CN108171765B - 平板探测器残影校正方法及其校正装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种平板探测器残影校正方法，通过测试数据提取出单帧图像残影衰减系数，利用该系数实时计算出前N张图像残留在当前帧图像里的残影值，并对当前帧图像做实时校正。该方法简洁、不增加硬件成本，不损失有效图像信息；既能够大幅降低残影值，又不会造成校正过量，有效提高成像质量；该残影校正系数能够在任何曝光剂量，任何曝光时长下使用，该系数只与材料本身性质有关，对于同一批次同一材料的X射线平板探测器，该系数均能适用；在后续产品升级或者维护中，并不需要技术人员的现场服务，只需发布优化升级的软件包即可，从而降低人力成本，提高工作效率。

Description

平板探测器残影校正方法及其校正装置

技术领域

本发明涉及医疗或工业使用的X射线平板探测器技术领域，属于图像处理技术，特别是涉及一种平板探测器残影校正方法及其校正装置。

背景技术

X射线平板探测器主流材料为非晶硅和非晶硒，由于非晶硅和非晶硒平板探测器本身的物理特性：一定拍摄条件下，其曝光的图像会残留到后面采集的图像中，如对于动态探测器，在一次曝光中多次采集图像，本次曝光中采集的第n帧亮场图像，会残留到第n+1，n+2，n+3……帧图像中；其中，第n+m帧图像中所含有的第n帧图像信息的百分比，称之为第n帧图像残留在第n+m帧里的残影值。

当残影值较大时，会严重混淆当前帧采集到的图像信息，影响图像质量；又或者，当残影值较小，但曝光时间较长、连续采集的亮场图像较多时，多帧亮场图像累积的残影也会很大，影响后续采集的图像质量；由于残影值受温度、曝光剂量、曝光时间等因素的影响较大，残影值虽较小但易受外界因素干扰，一旦校正残影系数有较小偏差，就会使得累积残影值产生较大偏差，故而极易引起校正过量或校正不足。

当前，大多研发平板探测器的企业或研究单位，主要还是通过硬件上的改进来降低图像残影，如改善玻璃的工艺制成。但是，这些技术手段繁琐、复杂且昂贵。也有部分企业或研究机构从图像处理角度入手，对采集的图像进行后处理，通过做残影校正来降低残影值，如专利CN200710005251使用递归计算，从放射线检测信号中去除滞后部分，获得校正的放射线检测信号。但在该专利中，其未能给出适宜的残影校正系数计算方法，很难有效的校正残影信号。如设置残留比满足

在此情况下，残留比极易受外界影响而使实际值

继而使得残影校正过量；且其假设γ₁＝γ₂＝…＝γ_n＝…＝γ_N-1＝γ_N，难以对每一帧残影做出准确的评估计算，会使得校正时减去过少的第n帧残影，而减去过量的第n+x帧残影，使得校正后的图像损失了有效信息，影响图像完整性。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种平板探测器残影校正方法及其校正装置，用于解决现有技术中通过硬件改进降低残影的方法繁琐、复杂且昂贵，以及通过图像处理进行残影校正容易校正过量而影响图像质量的问题。

为实现上述目的，本发明采用以下方案：一种平板探测器残影校正方法，所述平板探测器为可连续采集图像的动态平板探测器，所述平板探测器的图像残影校正方法至少包括以下步骤：S1、通过测试获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息；S2、计算单帧图像残留在后续图像中的残影值，通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影值，计算单帧图像的残影衰减系数；S3、根据所述单帧图像的残影衰减系数迭代计算前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，n为大于1的正整数；S4、以当前帧采集图像减去前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，获得残影校正后的图像。

于本发明一实施方式中，在所述步骤S1中，获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息至少包括以下步骤：S11、开机预热；S12、采集本底校正模板、增益校正模板、坏点校正模板并存储；S13、以设定曝光时间对平板探测器进行曝光，连续采集暗场-亮场-暗场图像，其中，所述设定曝光时间为m*T，m为小于5的正整数，T为单帧图像采集时间；S14、对采集的图像进行本底校正、增益校正、坏点校正；S15、存储本底校正、增益校正、坏点校正后的图像。

于本发明一实施方式中，在所述步骤S2中，计算单帧图像残影衰减系数包括以下步骤： S21、读取步骤S15中存储的暗场-亮场-暗场图像；S22、计算所述设定曝光时间内残留的残影系数，满足关系：K_lag(n)＝(D₂(n)-D₁)/(L-D₁)*100％，其中，D₁为曝光之前采集到的暗场图像的图像均值，D₂(n)为曝光之后采集到的第n帧暗场图像的图像均值，L为亮场图像的图像均值；其中，n为正整数；S23、将所述设定曝光时间内残留的残影值近似为M帧亮场图像累积的残影系数，由M帧亮场图像残留在后续图像中的残影系数K_lag(n)，直接反推计算出单帧图像残留在后续图像中的残影系数k(n)，其中，M为介于m～m+3之间的整数；其中，n为正整数，表示图像序列；S24、通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影系数，

获得单帧图像的残影衰减系数a_i,b_i；其中，a_i表示残影指数衰减速率， b_i表示残影比例系数，j为拟合函数的指数个数，i为从1到j的正整数；S25、存储所述单帧图像的残影衰减系数。

于本发明一实施方式中，在所述步骤S3中，计算出前n帧图像残留在当前帧的残影积累量包括以下步骤：S31、将所述单帧图像的残影衰减系数导入迭代算法，获得单帧亮场图像残留在其后面第n帧图像的残影值：

其中，X为单帧亮场的图像矩阵；S32、通过迭代累积计算出前n-1帧图像残留在第n帧图像的残影值：

其中，l为从1到n-1的正整数，X(n-l)为第n-l帧校正后的图像矩阵。

于本发明一实施方式中，在所述步骤S4中，残影校正后的图像矩阵满足：

其中，X(n)为当前帧校正后的图像矩阵，Y(n)为当前帧采集的图像矩阵。

于本发明一实施方式中，在所述步骤S4中，还包括通过调用S_n-1、X_n-1对第n帧图像进行残影校正，满足如下关系：

其中

其中，n为正整数，代表图像序列，S_i(n)为简化计算而设置的循环迭代量。

于本发明一实施方式中，所述平板探测器残影校正装置包括：依次相连的图像采集模块、预设图像基本校正子模块、图像残影校正模块和图像显示模块；所述图像采集模块用于将光信号转换为电信号，并将电信号转化为数字信号后输出；所述预设图像基本校正子模块连接于所述图像采集模块的输出端，用于对所述图像采集模块输出的信号进行本底校正、增益校正及坏点校正；所述图像残影校正模块连接于所述预设图像基本校正子模块的输出端，用于对所述预设图像基本校正子模块输出的信号进行残影校正；所述图像显示模块连接于所述图像残影校正模块的输出端，用于对所述图像残影校正模块输出的图像进行显示。

于本发明一实施方式中，所述图像采集模块包括TFT面板、信号读出单元、信号放大单元及模数转换单元；所述TFT面板接收经过闪烁体的光信号，并将光信号转换为电信号；所述信号读出单元连接于所述TFT面板，用于将所述TFT面板中存储的电信号读出；所述信号放大单元连接于所述信号读出单元的输出端，用于对所述信号读出单元输出端的信号进行放大处理；所述模数转换单元连接于所述信号放大单元的输出端，用于将所述信号放大单元输出的模拟信号转换为数字信号。

于本发明一实施方式中，所述预设图像基本校正子模块包括本底校正单元、增益校正单元和坏点校正单元；所述本底校正单元，用于对输入图像进行本底校正；所述增益校正单元连接所述本底校正单元的输出端，用于对所述本底校正单元输出的图像进行增益校正；所述坏点校正单元连接所述增益校正单元的输出端，用于对所述增益校正单元输出的图像进行坏点校正。

于本发明一实施方式中，所述图像残影校正模块包括曝光确定单元、计数单元、累积残影存储单元和残影校正单元；所述曝光确定单元，用于检测曝光信号并确定是否开始迭代运算；所述计数单元连接所述曝光确定单元的输出端，用于统计待校正图像之前曝光图像的帧数；所述累积残影存储单元连接所述计数单元的输出端，用于更新并存储待校正图像的前一帧图像以及前n帧图像残影值的迭代部分；所述残影校正单元连接所述累积残影存储单元的输出端，用于将当前帧图像减去前n帧图像累积的残影值以校正当前帧图像。

如上所述，本发明的平板探测器残影校正方法及其校正装置，具有以下有益效果：

1、在保证动态探测器上图速率的前提下，提出一组残影校正系数，能够在任何曝光剂量、任何曝光时长，都能够有效地校正曝光残留残影，而不会出现校正过量现象；

2、该残影校正系数只与材料本身性质有关，对于同一批次同一材料的X射线平板探测器，该系数均能适用；

3、该方法简洁、快速，不增加硬件成本，不损失有效图像信息；

4、通过残影校正，能够有效提高成像质量；

5、在后续产品升级或者维护中，不需要技术人员的现场服务，只需发布优化升级的软件包即可，降低人力成本，提高工作效率。

附图说明

图1为本发明平板探测器残影校正方法流程示意图。

图2为本发明平板探测器残影系数测试流程图。

图3为本发明平板探测器残影校正系数计算流程。

图4本发明平板探测器残影积累量的计算流程图。

图5为本发明平板探测器残影校正算法流程。

图6为曝光后暗场图像未经残影校正的效果图。

图7为曝光后暗场图像经过残影校正后的效果图。

图8为曝光后第100帧暗场图像未经残影校正的效果图。

图9为曝光后第100帧暗场图像经过残影校正的效果图。

图10为曝光后第200帧暗场图像未经残影校正的效果图。

图11为曝光后第200帧暗场图像经过残影校正的效果图。

元件标号说明

S1～S4 步骤

S11～S15 步骤

S21～S25 步骤

S31～S32 步骤

S1’～S11’ 步骤

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，虽图示中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。

本发明的平板探测器为X射线非晶硅平板探测器、X射线非晶硒平板探测器或其他闪烁材料介质的平板探测器，所述平板探测器为动态可连续采集图像模式下。请参阅图1，为平板探测器残影校正方法流程示意图。所述平板探测器残影校正方法至少包括以下步骤：

S1、通过测试获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息；

S2、计算单帧图像残留在后续图像中的残影值，通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影值，计算单帧图像的残影衰减系数；

S3、根据所述单帧图像的残影衰减系数迭代计算前n帧图像残留在当前帧的残影积累量， n为大于1的正整数；

S4、以当前帧采集图像减去前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，获得残影校正后的图像。

请参阅图2，为平板探测器残影系数测试流程图。在所述步骤S1中，测试数据的获取至少包括以下步骤：

S11、平板探测器开机预热；并固定探测器采图频率；

S12、热机完全后，采集本底校正模板、增益校正模板、坏点校正模板并存储；

S13、开启连续采集模式，以m*T为曝光时间进行曝光，以T为单帧图像采集时间进行连续暗场-亮场-暗场图像的采集，也即在曝光采集亮场图像前后分别采集暗场以便于计算残影值，其中，m为小于5的正整数；

S14、对采集的图像进行本底校正、增益校正、坏点校正；

S15、存储本底校正、增益校正、坏点校正后的图像。

请参阅图3，为本发明平板探测器残影校正系数计算流程。在所述步骤S2中，计算单帧图像残影衰减曲线系数包括以下步骤：

S21、读取步骤S15中存储的暗场-亮场-暗场图像；

S22、计算所述设定曝光时间内残留的残影系数，满足关系： K_lag(n)＝(D₂(n)-D₁)/(L-D₁)*100％，其中，D₁为曝光之前采集到的暗场图像的图像均值， D₂(n)为曝光之后采集到的第n帧暗场图像的图像均值，L为亮场图像的图像均值；其中，n 为正整数；

S23、将所述设定曝光时间内残留的残影值近似为M帧亮场图像累积的残影系数，由M 帧亮场图像残留在后续图像中的残影系数K_lag(n)，直接反推计算出单帧图像残留在后续图像中的残影系数k(n)，其中，M为介于m～m+3之间的整数；其中，n为正整数，表示图像序列；

S24、通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影系数，

获得单帧图像的残影衰减系数:a_i,b_i；其中，a_i表示残影指数衰减速率，b_i表示残影比例系数，j 为拟合函数的指数个数，i为从1到j的正整数；

S25、存储所述单帧图像残影衰减系数。

需要注意的是，在m*T时间内，采集图像帧数理论值为m张，为了防止校正过量，将采集图像帧数近似为M张，其中，M为介于m～m+3之间的整数。

本发明的技术关键点是根据测试数据，分析残影衰减规律，提取出单帧图像残影衰减系数，该系数提取于测试值，与实际应用更接近，实用性更强，既能够大幅降低残影值，又不会造成校正过量，且该残影校正系数能够在任何曝光剂量，任何曝光时长下使用。

得到单帧图像残影衰减系数后，进入步骤S3，根据所述单帧图像的残影衰减系数迭代计算前n帧图像残留在当前帧的残影积累量(参阅图4)：

S31、将所述单帧图像的残影衰减系数导入迭代算法，获得单帧亮场图像残留在其后面第n帧图像的残影值：

其中，X为单帧亮场的图像矩阵；

S32、通过迭代累积计算出前n-1帧图像残留在第n帧图像的残影值：

其中，l为从1到n-1的正整数，X(n-l)为第n-l帧校正后的图像矩阵。

通过迭代累积计算出前n帧图像残留在当前帧的残影值之后，即进入步骤S4、以当前帧采集数据减去前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，获得残影校正后的图像：

其中，X(n)为当前帧校正后的图像矩阵，Y(n)为当前帧采集的图像矩阵。

需要注意的是，为了简化算法，这里记

则可以得到：

其中S_i(n)为简化计算而设置的循环迭代量。对第n帧图像做残影校正时，仅需调用S_i(n)、X(n-1)，即可计算出校正后的X_n值，计算方便，具有实时性。

请参阅图5，为本发明平板探测器残影校正算法于一具体实施例中的流程图，包括以下步骤：

S1’、算法开始；

S2’、将单帧图像残影衰减系数a₁,a₂,a₃…a_j，b₁,b₂,b₃…b_j,导入迭代算法；

S3’、定义S₁,S₂,…S_j为0，X＝0；

S4’、开始采集图像；

S5’、判断是否开始曝光，若是则进入步骤S6’；若否，则进入步骤S9’；

S6’、采集图像Y；

S7’、记

S8’、对采集的图像做残影校正，

j为指数函数的个数；

S9’、输出图像；

S10’、判断采集是否终止；若是，则进入步骤S11’；若否，则进入步骤S7’；

S11’、结束。

需要注意的是，本发明的技术方案或者构思还可以进行相应的改动或者替换，比如变更曝光时间计算残影校正系数，变更校正起始/结束位置，变更初始定义值，凡利用本发明相同的思路取得残影校正系数，导入残影校正系统都应该属于本发明所附有的权利要求和保护范围。

本发明还提供一种平板探测器残影校正装置，所述平板探测器残影校正装置包括：依次相连的图像采集模块、预设图像基本校正子模块、图像残影校正模块和图像显示模块；所述图像采集模块用于将光信号转换为电信号，并将电信号转化为数字信号后输出；所述预设图像基本校正子模块连接于所述图像采集模块的输出端，用于对所述图像采集模块输出的信号进行本底校正、增益校正及坏点校正；所述图像残影校正模块连接于所述预设图像基本校正子模块的输出端，用于对所述预设图像基本校正子模块输出的信号进行残影校正；所述图像显示模块连接于所述图像残影校正模块的输出端，用于对所述图像残影校正模块输出的图像进行显示。

作为示例，所述图像采集模块包括TFT面板、信号读出单元、信号放大单元及模数转换单元；所述TFT面板接收经过闪烁体的光信号，并将光信号转换为电信号；所述信号读出单元连接于所述TFT面板，用于将所述TFT面板中存储的电信号读出；所述信号放大单元连接于所述信号读出单元的输出端，用于对所述信号读出单元输出端的信号进行放大处理；所述模数转换单元连接于所述信号放大单元的输出端，用于将所述信号放大单元输出的模拟信号转换为数字信号。

作为示例，所述预设图像基本校正子模块包括本底校正单元、增益校正单元和坏点校正单元；所述本底校正单元，用于对输入图像进行本底校正；所述增益校正单元连接所述本底校正单元的输出端，用于对所述本底校正单元输出的图像进行增益校正；所述坏点校正单元连接所述增益校正单元的输出端，用于对所述增益校正单元输出的图像进行坏点校正。

作为示例，所述图像残影校正模块包括曝光确定单元、计数单元、累积残影存储单元和残影校正单元；所述曝光确定单元，用于检测曝光信号并确定是否开始迭代运算；所述计数单元连接所述曝光确定单元的输出端，用于统计待校正图像之前曝光图像的帧数；所述累积残影存储单元连接所述计数单元的输出端，用于更新并存储待校正图像的前一帧图像以及前 n帧图像残影值的迭代部分；所述残影校正单元连接所述累积残影存储单元的输出端，用于将当前帧图像减去前n帧图像累积的残影值以校正当前帧图像。

图6为曝光后暗场图像未经残影校正的效果图，图7为曝光后暗场图像经过残影校正后的效果图，两者对比可以看出，暗场图像经残影校正后，残影值整体趋于平缓下降。图8和图9为曝光后第100帧暗场图像残影校正前后的对比图，图10和图11为曝光后第200帧暗场图像残影校正前后的对比图，可以明显看出，经过残影校正后，前n帧图像留在当前图像的残影明显减弱减小，有效提高成像质量。

综上所述，本发明的平板探测器残影校正方法在保证动态探测器上图速率的前提下，通过测试数据提取单帧图像残影衰减曲线系数，利用该系数，实时计算出前n张图像残留在当前帧图像里的残影值，并对当前帧图像做实时校正。该方法简洁、快速，不影响，不增加硬件成本，不损失有效图像信息；通过残影校正，能够有效提高成像质量；单帧图像残影衰减曲线系数提取于测试值，与实际应用更接近，实用性更强，既能够大幅降低残影值，又不会造成校正过量，且该残影校正系数能够在任何曝光剂量，任何曝光时长下使用；单帧图像残影衰减曲线系数只与材料本身性质有关，对于同一批次同一材料的X射线平板探测器，该组系数均能适用。在后续产品升级或者维护中，并不需要技术人员的现场服务，只需发布优化升级的软件包即可，从而降低人力成本，提高工作效率。本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (8)

1.一种平板探测器残影校正方法，所述平板探测器为可连续采集图像的动态平板探测器，其特征在于，所述平板探测器的图像残影校正方法至少包括以下步骤：

S1、通过测试获取亮场图像及曝光前后暗场图像信息，包括：

S11、开机预热；

S12、采集本底校正模板、增益校正模板、坏点校正模板并存储；

S13、以设定曝光时间对平板探测器进行曝光，连续采集暗场-亮场-暗场图像，其中，所述设定曝光时间为m*T，m为小于5的正整数，T为单帧图像采集时间；

S14、对采集的图像进行本底校正、增益校正、坏点校正；

S15、存储本底校正、增益校正、坏点校正后的图像；

S2、计算单帧图像残留在后续图像中的残影值，通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影值，计算单帧图像的残影衰减系数，其中，计算单帧图像残影衰减系数包括以下步骤：

S21、读取步骤S15中存储的暗场-亮场-暗场图像；

S22、计算所述设定曝光时间内残留的残影系数，满足关系：K_lag(n)＝(D₂(n)-D₁)/(L-D₁)*100％，其中，D₁为曝光之前采集到的暗场图像的图像均值，D₂(n)为曝光之后采集到的第n帧暗场图像的图像均值，L为亮场图像的图像均值；其中，n为正整数；

S23、将所述设定曝光时间内残留的残影值近似为M帧亮场图像累积的残影系数，由M帧亮场图像残留在后续图像中的残影系数K_lag(n)，直接反推计算出单帧图像残留在后续图像中的残影系数k(n)，其中，M为介于m～m+3之间的整数；其中，n为正整数，表示图像序列；

S24、通过拟合所述单帧图像残留在后续图像中的残影系数

获得单帧图像的残影衰减系数a_i，b_i；其中，a_i表示残影指数衰减速率，b_i表示残影比例系数，j为拟合函数的指数个数，i为从1到j的正整数；

S25、存储所述单帧图像的残影衰减系数；

S3、根据所述单帧图像的残影衰减系数迭代计算前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，n为大于1的正整数；

S4、以当前帧采集图像减去前n帧图像残留在当前帧的残影积累量，获得残影校正后的图像。

2.根据权利要求1所述的平板探测器残影校正方法，其特征在于，在所述步骤S3中，计算出前n帧图像残留在当前帧的残影积累量包括以下步骤：

S31、将所述单帧图像的残影衰减系数导入迭代算法，获得单帧亮场图像残留在其后面第n帧图像的残影值：

其中，X为单帧亮场的图像矩阵；

S32、通过迭代累积计算出前n-1帧图像残留在第n帧图像的残影值：

其中，l为从1到n-1的正整数，X(n-l)为第n-l帧校正后的图像矩阵。

3.根据权利要求2所述的平板探测器残影校正方法，其特征在于，在所述步骤S4中，残影校正后的图像矩阵满足：

其中，X(n)为当前帧校正后的图像矩阵，Y(n)为当前帧采集的图像矩阵。

4.根据权利要求3所述的平板探测器残影校正方法，其特征在于，在所述步骤S4中，还包括通过调用S_n-1、X_n-1对第n帧图像进行残影校正，满足如下关系：

其中

其中，n为正整数，代表图像序列，S_i(n)为简化计算而设置的循环迭代量。

5.一种平板探测器残影校正装置，其特征在于，所述装置应用了如权利要求1所述的一种平板探测器残影校正方法，所述平板探测器残影校正装置包括：依次相连的图像采集模块、预设图像基本校正子模块、图像残影校正模块和图像显示模块；

所述图像采集模块用于将光信号转换为电信号，并将电信号转化为数字信号后输出；

所述预设图像基本校正子模块连接于所述图像采集模块的输出端，用于对所述图像采集模块输出的信号进行本底校正、增益校正及坏点校正；

所述图像残影校正模块连接于所述预设图像基本校正子模块的输出端，用于对所述预设图像基本校正子模块输出的信号进行残影校正；

所述图像显示模块连接于所述图像残影校正模块的输出端，用于对所述图像残影校正模块输出的图像进行显示。

6.根据权利要求5所述的平板探测器残影校正装置，其特征在于，所述图像采集模块包括TFT面板、信号读出单元、信号放大单元及模数转换单元；

所述TFT面板接收经过闪烁体的光信号，并将光信号转换为电信号；

所述信号读出单元连接于所述TFT面板，用于将所述TFT面板中存储的电信号读出；

所述信号放大单元连接于所述信号读出单元的输出端，用于对所述信号读出单元输出端的信号进行放大处理；

所述模数转换单元连接于所述信号放大单元的输出端，用于将所述信号放大单元输出的模拟信号转换为数字信号。

7.根据权利要求5所述的平板探测器残影校正装置，其特征在于，所述预设图像基本校正子模块包括本底校正单元、增益校正单元和坏点校正单元；

所述本底校正单元，用于对输入图像进行本底校正；

所述增益校正单元连接所述本底校正单元的输出端，用于对所述本底校正单元输出的图像进行增益校正；

所述坏点校正单元连接所述增益校正单元的输出端，用于对所述增益校正单元输出的图像进行坏点校正。

8.根据权利要求5所述的平板探测器残影校正装置，其特征在于，所述图像残影校正模块包括曝光确定单元、计数单元、累积残影存储单元和残影校正单元；

所述曝光确定单元，用于检测曝光信号并确定是否开始迭代运算；

所述计数单元连接所述曝光确定单元的输出端，用于统计待校正图像之前曝光图像的帧数；

所述累积残影存储单元连接所述计数单元的输出端，用于更新并存储待校正图像的前一帧图像以及前n帧图像残影值的迭代部分；

所述残影校正单元连接所述累积残影存储单元的输出端，用于将当前帧图像减去前n帧图像累积的残影值以校正当前帧图像。

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