CN108132960B - 集成电路设计资料库管理系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种集成电路设计资料库管理系统,包括参数设置模块,资料收集模块,任务分配模块,资料整理模块,资料生成模块,资料检查模块和资料提交模块;参数设置模块设置数据库全局参数;资料收集模块收集原始设计数据并存储到本地目录中;任务分配模块用于将数据分配到资料整理模块和资料生成模块,资料整理模块对可直接使用的数据进行归纳整理;资料生成模块将无法直接使用的数据进行转化;资料检查模块对数据进行检查并发送至资料提交模块,资料提交模块用于将该数据打包并存储到指定目录下。本发明实现对各设计团队收集的数据资料进行统一整理、归纳、转化和检查,保证了各个设计团队使用统一的设计数据,提高了工作效率、降低了工作成本。

Description

集成电路设计资料库管理系统
技术领域
本发明涉及集成电路设计技术领域,具体来说涉及一种集成电路设计资料库管理系统。
背景技术
目前,在集成电路布图设计的过程中,集成电路设计团队的工程师需要根据设计需求,以人工手动的方式获得设计原始资料。由于集成电路设计流程长环节多。因此业内一般分别以各个环节的设计团队为单位通过手动的方式分散管理。这种工作模式产生的问题是:各个设计环节的团队在设计过程中需要面对如何高效使用来自多方面的技术数据和IP核的问题,随着芯片设计规模越来越大,各个环节的设计团队之间必须克服使用的设计数据不一致的问题。造成工作量和数据库出错率的大幅增加,已经逐渐无法满足在大型设计中对工作量、效率、成本和设计质量的要求。因此,如何开发出一种新型的集成电路设计资料库,能够高效使用来自各方面的技术数据和IP核心,克服各个环节所采用的设计数据不一致的问题,在大型项目中提高工作效率、降低工作成本,保证设计质量。是本领域技术人员需要研究的方向。
发明内容
本发明提供了一种集成电路设计资料库,能够克服各个环节所采用的设计数据不一致的问题,提高工作效率、降低工作成本,保证设计质量。
其采用的具体技术方案如下:
一种集成电路设计资料库管理系统,包括参数设置模块,资料收集模块,任务分配模块,资料整理模块,资料生成模块,资料检查模块和资料提交模块;所述参数设置模块用于设置数据库全局参数;所述资料收集模块连接参数设置模块,用于读取数据库全局参数、根据数据库全局参数收集原始设计数据并统一存储到本地目录中;所述任务分配模块连接本地目录,用于针对不同设计环节将本地目录中存储的原始设计数据进行分配,将可以直接使用的原始设计数据分配到资料整理模块中并定义整理要求,将无法直接使用的原始设计数据分配到和生成要求;
所述资料整理模块连接任务分配模块,用于依据任务分配模块定义的整理要求,将输入的可直接使用的原始设计数据进行归纳整理;所述资料生成模块连接任务分配模块,用于依据任务分配模块对各设计环节指定数据定义的生成要求,对无法直接使用的原始设计数据进行格式转化、生成最终设计数据;所述资料检查模块用于对归纳整理后的原始设计数据和转化生成的最终设计数据进行检查,在所述原始设计数据和最终设计数据通过检查时将原始设计数据和最终设计数据输出至资料提交模块、在未通过检查时输出错误信息;所述资料提交模块连接参数设置模块和资料检查模块;用于读取数据库全局参数,根据数据库全局参数针对各个设计环节将资料检查模块输出的所述原始设计数据和最终设计数据进行打包、以资料库形式存储到指定目录下。
通过采用这种技术方案:首先以参数设置模块设置数据库全局参数;资料收集模块根据该数据库全局参数将各个设计团队收集的设计数据全部统一存储在本地目录中,通过任务分配模块对本地目录中的设计数据进行分配,分别以资料整理模块对可直接使用的原始数据进行归纳整理,以资料生成模块将无法直接使用的原始数据转化为,并通过资料检查模块对资料整理模块、资料生成模块输出的数据分别进行检查,当通过检查后统一输出至资料提交模块,资料提交模块根据数据库全局参数、按照各个设计环节将上述数据进行打包并以设计资料库的形式存放到全局参数定义的指定路径下,供整个项目的所有设计团队使用。由此保证各个环节的设计团队使用的是统一的设计数据,在设计数据中途出现更改时,使得设计资料数据库能够自动更新无需手动配置更新对应设计环节的资料库。提高了各个设计团队的工作效率。
优选的是,上述集成电路设计资料库管理系统中:所述参数设置模块包括参数设置单元,参数读入单元,参数判断单元,参数整理单元;所述参数设置单元用于设置数据库全局参数,所述数据库全局参数包括:系统资源参数、设计任务定义参数和设计资料需求参数;所述参数读入单元用于读取所述数据库全局参数并输出至参数判断模块;所述参数判断单元用于根据预设算法判定所述数据库全局参数为正确参数或错误参数,在判定该数据库全局参数为正确参数时将该数据库全局参数输出至参数整理单元,在判定该数据库全局参数为错误参数时对参数设置单元输出反馈信号;所述参数整理单元用于整理数据库参数并进行输出。
通过采用这种技术方案:以参数判断单元实现对参数设置单元输出的数据库全局参数进行判断,若判断其为不正确则返回重新设置数据库全局参数,若判断其为正确,则输出该数据库全局参数。
更优选的是,上述集成电路设计资料库管理系统中:所述资料检查模块包括资料一致性检查单元,设计工具验证单元和检查结果分析单元;所述资料一致性检查单元连接资料整理模块,用于接收资料整理模块输出的原始设计数据、对该原始设计数据进行一致性检查并将检查结果输出至检查结果分析单元;所述设计工具验证单元连接资料生成模块,用于接收资料生成模块输出的最终设计数据、对该最终设计数据进行工程验证并将检查结果输出至检查结果分析单元;所述检查结果分析单元用于接收资料一致性检查单元和设计工具验证单元输出的检查结果,根据预设的算法判定该检查结果为正确结果或错误结果,在判定为正确结果时将所述原始设计数据和最终设计数据输出至资料提交模块、同时自动生成并输出正确报告,在判定为错误结果时自动生成并输出错误报告。
通过采用这种技术方案:当原始设计资料归纳整理和生成以后,检查最终设计资料的正确性。对于归纳整理的设计资料进行数据一致性和完整性等检查,对于生成的设计资料通过运行相应设计工具进行验证。如果设计资料验证正确,则准备进行最终的设计资料库提交,如果验证结果为错误则输出错误信息报告供调试诊断。具体来说,如需要修改全局参数,则需要返回参数设置模块重新输出,如果不需要修改全局参数,则可以返回任务分配模块,通过修改任务需求进行调整,再进行迭代纠错和优化。
进一步优选的是,上述集成电路设计资料库管理系统中:所述资料提交模块包括全局参数接收单元,资料提交信息收集单元,资料打包单元,资料库提交单元;所述全局参数接收单元连接参数设置模块、用于读取数据库全局参数;所述资料提交信息收集单元连接所述资料检查模块,接收所述资料检查模块输出的所述原始设计数据和最终设计数据并输出至资料打包单元;所述资料打包单元用于对资料提交信息收集单元输出的原始设计数据和最终设计数据进行压缩打包,生成压缩数据包并输出至资料库提交单元中;所述资料库提交单元用于将压缩数据包以设计资料库的形式存放到全局参数定义的指定路径下。
与现有技术相比,本发明能够实现对各个设计环节的团队收集的数据资料进行统一的整理、归纳、转化和检查并以资料库形式存放到本地目录的指定路径下,保证了各个设计环节的各团队使用统一的设计数据,提高工作效率、降低工作成本,保证设计质量。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1为本发明实施例1的结构示意图;
图2为图1中参数设置模块的工作流程图;
图3为图1中资料收集模块的工作流程图;
图4为图1中任务分配模块的工作流程图;
图5为图1中资料整理模块的工作流程图;
图6为图1中资料生成模块的工作流程图;
图7为图1中资料检查模块的工作流程图;
图8为图1中资料提交模块的工作流程图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将结合附图对本发明作进一步描述。
如图1-8所示为本发明实施例1:
一种集成电路设计资料库管理系统,包括参数设置模块,资料收集模块,任务分配模块,资料整理模块,资料生成模块,资料检查模块和资料提交模块。
其中,所述参数设置模块用于设置数据库全局参数;全局参数包括系统资源(如运行时间、CPU和内存默认使用大小)、设计任务定义和设计资料需求定义等相关的全局参数进行设置,使基于资料库管理方法的执行跟符合项目的需求,同时更合理更充分地利用人力和计算资源。具体来说,所述参数设置模块包括参数设置单元,参数读入单元,参数判断单元,参数整理单元;所述参数设置单元用于设置数据库全局参数,所述数据库全局参数包括:系统资源参数、设计任务定义参数和设计资料需求参数;所述参数读入单元用于读取所述数据库全局参数并输出至参数判断单元;所述参数判断单元用于根据预设算法判定所述数据库全局参数为正确参数或错误参数,在判定该数据库全局参数为正确参数时将该数据库全局参数输出至参数整理单元,在判定该数据库全局参数为错误参数时对参数设置单元输出反馈信号;所述参数整理单元用于整理数据库参数并进行输出。
所述资料收集模块连接参数设置模块,用于读取数据库全局参数、根据数据库全局参数,将存放在不同地方的所有原始资料数据统一收集到本地目录中,用于集中处理。原始设计资料的种类根据集成电路设计环节的不同分类,主要分为前端设计原始资料、后端设计原始资料、IP设计原始资料、验证设计原始资料、测试设计原始资料和其他设计原始资料6大类。所述任务分配模块连接本地目录,用于针对不同设计环节将本地目录中存储的原始设计数据进行分配,将可以直接使用的原始设计数据分配到资料整理模块中并定义整理要求,将无法直接使用的原始设计数据分配到资料生成模块中和定义生成要求;根据集成电路不同设计环节的进行分类,对原始数据的处理也分为如下6类处理任务:前端设计资料任务、后端设计资料任务、IP设计资料任务、验证设计资料任务、测试设计资料任务和其他设计资料任务。
所述资料整理模块用于依据任务分配模块定义的整理要求,将输入的可直接使用的原始设计数据进行归纳整理;根据集成电路不同设计环节进行分类,对原始设计资料数据的整理也分为如下6类:前端设计资料整理、后端设计资料整理、IP设计资料整理、验证设计资料整理、测试设计资料整理和其他设计资料整理。
所述资料生成模块连接任务分配模块,用于依据任务分配模块对各设计环节指定数据定义的生成要求,对无法直接使用的原始设计数据进行格式转化、生成最终设计数据;根据集成电路不同设计环节进行分类,基于原始设计资料生成新的设计资料数据也分为如下6类:前端设计资料生成、后端设计资料生成、IP设计资料生成、验证设计资料生成、测试设计资料生成和其他设计资料生成。
所述资料检查模块用于对归纳整理后的原始设计数据和转化生成的最终设计数据进行检查,在所述原始设计数据和最终设计数据通过检查时将原始设计数据和最终设计数据输出至资料提交模块、在未通过检查时输出错误信息;所述资料提交模块连接参数设置模块和资料检查模块;用于读取数据库全局参数,根据数据库全局参数针对各个设计环节将资料检查模块输出的所述原始设计数据和最终设计数据进行打包、以资料库形式存储到指定目录下。
所述资料检查模块包括资料一致性检查单元,设计工具验证单元和检查结果分析单元;所述资料一致性检查单元连接资料整理模块,用于接收资料整理模块输出的原始设计数据、对该原始设计数据进行一致性检查并将检查结果输出至检查结果分析单元;所述设计工具验证单元连接资料生成模块,用于接收资料生成模块输出的最终设计数据、对该最终设计数据进行工程验证并将检查结果输出至检查结果分析单元;所述检查结果分析单元用于接收资料一致性检查单元和设计工具验证单元输出的检查结果,根据预设的算法判定该检查结果为正确结果或错误结果,在判定为正确结果时将所述原始设计数据和最终设计数据输出至资料提交模块、同时自动生成并输出正确报告,在判定为错误结果时自动生成并输出错误报告。
所述资料提交模块包括全局参数接收单元,资料提交信息收集单元,资料打包单元,资料库提交单元;所述全局参数接收单元连接参数设置模块、用于读取数据库全局参数;所述资料提交信息收集单元连接所述资料检查模块,接收所述资料检查模块输出的所述原始设计数据和最终设计数据并输出至资料打包单元;所述资料打包单元用于对资料提交信息收集单元输出的原始设计数据和最终设计数据进行压缩打包,生成压缩数据包并输出至资料库提交单元中;所述资料库提交单元用于将压缩数据包以设计资料库的形式存放到全局参数定义的指定路径下。
实践中,其工作过程如下:
步骤一:参数设置模块配置各项全局设计参数,并判断全局设置的参数是否正确,如果不正确则返回步骤1,如果正确则进入步骤2。
步骤二:资料收集模块根据全局参数所定义的相应参数,将所有设计需要的资料从不同的提供源位置收集到本地,用于后续步骤在本地使用和处理。
步骤三:任务分配模块根据全局参数定义的相应参数,对原始设计资料的处理工作进行定义,同时分配不同类型的处理任务。只进行归纳整理的设计资料分配到设计资料整理模块中执行,需要进行数据转换或者再生成的原始设计资料分配到设计资料生成模块中执行。
步骤四:根据步骤3执行任务的分配定义,通过设计资料整理和设计资料生成两大模块,对原始设计资料进行整理归纳和再生成新资料的工作。
步骤五:当原始设计资料归纳整理和生成以后,检查最终设计资料的正确性。对于归纳整理的设计资料进行数据一致性和完整性等检查,对于生成的设计资料通过运行相应设计工具进行验证。如果设计资料验证正确,则准备进行最终的设计资料库提交,如果验证结果为错误则输出错误信息报告供调试诊断,如需要修改全局参数,则返回步骤1,如果不需要修改全局参数,可以返回步骤3,通过修改任务需求进行调整,再进行迭代纠错和优化。
步骤六:当最终的设计资料库验证通过后,将所有的设计资料打包到一起,以设计资料库的形式存放到全局参数定义的指定路径下,供整个项目的所有设计团队使用。
以上所述,仅为本发明的具体实施例,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本领域技术的技术人员在本发明公开的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书的保护范围为准。

Claims (4)

1.一种集成电路设计资料库管理系统,其特征在于:包括参数设置模块,资料收集模块,任务分配模块,资料整理模块,资料生成模块,资料检查模块和资料提交模块;
所述参数设置模块用于设置数据库全局参数;
所述资料收集模块连接参数设置模块,用于读取数据库全局参数、根据数据库全局参数收集原始设计数据并统一存储到本地目录中;
所述任务分配模块连接本地目录,用于针对不同设计环节将本地目录中存储的原始设计数据进行分配,将可以直接使用的原始设计数据分配到资料整理模块中并定义整理要求,将无法直接使用的原始设计数据分配到资料生成模块中并定义生成要求;
所述资料整理模块连接任务分配模块,用于依据任务分配模块定义的整理要求,将输入的可直接使用的原始设计数据进行归纳整理;
所述资料生成模块连接任务分配模块,用于依据任务分配模块定义的生成要求,对无法直接使用的原始设计数据进行格式转化、生成最终设计数据;
所述资料检查模块用于对归纳整理后的原始设计数据和转化生成的最终设计数据进行检查,在所述原始设计数据和最终设计数据通过检查时将原始设计数据和最终设计数据输出至资料提交模块、在未通过检查时输出错误信息;
所述资料提交模块连接参数设置模块和资料检查模块;用于读取数据库全局参数,根据数据库全局参数针对各个设计环节将资料检查模块输出的所述原始设计数据和最终设计数据分别进行打包、以资料库形式存储到指定目录下。
2.如权利要求1所述集成电路设计资料库管理系统,其特征在于:所述参数设置模块包括参数设置单元,参数读入单元,参数判断单元,参数整理单元;
所述参数设置单元用于设置数据库全局参数,所述数据库全局参数包括:系统资源参数、设计任务定义参数和设计资料需求参数;
所述参数读入单元用于读取所述数据库全局参数并输出至参数判断单元;
所述参数判断单元用于根据预设算法判定所述数据库全局参数为正确参数或错误参数,在判定该数据库全局参数为正确参数时将该数据库全局参数输出至参数整理单元,在判定该数据库全局参数为错误参数时对参数设置单元输出反馈信号;所述参数整理单元用于整理数据库参数并进行输出。
3.如权利要求2所述集成电路设计资料库管理系统,其特征在于:所述资料检查模块包括资料一致性检查单元,设计工具验证单元和检查结果分析单元;
所述资料一致性检查单元连接资料整理模块,用于接收资料整理模块输出的原始设计数据、对该原始设计数据进行一致性检查并将检查结果输出至检查结果分析单元;
所述设计工具验证单元连接资料生成模块,用于接收资料生成模块输出的最终设计数据、对该最终设计数据进行工程验证并将检查结果输出至检查结果分析单元;
所述检查结果分析单元用于接收资料一致性检查单元和设计工具验证单元输出的检查结果,根据预设的算法判定该检查结果为正确结果或错误结果,在判定为正确结果时将所述原始设计数据和最终设计数据输出至资料提交模块、同时自动生成并输出正确报告,在判定为错误结果时自动生成并输出错误报告。
4.如权利要求3所述集成电路设计资料库管理系统,其特征在于:所述资料提交模块包括全局参数接收单元,资料提交信息收集单元,资料打包单元,资料库提交单元;
所述全局参数接收单元连接参数设置模块、用于读取数据库全局参数;
所述资料提交信息收集单元连接所述资料检查模块,接收所述资料检查模块输出的所述原始设计数据和最终设计数据并输出至资料打包单元;
所述资料打包单元用于对资料提交信息收集单元输出的原始设计数据和最终设计数据进行压缩打包,生成压缩数据包并输出至资料库提交单元中;
所述资料库提交单元用于将压缩数据包以设计资料库的形式存放到全局参数定义的指定路径下。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201281861Y (zh) * 2008-09-12 2009-07-29 王欢 基于无线射频rfid的档案管理系统
CN103399881A (zh) * 2013-07-16 2013-11-20 沈阳中科博微自动化技术有限公司 集成电路生产设备实时数据快速采集分发方法
CN104123422A (zh) * 2014-07-31 2014-10-29 高德(无锡)电子有限公司 一种利用数据库管理系统的制前设计方法
CN104794572A (zh) * 2015-04-20 2015-07-22 罗志华 一种建筑设计资料信息和经验分享平台

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1420455A (zh) * 2001-11-21 2003-05-28 旺宏电子股份有限公司 制造过程基本资料查询系统
US20110145772A1 (en) * 2009-05-14 2011-06-16 Pikus Fedor G Modular Platform For Integrated Circuit Design Analysis And Verification
US9355206B2 (en) * 2014-01-09 2016-05-31 Cavium, Inc. System and method for automated functional coverage generation and management for IC design protocols
CN105787022A (zh) * 2016-02-25 2016-07-20 张磊 一种设计团队资料库综合解决方案

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201281861Y (zh) * 2008-09-12 2009-07-29 王欢 基于无线射频rfid的档案管理系统
CN103399881A (zh) * 2013-07-16 2013-11-20 沈阳中科博微自动化技术有限公司 集成电路生产设备实时数据快速采集分发方法
CN104123422A (zh) * 2014-07-31 2014-10-29 高德(无锡)电子有限公司 一种利用数据库管理系统的制前设计方法
CN104794572A (zh) * 2015-04-20 2015-07-22 罗志华 一种建筑设计资料信息和经验分享平台

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
《A distributed engineering database management system for IC design》;Wanlin Cao;《IEEE》;20020806;全文 *
《基于Tcl脚本语言的ASIC后端设计》;曹华;《中国优秀硕士学位论文全文数据库》;20111215;全文 *
《浅谈IC设计档案的管理》;林萍;《万方学术期刊数据库》;20110707;全文 *

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