CN108074238A - 基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统,检测方法包括:S1、获取原始灰阶图像;S2、根据灰阶图像获取二值化图像;S3、通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。本发明通过霍夫变换确定显示区图像,从而获得面内mura检测区域,使用高斯函数拟合,通过拟合而来的参数,评价面内mura的严重程度,实现了面内mura的快速检测。
Description
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,特别是涉及一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统。
背景技术
显示器件(例如TFT-LCD等)由于其制程或驱动因素,会产生面内不均,严重的会影响视觉效果,即面内mura现象。mura是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象,mura的种类很多,而这种面内mura一般在显示器中心区域,由于其低对比度及形状的不规则,检测存在一定难度,进而影响到对面内mura的检测。
因此,针对上述技术问题,有必要提供一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统。
发明内容
为克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法及检测系统,以实现面内mura的检测。
为了实现上述目的,本发明一实施例提供的技术方案如下:
一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法,所述检测方法包括:
S1、获取原始灰阶图像;
S2、根据灰阶图像获取二值化图像;
S3、通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。
作为本发明的进一步改进,所述步骤S2前还包括:
对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声。
作为本发明的进一步改进,所述步骤S2具体为:
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像。
作为本发明的进一步改进,所述步骤S3具体为:
通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。
作为本发明的进一步改进,所述高斯函数为a、b、c为自由参数;
步骤S4中“根据拟合参数检测面内mura的程度”具体为:
若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a0,且参数c小于或等于第二预设阈值c0,则判定面内mura轻微;否则,则判定面内mura严重。
本发明另一实施例提供的技术方案如下:
一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测系统,所述检测系统包括:
图像获取单元,用于获取原始灰阶图像;
图像处理单元,用于根据灰阶图像获取二值化图像;
霍夫变换单元,用于通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
高斯拟合单元,用于对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。
作为本发明的进一步改进,所述检测系统还包括:
低通滤波单元,所述低通滤波单元包括巴特沃斯滤波器,用于对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声。
作为本发明的进一步改进,所述图像处理单元还用于:
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像。
作为本发明的进一步改进,所述霍夫变换单元还用于:
通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。
作为本发明的进一步改进,所述高斯拟合单元还用于:
对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,高斯函数为a、b、c为自由参数,若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a0,且参数c小于或等于第二预设阈值c0,则判定面内mura轻微;否则,则判定面内mura严重。
本发明通过霍夫变换确定显示区图像,从而获得面内mura检测区域,使用高斯函数拟合,通过拟合而来的参数,评价面内mura的严重程度,实现了面内mura的快速检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明中面内mura检测方法的流程示意图。
图2为本发明中面内mura检测系统的模块示意图。
图3为本发明实施例1中获取的灰阶图像。
图4为本发明实施例1中剪裁后灰阶图像的直方图。
图5为本发明实施例2中获取的灰阶图像。
图6为本发明实施例2中剪裁后灰阶图像的直方图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
参图1所示,本发明公开了一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法,包括:
S1、获取原始灰阶图像;
S2、根据灰阶图像获取二值化图像;
S3、通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。
在本发明一实施例中,步骤S2前还包括:
对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声。
在暗房内拍摄原始灰阶图像时,因拍摄用的相机为电子器件,不可避免的会有噪声引入,根据噪声的特点,选择巴特沃斯滤波器进行低通滤波。
步骤S2具体为:
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像。
因相机拍摄会有非显示器的画面存在,故需要能自动检测出显示区域的部分,排除非显示器对计算的影响。对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,大于阈值分界点的灰度值设为255,小于阈值分界点的灰度值设为0,从而得到二值化图像,二值化图像呈现出明显的只有黑和白的视觉效果。
步骤S3中,通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。
因在显示器图像的边缘部分,面内mura存在的概率较低,且对人眼视觉观察上影响较小,为了快速计算,则在图像剪裁时,边缘部分会被剪裁掉,保留大面积的中间显示图像。
步骤S4中,高斯函数为a、b、c为自由参数;
“根据拟合参数检测面内mura的程度”具体为:
若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a0,且参数c小于或等于第二预设阈值c0,则判定面内mura轻微;否则,则判定面内mura严重。
对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,若图像面mura轻微,则直方图的分布会较为集中,峰值较高;若面内mura严重,直方图的分布会较为分散,峰值变低。本发明中将直方图进行高斯函数拟合,使用拟合参数a与c进行面内mura的描述。
参图4所示,本发明还公开了一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测系统,包括:
图像获取单元10,用于获取原始灰阶图像;
图像处理单元20,用于根据灰阶图像获取二值化图像;
霍夫变换单元30,用于通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
高斯拟合单元40,用于对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。
优选地,本发明的检测系统中还包括:
低通滤波单元50,低通滤波单元选用巴特沃斯滤波器,用于对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声。
以下结合具体实施例对本发明作进一步说明。
实施例1:
本实施例中的面内mura检测方法,包括:
获取得到参图3所示的灰阶图像;
采用对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声;
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像;
通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度,高斯函数为a、b、c为自由参数。
本实施例中的剪裁后灰阶图像的直方图参图4所示,根据该直方图分布拟合得到相应的高斯函数,得到a=2.08e+05、c=6.559、R2=0.964,其中,R2表示直方图与高斯拟合曲线的匹配度,数值越接近1,表示匹配程度越高,可见,本实施例中的直方图于高斯拟合曲线具有较高的匹配度。
比较得到参数a=2.08e+05大于第一预设阈值a0(例如1.5e+05),参数c=6.559小于第二预设阈值c0(例如8),则判定本实施例中为面内mura轻微。
第一预设阈值a0和第二预设阈值c0与显示器状况及规格相关,本实施例中的阈值仅为示例性的阈值,在其他实施例中可以设置为其他数值。
实施例2:
本实施例中的面内mura检测方法,包括:
获取得到参图5所示的灰阶图像;
采用对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声;
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像;
通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度,高斯函数为a、b、c为自由参数。
本实施例中的剪裁后灰阶图像的直方图参图6所示,根据该直方图分布拟合得到相应的高斯函数,得到a=1.07e+05、c=13.83、R2=0.967,其中,R2表示直方图与高斯拟合曲线的匹配度,数值越接近1,表示匹配程度越高,可见,本实施例中的直方图于高斯拟合曲线具有较高的匹配度。
比较得到参数a=1.07e+05小于第一预设阈值a0(例如1.5e+05),参数c=13.83小于第二预设阈值c0(例如8),则判定本实施例中为面内mura严重。
第一预设阈值a0和第二预设阈值c0与显示器状况及规格相关,本实施例中的阈值仅为示例性的阈值,在其他实施例中可以设置为其他数值。
本发明实施例还提供一种电子设备。所述电子设备包括至少一个处理器和与所述至少一个处理器连接的存储器,所述存储器用于存储可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行时,使所述至少一个处理器执行上述实施例中的面内mura检测方法。
本发明实施例还提供了一种非暂态存储介质,存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令设置为执行上述的面内mura检测方法。
本发明实施例还提供了一种计算机程序产品,所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,当所述程序指令被计算机执行时,使所述计算机执行上述的面内mura检测方法。
本发明实施例提供的面内mura检测系统可执行本发明任意实施例所提供的面内mura检测方法,具备执行方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节,可参见本发明任意实施例所提供的面内mura检测方法。
由以上实施方式可以看出,本发明通过霍夫变换确定显示区图像,从而获得面内mura检测区域,使用高斯函数拟合,通过拟合而来的参数,评价面内mura的严重程度,实现了面内mura的快速检测。
本申请的流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,″计算机可读介质″可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(移动终端),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。此外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (10)
1.一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:
S1、获取原始灰阶图像;
S2、根据灰阶图像获取二值化图像;
S3、通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
S4、对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述步骤S2前还包括:
对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像。
4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述步骤S3具体为:
通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。
5.根据权利要求4所述的检测方法,其特征在于,所述高斯函数为a、b、c为自由参数;
步骤S4中“根据拟合参数检测面内mura的程度”具体为:
若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a0,且参数c小于或等于第二预设阈值c0,则判定面内mura轻微;否则,则判定面内mura严重。
6.一种基于霍夫变换及高斯拟合的面内mura检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:
图像获取单元,用于获取原始灰阶图像;
图像处理单元,用于根据灰阶图像获取二值化图像;
霍夫变换单元,用于通过霍夫变换进行边缘检测,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁;
高斯拟合单元,用于对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,根据拟合参数检测面内mura的程度。
7.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包括:
低通滤波单元,所述低通滤波单元包括巴特沃斯滤波器,用于对灰阶图像进行低通滤波,消除灰阶图像中的噪声。
8.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,所述图像处理单元还用于:
对灰阶图像的直方图进行多项式拟合,根据拟合曲线极小值点得到阈值分界点,从而得到二值化图像。
9.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,所述霍夫变换单元还用于:
通过霍夫变换进行边缘检测,获取二值化图像中的直线起始点,根据直线起始点及像素数确定显示区域,进而对灰阶图像的边缘进行剪裁。
10.根据权利要求9所述的检测系统,其特征在于,所述高斯拟合单元还用于:
对剪裁后的灰阶图像进行直方图统计,将直方图进行高斯函数拟合,高斯函数为a、b、c为自由参数,若检测到参数a大于或等于第一预设阈值a0,且参数c小于或等于第二预设阈值c0,则判定面内mura轻微;否则,则判定面内mura严重。
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