CN108037394A - 一种光耦时间特性检测的装置 - Google Patents

一种光耦时间特性检测的装置 Download PDF

Info

Publication number
CN108037394A
CN108037394A CN201711407991.5A CN201711407991A CN108037394A CN 108037394 A CN108037394 A CN 108037394A CN 201711407991 A CN201711407991 A CN 201711407991A CN 108037394 A CN108037394 A CN 108037394A
Authority
CN
China
Prior art keywords
housing
optocoupler
pulse signal
test bench
signal generator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201711407991.5A
Other languages
English (en)
Inventor
林良勤
占伟星
蒋梦影
伊有良
陶敬荣
刘先进
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
State Grid Corp of China SGCC
Jinhua Power Supply Co of State Grid Zhejiang Electric Power Co Ltd
Original Assignee
State Grid Corp of China SGCC
Jinhua Power Supply Co of State Grid Zhejiang Electric Power Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by State Grid Corp of China SGCC, Jinhua Power Supply Co of State Grid Zhejiang Electric Power Co Ltd filed Critical State Grid Corp of China SGCC
Priority to CN201711407991.5A priority Critical patent/CN108037394A/zh
Publication of CN108037394A publication Critical patent/CN108037394A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/27—Testing of devices without physical removal from the circuit of which they form part, e.g. compensating for effects surrounding elements

Abstract

本发明涉及一种光耦时间特性检测的装置，包括壳体、脉冲信号发生器、电源和示波器，示波器、脉冲信号发生器均与电源电连接，壳体上设有测试座，所述脉冲信号发生器包括与测试座相连的输出部，脉冲信号发生器连接有旋钮；本发明的优点：通过测试座实现光耦快速的固定在壳体上，通过脉冲信号发生器的输出部向测试座输入方波信号，并通过旋钮来调整脉冲信号的输出幅值，使光耦发射二级管正向峰值电流Ic＝2mA即在要示波器中的方波峰值为Up‑p＝100mV，然后通过示波器检测到待测光耦的上升时间、下降时间、开通时间、关断时间，从而可快速准确测试出光耦时间特性的相关数据，工作强度低，且通过电源的设置，能实现脉冲信号发生器和示波器可靠的运行。

Description

一种光耦时间特性检测的装置
技术领域
本发明涉及一种光耦时间特性检测的装置。
背景技术
光耦以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器与受光器封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换，而现有光耦需要进行时间特性检测，而现有的光耦时间特性检测均通过人工连接测试电路来分别测试上升时间、下降时间、开通时间、关断时间，导致工作强度大，测试效率低，且测试的准确率不高，且人工安装检测电路时导致整体占用空间大，测试设备杂乱放置，整体效果差，电路零件容易损坏。
发明内容
本发明要解决的技术问题就是提供一种光耦时间特性检测的装置，解决现有光耦时间特性检测存在测试效率低及测试设备杂乱放置的技术问题。
为了解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：一种光耦时间特性检测的装置，包括壳体、脉冲信号发生器、电源和示波器，所述壳体上设有第一安装部和第二安装部，所述脉冲信号发生器通过第一安装部安装在壳体上，所述示波器通过第二安装部安装在壳体上，所述示波器、脉冲信号发生器均与电源电连接，所述壳体上设有固定光耦的测试座，所述脉冲信号发生器包括与测试座相连的输出部，所述示波器包括信号输入端和信号输出端，所述壳体上设有与信号输入端相连的输入信号测试接口，所述壳体上设有与信号输出端相连的输出信号测试接口，所述脉冲信号发生器连接有调整脉冲信号输出幅值的旋钮。
优选的，所述第一安装部为形成在壳体上的容腔，所述容腔一侧设有开口，所述脉冲信号发生器通过所述开口装入所述容腔内，第二安装部为构成凹腔的其中一个壁板上，所述示波器安装在壁板上且位于容腔外侧。
优选的，所述壳体上还设有与电源相连的电源接口，所述电源接口安装在构成凹腔的另一个壁板上
优选的，所述开口设在壳体的顶端，且壳体上设有密封开口的密封板。
优选的,所述测试座包括第一测试座和第二测试座，通过第一测试座来放置贴片封装的光耦，通过第二测试座来放置双列直插封装的光耦，且壳体上设有标识牌。
优选的，所述第一测试座和第二测试座上均设有密封罩。
优选的，所述壳体上还设有控制电源接口通电和断电的电源开关。
优选的，所述壳体上设有固定电源开关的凹槽。
综上所述，本发明的优点：1.通过测试座实现光耦快速的固定在壳体上，通过脉冲信号发生器的输出部向测试座输入方波信号，并通过旋钮来调整脉冲信号的输出幅值，使光耦发射二级管正向峰值电流Ic＝2mA即在要示波器中的方波峰值为Up-p＝100mV，然后通过示波器检测到待测光耦的上升时间、下降时间、开通时间、关断时间，从而可快速准确测试出光耦时间特性的相关数据，测试效果好，工作强度低，且通过电源的设置，能实现脉冲信号发生器和示波器可靠的运行，且通过信号输入端和信号输出端来检测示波器的信号，能保证数据能准确、实时的显示在示波器上；
2.通过第一安装部实现脉冲信号发生器安装在壳体上，通过第二安装部实现示波器安装在壳体上，能使脉冲信号发生器和示波器与壳体统一形成一个整体，安装拆卸方便，结构更加紧凑；
3.将第一安装部设置成在壳体上的容腔，并在容腔一侧设置开口，能实现脉冲信号发生器的快速安装，将第二安装部设置成构成凹腔的其中一个壁板上，且位于容腔外侧，能使整个壳体形成一个整体，有利于携带；
4.电源接口的设置，能实现电源的快速接入和快速拆除，保证了检测的可靠性；
5.将开口设置成壳体的顶端，并通过密封板实现开口的密封，能避免灰尘或杂物进入容腔内，避免脉冲信号发生器的损坏；
6.将测试座设置成第一测试座和第二测试座，能满足不同封装的光耦安装测试，从而提高测试的效率，且光耦安装拆卸方便，连接可靠，有利于保证测试的准确率，并通过标识牌来提醒测试人员，提高光耦的安装质量；
7.密封罩的设置，能避免灰尘或杂物进入第一测试座和第二测试座内，能实现光耦的快速安装固定，提高光耦的安装效率及测试效率；
8.电源开关的设置，能实现电源接口的快速通电和断电，保证装置在安装光耦时的安全性能；
9.凹槽的设置，能避免电源开关长期暴露在壳体外，能避免电源开关的损坏，提高电源开关的使用寿命。
附图说明
下面结合附图对本发明作进一步说明：
图1为本发明一种时间特性检测的装置的结构示意图；
图2为本发明壳体的结构示意图。
附图标记：
1壳体、10凹槽、11第一安装部、12第二安装部、13输入信号测试接口、14输出信号测试接口、15开口、16电源接口、17密封板、18标识牌、19电源开关、2脉冲信号发生器、21输出部、3电源、4示波器、41信号输入端、42信号输出端、5测试座、51第一测试座、52第二测试座、53密封罩、6旋钮
具体实施方式
如图1、图2所示，一种时间特性检测的装置,包括壳体、脉冲信号发生器、电源和示波器，所述壳体上设有第一安装部和第二安装部，所述脉冲信号发生器通过第一安装部安装在壳体上，所述示波器通过第二安装部安装在壳体上，能使脉冲信号发生器和示波器与壳体统一形成一个整体，安装拆卸方便，结构更加紧凑，所述、脉冲信号发生器均与电源电连接，能保证示波器和脉冲信号发生器的正常工作，所述壳体上设有固定光耦的测试座，所述脉冲信号发生器包括与测试座相连的输出部，所述示波器包括信号输入端和信号输出端，所述壳体上设有与信号输入端相连的输入信号测试接口，所述壳体上设有与信号输出端相连的输出信号测试接口，所述脉冲信号发生器连接有调整脉冲信号输出幅值的旋钮，使用时，通过测试座实现光耦快速的固定在壳体上，然后通过示波器的信号输入端连接到输入信号测试接口，信号输出端连接到输出信号测试接口，通过脉冲信号发生器的输出部向测试座输入方波信号，并通过旋钮来调整脉冲信号的输出幅值，使光耦发射二级管正向峰值电流Ic＝2mA即在要示波器中的方波峰值为Up-p＝100mV，然后通过示波器检测到待测光耦的上升时间、下降时间、开通时间、关断时间，从而可快速准确测试出光耦时间特性的相关数据，测试效果好，工作强度低。
所述第一安装部为形成在壳体上的容腔，所述容腔一侧设有开口，所述脉冲信号发生器通过所述开口装入所述容腔内，第二安装部为构成凹腔的其中一个壁板上，所述示波器安装在壁板上且位于容腔外侧，使整个壳体形成一个整体，有利于携带，所述壳体上还设有与电源相连的电源接口，所述电源接口安装在构成凹腔的另一个壁板上，能实现电源的快速接入和快速拆除，保证了检测的可靠性。
所述开口设在壳体的顶端，且壳体上设有密封开口的密封板，能避免灰尘或杂物进入容腔内，避免脉冲信号发生器的损坏，且为了更好的安装，本实施例中的输入信号测试接口、输出信号测试接口、测试座均安装在密封板上，所述测试座包括第一测试座和第二测试座，通过第一测试座来放置贴片封装的光耦，通过第二测试座来放置双列直插封装的光耦，且密封板上设有标识牌，能满足不同封装的光耦安装测试，从而提高测试的效率，且光耦安装拆卸方便，连接可靠，有利于保证测试的准确率，并通过标识牌来提醒测试人员，提高光耦的安装质量；所述第一测试座和第二测试座上均设有密封罩，能避免灰尘或杂物进入第一测试座和第二测试座内，能实现光耦的快速安装固定，提高光耦的安装效率及测试效率。
另外，所述壳体上还设有控制电源接口通电和断电的电源开关，能实现电源接口的快速通电和断电，保证装置在安装光耦时的安全性能，所述壳体上设有固定电源开关的凹槽，能避免电源开关长期暴露在壳体外，能避免电源开关的损坏，提高电源开关的使用寿命。
除上述优选实施例外，本发明还有其他的实施方式，本领域技术人员可以根据本发明作出各种改变和变形，只要不脱离本发明的精神，均应属于本发明所附权利要求所定义的范围。

Claims (8)

1.一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：包括壳体、脉冲信号发生器、电源和示波器，所述壳体上设有第一安装部和第二安装部，所述脉冲信号发生器通过第一安装部安装在壳体上，所述示波器通过第二安装部安装在壳体上，所述示波器、脉冲信号发生器均与电源电连接，所述壳体上设有固定光耦的测试座，所述脉冲信号发生器包括与测试座相连的输出部，所述示波器包括信号输入端和信号输出端，所述壳体上设有与信号输入端相连的输入信号测试接口，所述壳体上设有与信号输出端相连的输出信号测试接口，所述脉冲信号发生器连接有调整脉冲信号输出幅值的旋钮。
2.根据权利要求1所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述第一安装部为形成在壳体上的容腔，所述容腔一侧设有开口，所述脉冲信号发生器通过所述开口装入所述容腔内，第二安装部为构成凹腔的其中一个壁板上，所述示波器安装在壁板上且位于容腔外侧。
3.根据权利要求2所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述壳体上还设有与电源相连的电源接口，所述电源接口安装在构成凹腔的另一个壁板上。
4.根据权利要求2所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述开口设在壳体的顶端，且壳体上设有密封开口的密封板。
5.根据权利要求1所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述测试座包括第一测试座和第二测试座，通过第一测试座来放置贴片封装的光耦，通过第二测试座来放置双列直插封装的光耦，且壳体上设有标识牌。
6.根据权利要求5所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述第一测试座和第二测试座上均设有密封罩。
7.根据权利要求1所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述壳体上还设有控制电源接口通电和断电的电源开关。
8.根据权利要求7所述的一种光耦时间特性检测的装置，其特征在于：所述壳体上设有固定电源开关的凹槽。
CN201711407991.5A 2017-12-22 2017-12-22 一种光耦时间特性检测的装置 Pending CN108037394A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711407991.5A CN108037394A (zh) 2017-12-22 2017-12-22 一种光耦时间特性检测的装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711407991.5A CN108037394A (zh) 2017-12-22 2017-12-22 一种光耦时间特性检测的装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108037394A true CN108037394A (zh) 2018-05-15

Family

ID=62100811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711407991.5A Pending CN108037394A (zh) 2017-12-22 2017-12-22 一种光耦时间特性检测的装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108037394A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109116137A (zh) * 2018-07-03 2019-01-01 华立科技股份有限公司 光耦测试装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1804949A (zh) * 2005-12-31 2006-07-19 王庆有 光电综合实验测试方法
CN201662599U (zh) * 2010-01-21 2010-12-01 深圳市炜烨丰电子科技有限公司 一种光电耦合器检测装置
US20130343745A1 (en) * 2012-06-26 2013-12-26 The Boeing Company Optical Coupler Testing System
CN103969531A (zh) * 2014-05-09 2014-08-06 王允 线性光耦线性度自动测试装置
CN204390569U (zh) * 2014-10-31 2015-06-10 天津梦祥原科技有限公司 一种光电耦合开关实验仪
CN207586336U (zh) * 2017-12-22 2018-07-06 浙江八达电子仪表有限公司 一种光耦时间特性检测的装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1804949A (zh) * 2005-12-31 2006-07-19 王庆有 光电综合实验测试方法
CN201662599U (zh) * 2010-01-21 2010-12-01 深圳市炜烨丰电子科技有限公司 一种光电耦合器检测装置
US20130343745A1 (en) * 2012-06-26 2013-12-26 The Boeing Company Optical Coupler Testing System
CN103969531A (zh) * 2014-05-09 2014-08-06 王允 线性光耦线性度自动测试装置
CN204390569U (zh) * 2014-10-31 2015-06-10 天津梦祥原科技有限公司 一种光电耦合开关实验仪
CN207586336U (zh) * 2017-12-22 2018-07-06 浙江八达电子仪表有限公司 一种光耦时间特性检测的装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
胡文金 等: "数字光电耦合器隔离性能及动态特性测试仪", 半导体光电, no. 03, pages 341 - 344 *
蔡建荣 等: "一种实现光耦电参数测试的方法研究", 电子技术与软件工程, no. 14, pages 122 - 125 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109116137A (zh) * 2018-07-03 2019-01-01 华立科技股份有限公司 光耦测试装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110927499B (zh) 一种射频集成电路近场电磁兼容性测试设备及其测试方法
CN100412553C (zh) 雷达峰值场强测试装置
CN103105572B (zh) 用于测试igbt模块的装置
CN104166075B (zh) 一种基于激光二极管的局部放电光电检测系统及方法
CN2816825Y (zh) 微波峰值场强测试仪
CN110850222A (zh) 新能源汽车电机驱动系统的电磁兼容性能测试系统
US8405949B2 (en) Current sensor for measuring inhomogeneity of potential distribution of arrester
CN108872880B (zh) 一种开关电源emi测试装置及方法
CN108872831A (zh) 一种通用电路板测试装置及其测试方法
CN207586336U (zh) 一种光耦时间特性检测的装置
CN108037394A (zh) 一种光耦时间特性检测的装置
CN109839553A (zh) 一种基于虚拟仪器的emc自动测试系统设计
CN202758004U (zh) 一种高压绝缘电阻监测报警仪
CN104297595B (zh) 混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法
CN111077395A (zh) 一种变电站电子式互感器采集板卡电磁干扰防护设计方法
CN105785182A (zh) 一种静电抗扰度的诊断装置及方法
CN210665892U (zh) 一种便携式特快速暂态高频电场测量系统
CN109212358B (zh) 模拟变电站地电位升产生的电磁干扰的方法
CN208013403U (zh) 一种用于电能表射频电磁场辐射抗扰度试验的装置
Adami et al. High power microwave tests of media converters
CN205280920U (zh) 智能电能表电压抖动模拟测试机
CN205580596U (zh) 一种爆破测振仪
CN211528554U (zh) 一种道路车辆传导骚扰抗扰度测试装置
CN113238155B (zh) 一种基于冲击放电的电池故障或失效检测方法
CN217606253U (zh) 一种时钟测试电路与电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination