CN107655914A - 基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法 - Google Patents

基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107655914A
CN107655914A CN201710814399.0A CN201710814399A CN107655914A CN 107655914 A CN107655914 A CN 107655914A CN 201710814399 A CN201710814399 A CN 201710814399A CN 107655914 A CN107655914 A CN 107655914A
Authority
CN
China
Prior art keywords
scheelite
particle
deposit
cathodoluminescence
tungsten ore
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201710814399.0A
Other languages
English (en)
Inventor
王敏芳
刘坤
张旭波
王有江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China University of Geosciences
Original Assignee
China University of Geosciences
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China University of Geosciences filed Critical China University of Geosciences
Priority to CN201710814399.0A priority Critical patent/CN107655914A/zh
Publication of CN107655914A publication Critical patent/CN107655914A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/2206—Combination of two or more measurements, at least one measurement being that of secondary emission, e.g. combination of secondary electron [SE] measurement and back-scattered electron [BSE] measurement
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/2202—Preparing specimens therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
    • G01N27/626—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas
    • G01N27/628—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using heat to ionise a gas and a beam of energy, e.g. laser enhanced ionisation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/071—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission combination of measurements, at least 1 secondary emission

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Abstract

本发明提供一种基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，步骤如下：获得若干白钨矿样品；基于白钨矿样品中白钨矿颗粒的矿物学、形态学和产出特征对白钨矿颗粒进行挑选，得到高品质白钨矿颗粒；得到高品质白钨矿颗粒的扫描电镜‑阴极发光图像和背散射图像；基于扫描电镜‑阴极发光图像和背散射图像，根据白钨矿颗粒的形貌学和内部结构特征对高品质白钨矿颗粒进行划分，得到若干类型的高品质白钨矿颗粒；对若干类型的高品质白钨矿颗粒中的稀土元素进行原位分析，获得铕含量和钼含量数据；根据铕含量数据计算铕异常，根据铕异常和钼含量数据建立元素分布图，元素分布图用以指示形成白钨矿的成矿流体的氧化还原性。

Description

基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还 原性的判别方法
技术领域
本发明涉及矽卡岩型矿床中白钨矿成矿流体特征研究领域，具体涉及基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法。
背景技术
中国是世界上矽卡岩型矿床分布最广、采冶历史最悠久的国家之一，矽卡岩型矿床是世界钨资源的最主要来源，矽卡岩型钨矿床主要产于花岗岩和碳酸盐类岩石接触带及花岗岩附件的钙质岩层和砂岩层之间，矿体常呈层状、扁豆状。矽卡岩型矿床是岩浆气水热液交替围岩的结果，因此岩浆岩的成分、形成深度、形态、规模等对矽卡岩型矿床的形成有决定性的影响。
成矿流体作为矿床研究的主要内容之一，是指导找矿方向的重要指标，而成矿流体的氧化还原性对矽卡岩型矿床的意义更加重要。因此，查明矽卡岩型钨矿床的成矿流体性质，特别是流体的氧化还原性，是确定矿床成因类型、查明成矿规律的关键。
白钨矿在许多矿床类型中普遍发育，如石英脉型矿床、斑岩型矿床、矽卡岩型矿床以及一些变质矿床中。尽管在20世纪末，人们已经发现白钨矿也是一种具有阴极发光现象的矿物，但是并未有人对矽卡岩型矿床中的白钨矿开展阴极发光相关研究。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，该判别方法能够利用白钨矿的阴极发光特征判别成矿流体的氧化还原特性。
本发明提供一种基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，包括以下步骤：
S101,根据野外矿床地质特征对矽卡岩型矿床进行采样，获得若干白钨矿样品；
S102,通过制作电子探针片利用偏光显微镜确认所述白钨矿样品中白钨矿颗粒的矿物学、形态学以及产出特征，基于所述白钨矿颗粒的矿物学、形态学和产出特征对白钨矿颗粒进行挑选，得到高品质白钨矿颗粒；
S103,利用扫描电镜-阴极荧光谱仪对所述高品质白钨矿颗粒进行阴极发光照相以及背散射电子成像，得到扫描电镜-阴极发光图像和背散射图像；
S104,基于所述扫描电镜-阴极发光图像和背散射图像，根据白钨矿颗粒的形貌学和内部结构特征对高品质白钨矿颗粒进行划分，得到若干类型的高品质白钨矿颗粒；
S105,采用原位激光剥蚀电感耦合等离子体质谱技术对所述若干类型的高品质白钨矿颗粒中的稀土元素进行原位分析，获得所述高品质白钨矿颗粒的铕含量、钼含量、钐含量和钆含量数据；
S106,根据铕含量、钐含量和钆含量数据计算铕异常，根据铕异常和钼含量数据建立元素分布图，所述元素分布图用以指示形成白钨矿的成矿流体的氧化还原性。
进一步地，步骤S101中，采样得到的白钨矿样品中WO3的含量不小于0.06％。
进一步地，步骤S102中，通过使用室内荧光灯照射所述白钨矿样品以确定白钨矿样品中白钨矿颗粒的产出位置，从而确定电子探针片的磨制位置，所述高品质白钨矿颗粒为粒径大于100μm和表面干净的白钨矿颗粒。
进一步地，步骤S105中，采用原位激光剥蚀电感耦合等离子体质谱技术对所述若干类型的高品质白钨矿颗粒中的稀土元素进行原位分析时，采用NIST 612作为外标物质，采用Ca元素作为内标元素。
进一步地，步骤S106中，所述元素分布图的纵坐标为铕异常数据，所述元素分布图的横坐标为钼含量数据，所述铕异常和钼含量数据的格式均为对数格式，所述铕异常的计算公式为：
式中，Eu为铕含量标准化值，Sm为钐含量标准化值，Gd为钆含量标准化值，δEu大于1时为铕正异常，δEu小于1时为铕负异常。
本发明提供的技术方案带来的有益效果是：本发明提供的成矿流体的氧化还原性判别方法是基于白钨矿阴极发光特征完成的，对查明形成白钨矿颗粒的流体演化具有指示意义，同时能判别成矿流体氧化还原性；本发明提供的判别方法不仅有效地指导了找矿方向，而且对矽卡岩型矿床的形成过程提供了研究依据；本发明提供的判别方法具有较强地直观性和实践指导意义。
附图说明
图1是本发明一种基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地描述。
请参考图1，本发明的实施例提供了一种基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，包括以下步骤：
步骤S101，根据野外矿床地质特征对矽卡岩型矿床进行采样，选择出矽卡岩型矿床中WO3的含量不小于0.06％的若干白钨矿样品。
步骤S102,制作电子探针片，利用荧光灯反复照射白钨矿样品确定白钨矿颗粒的产出位置，进而确定电子探针片的磨制位置，然后利用偏光显微镜确认步骤S101采样得到的白钨矿样品中白钨矿颗粒的矿物学、形态学以及产出特征，然后基于白钨矿颗粒的矿物学、形态学和产出特征对白钨矿颗粒进行挑选，选出粒径大于100μm和表面干净的高品质白钨矿颗粒。
步骤S103,对步骤S102得到的高品质白钨矿颗粒进行喷碳处理，然后利用扫描电镜-阴极荧光谱仪对喷碳处理后的高品质白钨矿颗粒进行阴极发光照相以及背散射电子成像，通过调节加速电压、光束尺寸、焦距以及真空条件得到扫描电镜-阴极发光图像和背散射图像；本发明的一实施例中，扫描电镜-阴极荧光谱仪的分光波长范围为165nm～930nm，探头可伸缩长度为160mm，阴极发光照相实验条件的Z值为13.8～14.5mm，阴极发光电压为800～1000V，场发射扫描电镜的光斑尺寸为5.0，电压为10KV。
步骤S104,基于扫描电镜-阴极发光图像，利用背散射图像环带结构核-边的明暗度、振荡环带特征、嵌布特征，根据白钨矿颗粒的形貌学和内部结构特征对高品质白钨矿颗粒进行划分，得到若干类型的高品质白钨矿颗粒。
步骤S105,采用原位激光剥蚀电感耦合等离子体质谱技术对若干类型的高品质白钨矿颗粒中的稀土元素进行原位分析，采用NIST(National Institute of Standards andTechnology，国家标准与技术研究所)612作为外标物质，采用Ca元素作为内标元素，获得高品质白钨矿颗粒的铕含量、钼含量、钐含量和钆含量数据。
步骤S106,根据铕含量、钐含量和钆含量数据计算铕异常，铕异常的计算公式为：
式中，Eu为铕含量标准化值，Sm为钐含量标准化值，Gd为钆含量标准化值，δEu大于1时为铕正异常，δEu小于1时为铕负异常；
以铕异常数据为纵坐标，以钼含量数据为横坐标，建立元素分布图，元素分布图用以指示形成白钨矿的成矿流体的氧化还原性；铕异常和钼含量数据的格式均为对数格式。
本发明提供的成矿流体的氧化还原性判别方法是基于白钨矿阴极发光特征完成的，对查明形成白钨矿颗粒的流体演化具有指示意义，同时能判别成矿流体氧化还原性；本发明提供的判别方法不仅有效地指导了找矿方向，而且对矽卡岩型矿床的形成过程提供了依据；本发明提供的判别方法具有较强地直观性和实践指导意义。
在不冲突的情况下，本文中上述实施例及实施例中的特征可以相互结合。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，其特征在于，包括以下步骤：
S101,根据野外矿床地质特征对矽卡岩型矿床进行采样，获得若干白钨矿样品；
S102,通过制作电子探针片利用偏光显微镜确认所述白钨矿样品中白钨矿颗粒的矿物学、形态学以及产出特征，基于所述白钨矿颗粒的矿物学、形态学和产出特征对白钨矿颗粒进行挑选，得到高品质白钨矿颗粒；
S103,利用扫描电镜-阴极荧光谱仪对所述高品质白钨矿颗粒进行阴极发光照相以及背散射电子成像，得到扫描电镜-阴极发光图像和背散射图像；
S104,基于所述扫描电镜-阴极发光图像和背散射图像，根据白钨矿颗粒的形貌学和内部结构特征对高品质白钨矿颗粒进行划分，得到若干类型的高品质白钨矿颗粒；
S105,采用原位激光剥蚀电感耦合等离子体质谱技术对所述若干类型的高品质白钨矿颗粒中的稀土元素进行原位分析，获得所述高品质白钨矿颗粒的铕含量、钼含量、钐含量和钆含量数据；
S106,根据铕含量、钐含量和钆含量数据计算铕异常，根据铕异常和钼含量数据建立元素分布图，所述元素分布图用以指示形成白钨矿的成矿流体的氧化还原性。
2.如权利要求1所述的基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，其特征在于，步骤S101中，采样得到的白钨矿样品中WO3的含量不小于0.06％。
3.如权利要求1所述的基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，其特征在于，步骤S102中，通过使用室内荧光灯照射所述白钨矿样品以确定白钨矿样品中白钨矿颗粒的产出位置，从而确定电子探针片的磨制位置，所述高品质白钨矿颗粒为粒径大于100μm和表面干净的白钨矿颗粒。
4.如权利要求1所述的基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，其特征在于，步骤S105中，采用原位激光剥蚀电感耦合等离子体质谱技术对所述若干类型的高品质白钨矿颗粒中的稀土元素进行原位分析时，采用NIST 612作为外标物质，采用Ca元素作为内标元素。
5.如权利要求1所述的基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法，其特征在于，步骤S106中，所述元素分布图的纵坐标为铕异常数据，所述元素分布图的横坐标为钼含量数据，所述铕异常和钼含量数据的格式均为对数格式，所述铕异常的计算公式为：
<mrow> <mi>&amp;delta;</mi> <mi>E</mi> <mi>u</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mi>E</mi> <mi>u</mi> </mrow> <mfrac> <mrow> <mi>S</mi> <mi>m</mi> <mo>+</mo> <mi>G</mi> <mi>d</mi> </mrow> <mn>2</mn> </mfrac> </mfrac> <mo>,</mo> </mrow>
式中，Eu为铕含量标准化值，Sm为钐含量标准化值，Gd为钆含量标准化值，δEu大于1时为铕正异常，δEu小于1时为铕负异常。
CN201710814399.0A 2017-09-11 2017-09-11 基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法 Pending CN107655914A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710814399.0A CN107655914A (zh) 2017-09-11 2017-09-11 基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710814399.0A CN107655914A (zh) 2017-09-11 2017-09-11 基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107655914A true CN107655914A (zh) 2018-02-02

Family

ID=61129652

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710814399.0A Pending CN107655914A (zh) 2017-09-11 2017-09-11 基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107655914A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111272797A (zh) * 2020-03-09 2020-06-12 中南大学 一种利用锆石判断花岗岩体成矿性的矿产勘查方法
CN111398571A (zh) * 2020-05-19 2020-07-10 中南大学 利用锆石快速判断矽卡岩矿床成矿潜力的矿产勘查方法
CN117420167A (zh) * 2023-12-14 2024-01-19 北京大学 对深层陆相页岩天然裂缝方解石充填物测年的方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105806826A (zh) * 2015-11-18 2016-07-27 华东理工大学 一种icp内标法测定含钾矿石中元素含量的方法
CN105987896A (zh) * 2016-05-24 2016-10-05 江苏泰富兴澄特殊钢有限公司 一种微波消解-icp-aes快速同时测定铬铁矿中六元素含量的方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105806826A (zh) * 2015-11-18 2016-07-27 华东理工大学 一种icp内标法测定含钾矿石中元素含量的方法
CN105987896A (zh) * 2016-05-24 2016-10-05 江苏泰富兴澄特殊钢有限公司 一种微波消解-icp-aes快速同时测定铬铁矿中六元素含量的方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
GUOXUE SONG ET AL.: "Scheelite Elemental and Isotopic Signatures:Implications for the Genesis of Skarn-Tpye W-Mo Deposits in the Chizhou Area,Eastern China", 《AMERICAN MINERALOGIST》 *
丁腾 等: "湘南黄沙坪多金属矿床花岗斑岩的矿物化学及其对矽卡岩白钨矿成矿的指示意义", 《岩石学报》 *
梁冬云 等: "《稀有金属矿工艺矿物学》", 31 August 2015, 冶金工业出版社 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111272797A (zh) * 2020-03-09 2020-06-12 中南大学 一种利用锆石判断花岗岩体成矿性的矿产勘查方法
CN111272797B (zh) * 2020-03-09 2021-06-25 中南大学 一种利用锆石判断花岗岩体成矿性的矿产勘查方法
CN111398571A (zh) * 2020-05-19 2020-07-10 中南大学 利用锆石快速判断矽卡岩矿床成矿潜力的矿产勘查方法
CN111398571B (zh) * 2020-05-19 2021-04-20 中南大学 利用锆石快速判断矽卡岩矿床成矿潜力的矿产勘查方法
CN117420167A (zh) * 2023-12-14 2024-01-19 北京大学 对深层陆相页岩天然裂缝方解石充填物测年的方法
CN117420167B (zh) * 2023-12-14 2024-03-05 北京大学 对深层陆相页岩天然裂缝方解石充填物测年的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107632035A (zh) 基于石英脉型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法
Han et al. Seed‐crystal‐induced cold sintering toward metal halide transparent ceramic scintillators
Adam et al. Light emission intensities of luminescent Y2O3: Eu and Gd2O3: Eu particles of various sizes
Johnson et al. The interpretation of the dependence of luminescent efficiency on activator concentration
Sun et al. Lanthanum-doped ZnO quantum dots with greatly enhanced fluorescent quantum yield
CN107655914A (zh) 基于矽卡岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法
Riley et al. Iodine solubility in a low-activity waste borosilicate glass at 1000 C
CN104897700B (zh) 在扫描电镜中对纳米液体样品的透射散射成像装置及方法
Brydson et al. Analytical transmission electron microscopy
Den Engelsen et al. Ultraviolet and blue cathodoluminescence from cubic Y 2 O 3 and Y 2 O 3: Eu 3+ generated in a transmission electron microscope
Lehmann et al. Growth related zonations in authigenic and hydrothermal quartz characterized by SIMS-, EPMA-, SEM-CL-and SEM-CC-imaging
Imashuku et al. Rapid phase mapping in heat‐treated powder mixture of alumina and magnesia utilizing cathodoluminescence
Tamrakar et al. Thermoluminescence studies of UV-irradiated Y 2 O 3: Eu 3+ doped phosphor
Kawaguchi et al. Zircon U–Pb geochronology of “Sashu mylonite”, eastern extension of Higo Plutono‐metamorphic Complex, Southwest Japan: Implication for regional tectonic evolution
CN107655915B (zh) 基于斑岩型矿床中白钨矿阴极发光特征的成矿流体氧化还原性的判别方法
Zhu et al. Sonochemical synthesis and photoluminescent property of YVO4: Eu nanocrystals
Spemann et al. Materials analysis and modification at LIPSION–Present state and future developments
Jeong et al. A transparent nano-polycrystalline ZnWO4 thin-film scintillator for high-resolution X-ray imaging
MacArthur The use of annular dark-field scanning transmission electron microscopy for quantitative characterisation
Siqin et al. Studies of rare earth elements to distinguish nephrite samples from different deposits using direct current glow discharge mass spectrometry
MacRae et al. Quantitative cathodoluminescence mapping with application to a Kalgoorlie scheelite
Gallaher et al. Soil concretions: I. X‐ray spectrograph and electron microprobe analyses
Nakamura et al. Effects of halogen ions on the X-ray characteristics of Gd2O2S: Pr ceramic scintillators
Baraldi et al. Eu incorporation into sol–gel silica for photonic applications: spectroscopic and TEM evidences of α-quartz and Eu pyrosilicate nanocrystal growth
Hasim et al. Study on the Effect of γ‐Irradiation on Gadolinium Oxysulfide Nanophosphors (Gd2O2S‐NPs)

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180202