，而本底信号同时被主探测器和反符合探测器探测到，则主探测器对应的信号处理电路在接收到信号的同时需判断反符合探测器对应的电路是否有信号，如果有信号，则该主探测器采集到的为本底信号，如果无信号，则该主探测器采集到的为样品放出的α、β射线。选用三个反符合探测器以及它们位置排布的目的是保证进入主探测器的本底信号尽可能多地被反符合探测器探测到，保证测量的准确性。

Claims (6)

1.一种反符合装置，适用于四路低本底α、β测量仪，其特征在于：包括主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)、主探测器四(4)、样品盘抽拉装置(5)、反符合晶体、反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)、反符合探测器三(8)；

所述的样品盘抽拉装置(5)为圆柱体形状，在其侧面设有可推拉的抽屉，抽屉内设有样品盘，样品设于样品盘上；

在样品盘抽拉装置(5)的上方设有上铅室，在样品盘抽拉装置(5)的下方设有下铅室；

所述主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)和主探测器四(4)，均设于样品盘抽拉装置(5)的上方，位于上铅室内；

主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)和主探测器四(4)的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置(5)的上表面垂直；

在样品盘抽拉装置(5)的下方设有反符合晶体，反符合晶体位于下铅室顶端，在反符合晶体的下表面设有凹槽；

所述的反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)和反符合探测器三(8)位于下铅室，且内嵌设于反符合晶体的凹槽内；

所述的反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)和反符合探测器三(8)的轴线互相平行且均与样品盘抽拉装置(5)的下表面垂直。

2.如权利要求1所述的一种反符合装置，其特征在于：所述的主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)和主探测器四(4)的排列位置的连线成正方形。

3.如权利要求2所述的一种反符合装置，其特征在于：所述的反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)和反符合探测器三(8)两两等间距设置，排列位置的连线成等边三角形。

4.如权利要求3所述的一种反符合装置，其特征在于：所述的正方形的中心与等边三角形的中心均位于样品盘抽拉装置(5)的中轴线上。

5.如权利要求4所述的一种反符合装置，其特征在于：所述的主探测器一(1)、主探测器二(2)、主探测器三(3)和主探测器四(4)用于探测样品发出的α、β射线信号以及宇宙射线产生的本底信号。

6.如权利要求5所述的一种反符合装置，其特征在于：所述的反符合探测器一(6)、反符合探测器二(7)和反符合探测器三(8)可探测宇宙射线产生的本底信号。