CN107769869A - 多信号无源互调测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种多信号无源互调测试系统,包括:第一信号源、第二信号源、功率放大电路、第一信号选通电路、第二信号选通电路、第一双工器、第二双工器、接收机和控制电路;第一信号源产生第一信号发送至第一GaN功率放大管,第二信号源产生第二信号发送至第二GaN功率放大管,第一GaN功率放大管将第一信号进行功率放大后发送至第一信号选通电路,第二GaN功率放大管将第二信号进行功率放大后发送至第一信号选通电路;第一信号选通电路对放大后的第一信号和第二信号进行合成,将合成信号通过第一双工器发送至待测设备;第二信号选通电路通过第二双工器接收待测设备产生的互调信号,将所述互调信号发送至接收机;控制电路从接收机获取互调信号进行测试。
Description
技术领域
本发明涉及信号处理技术领域,特别是涉及一种多信号无源互调测试系统。
背景技术
随着无线移动通信的飞速发展,运营商同时拥有了2G、3G和4G的网络,尤其是DAS(Distributed Access System Solution,分布式天线系统)、MDAS(MultiserviceDistributed Access System Solution,多业务分布系统)、POI(Point of Interface,多系统合路平台)、轨道专网和铁塔等多路分布系统组网方式的应用,各系统频段、制式各不相同。多信号间无源互调调制的情况复杂,互调干扰成了困扰基站、多路分布系统共建共享的技术难题。例如滤波器、合路器、功分器、滤波器、耦合器、电缆和天线等无源器件通常被当作线性器件,但当用大功率信号激励时也会产生非线性,非线性的线性函数关系符合有源器件的数学函数表达式。因此,运营商、设备厂家及无源器件生产厂家对通信产品的“无源互调”指标要求越来越高,无源互调测试仪已成为相关厂商生产测试和工程测试的必备检测仪器。
然而,传统的无源互调测试仪只适用于单频段的互调测试。对应多频信段号测试,相应的测试系统需要由“单频段测试仪”进行“机柜式”相关组合,使上述多频段信号测试的过程复杂,耗费成本高。
发明内容
基于此,有必要针对传统多信号无源互调的多频段测试过程复杂,耗费成本高的技术问题,提供一种多信号无源互调测试系统。
一种多信号无源互调测试系统,包括:第一信号源、第二信号源、功率放大电路、第一信号选通电路、第二信号选通电路、第一双工器、第二双工器、接收机和控制电路;
所述第一信号源和第二信号源分别连接所述功率放大电路的输入端;所述功率放大电路的输出端依次通过第一信号选通电路和第一双工器连接待测设备;所述待测设备依次通过第二双工器和第二信号选通电路连接接收机;所述接收机连接控制电路;其中,所述功率放大电路包括第一GaN功率放大管和第二GaN功率放大管;所述第一GaN功率放大管的输入端连接第一信号源,第一GaN功率放大管的输出端连接第一信号选通电路;所述第二GaN功率放大管的输入端连接第二信号源,第二GaN功率放大管的输出端连接第一信号选通电路;
所述第一信号选通电路和第二信号选通电路分别具有多个信号通道,其中,所述第一信号选通电路的信号通道与所述第二信号选通电路的信号通道一一对应。
上述多信号无源互调测试系统,采用第一GaN功率放大管和第二GaN功率放大管分别进行不同频点的信号功率放大,放大后的信号可以经过具有多个信号通道的第一信号选通电路合成后,传输至相应第一双工器,进而传输至相应的待测设备,上述待测设备产生的互调信号通过第二双工器由第二信号选通电路依次传输至接收机和控制电路,在控制电路中进行测试;上述第一GaN功率放大管和第二GaN功率放大管以GaN这一材料宽禁带、高效率、高功率密度和高可靠性的技术优点使相应的功率放大管可以具备超宽带、小型化、高效率和高可靠性的信号功率放大优势,可以对较宽频段内的信号进行放大,放大后的信号可以由多通道信号选通电路进行相应的合成和接通,使相应的多信号无源互调测试系统可以实现对第一信号源和第二信号源产生的多频段信号的准确测试,简化了多频段信号的测试过程,有效降低了相应的测试成本。
附图说明
图1为一个实施例的多信号无源互调测试系统结构示意图;
图2为一个实施例的第一信号选通电路结构示意图;
图3为一个实施例的第一信号选通电路结构示意图;
图4为一个实施例的多信号无源互调测试系统结构示意图;
图5为一个实施例的多信号无源互调测试系统结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明提供的多信号无源互调测试系统的具体实施方式进行详细阐述。
参考图1,图1所示为一个实施例的多信号无源互调测试系统结构示意图,包括:第一信号源11、第二信号源12、功率放大电路20、第一信号选通电路30、第二信号选通电路45、第一双工器41、第二双工器43、接收机47和控制电路49;
所述第一信号源11和第二信号源12分别连接所述功率放大电路20的输入端;所述功率放大电路20的输出端依次通过第一信号选通电路30和第一双工器41连接待测设备42,其中,功率放大电路20的输出端连接第一信号选通电路30的输入端,第一信号选通电路30的输出端通过第一双工器41连接待测设备42;所述待测设备42依次通过第二双工器43和第二信号选通电路45连接接收机47,其中,上述待测设备42通过第二双工器43连接第二信号选通电路45的任一信号通道,所述第二信号选通电路45连接接收机47;所述接收机47连接控制电路49;其中,所述功率放大电路20包括第一GaN(氮化镓)功率放大管21和第二GaN功率放大管22;所述第一GaN功率放大管21的输入端连接第一信号源11,第一GaN功率放大管21的输出端连接第一信号选通电路30;所述第二GaN功率放大管22的输入端连接第二信号源12,第二GaN功率放大管22的输出端连接第一信号选通电路30;
所述第一信号选通电路30和第二信号选通电路45分别具有多个信号通道,其中,第一信号选通电路30的信号通道与所述第二信号选通电路45的信号通道一一对应。
本实施例提供的多信号无源互调测试系统,采用第一GaN功率放大管21和第二GaN功率放大管22分别进行不同频点的信号功率放大,放大后的信号可以经过具有多个信号通道的第一信号选通电路30合成后,传输至相应第一双工器41,进而传输至相应的待测设备42,上述待测设备42产生的互调信号通过第二双工器43由第二信号选通电路45依次传输至接收机47和控制电路49,在控制电路49中进行测试;上述第一GaN功率放大管21和第二GaN功率放大管22以GaN这一材料的宽禁带、高效率、高功率密度和高可靠性的技术优点使相应的功率放大管可以具备超宽带、小型化、高效率和高可靠性的信号功率放大优势,可以对较宽频段内的信号进行放大,放大后的信号可以由多通道信号选通电路进行相应的合成和接通,使相应的多信号无源互调测试系统可以实现对第一信号源和第二信号源产生的多频段信号的准确测试,简化了多频段信号的测试过程,有效降低了相应的测试成本。
在一个实施例中,如图1所示,上述第一信号源11产生第一信号发送至第一GaN功率放大管21,所述第二信号源12产生频点不同于所述第一信号的第二信号发送至第二GaN功率放大管22,所述第一GaN功率放大管21将第一信号进行功率放大后发送至第一信号选通电路30,所述第二GaN功率放大管22将第二信号进行功率放大后发送至第一信号选通电路30;所述第一信号选通电路30对放大后的第一信号和第二信号进行合成,得到合成信号,并将所述合成信号通过所述第一双工器41发送至待测设备42;
所述第二信号选通电路45通过第二双工器43接收待测设备42依据所述合成信号产生的互调信号,将所述互调信号发送至接收机47;所述控制电路49从接收机47获取互调信号进行测试。
本实施例提供的多信号无源互调测试系统中,可以采用第一GaN功率放大管21和第二GaN功率放大管22对不同频点的信号功率进行放大,使放大后的信号可以经过具有多个信号通道的第一信号选通电路30合成,再依次传输至第一双工器41以及相应的待测设备42,上述待测设备42产生的互调信号通过第二双工器43由第二信号选通电路45依次传输至接收机47和控制电路49,在控制电路49中进行测试;这样,上述多信号无源互调测试系统便可以实现对第一信号源和第二信号源产生的多频段信号的准确测试,有效简化了多频段信号的测试过程,降低了相应的测试成本。
在一个实施例中,如图2所示,上述第一信号选通电路30包括第一合路器31和第一射频开关矩阵32;
所述第一合路器31的输入端分别连接所述第一GaN功率放大管21的输出端和第二GaN功率放大管22的输出端,所述第一合路器31的输出端通过所述第一射频开关矩阵32连接所述第一双工器41。
上述第一射频开关矩阵32包括多个不同频段的信号通道,每个信号通道分别对应一个信号端口,上述各个信号端口可以通过不同的第一双工器连接待测设备。上述第一射频开关矩阵32的信号通道根据第一信号和第二信号所在的频点进行选通,当第一信号和第二信号中的一个或者两个的频点发生改变时,上述信号通道需要进行相应的切换。
如图2所示,作为一个实施例,上述第一信号选通电路30还可以包括多个第一滤波器33;所述第一滤波器33与第一射频开关矩阵32的各个端口一一对应;所述第一射频开关矩阵32的各个端口分别通过一个第一滤波器连接第一双工器41。
作为一个实施例,上述第一滤波器33为低互调滤波器。
本实施例利用第一滤波器33对第一射频开关矩阵32的输出信号进行滤波处理,可以提高输入第一双工器41中相应信号的信噪比。
作为一个实施例,上述第一合路器31可以为宽带合路器。
由于上述功率放大电路20可以对更宽频段内的信号进行放大,使输入第一合路器31的第一信号和第二信号的频段变宽,采用宽带合路器对相应上述放大后的第一信号和第二信号进行合路处理,可以保证上述第一信号和第二信号的合路效果。
参考图3,图3所示为一个实施例的第一信号选通电路结构示意图,上述第一信号选通电路30包括第二射频开关矩阵35、第三射频开关矩阵36、第二合路器37和第三合路器38;
所述第二射频开关矩阵35的输入端连接所述第一GaN功率放大管21的输出端,第二射频开关矩阵35的输出端分别连接所述第二合路器37的输入端和第三合路器38的输入端,所述第三射频开关矩阵36的输入端连接所述第二GaN功率放大管22的输出端,第三射频开关矩阵36的输出端分别连接所述第二合路器37的输入端和第三合路器38的输入端;所述第二合路器37的输出端和第三合路器38的输出端分别连接第一双工器41。
作为一个实施例,上述第一信号选通电路30还可以包括多个第二滤波器;一个第二滤波器分别对应于第二射频开关矩阵的一个端口或者第三射频开关矩阵的一个端口,所述第二射频开关矩阵的各端口分别通过一个第二滤波器连接第二合路器和第三合路器,所述第三射频开关矩阵的各端口分别通过一个第二滤波器连接第二合路器和第三合路器。
本实施例将射频开关矩阵设置在相关合路器的输入端,进而可以在上述射频开关矩阵和合路器之间设置滤波器,在射频开关矩阵相应的信号通道接通后,第二射频开关矩阵35和第三射频开关矩阵36输出的信号经过第二滤波器滤波再输入上述第二合路器37和第三合路器38,在保证其中的第一信号和第二信号高信噪比的基础上,还可以降低对所接入的滤波器的相关要求,以普通滤波器实现低互调滤波器的滤波效果。
在一个实施例中,上述第二信号选通电路45可以包括第四射频开关矩阵;
所述第四射频开关矩阵连接在所述第二双工器与接收机之间。
本实施例中,第二信号选通电路中的第四射频开关矩阵与第一信号选通电路30中的射频开关矩阵的信号通道一一对应。若上述第一信号选通电路30包括第一射频开关矩阵32,则第一射频开关矩阵32的任意一个信号通道均在第四射频开关矩阵中对应一个信号通道。若上述第一信号选通电路30包括第二射频开关矩阵35和第三射频开关矩阵36,则上述第二射频开关矩阵35和第三射频开关矩阵36的输出信号进行合路,由第一双工器传输至待测设备,待测设备输出的各频段信号均能被上述第四射频开关矩阵接通。
在一个实施例中,上述功率放大电路20还可以包括第一定向耦合器和第二定向耦合器;
所述第一定向耦合器连接在第一GaN功率放大管21的输出端与第一信号选通电路30之间,所述第二定向耦合器连接在第二GaN功率放大管22的输出端与第一信号选通电路30之间,所述第一定向耦合器和第二定向耦合器还分别连接控制电路49;
所述第一定向耦合器用于耦合第一GaN功率放大管21放大后的第一信号,并将耦合所得的第一信号分量发送至控制电路49,所述第二定向耦合器用于耦合第二GaN功率放大管22放大后的第二信号,并将耦合所得的第二信号分量发送至控制电路49。
上述第一定向耦合器可以将第一信号进行耦合,得到相应的第一信号分量发送至控制电路49,控制电路49可以利用上述第一信号分量对后续的互调信号进行测试;上述第二定向耦合器可以将第二信号进行耦合,得到相应的第二信号分量发送至控制电路49,控制电路49可以利用上述第二信号分量对后续的互调信号进行测试;以保证互调信号测试的准确性。
在一个实施例中,上述控制电路可以包括FPGA(Field-Programmable GateArray,现场可编程逻辑门阵列电路)。
本实施例采用FPGA电路高速计算其他处理设备(如DSP等)难以识别或者处理的低互调信号,保证了测试的准确性。相对于传统应用DSP(Digital Signal Processing,数字信号处理)的控制电路(对采样信号不能实时处理,并且是串行处理),FPGA可比喻成一张白纸,可以由相关工作人员根据测试需求根据产品需要自由发挥编程能力,做到与产品需求匹配,编程自由灵活,对采样信号实时处理,对多路信号实现并行处理。本实施例中的控制电路还可以采用MCU(Microcontroller Unit,微控制单元)加FPGA的方案,利用MCU处理软件程序处理功能,根据“多频段任意组合产生的互调所落入的频段”逻辑关系进行软件编程,实现“任意不同频段组合产生的无源互调所分配的频段”信号通道的自适应选择射频开关切换。FPGA可以发挥其对产品需求的灵活编程、实时对多路采样信号并行处理的优点,来实现DSP无法实现的高速处理方式。实时的采样信号处理,可以提高相应无源互调测试系统的精度和准确性。
在一个实施例中,上述接收机可以为宽带数字接收机。上述宽带数字接收机通常可以在通信频段700MHz(兆赫兹)~2.7GHz(千兆赫兹)处理-135dBm(分贝毫瓦)的射频信号。
由于第一信号选通电路所包括的射频开关矩阵是多端口器件,为了实现超宽频的不同频段组合出来的无源互调信号测试,就需要计算多种频段的不同组合,其无源互调信号所落入的频段,根据上述多个频段的逻辑关系进行编程,结合系统的测试流程,综合编写软件控制程序,窄带无源测试系统由于测试端口少、待测器件少,而难以实现多频段无源信号的测试。本实施例采用超宽频段、多频、测试端口多的宽带数字接收机,可以提高相应的测试效率。
在一个实施例中,上述控制电路还用于对互调信号的测试结果进行显示。
上述控制电路可以设置显示的GUI界面(Graphical User Interface,图形用户界面)实现相应测试结果的显示。上述GUI界面可以采用LabVIEW开发环境设计,采用WindowsXP操作系统运行。
在一个实施例中,上述第一信号源11和第二信号源12可以分别采用高稳态、低杂散、低相噪的宽频信号发生器。上述第一信号源11和第一GaN功率放大管21之间还可以连接第一增益调节电路,以实现对第一信号的温补、功率调节等控制;上述第二信号源12和第二GaN功率放大管22之间还可以连接第二增益调节电路,以实现对第二信号的温补、功率调节等控制。上述第四射频开关矩阵和接收机47之间还可以分别设置第三滤波器和放大器,即第四射频开关矩阵通过滤波器连接放大器,放大器的输出端连接接收机47;这样,第四射频开关矩阵接通的互调信号可以经过滤波和放大后,再传输至相应的接收机47,可以提高接收机获取的互调信号的信号质量。
参考图4所示,图4为一个优选实施例的多信号无源互调测试系统结构示意图,如图4所示,上述多信号无源互调测试系统中,宽带信号发生器F1和F2产生两个载波信号或Sweep扫频信号分别经过各自链路的ATT自适应控制的增益调节电路,其中,宽带信号发生器F1通过第一增益调节电路ATT1连接第一GaN功率放大管PA1,宽带信号发生器F2通过第二增益调节电路ATT2连接第二GaN功率放大管PA2;上述增益调节电路分别对第一信号和第二信号进行相应的增益调节后,再将调节后的第一信号和第二信号分别发送至功率放大电路,第一增益调节电路ATT1将第一信号发送至第一GaN功率放大管,第二增益调节电路ATT2将第二信号发送至第二GaN功率放大管。功率放大电路输出大功率信号,经第一定向耦合器60和第二定向耦合器61进行信号取样,取样信号再经过功率检测和AD模数转换(图中未示出)送给FPGA进行信号处理,实现高精度功率检测。经过耦合器的前向主信号在宽带合路器62处进行异频功率合成,宽带合路器62的隔离端O1和输出端O2有相等的功率输出,因此合路器62的隔离端O1需接适当功率容量的功率负载71。合成后的信号送至大功率单刀多掷射频开关组K1(第一射频开关矩阵),经单刀多掷射频开关组K1的切换实现频段的选择和组合,合成信号进入低互调滤波器进行对带外(尤其是对上行频段)杂散或低噪进行抑制。然后滤波后的合成信号送入所选择频段的低互调双工器(第一双工器)的下行TX,通过第一双工器进一步对带外(尤其是对上行频段)杂散或低噪进行抑制。最后信号由A0至An端口中的某端口输出进入待测件(待测设备)。如果测试反射无源互调信号,则反射无源互调信号经一个相同的双工器(第二双工器)的上行RX送到小功率单刀多掷射频开关组K2(第四射频开关矩阵),经小功率单刀多掷射频开关组K2的切换接通接收机链路,送给滤波器(第三滤波器65)滤波后再经低噪声放大器LNA(放大器64)进行放大送给接收机63处理,将处理后互调测试值经FPGA66和MCU67控制,在GUI界面进行显示。同理,如果测试传输无源互调信号,则由An输出的信号通过待测件后,输出信号再输入到Bn端口的低互调双工器ANT端口,经双工器上行RX输出到射频开关组K2,经K2的切换接通接收机链路,送给滤波器滤波后再经LNA进行放大送给接收机处理,将处理后互调测试值经FPGA和MCU控制,在GUI界面进行显示。
在另外一个实施例中,上述多信号无源互调测试系统可以如图5所示,图5所示的多信号无源互调测试系统将多个滤波器(包括多个第四滤波器70)分别设置在第三合路器68和第四合路器69之前,相对于将滤波器设置在相应合路器之后的实施例,滤波器数量增加一倍,却对互调可以降低要求,因此在本实施例中,可以采用通用的滤波器。本实施例中,还需增加一组射频开关,增加一个合路器,即将第二射频开关矩阵K3的输入端连接所述第一定向耦合器60的输出端,第二射频开关矩阵K3的输出端分别通过相应的第四滤波器连接所述第二合路器68的输入端和第三合路器69的输入端,所述第三射频开关矩阵K4的输入端连接所述第二定向耦合器61的输出端,第三射频开关矩阵K4的输出端分别通过相应的第四滤波器连接所述第二合路器68的输入端和第三合路器69的输入端;所述第二合路器68的输出端和第三合路器69的输出端分别连接第一双工器。本实施例所采用的合路器(如第二合路器68和第三合路器69)不要求必须是宽带合路器,成本低。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (13)
1.一种多信号无源互调测试系统,其特征在于,包括:第一信号源、第二信号源、功率放大电路、第一信号选通电路、第二信号选通电路、第一双工器、第二双工器、接收机和控制电路;
所述第一信号源和第二信号源分别连接所述功率放大电路的输入端;所述功率放大电路的输出端依次通过第一信号选通电路和第一双工器连接待测设备;所述待测设备依次通过第二双工器和第二信号选通电路连接接收机;所述接收机连接控制电路;其中,所述功率放大电路包括第一GaN功率放大管和第二GaN功率放大管;所述第一GaN功率放大管的输入端连接第一信号源,第一GaN功率放大管的输出端连接第一信号选通电路;所述第二GaN功率放大管的输入端连接第二信号源,第二GaN功率放大管的输出端连接第一信号选通电路;
所述第一信号选通电路和第二信号选通电路分别具有多个信号通道,其中,所述第一信号选通电路的信号通道与所述第二信号选通电路的信号通道一一对应。
2.根据权利要求1所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一信号源产生第一信号发送至第一GaN功率放大管,所述第二信号源产生频点不同于所述第一信号的第二信号发送至第二GaN功率放大管,所述第一GaN功率放大管将第一信号进行功率放大后发送至第一信号选通电路,所述第二GaN功率放大管将第二信号进行功率放大后发送至第一信号选通电路;所述第一信号选通电路对放大后的第一信号和第二信号进行合成,得到合成信号,并将所述合成信号通过所述第一双工器发送至待测设备;
所述第二信号选通电路通过第二双工器接收待测设备依据所述合成信号产生的互调信号,将所述互调信号发送至接收机;所述控制电路从接收机获取互调信号进行测试。
3.根据权利要求1所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一信号选通电路包括第一合路器和第一射频开关矩阵;
所述第一合路器的输入端分别连接所述第一GaN功率放大管的输出端和第二GaN功率放大管的输出端,所述第一合路器的输出端通过所述第一射频开关矩阵连接所述第一双工器。
4.根据权利要求3所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一信号选通电路还包括多个第一滤波器;所述第一滤波器与第一射频开关矩阵的各个端口一一对应;所述第一射频开关矩阵的各个端口分别通过一个第一滤波器连接第一双工器。
5.根据权利要求4所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一滤波器为低互调滤波器。
6.根据权利要求3所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一合路器为宽带合路器。
7.根据权利要求1所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一信号选通电路包括第二射频开关矩阵、第三射频开关矩阵、第二合路器和第三合路器;
所述第二射频开关矩阵的输入端连接所述第一GaN功率放大管的输出端,第二射频开关矩阵的输出端分别连接所述第二合路器的输入端和第三合路器的输入端,所述第三射频开关矩阵的输入端连接所述第二GaN功率放大管的输出端,第三射频开关矩阵的输出端分别连接所述第二合路器的输入端和第三合路器的输入端;所述第二合路器的输出端和第三合路器的输出端分别连接第一双工器。
8.根据权利要求7所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第一信号选通电路还包括多个第二滤波器;一个第二滤波器分别对应于第二射频开关矩阵的一个端口或者第三射频开关矩阵的一个端口,所述第二射频开关矩阵的各端口分别通过一个第二滤波器连接第二合路器和第三合路器,所述第三射频开关矩阵的各端口分别通过一个第二滤波器连接第二合路器和第三合路器。
9.根据权利要求1至8任一项所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述第二信号选通电路包括第四射频开关矩阵;
所述第四射频开关矩阵连接在所述第二双工器与接收机之间。
10.根据权利要求1至8任一项所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述功率放大电路还包括第一定向耦合器和第二定向耦合器;
所述第一定向耦合器连接在第一GaN功率放大管的输出端与第一信号选通电路之间,所述第二定向耦合器连接在第二GaN功率放大管的输出端与第一信号选通电路之间,所述第一定向耦合器和第二定向耦合器还分别连接控制电路;
所述第一定向耦合器用于耦合第一GaN功率放大管放大后的第一信号,并将耦合所得的第一信号分量发送至控制电路,所述第二定向耦合器用于耦合第二GaN功率放大管放大后的第二信号,并将耦合所得的第二信号分量发送至控制电路。
11.根据权利要求1至8任一项所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述控制电路包括现场可编程逻辑门阵列电路。
12.根据权利要求1至8任一项所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述接收机为宽带数字接收机。
13.根据权利要求1至8任一项所述的多信号无源互调测试系统,其特征在于,所述控制电路还用于对互调信号的测试结果进行显示。
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