CN107687823A - 一种基于图像检测的同轴度调整装置及调整方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于图像检测的同轴度调整装置,包括:对比样件,所述对比样件具有一与圆形底座相同的定位圆柱面,一与装配件同位置同直径的小孔;用于固定对比样件或圆形底座的装配具,包括基础板;V型铁,具有固定圆形基座的V形端面,装配在基础板上;卡钳,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端,配合V形端面固定圆形基座的位置;用于对装配件小孔或对比样件小孔放大成像的显微成像系统。本发明可提高圆形基座和装配件的装配速率。
Description
技术领域
本发明涉及零部件检测技术领域,特别是涉及一种基于图像检测的同轴度调整装置及调整方法。
背景技术
圆形基座的外圆与其装配件的中心小直径孔有较高的同轴度要求。传统调整方式是用专用调整具:以基座外圆定位,将调整具的检测轴,插入装配件的小孔中,通过万用表欧姆档的通断方式,判断检测轴是否与装配件的孔接触,从而完成同轴度的调整操作。
由于调整具检测轴的直径与装配件的小孔,配合间隙较小,视觉观察调整操作困难,装配效率低。为此设计了装配圆形基座和装配件的同轴度的图像调整装置。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术中存在的技术缺陷,而提供一种基于图像检测的同轴度调整装置。使圆形基座与其装配件的同轴度调整实现图像化操作,取代接触式调整,降低操作难度,提高装配效率。
为实现本发明的目的所采用的技术方案是:
本发明的一种基于图像检测的同轴度调整装置,包括:
基础板;
V型铁,具有固定圆形基座的V形端面,装配在基础板上;
卡钳,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端,配合V形端面固定圆形基座的位置;
显微成像系统,设置于V型铁的正上方,用于对装配件顶端的装配件小孔放大成像。
本发明的一种基于对比样件的图像检测式同轴度调整装置,包括:
对比样件,所述对比样件具有一与圆形底座相同的定位圆柱面,一与装配件小孔同位置同直径的对比小孔;
用于固定对比样件或圆形底座的装配具,包括基础板;V型铁,具有固定圆形基座的V形端面,装配在基础板上;卡钳,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端,配合V形端面固定圆形基座的位置;
用于对装配件小孔或对比样件小孔放大成像的显微成像系统。
优选的,V型铁通过多个第一调节螺钉固定在基础板上。
优选的,所述第一调节螺钉设置有六个,以V形端面的对称面为面对称设置。
优选的,所述V型铁包括呈一体结构的主体、定位臂和两个调节臂,所述主体上设有V形端面,沿V形端面对称设有四个调节螺钉,所述定位臂设置在主体的前端,用于固定装配卡钳,两个调节臂对称设置在V型铁的后端,每个调节臂上均设置一个调节螺钉。
优选的,所述显微成像系统包括体式显微镜、数字摄像头和显示器,所述数字摄像头采集体式显微镜的成像,并将信号传递给显示器。
优选的,所述体式显微镜通过立柱装配在基础板上,所述安装立柱通过第二调节螺钉固定在基础板上。
优选的,所述体式显微镜为DTX单筒体式显微镜。
优选的,所述体式显微镜配置C型接口,连接VGA数字摄像头,所述VGA数字摄像头连接液晶显示器。
优选的,所述卡钳的固定端设有橡胶套,以起到保护圆形基座的作用,防止刚性的固定端和刚性的圆形基座直接接触。
优选的,所述显微成像系统设置有可调节的定位坐标,用于记录标记位置,用于记录装配件小孔位置。
优选的,所述可调节的定位坐标包括横向、纵向平移调整的网格直线,用于设定中线或边线位置。
本发明的另一方面,还包括一种基于图像检测的同轴度调整装置的调整方法,包括以下步骤:
将圆形基座固定在V形端面和固定端之间,固定在标准位置,将装配件放置在圆形基座的顶端,显微成像系统对装配件顶端的装配件小孔进行放大,手动调整装配件使得装配件位于标准位置,此时装配件小孔与圆形基座同轴,将装配件固定在圆形基座上。
本发明的另一方面,还包括一种基于对比样件的图像检测式同轴度调整装置的调整方法,包括以下步骤:
步骤1,组装装配具:
首先将立柱固装到基础板上,V型铁装到基础板上,不紧固第一调节螺钉;快速卡钳固装到V型铁上;体式显微镜装到安装立柱上,不紧固第二调节螺钉;放置对比样件,用快速卡钳将样件紧贴到V型铁上;接通电源,调整显微镜与对比样件的对比小孔对中。之后紧固第一调节螺钉、第二调节螺钉,固定装配具的位置;
步骤2,样件校正:
设定体式显微镜倍率,调整横向、纵向四条网格直线与对比样件的对比小孔上下左右包络相切为正方形,完成校正;
步骤3,装配操作:
将对比样件取下,利用V型铁和卡钳固定圆形基座的位置,调整装配件,使得小孔位置在四条包络线中间。将装配件装配在圆形基座上(可通过螺钉装配),完成同轴度调整。
优选的,所述体式显微镜倍率为40-50倍。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本发明取代了接触式操作工艺方法,降低了操作难度,提高了圆形基座和装配件的装配效率得到有效提高,满足质量要求。
2、利用显微图形系统对装配件的位置进行定位,提高了装配的精准度。
附图说明
图1所示为实施例2对比样件的结构示意图。
图2所示为实施例2定位具的结构示意图。
图3所示为实施例2本发明的结构示意图。
其中:1-基础板,2-V型铁,2a-主体,2b-定位臂,2c-调节臂,2d-V形端面,3-卡钳,3a-固定端,4-立柱,5-对比样件,5a-定位圆柱面,5b-对比小孔,6-显微成像系统。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例1
一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,包括:基础板1;V型铁2,具有固定圆形基座的V形端面,装配在基础板上;卡钳3,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端,配合V形端面固定圆形基座的位置;显微成像系统6,设置于V型铁的正上方,用于对装配件顶端的装配件小孔放大成像。
将圆形基座装配在V型铁与卡钳3之间,进行固定定位,使其处于标准位置,将装配件放置在圆形基座上,通过显微成像系统6对装配件进行放大成像,从而调整装配件与圆形基座的同轴度。
实施例2
本实施例在实施例1的基础上进行改进,如图1-3所示,本发明的本发明的一种基于对比样件的图像检测式同轴度调整装置,包括:
对比样件5,所述对比样件具有一与圆形底座相同的定位圆柱面5a,一与装配件同位置同直径的对比小孔5b;
用于固定对比样件或圆形底座的装配具,包括基础板1;V型铁2,具有固定圆形基座的V形端面2d,通过多个调节螺钉装配在基础板上;卡钳3,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端3a,配合V形端面固定圆形基座的位置;
用于对装配件小孔或对比样件的对比小孔放大成像的显微成像系统6。
作为优选方式,所述V型铁包括呈一体结构的主体2a、定位臂2b和两个调节臂2c,所述主体上设有V形端面2d,沿V形端面对称设有四个调节螺钉,所述定位臂设置在主体的前端,用于固定装配卡钳,两个调节臂对称设置在V型铁的后端,每个调节臂上均设置两个调节螺钉。
作为优选方式,所述显微成像系统包括体式显微镜、数字摄像头和显示器。所述体式显微镜为DTX单筒体式显微镜。所述体式显微镜配置C型接口,连接VGA数字摄像头,所述数字摄像头连接液晶显示器。
作为优选方式,所述体式显微镜通过立柱4装配在基础板上,所述基础板上设计有安装立柱的连接孔。由此可对体式显微镜的位置进行微调。
作为优选方式,所述第一调节螺钉设置有六个,以V形端面的对称面为面对称设置,这种设置方式,可提高其位置微调的灵活度。
作为优选方式,所述卡钳的固定端设有橡胶套,以起到保护圆形基座的作用。
作为优选方式,所述显微成像系统设置有可调节的定位坐标,用于记录小孔位置。所述可调节的定位坐标包括横向、纵向平移调整的网格直线,用于设定中线或边线位置。便于对对比样件的对比小孔进行定位。
本发明的另一方面,还包括一种基于所述调整装置的同轴度调整方法,包括以下步骤:
步骤1,组装装配具:首先将立柱4固装到基础板上,V型铁2装到基础板上,不紧固第一调节螺钉;快速卡钳固装到V型铁上;体式显微镜装到安装立柱上,不紧固第二调节螺钉;放置对比样件,用快速卡钳将样件紧贴到V型铁上;接通电源,调整显微镜与对比样件的对比小孔对中。之后紧固所有螺栓,固定装配具的位置;
其中对比样件外形与圆形基座相同,在对比样件上与加工出与装配件小孔同尺寸、同位置的对比小孔,同轴度小于0.01mm。
步骤2,样件校正:
设定体式显微镜倍率(40倍),调整横向、纵向4条网格直线与对比样件的对比小孔上下左右包络相切为正方形,完成校正;
步骤3,装配操作:
将对比样件取下,利用V型铁和卡钳固定圆形基座的位置,调整装配件,使得小孔位置在4条包络线中间。将装配件装配在圆形基座上,完成同轴度调整。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出的是,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (14)
1.一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,包括:
基础板;
V型铁,具有固定圆形基座的V形端面,装配在基础板上;
卡钳,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端,配合V形端面固定圆形基座的位置;
显微成像系统,设置于V型铁的正上方,用于对装配件顶端的装配件小孔放大成像。
2.一种基于对比样件的图像检测式同轴度调整装置,其特征在于,包括:
对比样件,所述对比样件具有一与圆形底座相同的定位圆柱面,一与装配件小孔同位置同直径的对比小孔;
用于固定对比样件或圆形底座的装配具,包括基础板;V型铁,具有固定圆形基座的V形端面,装配在基础板上;卡钳,装配在V型铁上,具有一固定圆形基座的固定端,配合V形端面固定圆形基座的位置;
用于对装配件小孔或对比样件小孔放大成像的显微成像系统。
3.如权利要求1或2所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述V型铁通过多个第一调节螺钉固定在基础板上。
4.如权利要求3所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述第一调节螺钉设置有六个,以V形端面的对称面为面对称设置。
5.如权利要求3所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述V型铁包括呈一体结构的主体、定位臂和两个调节臂,所述主体上设有V形端面,沿V形端面对称设有四个调节螺钉,所述定位臂设置在主体的前端,用于固定装配卡钳,两个调节臂对称设置在V型铁的后端,每个调节臂上均设置一个调节螺钉。
6.如权利要求1或2所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述显微成像系统包括体式显微镜、数字摄像头和显示器,所述数字摄像头采集体式显微镜的成像,并将信号传递给显示器。
7.如权利要求6所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述体式显微镜通过立柱装配在基础板上,所述安装立柱通过第二调节螺钉固定在基础板上。
8.如权利要求6所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述体式显微镜为DTX单筒体式显微镜。
9.如权利要求6所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述体式显微镜配置C型接口,连接VGA数字摄像头,所述VGA数字摄像头连接液晶显示器。
10.如权利要求1或2所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述卡钳的固定端设有橡胶套。
11.如权利要求1或2所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述显微成像系统设置有可调节的定位坐标,用于记录标记位置。
12.如权利要求11所述的一种基于图像检测的同轴度调整装置,其特征在于,所述可调节的定位坐标包括横向、纵向平移调整的网格直线,用于设定中线或边线位置。
13.一种基于如权利要求1所述的所述调整装置的同轴度调整方法,其特征在于,包括以下步骤:
将圆形基座固定在V形端面和固定端之间,固定在标准位置,将装配件放置在圆形基座的顶端,显微成像系统对装配件顶端的装配件小孔进行放大,手动调整装配件使得装配件位于标准位置,此时装配件小孔与圆形基座同轴,将装配件固定在圆形基座上。
14.一种基于如权利要求2所述的调整装置的同轴度调整方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,组装装配具:
首先将立柱固装到基础板上,V型铁装到基础板上,不紧固第一调节螺钉;快速卡钳固装到V型铁上;体式显微镜装到安装立柱上,不紧固第二调节螺钉;放置对比样件,用快速卡钳将样件紧贴到V型铁上;接通电源,调整显微镜与对比样件的对比小孔对中。之后紧固第一调节螺钉、第二调节螺钉,固定装配具的位置;
步骤2,样件校正:
设定体式显微镜倍率,调整横向、纵向四条网格直线与对比样件的对比小孔上下左右包络相切为正方形,完成校正;
步骤3,装配操作:
将对比样件取下,利用V型铁和卡钳固定圆形基座的位置,调整装配件,使得装配件小孔位置在四条包络线中间,将装配件装配在圆形基座上,完成同轴度调整。
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