CN108007576A - 一种红外热像仪的镜头标定方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种红外热像仪的镜头标定方法及装置。其中，方法包括获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在预设温度下的探测器非均匀性校正系数；根据用户非均匀性校正系数与探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数，以作为红外热像仪在非预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；当检测到红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为预设温度时，计算当前温度对应的实时探测器非均匀性校正系数；计算实时探测器非均匀性校正系数和修正非均匀性校正系数的乘积，以作为红外热像仪当前温度的非均匀性校正系数。本申请有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题。

Description

一种红外热像仪的镜头标定方法及装置

技术领域

本发明实施例涉及红外设备技术领域，特别是涉及一种红外热像仪的镜头标定方法及装置。

背景技术

红外热像仪是利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上，从而获得红外热像图，这种热像图与物体表面的热分布场相对应，即红外热像仪就是将物体发出的不可见红外能量转变为可见的热图像。热图像的上面的不同颜色代表被测物体的不同温度。

红外机芯在出厂前，即红外机芯的制造商在红外机芯推向市场前，会对红外机芯的非均匀性校正系数进行标定。用户在购入红外机芯时，会配用用户自己的镜头，由于镜头局部透过率的差异，会导致红外机芯的红外探测器的非均匀校正系统失效，从而造成红外热像仪的图像非均匀性变差。

针对这种情况，用户一般在配用镜头后，会在常温下对红外探测器的非均匀性校正系数进行重新标定。但是，温度对红外探测器的非均匀性校正系数是有影响的，只在常温下进行标定，而对高低温下的非均匀性校正系数没有校正，红外设备在高低温下进行使用时，所成的红外图像的质量仍然很差，而且让用户携带镜头到高低温环境下进行标定非均匀性校正系数，不仅耗时太长、效率低、成本高，还给用户带来很大的不便。

鉴于此，如何在红外机芯配用镜头之后，有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种红外热像仪的镜头标定方法及装置，有效的解决了红外热像仪生产过程中用户对红外镜头标定的需求问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

本发明实施例一方面提供了一种红外热像仪的镜头标定方法，包括：

获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在所述预设温度下的探测器非均匀性校正系数；

根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为所述红外热像仪在非所述预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；

当检测到所述红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为所述预设温度时，计算所述红外探测器在所述当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；

计算所述实时探测器非均匀性校正系数和所述修正非均匀性校正系数的乘积，以作为所述红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

可选的，所述根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数包括：

利用下述公式，根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数：

式中，Gc为所述修正非均匀性校正系数，G为所述用户非均匀性校正系数，Gp为所述探测器非均匀性校正系数。

可选的，所述计算所述红外探测器在所述当前温度下的实时探测器非均匀性校正系数包括：

获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数；

其中，所述第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，所述第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算所述红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。

可选的，所述根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述当前非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数包括：

利用下述公式，根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为所述实时探测器非均匀性校正系数，GL为所述第一非均匀性校正系数，GH为所述第二非均匀性校正系数，α为所述温度修正值。

可选的，所述根据所述当前温度获取相对应的当前非均匀性校正系数包括：

根据所述当前温度在预建的红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度对应的温度修正值；

所述红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为所述红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表。

本发明实施例另一方面提供了一种红外热像仪的镜头标定装置，包括：

获取信息模块，用于获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在所述预设温度下的探测器非均匀性校正系数；

第一计算模块，用于根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为所述红外热像仪在非所述预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；

第二计算模块，用于当检测到所述红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为所述预设温度时，计算所述红外探测器在所述当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；

第三计算模块，用于计算所述实时探测器非均匀性校正系数和所述修正非均匀性校正系数的乘积，以作为所述红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

可选的，所述第二计算模块包括：

获取单元，用于获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

计算单元，用于根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数；

其中，所述第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，所述第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算所述红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。

本发明实施例提供了一种红外热像仪的镜头标定方法，获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在预设温度下的探测器非均匀性校正系数；根据用户非均匀性校正系数与探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为红外热像仪在非预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；当检测到红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为预设温度时，计算红外探测器在当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；计算实时探测器非均匀性校正系数和修正非均匀性校正系数的乘积，以作为红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

本申请提供的技术方案的优点在于，利用红外探测器出厂时的非均匀性校正系数、以及在配用镜头之后用户标定的非均匀性校正系数，计算得到修正非均匀性校正系数，并在实际使用过程中，根据红外探测器焦平面阵列的温度的不同，实时计算红外探测器的实时探测器非均匀性校正系数，以实现对红外热像仪的非均匀性校正系数的实时修正，同时解决了由于镜头局部透过率的差异，会导致红外机芯的红外探测器的非均匀校正系统失效，从而造成红外热像仪的图像非均匀性变差；以及红外探测器的焦平面温度发生变化后，之前标定的非均匀性校正系数失效，而导致整个红外设备生成的红外图像质量变差的现象，避免用户在使用环境温度发生变化后，需要自己标定镜头的问题，有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题，提高了红外设备生成的红外图像的质量，方便用户使用，有利于提升用户的使用体验，具有好的社会经济效益。

此外，本发明实施例还针对红外热像仪的镜头标定方法提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性，所述装置具有相应的优点。

附图说明

为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种红外热像仪的镜头标定方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的红外热像仪的镜头标定装置的一种具体实施方式结构图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定的顺序。此外术语“包括”和“具有”以及他们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可包括没有列出的步骤或单元。

在介绍了本发明实施例的技术方案后，下面详细的说明本申请的各种非限制性实施方式。

首先参见图1，图1为本发明实施例提供的一种红外热像仪的镜头标定方法的流程示意图，本发明实施例可包括以下内容：

S101：获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器的探测器非均匀性校正系数。

预设温度可为常温下的任何一个温度，当然也可为其他温度，本申请对此不做任何限定。

用户在红外探测器上配用镜头后，由于镜头局部透过率的差异，会导致红外机芯的红外探测器的非均匀校正系统失效，在用户安装上镜头后，需要重新进行非均匀性校正系数的修正。

用户非均匀性校正系数为引用镜头后，红外热像仪的非均匀性校正系数。探测器非均匀性校正系数为红外探测器出厂之前的非均匀性校正系数。

探测器非均匀性校正系数为红外探测器的非均匀性校正系数，随着FPA温度的变化而变化。

S102：根据用户非均匀性校正系数与探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为红外热像仪在非预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数。

在一种具体的实施方式中，可利用下述公式，根据用户非均匀性校正系数与探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数：

式中，Gc为修正非均匀性校正系数，G为用户非均匀性校正系数，Gp为探测器非均匀性校正系数。

用户在进行镜头标定时，由于红外探测器的焦平面温度发生变化后，之前标定的非均匀性校正系数失效，而导致整个红外设备生成的红外图像质量变差的现象，需要用户在不同的温度段依次进行标定，给用户带来大大的不便，且在高低温环境进行标定，不仅设备成本高，对于用户而言，显然不太现实。

探测器非均匀性校正系数随着FPA温度的变化而变化，修正非均匀性校正系数不会随着温度的变化而变化，红外热像仪的非均匀性校正系数由于探测器非均匀性校正系数随着温度的变化而变化引起的失效。通过标定某个温度下用户非均匀性校正系数，计算得到修正非均匀性校正系数，用于在其他温度下时进行修正。由于红外机芯存有标定时FPA温度，所以不需要用户必须在某个FPA温度下标定用户非均匀性校正系数。

S103：判断红外热像仪焦平面阵列的当前温度是否在预设温度；若否(即当检测到红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为预设温度时)，则执行S104。

S104：计算红外探测器在当前温度的实时探测器非均匀性校正系数。

实时探测器非均匀性校正系数的计算过程可为：

获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据当前温度获取相对应的温度修正值；

根据第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数。

其中，第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。

第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数及实时探测器非均匀性校正系数均为矩阵，温度修正值为数值。

两点校正法在光路中插入一均匀辐射的黑体，通过各阵列元对高温和低温下的均匀黑体辐射的响应计算出校正增益和校正偏移量，从而实现非均匀校正。

第一预设温度和第二预设温度均为探测器焦平面阵列的温度，根据用户需求和具体的实际情况进行确定，本申请对此不做任何限定。

根据当前温度获取相对应的温度修正值具体可为：

根据当前温度在预建的红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为红外探测器当前温度对应的温度修正值。

红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表，温度和非均匀性校正系数一一对应，或者一个温度区域对应一个非均匀性校正系数，这均不影响本申请的实现；不同的红外探测器，红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表可能相同，也可能不同，可根据具有实际情况进行构建，预先存储在红外设备中。

可利用下述公式，根据第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为实时探测器非均匀性校正系数，GL为第一非均匀性校正系数，GH为第二非均匀性校正系数，α为温度修正值。

S105：计算实时探测器非均匀性校正系数和修正非均匀性校正系数的乘积，以作为红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

红外探测器当前温度的目的非均匀性校正系数，可为实时探测器非均匀性校正系数和修正非均匀性校正系数的乘积。

实时对红外探测器的非均匀性校正系数进行修正，有效的解决了红外探测器的焦平面温度发生变化后，之前标定的非均匀性校正系数失效，而导致整个红外设备生成的红外图像质量变差的现象。

在本发明实施例提供的技术方案中，利用红外探测器出厂时的非均匀性校正系数、以及在配用镜头之后用户标定的非均匀性校正系数，计算得到修正非均匀性校正系数，并在实际使用过程中，根据红外探测器焦平面阵列的温度的不同，实时计算红外探测器的实时探测器非均匀性校正系数，以实现对红外热像仪的非均匀性校正系数的实时修正，同时解决了由于镜头局部透过率的差异，会导致红外机芯的红外探测器的非均匀校正系统失效，从而造成红外热像仪的图像非均匀性变差；以及红外探测器的焦平面温度发生变化后，之前标定的非均匀性校正系数失效，而导致整个红外设备生成的红外图像质量变差的现象，避免用户在使用环境温度发生变化后，需要自己标定镜头的问题，有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题，提高了红外设备生成的红外图像的质量，方便用户使用，有利于提升用户的使用体验，具有好的社会经济效益。

本发明实施例还针对红外热像仪的镜头标定方法提供了相应的实现装置，进一步使得所述方法更具有实用性。下面对本发明实施例提供的红外热像仪的镜头标定装置进行介绍，下文描述的红外热像仪的镜头标定装置与上文描述的红外热像仪的镜头标定方法可相互对应参照。

参见图2，图2为本发明实施例提供的红外热像仪的镜头标定装置在一种具体实施方式下的结构图，该装置可包括：

获取信息模块201，用于获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在预设温度下的探测器非均匀性校正系数。

第一计算模块202，用于根据用户非均匀性校正系数与探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为红外热像仪在非预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数。

第二计算模块203，用于当检测到红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为预设温度时，计算红外探测器在当前温度的实时探测器非均匀性校正系数。

第三计算模块204，用于计算实时探测器非均匀性校正系数和修正非均匀性校正系数的乘积，以作为红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

可选的，在本实施例的一些实施方式中，所述第二计算模块203可包括：

获取单元，用于获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据当前温度获取相对应的温度修正值；

计算单元，用于根据第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数。

其中，第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。

在另外一些实施方式中，所述第二计算模块203还可为

根据当前温度在预建的红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为红外探测器当前温度对应的温度修正值；红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表的模块。

在其他一些实施方式中，所述第二计算模块203还可为利用下述公式，根据第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数的模块：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为实时探测器非均匀性校正系数，GL为第一非均匀性校正系数，GH为第二非均匀性校正系数，α为温度修正值。

可选的，在本实施例的另一些实施方式中，所述第一计算模块202例如还可以为利用下述公式，根据用户非均匀性校正系数与探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数的模块：

式中，Gc为修正非均匀性校正系数，G为用户非均匀性校正系数，Gp为探测器非均匀性校正系数。

本发明实施例所述红外热像仪的镜头标定装置的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例利用红外探测器出厂时的非均匀性校正系数、以及在配用镜头之后用户标定的非均匀性校正系数，计算得到修正非均匀性校正系数，并在实际使用过程中，根据红外探测器焦平面阵列的温度的不同，实时计算红外探测器的实时探测器非均匀性校正系数，以实现对红外热像仪的非均匀性校正系数的实时修正，同时解决了由于镜头局部透过率的差异，会导致红外机芯的红外探测器的非均匀校正系统失效，从而造成红外热像仪的图像非均匀性变差；以及红外探测器的焦平面温度发生变化后，之前标定的非均匀性校正系数失效，而导致整个红外设备生成的红外图像质量变差的现象，避免用户在使用环境温度发生变化后，需要自己标定镜头的问题，有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题，提高了红外设备生成的红外图像的质量，方便用户使用，有利于提升用户的使用体验，具有好的社会经济效益。

本发明实施例还提供了一种红外热像仪的镜头标定设备，可包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行计算机程序以实现如上任意一实施例所述红外热像仪的镜头标定方法的步骤。

本发明实施例所述红外热像仪的镜头标定的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题，提高了红外设备生成的红外图像的质量，方便用户使用，有利于提升用户的使用体验，具有好的社会经济效益。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有红外热像仪的镜头标定程序，所述红外热像仪的镜头标定被处理器执行时如上任意一实施例所述红外热像仪的镜头标定方法的步骤。

本发明实施例所述计算机可读存储介质的各功能模块的功能可根据上述方法实施例中红外热像仪的镜头标定方法具体实现，其具体实现过程可以参照上述方法实施例的相关描述，此处不再赘述。

由上可知，本发明实施例有效的解决了用户对红外镜头标定的需求问题，提高了红外设备生成的红外图像的质量，方便用户使用，有利于提升用户的使用体验，具有好的社会经济效益。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对应实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本发明所提供的一种红外热像仪的镜头标定方法及装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对应本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (7)

1.一种红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，包括：

获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在所述预设温度下的探测器非均匀性校正系数；

根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为所述红外热像仪在非所述预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；

当检测到所述红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为所述预设温度时，计算所述红外探测器在所述当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；

计算所述实时探测器非均匀性校正系数和所述修正非均匀性校正系数的乘积，以作为所述红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

2.根据权利要求1所述的红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，所述根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数包括：

利用下述公式，根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数：

<mrow> <mi>G</mi> <mi>c</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>G</mi> <mrow> <mi>G</mi> <mi>p</mi> </mrow> </mfrac> <mo>;</mo> </mrow>

式中，Gc为所述修正非均匀性校正系数，G为所述用户非均匀性校正系数，Gp为所述探测器非均匀性校正系数。

3.根据权利要求1所述的红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，所述计算所述红外探测器在所述当前温度下的实时探测器非均匀性校正系数包括：

获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数；

其中，所述第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，所述第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算所述红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。

4.根据权利要求3所述的红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，所述根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述当前非均匀性校正系数计算修正非均匀性校正系数包括：

利用下述公式，根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数：

Gx＝GL*α+GH*(1-α)；

式中，Gx为所述实时探测器非均匀性校正系数，GL为所述第一非均匀性校正系数，GH为所述第二非均匀性校正系数，α为所述温度修正值。

5.根据权利要求3所述的红外热像仪的镜头标定方法，其特征在于，所述根据所述当前温度获取相对应的当前非均匀性校正系数包括：

根据所述当前温度在预建的红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表中，查找相对应的非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度对应的温度修正值；

所述红外探测器焦平面阵列温度-温度修正值表为所述红外探测器焦平面阵列的温度与该温度下的非均匀性校正系数的对应关系表。

6.一种红外热像仪的镜头标定装置，其特征在于，包括：

获取信息模块，用于获取用户在预设温度下利用镜头对红外热像仪进行标定的用户非均匀性校正系数，及红外热像仪的红外探测器在所述预设温度下的探测器非均匀性校正系数；

第一计算模块，用于根据所述用户非均匀性校正系数与所述探测器非均匀性校正系数计算红外热像仪的修正非均匀性校正系数，以作为所述红外热像仪在非所述预设温度的其余温度下的非均匀性校正系数的修正系数；

第二计算模块，用于当检测到所述红外热像仪焦平面阵列的当前温度不为所述预设温度时，计算所述红外探测器在所述当前温度的实时探测器非均匀性校正系数；

第三计算模块，用于计算所述实时探测器非均匀性校正系数和所述修正非均匀性校正系数的乘积，以作为所述红外热像仪当前温度相对应的目的非均匀性校正系数。

7.根据权利要求6所述的红外热像仪的镜头标定装置，其特征在于，所述第二计算模块包括：

获取单元，用于获取第一非均匀性校正系数、第二非均匀性校正系数、及根据所述当前温度获取相对应的温度修正值；

计算单元，用于根据所述第一非均匀性校正系数、所述第二非均匀性校正系数、所述温度修正值计算实时探测器非均匀性校正系数，以作为所述红外探测器当前温度相对应的非均匀性校正系数；

其中，所述第一非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第一预设温度时的非均匀性校正系数，所述第二非均匀性校正系数为预先利用两点校正法计算所述红外探测器在红外探测器焦平面阵列的第二预设温度时的非均匀性校正系数。