CN108151875A - 用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法 - Google Patents

用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法 Download PDF

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CN108151875A CN201711379568.9A CN201711379568A CN108151875A CN 108151875 A CN108151875 A CN 108151875A CN 201711379568 A CN201711379568 A CN 201711379568A CN 108151875 A CN108151875 A CN 108151875A
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孙高飞
张国玉
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Abstract

一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法，针对高精度自动标定装置中的直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统，利用辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体，通过标准的辐照不均匀度、辐照不稳定度和太阳高度角计算公式，建立了用于日照计高精度自动标定装置的校准链，实现了用于日照计高精度自动标定装置的高精度校准。

Description

用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法
技术领域
本发明涉及气象探测领域，尤其涉及一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法。
背景技术
目前，我国针对日照计的校准方式主要是采用标准直接辐射表与待校准日照计在室外进行对比测量，但受天气情况的影响，测量时间较长，且测量结果的连续性与准确性不高。随着日照计的逐渐发展与普及，传统的校准方法已难以满足目前的校准需求。
为了克服现有技术存在的问题，提出了一种用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法，该方法具有可溯源性，且操作简单、方便，测量结果可靠。将该校准方法应用于日照计的高精度自动标定装置中，可有效提高自动标定装置的测量准确性，进而保证日照计的测量不受天气变化影响，可在室内环境下完成，并有效提高日照计的校准效率。
发明内容
本发明针对现有技术存在的问题，提出一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法。针对高精度自动标定装置中的直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统，利用辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体，通过标准的辐照不均匀度、辐照不稳定度和太阳高度角的计算公式，建立了用于日照计高精度自动标定装置的校准链，实现了用于日照计高精度自动标定装置的校准。其中，用于日照计高精度自动标定装置的校准结果可溯源到中国计量院对辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪以及23面体精度的校准结果。
本发明解决现有技术问题所采用的技术方案是：提出一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法，针对高精度自动标定装置中的直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统，分别进行高精度校准,并建立高精度自动标定装置的校准链。
其中，直接辐射模拟系统由太阳模拟器和连接机构组成，可提供具有一致性的太阳辐照，且根据日照计的测试需求，太阳模拟器的辐照度模拟范围为100W/m2-1353W/m2，辐照不均匀度优于±10％，辐照不稳定度优于±1％/h，辐照面积为Φ180mm，太阳准直角±1°，光谱模拟精度优于AM1.5A级标准。
针对直接辐射模拟系统进行校准时，需要对其辐照度、辐照不均匀度、辐照不稳定度、太阳准直角以及光谱匹配度进行校准。具体的，采用环形等角采样测试法在辐照面范围内，从中心到边缘选取9个特征点进行测量，将直接辐射模拟系统的辐照度从1353W/m2至100W/m2间隔200W/m2进行采样，利用辐照度计Ⅰ测试所述特征点的模拟数值。
通过标准计算公式(1)，计算所述辐照不均匀度ε1的校准值；
式中，E’max——辐照面内辐照度的最大值；E’min——辐照面内辐照度的最小值。
经校准，直接辐射模拟系统的最大辐照不均匀度为8.61％。
通过标准计算公式(2)，在一小时内每隔5分钟，对特征点进行一次测试，计算所述辐照不稳定度的校准值。
式中，Emax——辐照面内辐照度的最大值；Emin——辐照面内辐照度的最小值；——平均辐照度；T——时间间隔；ΔE——辐照面内辐照度的变化量。
经校准，直接辐射模拟系统的最大辐照不稳定度为0.97％。
直接辐射模拟系统的太阳准直角校准时，利用经纬仪，将其放在太阳模拟器准直物镜前2m处，调节经纬仪和太阳模拟器的光轴，使二者重合，将经纬仪方位角度对准太阳模拟器光阑的左边缘，记录下此时的度数，再调节经纬仪对准太阳模拟器光阑的右边缘，再次记录下经纬仪度数，将两次度数相减，即为太阳准直角的校准值。
经校准，直接辐射模拟系统的最大太阳准直角为±1°。
直接辐射模拟系统的光谱匹配度校准时，利用光谱仪对太阳模拟器的光谱匹配度进行测试，校准结果可由所述光谱仪读出。
经校准，直接辐射模拟系统的光谱匹配度结果满足AM1.5A级标准。
散射辐射模拟系统包括背景散射模拟装置和直射辐射抑制装置。
其中，背景散射模拟装置由积分球与背景光源组成。其中，积分球直径为2m，且内部均匀涂覆BaSO4，背景光源由氙灯与LED阵列组成，与直接辐射模拟系统相配合，实现对不同的总辐射与散射辐射情况模拟。背景光源发出的光束射入积分球内发生多次漫反射，产生积分效应，消除了背景光源自身造成的出射光束不均匀。根据日照计的散射辐射测试需求，为了能够实现对多种背景散射辐射情况的模拟，在积分球内模拟辐照度值范围为0-500w/m2，且辐照不稳定度与光谱匹配指标与直接辐射模拟系统一致。
直射辐射抑制装置由内壁具有低反射率涂层的大型壳体组成，可使直接辐射光束在壳体内经多次反射后被内壁涂层吸收。由于直接辐射模拟系统的辐照度最高可达1353W/m2，为使直接辐射光束尽量在直射辐射抑制系统内进行漫反射，选取的直射辐射抑制系统直径为2m；同时，考虑到直接辐射模拟系统的准直角为±1°，为了避免直接辐射模拟系统的光束影响散射辐射模拟系统的工作，直射辐射抑制系统开口直径应为250mm。
针对散射辐射模拟系统进行校准时，只对散射辐射模拟系统的辐照度、辐照不稳定度以及光谱匹配度进行校准。校准方法与直接辐射模拟系统对应指标的校准方法一致。
经校准，散射辐射模拟系统的最大辐照不稳定度为0.98％。
经校准，散射辐射模拟系统的光谱匹配度满足AM1.5A级标准。
日地位置调节系统包括横滚调节装置与俯仰调节装置，以模拟地球自转及绕太阳公转时日照计观测日照时的太阳高度角。由于地球在绕太阳公转的过程中，地轴始终与轨道面倾斜成66°34′，因此当地球处在轨道上不同位置时，地球表面的太阳高度是不同的，可由式(3)计算得出。同时，由于地球自转，同一地区、不同时刻的太阳高度角也不相同。根据日照计的高度角测试需求，横滚调节装置的模拟范围为±90°，俯仰调节装置的模拟范围为±25°。
sinh＝sinδsinΦ+cosδcosΦcost (3)
式中，Φ表示当地的地理纬度，δ表示太阳赤纬，t表示太阳时角。Φ、δ的取值均为北正南负，当h＞0时，表示太阳在地平线之上；当h＜0时，表示太阳在地平线之下。
针对日地位置调节系统进行校准时，包括对其横滚调节装置的角度模拟范围校准与俯仰调节装置的角度模拟范围校准。具体的，利用经纬仪与23面体分别对横滚调节装置与俯仰调节装置的分辨率及定位精度进行测试，从被测轴角位置测量系统数字显示0位置起，记下经纬仪读数，以数字显示为准，依次使被测轴转动所述23面体规定的角度，记下所述经纬仪相应读数；
经校准，日地位置调节系统的横滚调节装置的角度模拟范围为±90°，分辨率和定位精度均为1′；日地位置调节系统的俯仰调节装置的角度模拟范围为和±25°，分辨率和定位精度均为1′。
本发明具体步骤如下：
1)打开用于日照计的高精度自动标定装置，运行直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统；并备好经中国计量院定标的辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体；
2)针对直接辐射模拟系统，分别对其辐照度、辐照不均匀度、辐照不稳定度、太阳准直角以及光谱匹配进行校准；
具体的，采用环形等角采样测试法在辐照面范围内，从中心到边缘选取9个特征点进行测量，将所述直接辐射模拟系统的辐照度从1353W/m2至100W/m2间隔200W/m2进行采样；
直接辐射模拟系统的辐照不均匀度和辐照不稳定度校准时，利用辐照度计Ⅰ测试特征点的模拟数值，利用标准计算公式(1)，计算辐照不均匀度的校准值；利用标准计算公式(2)，计算辐照不稳定度的校准值。
直接辐射模拟系统的太阳准直角校准时，利用经纬仪，将其放在太阳模拟器准直物镜前2m处，调节经纬仪和太阳模拟器的光轴，使二者重合，将经纬仪方位角度对准太阳模拟器光阑的左边缘，记录下此时的度数，再调节经纬仪对准太阳模拟器光阑的右边缘，再次记录下经纬仪度数，将两次度数相减，即为太阳准直角的校准值。
直接辐射模拟系统的光谱模拟精度校准时，利用光谱仪对所述太阳模拟器的光谱匹配度进行测试，校准结果可由光谱仪读出。
3)针对散射辐射模拟系统，只对散射辐射模拟系统的辐照度、辐照不稳定度以及光谱匹配度进行校准。校准方法与直接辐射模拟系统对应指标的校准方法一致；
4)针对日地位置调节系统，分为横滚调节装置的校准和俯仰调节装置的校准；利用经纬仪与23面体分别对横滚调节装置与俯仰调节装置的分辨率及定位精度进行测试，从被测轴角位置测量系统数字显示0位置起，记下经纬仪读数，以数字显示为准，依次使被测轴转动23面体规定的角度，记下经纬仪相应读数；
5)基于模拟对比测试法，利用日照计模拟系统测量高精度自动标定装置的实际日照时数，与高精度自动标定装置理论日照时数对比，得出日照时数的模拟误差。
其中日照计模拟系统，是利用三个经过定标的相对位置和相对角度与日照计完全一致的辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ组成，可实现对太阳总辐射与散射辐射模拟量的准确测量；
具体的，调节直接辐射模拟系统与散射辐射模拟系统的辐照度，使得日照计模拟系统测得的太阳直接辐射辐照度从100w/m2到1353w/m2实现调节，且每隔30分钟进行更迭，并在480分钟内间隔1分钟采样；在采样时间内，当经过定标的辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ在日地位置调节系统的作用下，按太阳高度角规律转动时，接收的太阳直接辐射辐照度超过120w/m2时，记为有效日照时数；将采样时间内获得的有效日照时数，与模拟日照时数做差再除以模拟日照时数，即为用于日照计高精度自动标定装置的校准精度。
综上所述，本发明一种用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法，包括对直接辐射模拟系统的校准、散射辐射模拟系统的校准和日地位置调节系统的校准；利用标准的辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体，通过标准的辐照不均匀度、辐照不稳定度和太阳高度角的计算公式，保证本校准方法具有可溯源性，且操作简单、方便，测量结果可靠。
附图说明
图1为本发明一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法的校准链。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。需要说明的是，在附图或说明书中，相似或相同的元件皆使用相同的附图标记。
图1为本发明一种用于日照计的高精度自动标定装置的校准方法的校准链。
本发明提出一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法。针对高精度自动标定装置中的直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统，利用辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体，通过标准的辐照不均匀度、辐照不稳定度和太阳高度角的计算公式，建立了用于日照计高精度自动标定装置的校准链，实现了用于日照计高精度自动标定装置的校准。其中，用于日照计高精度自动标定装置的校准结果可溯源到中国计量院对辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪以及23面体精度的校准结果。
提出一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法，针对高精度自动标定装置中的直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统，分别进行高精度校准,并建立高精度自动标定装置的校准链。
其中，直接辐射模拟系统由太阳模拟器和连接机构组成，可提供具有一致性的太阳辐照，且根据日照计的测试需求，太阳模拟器的辐照度模拟范围为100W/m2-1353W/m2，辐照不均匀度优于±10％，辐照不稳定度优于±1％/h，辐照面积为Φ180mm，太阳准直角±1°，光谱模拟精度优于AM1.5A级标准。
针对直接辐射模拟系统进行校准时，需要对其辐照度、辐照不均匀度、辐照不稳定度、太阳准直角以及光谱匹配度进行校准。具体的，采用环形等角采样测试法在辐照面范围内，从中心到边缘选取9个特征点进行测量，将直接辐射模拟系统的辐照度从1353W/m2至100W/m2间隔200W/m2进行采样，利用辐照度计Ⅰ测试所述特征点的模拟数值。
通过标准计算公式(1)，计算所述辐照不均匀度ε1的校准值；
式中，E’max——辐照面内辐照度的最大值；E’min——辐照面内辐照度的最小值。
经校准，直接辐射模拟系统的最大辐照不均匀度为8.61％。
通过标准计算公式(2)，在一小时内每隔5分钟，对特征点进行一次测试，计算所述辐照不稳定度的校准值。
式中，Emax——辐照面内辐照度的最大值；Emin——辐照面内辐照度的最小值；——平均辐照度；T——时间间隔；ΔE——辐照面内辐照度的变化量。
经校准，直接辐射模拟系统的最大辐照不稳定度为0.97％。
直接辐射模拟系统的太阳准直角校准时，利用经纬仪，将其放在太阳模拟器准直物镜前2m处，调节经纬仪和太阳模拟器的光轴，使二者重合，将经纬仪方位角度对准太阳模拟器光阑的左边缘，记录下此时的度数，再调节经纬仪对准太阳模拟器光阑的右边缘，再次记录下经纬仪度数，将两次度数相减，即为太阳准直角的校准值。
经校准，直接辐射模拟系统的最大太阳准直角为±1°。
直接辐射模拟系统的光谱匹配度校准时，利用光谱仪对太阳模拟器的光谱匹配度进行测试，校准结果可由所述光谱仪读出。
经校准，直接辐射模拟系统的光谱匹配度结果满足AM1.5A级标准。
散射辐射模拟系统包括背景散射模拟装置和直射辐射抑制装置。
其中，背景散射模拟装置由积分球与背景光源组成。其中，积分球直径为2m，且内部均匀涂覆BaSO4，背景光源由氙灯与LED阵列组成，与直接辐射模拟系统相配合，实现对不同的总辐射与散射辐射情况模拟。背景光源发出的光束射入积分球内发生多次漫反射，产生积分效应，消除了背景光源自身造成的出射光束不均匀。根据日照计的散射辐射测试需求，为了能够实现对多种背景散射辐射情况的模拟，在积分球内模拟辐照度值范围为0-500w/m2，且辐照不稳定度与光谱匹配指标与直接辐射模拟系统一致。
直射辐射抑制装置由内壁具有低反射率涂层的大型壳体组成，可使直接辐射光束在壳体内经多次反射后被内壁涂层吸收。由于直接辐射模拟系统的辐照度最高可达1353W/m2，为使直接辐射光束尽量在直射辐射抑制系统内进行漫反射，选取的直射辐射抑制系统直径为2m；同时，考虑到直接辐射模拟系统的准直角为±1°，为了避免直接辐射模拟系统的光束影响散射辐射模拟系统的工作，直射辐射抑制系统开口直径应为250mm。
针对散射辐射模拟系统进行校准时，只对散射辐射模拟系统的辐照度、辐照不稳定度以及光谱匹配度进行校准。校准方法与直接辐射模拟系统对应指标的校准方法一致。
经校准，散射辐射模拟系统的最大辐照不稳定度为0.98％。
经校准，散射辐射模拟系统的光谱匹配度满足AM1.5A级标准。
日地位置调节系统包括横滚调节装置与俯仰调节装置，以模拟地球自转及绕太阳公转时日照计观测日照时的太阳高度角。由于地球在绕太阳公转的过程中，地轴始终与轨道面倾斜成66°34′，因此当地球处在轨道上不同位置时，地球表面的太阳高度是不同的，可由式(3)计算得出。同时，由于地球自转，同一地区、不同时刻的太阳高度角也不相同。根据日照计的高度角测试需求，横滚调节装置的模拟范围为±90°，俯仰调节装置的模拟范围为±25°。
sinh＝sinδsinΦ+cosδcosΦcost (3)
式中，Φ表示当地的地理纬度，δ表示太阳赤纬，t表示太阳时角。Φ、δ的取值均为北正南负，当h＞0时，表示太阳在地平线之上；当h＜0时，表示太阳在地平线之下。
针对日地位置调节系统进行校准时，包括对其横滚调节装置的角度模拟范围校准与俯仰调节装置的角度模拟范围校准。具体的，利用经纬仪与23面体分别对横滚调节装置与俯仰调节装置的分辨率及定位精度进行测试，从被测轴角位置测量系统数字显示0位置起，记下经纬仪读数，以数字显示为准，依次使被测轴转动所述23面体规定的角度，记下所述经纬仪相应读数；
经校准，日地位置调节系统的横滚调节装置的角度模拟范围为±90°，分辨率和定位精度均为1′；日地位置调节系统的俯仰调节装置的角度模拟范围为和±25°，分辨率和定位精度均为1′。
本发明具体步骤如下：
1)打开用于日照计的高精度自动标定装置，运行直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统；并备好经中国计量院定标的辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体；
2)针对直接辐射模拟系统，分别对其辐照度、辐照不均匀度、辐照不稳定度、太阳准直角以及光谱匹配进行校准；
具体的，采用环形等角采样测试法在辐照面范围内，从中心到边缘选取9个特征点进行测量，将所述直接辐射模拟系统的辐照度从1353W/m2至100W/m2间隔200W/m2进行采样；
直接辐射模拟系统的辐照不均匀度和辐照不稳定度校准时，利用辐照度计测试特征点的模拟数值，利用标准计算公式(1)，计算辐照不均匀度的校准值；利用标准计算公式(2)，计算辐照不稳定度的校准值。
直接辐射模拟系统的太阳准直角校准时，利用经纬仪，将其放在太阳模拟器准直物镜前2m处，调节经纬仪和太阳模拟器的光轴，使二者重合，将经纬仪方位角度对准太阳模拟器光阑的左边缘，记录下此时的度数，再调节经纬仪对准太阳模拟器光阑的右边缘，再次记录下经纬仪度数，将两次度数相减，即为太阳准直角的校准值。
直接辐射模拟系统的光谱匹配度校准时，利用光谱仪对所述太阳模拟器的光谱匹配度进行测试，校准结果可由光谱仪读出。
3)针对散射辐射模拟系统，只对散射辐射模拟系统的辐照度、辐照不稳定度以及光谱匹配度进行校准。校准方法与直接辐射模拟系统对应指标的校准方法一致；
4)针对日地位置调节系统，分为横滚调节装置的校准和俯仰调节装置的校准；利用经纬仪与23面体分别对横滚调节装置与俯仰调节装置的分辨率及定位精度进行测试，从被测轴角位置测量系统数字显示0位置起，记下经纬仪读数，以数字显示为准，依次使被测轴转动23面体规定的角度，记下经纬仪相应读数；
5)基于模拟对比测试法，利用日照计模拟系统测量高精度自动标定装置的实际日照时数，与高精度自动标定装置理论日照时数对比，得出日照时数的模拟误差。
其中日照计模拟系统，是利用三个经过定标的相对位置和相对角度与日照计完全一致的辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ组成，可实现对太阳总辐射与散射辐射模拟量的准确测量；
具体的，调节直接辐射模拟系统与散射辐射模拟系统的辐照度，使得日照计模拟系统测得的太阳直接辐射辐照度从100w/m2到1353w/m2实现调节，且每隔30分钟进行更迭，并在480分钟内间隔1分钟采样。
具体的，调节直接辐射模拟系统与散射辐射模拟系统的辐照度，使得日照计模拟系统测得的太阳直接辐射辐照度从100w/m2到1353w/m2实现调节，且每隔30分钟进行更迭，并在480分钟内间隔1分钟采样；在采样时间内，当经过定标的辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ在日地位置调节系统的作用下，按太阳高度角规律转动时，接收的太阳直接辐射辐照度超过120w/m2时，记为有效日照时数；将采样时间内获得的有效日照时数，与模拟日照时数做差再除以模拟日照时数，即为用于日照计高精度自动标定装置的校准精度。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种用于日照计高精度自动标定装置的校准方法，其特征在于，
实现步骤如下：
1)打开所述用于日照计高精度自动标定装置，运行直接辐射模拟系统、散射辐射模拟系统和日地位置调节系统；并备好经中国计量院定标的辐照计Ⅰ、辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ、经纬仪、光谱仪和23面体；
2)针对所述直接辐射模拟系统，分别对其辐照度、辐照不均匀度、辐照不稳定度、太阳准直角以及光谱匹配度进行校准；
3)针对所述散射辐射模拟系统，只对所述散射辐射模拟系统的辐照度、辐照不稳定度以及光谱匹配度进行校准；校准方法与所述直接辐射模拟系统对应指标的所述校准方法一致；
4)针对所述日地位置调节系统，包括横滚调节装置的校准和俯仰调节装置的校准；
利用所述经纬仪与所述23面体分别对所述横滚调节装置与所述俯仰调节装置的分辨率及定位精度进行测试，从被测轴角位置测量系统数字显示0位置起，记下所述经纬仪读数，以数字显示为准，依次使所述被测轴转动所述23面体规定的角度，记下所述经纬仪相应读数；
5)基于模拟对比测试法，利用日照计模拟系统测量所述高精度自动标定装置的实际日照时数，与所述高精度自动标定装置理论日照时数对比，得出日照时数的模拟误差。
2.根据权利要求1所述一种用于日照计高精度自动标定装置的所述校准方法，其特征在于，
所述步骤2)进行所述辐照度、所述辐照不均匀度和所述不稳定度校准时，具体的，采用环形等角采样测试法在辐照面范围内，从中心到边缘选取9个特征点进行测量，将所述直接辐射模拟系统的所述辐照度从1353W/m2至100W/m2间隔200W/m2进行采样；
利用所述辐照度计Ⅰ测试所述特征点的模拟数值，通过标准计算公式(1)，
计算所述辐照不均匀度ε1的校准值；
通过标准计算公式(2)，
计算所述辐照不稳定度的校准值。
3.根据权利要求1所述一种用于日照计高精度自动标定装置的所述校准方法，其特征在于，
所述步骤2)进行所述直接辐射模拟系统的所述太阳准直角校准时，具体的，利用所述经纬仪，将其放在太阳模拟器前面，调节所述经纬仪和所述太阳模拟器的光轴，使二者重合，将所述经纬仪方位角度对准所述太阳模拟器光阑的左边缘，记录下此时的度数，再调节所述经纬仪对准所述太阳模拟器光阑的右边缘，再次记录下所述经纬仪度数，将两次度数相减，即为所述太阳准直角的校准值。
4.根据权利要求1所述一种用于日照计高精度自动标定装置的所述校准方法，其特征在于，
所述步骤2)进行所述直接辐射模拟系统的所述光谱匹配度校准时，具体的，利用所述光谱仪对所述光谱匹配度进行测试，校准结果可由所述光谱仪读出。
5.根据权利要求1所述一种用于日照计高精度自动标定装置的所述校准方法，其特征在于，
所述步骤5)所述日照计模拟系统，是利用经过定标的相对位置和相对角度与所述日照计完全一致的辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ组成，可实现对太阳总辐射与散射辐射模拟量的准确测量；
具体的，调节所述直接辐射模拟系统与所述散射辐射模拟系统的所述辐照度，使得所述日照计模拟系统测得的所述太阳直接辐射辐照度从100w/m2到1353w/m2实现调节，且每隔30分钟进行更迭，并在480分钟内间隔1分钟采样；在采样时间内，当经过定标的所述辐照计Ⅱ、辐照计Ⅲ、辐照计Ⅳ在日地位置调节系统的作用下，按太阳高度角规律转动时，接收的所述太阳直接辐射辐照度超过120w/m2时，计为有效日照时数；将所述采样时间内获得的所述有效日照时数，与模拟日照时数做差再除以所述模拟日照时数，即为所述用于日照计高精度自动标定装置的校准精度。
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