CN107703366B

CN107703366B - 确定电子设备环境电容升高的原因的方法及系统

Info

Publication number: CN107703366B
Application number: CN201710816102.4A
Authority: CN
Inventors: 夏炎; 许玉玲
Original assignee: Lenovo Beijing Ltd
Current assignee: Lenovo Beijing Ltd
Priority date: 2017-09-11
Filing date: 2017-09-11
Publication date: 2020-06-23
Anticipated expiration: 2037-09-11
Also published as: CN107703366A

Abstract

本公开提供了一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法，所述电子设备包括旋转连接的第一本体和第二本体，该方法包括：当检测到环境电容升高时，检测所述第一本体与所述第二本体的夹角；以及当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因。本公开还提供了一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统。

Description

确定电子设备环境电容升高的原因的方法及系统

技术领域

本公开涉及一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法及系统。

背景技术

使用无线通信的电子设备一般通过发射/接收电磁波实现与外部设备的通信。为了减小电磁波对人体的影响，可以通过电容传感器配合天线检测环境电容，并根据检测结果来控制电磁波的发射/接收功率。当人体接近天线时，电容传感器检测到的环境电容值升高，此时，相应地降低电磁波的发射/接收功率，可以有效地减小电磁波对人体的影响。

发明内容

本公开的一个方面提供了一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法，所述电子设备包括旋转连接的第一本体和第二本体，该方法包括：当检测到环境电容升高时，检测所述第一本体与所述第二本体的夹角；以及当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因。

可选地，所述夹角满足预设条件包括所述第一本体与所述第二本体的夹角在90度到180度的范围内变化；或者所述第一本体与所述第二本体的夹角在270度到360度的范围内变化。

可选地，当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因包括：所述第一本体与所述第二本体的夹角在90度到180度的范围内变化时，确定所述环境电容升高源于第一影响因素。

可选地，当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因还包括当所述第一本体与所述第二本体的夹角在270度到360度的范围内变化时，确定所述环境电容升高源于第一影响因素。

可选地，所述电子设备还包括电容传感器，用于检测所述环境电容的电容值；以及当确定所述环境电容升高源于第一影响因素时，所述方法还包括：重置所述电容传感器检测到的环境电容的电容值。

本公开的另一个方面提供了一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统，所述电子设备包括旋转连接的第一本体和第二本体，该系统包括：检测模块，用于当检测到环境电容升高时，检测所述第一本体与所述第二本体的夹角；以及确定模块，用于当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因。

可选地，所述电子设备还包括电容传感器，用于检测所述环境电容的电容值；以及当确定所述环境电容升高源于第一影响因素时，所述系统还包括：重置模块，用于重置所述电容传感器检测到的环境电容的电容值。

本公开的另一方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；以及一个或多个存储器，存储有可执行指令，所述指令在被处理器执行时，使得处理器执行时用于实现如上所述的方法。

本公开的另一方面提供了一种非易失性存储介质，存储有计算机可执行指令，所述指令在被执行时用于实现如上所述的方法。

本公开的另一方面提供了一种计算机程序，所述计算机程序包括计算机可执行指令，所述指令在被执行时用于实现如上所述的方法。

附图说明

为了更完整地理解本公开及其优势，现在将参考结合附图的以下描述，其中：

图1A～图1C示意性示出了能够应用根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法的电子设备；

图2示意性示出了根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法的流程图；

图3示意性示出了根据本公开另一实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法的流程图；

图4示意性示出了根据本公开另一实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法的流程图；

图5示意性示出了根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统的框图；

图6示意性示出了根据本公开另一实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统的框图；以及

图7示意性示出了根据本公开实施例的电子设备的框图。

具体实施方式

以下，将参照附图来描述本公开的实施例。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本公开的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本公开的概念。

在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本公开。这里使用的词语“一”、“一个(种)”和“该”等也应包括“多个”、“多种”的意思，除非上下文另外明确指出。此外，在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征、步骤、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、步骤、操作或部件。

在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义。应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释。

在使用类似于“A、B和C等中至少一个”这样的表述的情况下，一般来说应该按照本领域技术人员通常理解该表述的含义来予以解释(例如，“具有A、B和C中至少一个的系统”应包括但不限于单独具有A、单独具有B、单独具有C、具有A和B、具有A和C、具有B和C、和/或具有A、B、C的系统等)。在使用类似于“A、B或C等中至少一个”这样的表述的情况下，一般来说应该按照本领域技术人员通常理解该表述的含义来予以解释(例如，“具有A、B或C中至少一个的系统”应包括但不限于单独具有A、单独具有B、单独具有C、具有A和B、具有A和C、具有B和C、和/或具有A、B、C的系统等)。本领域技术人员还应理解，实质上任意表示两个或更多可选项目的转折连词和/或短语，无论是在说明书、权利要求书还是附图中，都应被理解为给出了包括这些项目之一、这些项目任一方、或两个项目的可能性。例如，短语“A或B”应当被理解为包括“A”或“B”、或“A和B”的可能性。

附图中示出了一些方框图和/或流程图。应理解，方框图和/或流程图中的一些方框或其组合可以由计算机程序指令来实现。这些计算机程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，从而这些指令在由该处理器执行时可以创建用于实现这些方框图和/或流程图中所说明的功能/操作的装置。

因此，本公开的技术可以硬件和/或软件(包括固件、微代码等)的形式来实现。另外，本公开的技术可以采取存储有指令的计算机可读介质上的计算机程序产品的形式，该计算机程序产品可供指令执行系统使用或者结合指令执行系统使用。在本公开的上下文中，计算机可读介质可以是能够包含、存储、传送、传播或传输指令的任意介质。例如，计算机可读介质可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外或半导体系统、装置、器件或传播介质。计算机可读介质的具体示例包括：磁存储装置，如磁带或硬盘(HDD)；光存储装置，如光盘(CD-ROM)；存储器，如随机存取存储器(RAM)或闪存；和/或有线/无线通信链路。

在实现本发明构思的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：天线一般设置在电子设备的转轴内部，当转轴转动时，天线与转轴外表面间距产生变化引起环境电容的电容值升高，造成有人体靠近天线的假象。此时，如果降低无线发射/接收功率，则会影响用户的上网速度，降低用户体验。

本公开的实施例提供了一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法，电子设备包括旋转连接的第一本体和第二本体，该方法包括：当检测到环境电容升高时，检测第一本体与第二本体的夹角；以及当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因。

图1A～图1C示意性示出了能够应用根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法的电子设备100。

如图1A～图1C所示，电子设备100包括旋转连接的第一本体110和第二本体120。在本实施中第一本体110和第二本体120例如可以是通过转轴130相连，在转轴130内部设置有天线，用于检测环境电容的变化。根据本公开的实施例，电子设备100还包括电容传感器(图中未示出)，用于通过天线检测环境电容的变化，当检测到的环境电容值大于一定阈值时，可以使得无线通信芯片(例如WIFI和/或LTE芯片)的功率降低。

根据本公开的实施例，电子设备100例如可以是笔记本电脑、膝上型便携式电脑等等，但不限于此。

当通过天线检测到环境电容升高时，检测第一本体110与第二本体120的夹角，当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因。根据本公开的实施例，当确定环境电容升高源于第一影响因素时，重置电容传感器检测到的环境电容的电容值。例如，当确定环境电容升高源于第一影响因素时，可以将电容传感器检测到的环境电容的电容值重置为一低于上述阈值的较低值或0，以避免不适当地降低无线通信芯片的功率。

第一影响因素例如可以包括环境电容升高是由第一本体110与第二本体120的夹角在0度到90度的范围内减小而导致的(如图1A所示)、或者由第一本体110与第二本体120的夹角在90度到180度的范围内变化(如图1B所示，例如，在90度到180度的范围内增大或在180度到90度的范围内减小)而导致的、或者由第一本体110与第二本体120的夹角在270度到360度的范围内变化(如图1C所示，例如，在270度到360度的范围内增大或在270度到360度的范围内减小)而导致的。

图2示意性示出了根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法的流程图。

根据本公开的实施例，电子设备100包括旋转连接的第一本体110和第二本体120。在本实施中第一本体110和第二本体120例如可以是通过转轴130相连。第一本体110可以是电子设备100的显示单元(例如，显示屏幕)，第二本体120可以是电子设备100的操作单元(例如，键盘)。

如图2所示，该方法包括操作S201和操作S202。

在操作S201，当检测到环境电容升高时，检测第一本体110与第二本体120的夹角。

在操作S202，当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因。

根据本公开的实施例，环境电容可以是通过电容传感器配合转轴130内设置的天线检测得到的，当检测到环境电容升高时，可以通过重力传感器检测第一本体110与第二本体120的夹角，当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因。例如，该原因不是由于人体接近电子设备100而导致环境电容升高的，在这种情况下，可以将电容传感器检测到的环境电容的电容值重置为一较低值或者将电容传感器的环境电容的电容值置0，以避免不适当地降低无线通信芯片的功率。

根据本公开的实施例，上述第一本体110与第二本体120的夹角满足预设条件可以包括第一本体110与第二本体120的夹角在90度到180度的范围内变化(例如，在90度到180度的范围内增大或在180度到90度的范围内减小)，还可以包括第一本体110与第二本体120的夹角270度到360度的范围内变化(例如，在270度到360度的范围内增大或在270度到360度的范围内减小)。

另外，上述第一本体110与第二本体120的夹角满足预设条件还可以包括第一本体110与第二本体120的夹角在0度到90度的范围内减小。

当第一本体110与第二本体120的夹角是在0度到90度之间的范围内增大时，其会引起环境电容的电容值减小，在这种情况下，如果检测到的环境电容值增大，则不是由于第一本体与第二本体相对彼此转动而引起的，因此不需要重置电容传感器检测到的环境电容值。当第一本体110与第二本体120的夹角是在0度到90度之间的范围内减小时，检测到的环境电容的电容值增大，在这种情况下，可以重置电容传感器检测到的环境电容值，例如可以将电容传感器检测到的环境电容的电容值重置为一较低值或0，以避免不适当地降低无线通信芯片的功率。但是，一般情况下，第一本体110与第二本体120的夹角在0度到90度之间的范围内减小是由于用户闭合电子设备而导致的，此时用户不会继续使用电子设备，因此也可以不重置电容传感器检测到的环境电容值。

下面参考图3和图4对第一本体110与第二本体120的夹角的预设条件进一步说明。

如图3所示，基于图2的实施例的基础上述方法包括：

在操作S301，当第一本体110与第二本体120的夹角在90度到180度的范围内变化时，确定环境电容升高源于第一影响。

根据本公开的实施例，当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因包括当第一本体110与第二本体120的夹角在90度到180度的范围内变化(例如，在90度到180度的范围内增大或在180度到90度的范围内减小)时，确定环境电容升高源于第一影响因素。该第一影响因素例如可以是由第一本体110与第二本体120的夹角在90度到180度的范围内变化(例如，在90度到180度的范围内增大或在90度到180度的范围内减小)而导致环境电容升高。在这种情况下，可以将电容传感器检测到的环境电容的电容值重置为一较低值或者将电容传感器的环境电容的电容值置0，以避免不适当地降低无线通信芯片的功率。

如图4所示，基于图2的实施例的基础上述方法包括：

在操作S401，当第一本体110与第二本体120的夹角在270度到360度的范围内变化时，确定环境电容升高源于第一影响。

根据本公开的实施例，当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因包括当第一本体110与第二本体120的夹角在270度到360度的范围内变化(例如，在270度到360度的范围内增大或在270度到360度的范围内减小)时，确定环境电容升高源于第一影响因素。该第一影响因素例如可以是由第一本体110与第二本体120的夹角在270度到360度的范围内变化(例如，在270度到360度的范围内增大或在270度到360度的范围内减小)而导致环境电容升高的，而不是由于人体靠近电子设备而导致环境电容升高的。在这种情况下，可以将电容传感器检测到的环境电容的电容值重置为一较低值或者将电容传感器的环境电容的电容值置0，以避免不适当地降低无线通信芯片的功率。

根据本公开的实施例，第一影响因素例如可以包括由第一本体110与第二本体120的夹角在0度到90度的范围内减小而导致环境电容升高的(如图1A所示)、或者由第一本体110与第二本体120的夹角在90度到180度的范围内变化(如图1B所示，例如，在90度到180度的范围内增大或在180度到90度的范围内减小)而导致环境电容升高的、或者第一本体110与第二本体120的夹角在270度到360度的范围内变化(如图1C所示，例如，在270度到360度的范围内增大或在270度到360度的范围内减小)而导致环境电容升高的。

根据本公开的实施例，上述电子设备100还包括电容传感器，用于检测所述环境电容的电容值。

根据本公开的实施例，上述方法还包括当确定环境电容升高源于第一影响因素时，重置电容传感器检测到的环境电容的电容值。

根据本公开的实施例，当确定环境电容升高源于第一影响因素时，重置电容传感器检测到的环境电容的电容值。例如，可以将电容传感器检测到的环境电容的电容值重置为一较低值或者将电容传感器的环境电容的电容值置0，以避免不适当地降低无线通信芯片的功率。

图5示意性示出了根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统的框图。

如图5所示，系统500包括检测模块510和确定模块520。该系统500可以执行上面参考图2～图4描述的方法，以实现确定电子设备100环境电容升高的原因。

具体地，检测模块510，用于当检测到环境电容升高时，检测第一本体110与第二本体120的夹角。

确定模块520，用于当夹角满足预设条件时，确定环境电容升高的原因。

根据本公开的实施例，有关检测模块510和确定模块520的具体实施过程与上述方法的操作过程相同或相似，可以参见上面参考图2～图4的描述，这里不再重复。

图6示意性示出了根据本公开实施例的用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统的框图。

根据本公开的实施例，上述电子设备100还包括电容传感器，用于检测环境电容的电容值。

如图6所示，系统600包括检测模块510、确定模块520、以及重置模块610。

重置模块610，用于重置上述电容传感器检测到的环境电容的电容值。

可以理解的是，检测模块510、确定模块520、以及重置模块610可以合并在一个模块中实现，或者其中的任意一个模块可以被拆分成多个模块。或者，这些模块中的一个或多个模块的至少部分功能可以与其他模块的至少部分功能相结合，并在一个模块中实现。根据本发明的实施例，检测模块510、确定模块520、以及重置模块610中的至少一个可以至少被部分地实现为硬件电路，例如现场可编程门阵列(FPGA)、可编程逻辑阵列(PLA)、片上系统、基板上的系统、封装上的系统、专用集成电路(ASIC)，或可以以对电路进行集成或封装的任何其他的合理方式等硬件或固件来实现，或以软件、硬件以及固件三种实现方式的适当组合来实现。或者，检测模块510、确定模块520、以及重置模块610中的至少一个可以至少被部分地实现为计算机程序模块，当该程序被计算机运行时，可以执行相应模块的功能。

图7示意性示出了根据本公开实施例的电子设备的框图。

如图7所示，电子设备700包括处理器710、计算机可读存储介质720、以及电容传感器730。该电子设备700可以执行上面参考图2～图4描述的方法，以实现确定电子设备环境电容升高的原因。

具体地，处理器710例如可以包括通用微处理器、指令集处理器和/或相关芯片组和/或专用微处理器(例如，专用集成电路(ASIC))，等等。处理器710还可以包括用于缓存用途的板载存储器。处理器710可以是用于执行参考图2～图4描述的根据本公开实施例的方法流程的不同动作的单一处理单元或者是多个处理单元。

计算机可读存储介质720，例如可以是能够包含、存储、传送、传播或传输指令的任意介质。例如，可读存储介质可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外或半导体系统、装置、器件或传播介质。可读存储介质的具体示例包括：磁存储装置，如磁带或硬盘(HDD)；光存储装置，如光盘(CD-ROM)；存储器，如随机存取存储器(RAM)或闪存；和/或有线/无线通信链路。

计算机可读存储介质720可以包括计算机程序721，该计算机程序721可以包括代码/计算机可执行指令，其在由处理器710执行时使得处理器710执行例如上面结合图2～图4所描述的方法流程及其任何变形。

计算机程序721可被配置为具有例如包括计算机程序模块的计算机程序代码。例如，在示例实施例中，计算机程序721中的代码可以包括一个或多个程序模块，例如包括721A、模块721B、……。应当注意，模块的划分方式和个数并不是固定的，本领域技术人员可以根据实际情况使用合适的程序模块或程序模块组合，当这些程序模块组合被处理器710执行时，使得处理器710可以执行例如上面结合图2～图4所描述的方法流程及其任何变形。

根据本公开的实施例，处理器710可以与电容传感器730进行交互，来执行上面结合图2～图4所描述的方法流程及其任何变形。

根据本发明的实施例，检测模块510、确定模块520、以及重置模块610中的至少一个可以实现为参考图7描述的计算机程序模块，其在被处理器710执行时，可以实现上面描述的相应操作。

本领域技术人员可以理解，本公开的各个实施例和/或权利要求中记载的特征可以进行多种组合或/或结合，即使这样的组合或结合没有明确记载于本公开中。特别地，在不脱离本公开精神和教导的情况下，本公开的各个实施例和/或权利要求中记载的特征可以进行多种组合和/或结合。所有这些组合和/或结合均落入本公开的范围。

尽管已经参照本公开的特定示例性实施例示出并描述了本公开，但是本领域技术人员应该理解，在不背离所附权利要求及其等同物限定的本公开的精神和范围的情况下，可以对本公开进行形式和细节上的多种改变。因此，本公开的范围不应该限于上述实施例，而是应该不仅由所附权利要求来进行确定，还由所附权利要求的等同物来进行限定。

Claims

1.一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的方法，所述电子设备包括旋转连接的第一本体和第二本体，该方法包括：

当检测到环境电容升高时，检测所述第一本体与所述第二本体的夹角；以及

当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因；

所述夹角满足预设条件包括：

所述第一本体与所述第二本体的夹角在90度到180度的范围内变化；或者

所述第一本体与所述第二本体的夹角在270度到360度的范围内变化。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因包括：

当所述第一本体与所述第二本体的夹角在90度到180度的范围内变化时，确定所述环境电容升高源于第一影响因素。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因还包括：

当所述第一本体与所述第二本体的夹角在270度到360度的范围内变化时，确定所述环境电容升高源于第一影响因素。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其中：

所述电子设备还包括电容传感器，用于检测所述环境电容的电容值；以及

当确定所述环境电容升高源于第一影响因素时，所述方法还包括：重置所述电容传感器检测到的环境电容的电容值。

5.一种用于确定电子设备环境电容升高的原因的系统，所述电子设备包括旋转连接的第一本体和第二本体，该系统包括：

检测模块，用于当检测到环境电容升高时，检测所述第一本体与所述第二本体的夹角；以及

确定模块，用于当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因；

所述夹角满足预设条件包括：

6.根据权利要求5所述的系统，其中，当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因包括：

7.根据权利要求5所述的系统，其中，当所述夹角满足预设条件时，确定所述环境电容升高的原因还包括：

8.根据权利要求6或7所述的系统，其中：

当确定所述环境电容升高源于第一影响因素时，所述系统还包括：

重置模块，用于重置所述电容传感器检测到的环境电容的电容值。