CN108108056A - 一种触控显示面板的驱动方法、触控驱动模块 - Google Patents
一种触控显示面板的驱动方法、触控驱动模块 Download PDFInfo
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Abstract
本发明的实施例提供一种触控显示面板的驱动方法、触控驱动模块,涉及触控技术领域,可适用于不同的应用场景。一种触控显示面板的驱动方法,所述触控显示面板包括阵列排布的多个触控电极以及与每个触控电极电连接的触控信号线;所述驱动方法包括:在触控检测时间段,向所述多个触控电极输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值。
Description
技术领域
本发明涉及触控技术领域,尤其涉及一种触控显示面板的驱动方法、触控驱动模块。
背景技术
随着显示技术的飞速发展,TP(Touch Panel,触控屏)的诞生使人们的生活更加便捷。
内嵌式电容触摸屏将触控电极结构集成在显示面板中,具有结构简单、轻、薄、成本低的优点,越来越成为触摸屏的主流技术,例如,越来越广泛应用于各种便携智能终端(诸如手机)中。
发明内容
本发明的实施例提供一种触控显示面板的驱动方法、触控驱动模块,可适用于不同的应用场景。
为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:
一方面,提供一种触控显示面板的驱动方法,所述触控显示面板包括阵列排布的多个触控电极以及与每个触控电极电连接的触控信号线;所述驱动方法包括:在触控检测时间段,向所述多个触控电极输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值。
可选的,在触控检测时间段,向所述多个触控电极输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值,包括:在触控检测时间段,分时依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号;其中,所述多个触控电极分为N组,N≥2;在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与所述第i组触控电极绝缘且交叠的所述触控信号线输入电容调节信号,调节所述第i组触控电极中的触控电极和与其绝缘且交叠的所述触控信号线之间的电容值,以调节第i组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值;i从1开始递增取值直到N。
进一步可选的,所述指令为控制系统根据温度传感器感测的温度,在低于预设阈值时产生的指令;和/或,所述指令为控制系统根据用户在用户界面的设置或选择,产生的指令。
可选的,所述指令包括指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值增大的指令;或者,所述指令包括指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值减小的指令。
可选的,所述触控检测信号为第一方波信号。
进一步可选的,电容调节信号为第二方波信号,且所述第二方波信号与所述第一方波信号二者频率相同,相位相同。
可选的,所述驱动方法还包括:在显示时间段,向所述多个触控电极输入公共电压信号。
另一方面,提供一种触控驱动模块,包括:第一子模块和第二子模块;所述第一子模块,用于在触控检测时间段,向触控显示面板上的多个触控电极输入触控检测信号;所述第二子模块,用于根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值。
可选的,所述第一子模块,具体用于在触控检测时间段,分时依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号;其中,所述多个触控电极分为N组,N≥2。
所述第二子模块,具体用于在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与所述第i组触控电极绝缘且交叠的触控信号线输入电容调节信号,调节所述第i组触控电极中的触控电极和与其绝缘且交叠的所述触控信号线之间的电容值,以调节第i组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值;i从1开始递增取值直到N。
进一步可选的,所述触控驱动模块为TDDI芯片。
本发明的实施例提供一种触控显示面板的驱动方法、触控驱动模块,可根据不同的应用场景而产生的相应指令,调节触控电极在触控检测信号下的基础电容值,从而在提高基础电容值时,提高检测的触控反馈信号的值,在降低基础电容值时,降低检测的触控反馈信号的值,进而提高在不同应用场景下的触控灵敏度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种触控显示面板的示意图;
图2为本发明提供的一种触控显示面板的驱动方法的流程示意图;
图3a为在向第1组触控电极输入触控检测信号,并使第1组触控电极与其绝缘且交叠的触控信号线产生电容的示意图;
图3b为在向第2组触控电极输入触控检测信号,并使第2组触控电极与其绝缘且交叠的触控信号线产生电容的示意图;
图4为本发明提供的触控检测信号和电容调节信号的波形示意图;
图5为一帧所包括的显示时间段和触控检测时间段的示意图;
图6为本发明提供的一种触控驱动模块的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种触控显示面板的驱动方法,如图1所示,所述触控显示面板包括阵列排布的多个触控电极11以及与每个触控电极电连接的触控信号线12。所述驱动方法包括:在触控检测时间段,向所述多个触控电极11输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值。
本领域技术人员知道,在向触控电极11输入触控检测信号时,触控电极11上会存在基础电容(该基础电容为触控电极11与导电结构、地等而产生的电容)。当未发生触控时,触控电极11上只存在基础电容,而当有触控发生时,触控电极11还会与手或触控笔等触控装置产生电容,从而使得触控反馈信号相对未发生触控时发生变化,以此对触控位置进行识别。
其中,基础电容值与触控反馈信号的大小存在正相关性,即,当基础电容值较高时,触控反馈信号也会较大;当基础电容值较低时,触控反馈信号也会较低。
在对触控显示面板进行触控操作时,可能会有不同的应用场景。应用场景可包括用户操作方式、操作环境等,用户操作方式可包括用手或触摸笔直接触摸,戴着手套触摸,或者隔空触摸等多种操作方式;操作环境可以是常规温度环境下,或者户外寒冷的环境下等。如果不管采用何种方式进行触控操作,也不管操作环境如何,都保持基础电容值一致,则在某些情况下,例如戴着手套触摸,或者隔空触摸,或者在寒冷的环境下,尤其是在寒冷的环境下,戴着手套或隔空触摸,会使得触控的信号较弱,从而导致检测的触控反馈信号较小,出现触控识别的性能大大降低的问题。
如上说明,由于基础电容值与触控反馈信号的大小存在正相关性,因此,本发明在不同应用场景下,可通过调节基础电容值,来调节触控反馈信号的大小。
例如:在戴着手套触摸、隔空触摸等操作方式下,或寒冷的环境下,通过提高基础电容值,则会提高检测的触控反馈信号的值,从而可提高触控灵敏度。
又例如,在使用例如触摸笔进行精细操作时,此时触控精度显得非常重要,则可降低基础电容值。这是因为,基础电容值与噪声也存在正相关性,当触控精度要求高时,就需要降低噪声,因此,可通过降低基础电容值,来降低噪声,以提高触控精度。
需要说明的是,向所述多个触控电极11输入触控检测信号,即,分别通过与所述多个触控电极11中的每个电连接的触控信号线12,向所述多个触控电极11输入触控检测信号。
此外,基于多个触控电极11的阵列排布方式,可采用自容方式进行触控识别,即,触控信号线12还用于接收触控反馈信号。
其中,可以理解的是,触控电极11设置于显示区,触控电极11的材料为透明导电材料。触控信号线12由显示区的一侧延伸至另一侧,触控信号线12的材料为金属材料。
本发明实施例提供一种触控显示面板的驱动方法,可根据不同的应用场景而产生的相应指令,调节触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值,从而在提高基础电容值时,提高检测的触控反馈信号的值,在降低基础电容值时,降低检测的触控反馈信号的值,进而提高在不同应用场景下的触控灵敏度。
可选的,在触控检测时间段,向所述多个触控电极11输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值,如图2所示,具体包括如下步骤:
S11、在触控检测时间段,分时依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号;其中,所述多个触控电极11分为N组,N≥2。
此处,受制于触控信号线12相连的IC的尺寸及成本,IC中用于触控检测的单元可以只有触控电极11总数量的1/P,也就是说一个时刻,只能对触控电极11总数量的1/P进行触控检测;P≥2。基于此,可根据IC中触控检测单元的数量,对所述多个触控电极11进行分组,分成N组,每组中触控电极11的数量小于等于IC中触控检测单元的数量。
在此基础上,将触控检测时间段分成N个时间段,每个时间段对一组触控电极进行检测。
以将所述多个触控电极11分为2组为例,如图3a所示,在触控检测时间段,可先向第1组触控电极(图3a中虚线框所示)输入触控检测信号;之后,如图3b所示,再向第2组触控电极(图3b中虚线框所示)输入触控检测信号。
需要说明的是,向每个触控电极11输入的触控检测信号可以是相同的信号。
在此基础上,每个触控检测时间段,在向不同组触控电极输入触控检测信号时,输入至触控信号线12上的电容调节信号可以是相同的信号。
S12、在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与第i组触控电极绝缘且交叠的触控信号线12输入电容调节信号,调节第i组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值,以调节第i组触控电极中的触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值;i从1开始递增取值直到N。
其中,所述电容调节信号的电压可小于等于或者大于所述触控检测信号的电压。具体可根据实际情况进行设定。
仍以上述将所述多个触控电极11分为2组为例,在向第1组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与第1组触控电极绝缘且交叠的触控信号线12输入电容调节信号,以调节第1组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值。其中,可以理解的是,第1组触控电极中的触控电极11由于和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间存在交叠面积,形成平行板电容(如图3a所示),因此,通过改变与第1组触控电极绝缘且交叠的触控信号线12上电容调节信号的信号大小,则可改变第1组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值。而在第1组触控电极中的触控电极11与其他导电结构、地等产生的电容值不变的情况下,由于第1组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值改变,则相应的第1组触控电极中的触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值改变。
同理,在向第2组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与第2组触控电极绝缘且交叠的触控信号线12输入电容调节信号,以调节第2组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值。其中,第2组触控电极中的触控电极11由于和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间存在交叠面积,形成平行板电容(如图3b所示),因此,通过改变与第2组触控电极绝缘且交叠的触控信号线12上电容调节信号的信号大小,则可改变第2组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值。而在第2组触控电极中的触控电极11与其他导电结构、地等产生的电容值不变的情况下,由于第2组触控电极中的触控电极11和与其绝缘且交叠的触控信号线12之间的电容值改变,则相应的第2组触控电极中的触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值改变。
需要说明的是,在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,可向除与第i组触控电极电连接的触控信号线12之外的其余所有触控信号线12,输入电容调节信号。
本发明实施例,一方面,通过将多个触控电极11分成N组,分时对各组进行触控检测,可降低对IC的性能要求;另一方面,在依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,通过改变与每组触控电极绝缘且交叠的触控信号线上电容调节信号的大小,来调节每组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值,实现起来较为简单。
可选的,所述指令为控制系统根据温度传感器感测的温度,在低于预设阈值时产生的指令;即,当环境温度低于一定值时,由控制系统产生指令。在此情况下,可自动根据检测的温度,来输出电容调节信号。
和/或,所述指令为控制系统根据用户在用户界面的设置或选择,产生的指令。其中,用户界面显示触控显示装置的应用场景,包括对操作方式的设置,对环境温度的设置等。在此情况下,可根据用户的选择,来输出电容调节信号,可提高用户体验。
可选的,所述指令包括指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值增大的指令;或者,所述指令包括指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值减小的指令。
其中,在某些应用场景下,由于触控的信号较弱,因此,在触控检测时间段,可根据指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值增大的指令,来减小输入的电容调节信号的幅值(甚至调节至反向),以达到提高触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值的目的,从而提高触控电极11在触控检测信号下的基础电容值。
此外,也可根据指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值减小的指令,来提高输入的电容调节信号的幅值,以达到减小触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值的目的,从而减小触控电极11在触控检测信号下的基础电容值。
考虑到触控检测信号为方波信号时,后续对触控反馈信号的处理较为容易,因此,优选所述触控检测信号为方波信号(如图4所示),其中,为方便与后需出现的方波信号进行区分,此处可称为第一方波信号。
在此基础上,电容调节信号也可以为方波信号(如图4所示),此处可称为第二方波信号,第二方波信号与第一方波信号二者频率相同,相位相同。
基于上述的描述,所述驱动方法还包括:在显示时间段,向所有触控电极11输入公共电压信号。这样,可使得触控显示面板中阵列基板的集成度较高,且与目前的阵列基板工艺流程相兼容,制造成本低。
其中,如图5所示,每一帧都包括显示时间段和触控检测时间段。
本发明实施例还提供一种触控驱动模块,如图6所示,包括第一子模块21和第二子模块22;第一子模块21,用于在触控检测时间段,向触控显示面板上的所述多个触控电极输入触控检测信号;第二子模块22,用于根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值。
本发明实施例提供一种触控驱动模块,可根据不同的应用场景而产生的相应指令,调节触控电极11在所述触控检测信号下的基础电容值,从而在提高基础电容值时,提高检测的触控反馈信号的值,在降低基础电容值时,降低检测的触控反馈信号的值,进而提高在不同应用场景下的触控灵敏度。
可选的,第一子模块21,具体用于在触控检测时间段,分时依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号;其中,所述多个触控电极分为N组,N≥2。
第二子模块22,具体用于在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与第i组触控电极绝缘且交叠的触控信号线输入电容调节信号,调节第i组触控电极中的触控电极和与其绝缘且交叠的所述触控信号线之间的电容值,以调节第i组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值;i从1开始递增取值直到N。
其中,所述电容调节信号的电压可小于等于或者大于所述触控检测信号的电压。具体可根据实际情况进行设定。
一方面,通过将多个触控电极11分成N组,分时对各组进行触控检测,可降低对IC的性能要求;另一方面,在依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,通过改变与每组触控电极绝缘且交叠的触控信号线上电容调节信号的大小,来调节每组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值,实现起来较为简单。
在此基础上,所述触控驱动模块可以为TDDI(Touch and Display DriverIntegration,触控与显示驱动器集成)芯片。即,将触控驱动和显示控制集成于一个芯片中,这样可节约芯片成本以及制作成本。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种触控显示面板的驱动方法,所述触控显示面板包括阵列排布的多个触控电极以及与每个触控电极电连接的触控信号线;其特征在于,所述驱动方法包括:
在触控检测时间段,向所述多个触控电极输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值。
2.根据权利要求1所述的驱动方法,其特征在于,在触控检测时间段,向所述多个触控电极输入触控检测信号,并根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值,包括:
在触控检测时间段,分时依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号;其中,所述多个触控电极分为N组,N≥2;
在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与所述第i组触控电极绝缘且交叠的所述触控信号线输入电容调节信号,调节所述第i组触控电极中的触控电极和与其绝缘且交叠的所述触控信号线之间的电容值,以调节第i组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值;i从1开始递增取值直到N。
3.根据权利要求2所述的驱动方法,其特征在于,所述指令为控制系统根据温度传感器感测的温度,在低于预设阈值时产生的指令;和/或,
所述指令为控制系统根据用户在用户界面的设置或选择,产生的指令。
4.根据权利要求2所述的驱动方法,其特征在于,所述指令包括指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值增大的指令;或者,
所述指令包括指示触控电极和与其绝缘且交叠的触控信号线之间电容值减小的指令。
5.根据权利要求1-4任一项所述的驱动方法,其特征在于,所述触控检测信号为第一方波信号。
6.根据权利要求5所述的驱动方法,其特征在于,电容调节信号为第二方波信号,且所述第二方波信号与所述第一方波信号二者频率相同,相位相同。
7.根据权利要求1所述的驱动方法,其特征在于,还包括:在显示时间段,向所述多个触控电极输入公共电压信号。
8.一种触控驱动模块,其特征在于,包括:第一子模块和第二子模块;
所述第一子模块,用于在触控检测时间段,向触控显示面板上的多个触控电极输入触控检测信号;
所述第二子模块,用于根据指令,调节触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值。
9.根据权利要求8所述的触控驱动模块,其特征在于,所述第一子模块,具体用于在触控检测时间段,分时依次向第1组到第N组触控电极输入触控检测信号;其中,所述多个触控电极分为N组,N≥2;
所述第二子模块,具体用于在向第i组触控电极输入触控检测信号时,根据指令,至少向与所述第i组触控电极绝缘且交叠的触控信号线输入电容调节信号,调节所述第i组触控电极中的触控电极和与其绝缘且交叠的所述触控信号线之间的电容值,以调节第i组触控电极中的触控电极在所述触控检测信号下的基础电容值;i从1开始递增取值直到N。
10.根据权利要求9所述的触控驱动模块,其特征在于,所述触控驱动模块为TDDI芯片。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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