CN107543844A - 一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，对钨丝与镉盘交汇分离的三个阶段进行检测；该三个阶段分别为，第一阶段：钨丝在镉盘表面的滑动接触阶段；第二阶段：钨丝与镉盘凹槽的分离—接触阶段；第三阶段：钨丝与镉盘外边沿的分离—接触阶段；其检测步骤如下：(1)根据标定电路试验测出钨丝正常情况下的基准值；(2)启动标定电路测出钨丝各物理量的实时值；(3)检测判断：通过将在步骤(2)中测量出的钨丝各物理量的实时值分别与步骤(1)中的基准值来比对，当出现异常于基准值的情况时，则可以准确判断钨丝电极开裂的情况。该方法可以有效发现钨丝电极开裂，避免因钨丝端部开裂影响火花试验装置的检测功能。

Description

一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法

技术领域

本发明涉及一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，属于防爆电气安全技术领域。

背景技术

目前本质安全型电气设备的防爆性能是通过火花试验装置来进行检测的。标准GB3836.4-2010附录B中对火花试验装置的基本参数和结构做了规定。火花试验装置容器内由一组电极组成。电极用于在规定的爆炸性试验混合物内产生闭合火花和开路火花。两接触电极之一是由带有两道宽2mm通槽的旋转镉盘电极组成，另一个接触电极是由四根钨丝组成，钨丝长11mm、直径0.2mm，并固定在极握上。

钨丝是非常脆的材料，运转一定周期后常在端部造成开裂。为尽量避免钨丝端部开裂，一般采用两种方法：一是使用推荐的钨丝熔断装置，二是使用重型功能剪刀切断钨丝然后再采用0号金刚砂布研磨钨丝端表面。但即使经过上述任一方法的处理，经过一定次数的运转后还是会造成钨丝端部开裂而形成分叉。钨丝端部开裂直接影响火花试验装置的检测性能，严重时甚至会造成误判。

为了保持火花试验装置的灵敏度，在使用期间最好定时清理开裂的钨丝和矫直钨丝，如果钨丝开裂或钨丝不能矫直，则应更换钨丝。

目前对于钨丝端部开裂现象，只能凭观察或者根据钨丝的总打火次数超定值后予以更换。上述方法不能及时发现钨丝开裂现象，尤其是检测过程中发生开裂。因此需要一种及时发现钨丝电极开裂的检测方法。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，该方法可以有效发现钨丝电极开裂，避免因钨丝端部开裂影响火花试验装置的检测功能。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案在于，一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，对钨丝与镉盘交汇分离的三个阶段进行检测；该三个阶段分别为，第一阶段：钨丝在镉盘表面的滑动接触阶段；第二阶段：钨丝与镉盘凹槽的分离—接触阶段；第三阶段：钨丝与镉盘外边沿的分离—接触阶段；其检测步骤如下：

(1)根据标定电路试验测出钨丝正常情况下的基准值，即第一阶段的钨丝电极和镉盘电极之间的正常电压值U1；第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的最小时间间隔Δt2min以及其所对应的最小放电时间T2min；第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的时间间隔Δt3以及其所对应的放电时间T3；

(2)启动标定电路测出钨丝各物理量的实时值，即第一阶段的实时电压U1′、电流I1′以及其电弧放电时间T1′；第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的实时最小时间间隔Δt2min′以及其所对应的实时最小放电时间T2min′；第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的实时时间间隔Δt3′以及其所对应的实时放电时间T3′；

(3)检测判断：通过将在步骤(2)中测量出的钨丝各物理量的实时值分别与步骤(1)中的基准值来比对，当出现异常于基准值的情况时，则可以准确判断钨丝电极开裂的情况；

(4)在步骤(3)的判断方法中采用先单独判断后综合判断的方法来进行，单独比对判断，即对各个阶段的物理量的数值单独比对，来发现异常情况；综合判断方法，即是将各个单独判断的结果进行综合判断；进一步准确判定钨丝电极是否出现开裂，如出现开裂即停机更换钨丝。

作为优选，在步骤(3)中单独判断检测方法的步骤包括：

31)如果同时满足|U1′-U1|＞0.33mV和|I1′-110|＜2mA，则判断钨丝电极和镉盘电极之间的接触电压过大，k1＝1；否则k1＝0；

如果同时满足|U1′-16|＜1V和|I1′-37|＜2mA，T1′＜10μS，则判定存在间歇性电火花，k2＝1；否则k2＝0；

32)如果|Δt2min′-Δt2min|＞0.6mS，判断钨丝与镉盘凹槽的分离接触时间间隔减少，k3＝1；否则k3＝0；

如果|T2min′-T2min|＞15μS，判断电弧放电时间减小，k4＝1；否则k4＝0；

33)如果|Δt3′-Δt3|＞0.6mS，判断钨丝与镉盘外边沿的分离接触时间间隔减少，k5＝1；否则k5＝0；

如果|T3′-T3|＞15μS，判断电弧放电时间减少，k6＝1；否则k6＝0；

其中：U1为第一阶段的钨丝电极和镉盘电极之间的正常电压；U1′为第一阶段的钨丝电极和镉盘电极之间的实时电压；Δt2min为第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的最小时间间隔；Δt2min′为第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的实时最小时间间隔；Δt3为第三阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的时间间隔；Δt3′为第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的实时时间间隔；T2min为第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触所对应的电弧的最小放电时间；T2min′为第二阶段电弧实时最小放电时间；T3为第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触所对应的电弧的放电时间；T3′为第三阶段的电弧实时放电时间；T1′为第一阶段的电弧实时放电时间；I1′为第一阶段的实时电流；k1～k6均为布尔量，其中k1表征第一阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝电极与镉盘电极之间的接触电压超过规定值；k2表征第一阶段中是否由于钨丝开裂造成出现间歇性电火花；k3表征第二阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘凹槽的分离接触时间间隔减小；k4表征第二阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘凹槽的电弧放电时间减小；k5表征第三阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘外边沿的分离接触时间间隔减小；k6表征第三阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘外边沿的电弧放电时间减小。

作为优选，在步骤(3)中综合判断方法为：将采用单独判断方法得到的k1～k6进行计算，当k1×k3×k5+k2+k4×k6≥1时，则判定钨丝出现开裂，立即停机更换钨丝。

作为优选，在步骤(1)中，

11)通过电压表测量出第一阶段两电极之间的电压正常值U1；

12)通过定时器和触发器测量出第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离-接触的最小时间间隔Δt2min；

通过定时器和触发器测量出第二阶段所对应放电时间的最小值T2min；

13)通过定时器和触发器测量出第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离-接触的时间Δt3。

通过定时器和触发器测量出第三阶段所对应的电弧的放电时间T3。

作为优选，在步骤(2)中，

21)通过电压表测量第一阶段钨丝镉盘两电极之间的电压U1′；

通过电流表测量第一阶段通过钨丝电流I1′；

通过定时器和触发器测量第一阶段间歇性电弧放电时间T1′；

22)通过定时器和触发器测量出第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离-接触的最小实时间隔Δt2min′；

通过定时器和触发器测量出第二阶段所对应放电时间的最小值T2min′；

23)通过定时器和触发器测量出第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离-接触的实时时间Δt3′；

通过定时器和触发器测量出第三阶段所对应的电弧的放电时间T3′。

本发明的有益效果：本发明根据钨丝与镉盘的交汇分离过程的不同，找出钨丝开裂后与正常情况下的区别特征，根据相关参数的变化判断钨丝是否开裂。由于检测针对于标定电路进行，而每次检测必须先经过标定检测，因此判断不会对火花试验装置产生任何影响。另外参数的测量和计算均采用简单方法实现，复杂的钨丝开裂现象通过简单的物理和电气量即可判断出。并且各种特征的综合使用保证判断的准确性，防止因为受干扰而误判。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。

图1为现有的火花试验装置结构示意图；

图2为开裂钨丝与镉盘凹槽分离示意图；

图3为本发明的检测流程图；

图中：1.极握，2.钨丝，3.镉盘，4.凹槽

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合实施例对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述。

如图2所示，钨丝端部如果发生开裂，一般情况是钨丝端部沿旋转方向前后一分为二，形成分叉，两个分叉之间存在间隙，分叉的两部分会一前一后地与镉盘的外边沿以及凹槽进行接触和分离。

由于标准规定每次试验前均需要使用标定电路进行标定，标定合格后才允许对被测电路进行试验，因此可以利用标定过程来检测钨丝端部是否出现开裂。标定电路为电感性电路，其参数为电源电压E＝24V，电感L＝95mH，电流I＝0.11A。

钨丝与镉盘的交汇分离过程可以分为三个阶段：第一阶段，钨丝在镉盘表面的滑动接触阶段；第二阶段，钨丝与镉盘凹槽的分离-接触阶段；第三阶段，钨丝与镉盘外边沿的分离-接触阶段。

第二阶段和第三阶段的区别是，对于钨丝与镉盘凹槽或者镉盘外边沿，从分离-接触距离，第二阶段是变化的，第三阶段是固定的。

同没有发生开裂相比，钨丝端部开裂会产生两个直接变化：

一是钨丝分叉之间存在间隙，钨丝等效直径是增加的；

二是由于存在分叉，钨丝与镉盘的分离从原来的一次分离变成分两次分离。前部分的分离不会产生电弧，因为后半部分还处于和镉盘接触状态。对于后部分的分离，会产生电弧，同时钨丝等效截面积是减小的。

因此，钨丝端部发生开裂后会产生如下间接影响：

(a)第一阶段中钨丝与镉盘的接触电压略增，钨丝通过的电流基本不变；钨丝与镉盘的接触压力减小，引起接触电阻略增，造成钨丝与镉盘的接触电压略增。

(b)第一阶段中有可能存在短暂的间歇性火花，由于钨丝与镉盘的接触压力减小以及镉盘表面的凹凸不平，会产生短暂的间歇性火花。正常时，是不会产生间歇性火花的；间歇性火花的特点是电极间的电压维持于16V左右，电流基本维持于37mA左右，电弧放电维持时间小于10μS。

(c)第二阶段所对应的分离-接触时间间隔最小值Δt2min变短，正常时，由于钨丝与镉盘之间的对旋，钨丝与镉盘凹槽的分离到再次接触所经过的行程是变化的，分离角度也是变化的，因此正常时的时间间隔存在最小值Δt2min。钨丝端部开裂后，钨丝等效直径增加，此阶段所对应的时间间隔将变短。

(d)第二阶段对应的电弧放电时间最小值T2min将减小。由于钨丝端部两次分离，后半部分的等效截面积减小了，钨丝分离弹开后的速度加快，电弧放电时间将减小。

(e)第三阶段所对应的分离-接触时间间隔Δt3变短。钨丝端部开裂后，钨丝等效直径增加，此阶段所对应的时间间隔将变短。

(f)第三阶段分别对应的电弧放电时间T3将减小。由于钨丝端部两次分离，后半部分的等效截面积减小了，钨丝分离弹开后的速度加快，电弧放电时间将减小。

同时利用上述6个特征，可以判断出钨丝是否发生开裂。

如图3所示，其具体的检测过程为：一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，将对钨丝与镉盘交汇分离的三个阶段进行检测；该三个阶段分别为，第一阶段：钨丝在镉盘表面的滑动接触阶段；第二阶段：钨丝与镉盘凹槽的分离—接触阶段；第三阶段：钨丝与镉盘外边沿的分离—接触阶段；其检测步骤如下：

(1)根据标定电路试验测出钨丝正常情况下的基准值，即第一阶段的正常电压值U1；第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的最小时间间隔Δt2min以及其所对应的最小放电时间T2min；第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的时间间隔Δt3以及其所对应的放电时间T3；

(2)启动标定电路测出钨丝各物理量的实时值，即第一阶段的实时电压U1′、电流I1′以及其电弧放电时间T1′；第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的实时最小时间间隔Δt2min′以及其所对应的实时最小放电时间T2min′；第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的实时时间间隔Δt3′以及其所对应的实时放电时间T3′；

(3)检测判断：通过将在步骤(2)中测量出的钨丝各物理量的实时值分别与步骤(1)中的基准值来比对，当出现异常于基准值的情况时，则可以准确判断钨丝电极开裂的情况；

(4)在步骤(3)的判断方法中采用先单独判断后综合判断的方法来进行，单独比对判断，即对各个阶段的物理量的数值单独比对，来发现异常情况；综合判断方法，即是将各个单独判断的结果进行综合判断；进一步准确判定钨丝电极是否出现开裂，如出现开裂即停机更换钨丝。

在步骤(3)中单独判断检测方法的步骤包括：

31)如果同时满足|U1′-U1|＞0.33mV和|I1′-110|＜2mA，则判断接触电压过大，k1＝1；否则k1＝0；

如果同时满足|U1′-16|＜1V和|I1′-37|＜2mA，T1′＜10μS，则判定存在间歇性火花，k2＝1；否则k2＝0；

32)如果|Δt2min′-Δt2min|＞0.6mS，判断钨丝与镉盘凹槽的分离接触时间间隔减少，k3＝1；否则k3＝0；

如果|T2min′-T2min|＞15μS，判断电弧放电时间减小，k4＝1；否则k4＝0；

33)如果|Δt3′-Δt3|＞0.6mS，判断钨丝与镉盘外边沿的分离接触时间间隔减少，k5＝1；否则k5＝0；

如果|T3′-T3|＞15μS，判断电弧放电时间减少，k6＝1；否则k6＝0；

其中：U1为第一阶段的正常电压；U1′为第一阶段的实时电压；Δt2min为第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的最小时间间隔；Δt2min′为第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的实时最小时间间隔；Δt3为第三阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的时间间隔；Δt3′为第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的实时时间间隔；T2min为第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触所对应的电弧的最小放电时间；T2min′为第二阶段电弧实时最小放电时间；T3为第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触所对应的电弧的放电时间；T3′为第三阶段的电弧实时放电时间；T1′为第一阶段的电弧实时放电时间；I1′为第一阶段的实时电流；k1～k6均为布尔量，其中k1表征第一阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝电极与镉盘电极之间的接触电压超过规定值；k2表征第一阶段中是否由于钨丝开裂造成出现间歇性电火花；k3表征第二阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘凹槽的分离接触时间间隔减小；k4表征第二阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘凹槽的电弧放电时间减小；k5表征第三阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘外边沿的分离接触时间间隔减小；k6表征第三阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘外边沿的电弧放电时间减小。

在步骤(3)中综合判断方法为：将采用单独判断方法得到的k1～k6进行计算，当k1×k3×k5+k2+k4×k6≥1时，则判定钨丝出现开裂，立即停机更换钨丝。

在步骤(1)中，

11)通过电压表测量出第一阶段两电极之间的电压正常值U1；

12)通过定时器和触发器测量出第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离-接触的最小时间间隔Δt2min；

通过定时器和触发器测量出第二阶段所对应放电时间的最小值T2min；

13)通过定时器和触发器测量出第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离-接触的时间Δt3。

通过定时器和触发器测量出第三阶段所对应的电弧的放电时间T3。

在步骤(2)中，

21)通过电压表测量第一阶段钨丝镉盘两电极之间的电压U1′；

通过电流表测量第一阶段通过钨丝电流I1′；

通过定时器和触发器测量第一阶段间歇性电弧放电时间T1′；

22)通过定时器和触发器测量出第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离-接触的最小实时间隔Δt2min′；

通过定时器和触发器测量出第二阶段所对应放电时间的最小值T2min′；

23)通过定时器和触发器测量出第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离-接触的实时时间Δt3′；

通过定时器和触发器测量出第三阶段所对应的电弧的放电时间T3′。

实施例一：

取正常未开裂钨丝，根据标定电路试验测出钨丝正常情况下的基准值，包括U1，I1，Δt2min，T2min，Δt3，T3。其中U1＝75.2mV，Δt2min＝9.3mS，T2min＝147μS，Δt3＝631mS，T3＝145μS；

钨丝换成开裂钨丝，启动标定电路，结合定时器和触发器，测出钨丝各物理量的实时值，包括U1′，I1′，Δt2min′，T2min′，Δt3′，T3′。其中U1′＝75.6mV，I1′＝110.5mA，Δt2min′＝8.6mS，T2min′＝130μS，Δt3＝630mS，T3＝129μS。

因此计算得出：

|U1′-U1|＞0.33mV，并且|I1′-110|＜2mA，则k1＝1；

|U1′-16|＜1V不成立，|I1′-37|＜2mA不成立，T1′＜10μS不成立，则k2＝0；

|Δt2min′-Δt2min|＞0.6mS，则k3＝1；

|T2min′-T2min|＞15μS，则k4＝1；

|Δt3′-Δt3|＞0.6mS，则k5＝1；

|T3′-T3|＞15μS，则k6＝1；

综合判断得出：

k1×k3×k5+k2+k4×k6≥1，钨丝开裂。

实施例二：

取正常未开裂钨丝，根据标定电路试验测出钨丝正常情况下的基准值，包括U1，Δt2min，T2min，Δt3，T3。其中U1＝75mV，Δt2min＝9.3mS，T2min＝140μS，Δt3＝631mS，T3＝147μS；

钨丝换成开裂钨丝，启动标定电路,结合定时器和触发器，测出钨丝各物理量的实时值，包括U1′，I1′，T1′，Δt2min′，T2min′，Δt3′，T3′。其中U1′＝15.5V，I1′＝36.5mA，T1′＝9μS，Δt2min′＝8.6mS，T2min′＝133μS，Δt3＝630mS，T3＝131μS。

因此计算得出：

|U1′-U1|＞0.33mV不成立，|I1′-110|＜2mA不成立，则k1＝0；

|U1′-16|＜1V成立，|I1′-37|＜2mA成立，T1′＜10μS成立，则k2＝1；

|Δt2min′-Δt2min|＞0.6mS成立，则k3＝1；

|T2min′-T2min|＞15μS不成立，则k4＝0；

|Δt3′-Δt3|＞0.6mS成立，则k5＝1；

|T3′-T3|＞15μS成立，则k6＝1；

综合判断得出：

k1×k3×k5+k2+k4×k6≥1，钨丝开裂。

综上，本发明的检测方法根据钨丝与镉盘的交汇分离过程的不同，找出钨丝开裂后与正常情况下的区别特征，根据相关参数的变化判断钨丝是否开裂。由于检测针对于标定电路进行，而每次检测必须先经过标定检测，因此判断不会对火花试验装置产生任何影响。另外参数的测量和计算均采用简单方法实现，复杂的钨丝开裂现象通过简单的物理和电气量即可判断出。并且各种特征的综合使用保证了判断的准确性，防止因为受干扰而误判。

所描述的实施例只是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

Claims (5)

1.一种用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，其特征在于，对钨丝与镉盘交汇分离的三个阶段进行检测；该三个阶段分别为，第一阶段：钨丝在镉盘表面的滑动接触阶段；第二阶段：钨丝与镉盘凹槽的分离—接触阶段；第三阶段：钨丝与镉盘外边沿的分离—接触阶段；其检测步骤如下：

(1)根据标定电路试验测出钨丝正常情况下的基准值，即第一阶段的正常电压值U1；第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的最小时间间隔Δt2min以及其所对应的最小放电时间T2min；第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的时间间隔Δt3以及其所对应的放电时间T3；

(2)启动标定电路测出钨丝各物理量的实时值，即第一阶段的实时电压U1′、电流I1′以及其电弧放电时间T1′；第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的实时最小时间间隔Δt2min′以及其所对应的实时最小放电时间T2min′；第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的实时时间间隔Δt3′以及其所对应的实时放电时间T3′；

(3)检测判断：通过将在步骤(2)中测量出的钨丝各物理量的实时值分别与步骤(1)中的基准值来比对，当出现异常于基准值的情况时，则可以准确判断钨丝电极开裂的情况；

(4)在步骤(3)的判断方法中采用先单独判断后综合判断的方法来进行，单独比对判断，即对各个阶段的物理量的数值单独比对，来发现异常情况；综合判断方法，即是将各个单独判断的结果进行综合判断；进一步准确判定钨丝电极是否出现开裂，如出现开裂即停机更换钨丝。

2.根据权利要求1所述的用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，其特征在于，在步骤(3)中单独判断检测方法的步骤包括：

31)如果同时满足|U1′-U1|＞0.33mV和|I1′-110|＜2mA，则判断接触电压过大，k1＝1；否则k1＝0；

如果同时满足|U1′-16|＜1V和|I1′-37|＜2mA，T1′＜10μS，则判定存在间歇性火花，k2＝1；否则k2＝0；

32)如果|Δt2min′-Δt2min|＞0.6mS，判断钨丝与镉盘凹槽的分离接触时间间隔减少，k3＝1；否则k3＝0；

如果|T2min′-T2min|＞15μS，判断电弧放电时间减小，k4＝1；否则k4＝0；

33)如果|Δt3′-Δt3|＞0.6mS，判断钨丝与镉盘外边沿的分离接触时间间隔减少，k5＝1；否则k5＝0；

如果|T3′-T3|＞15μS，判断电弧放电时间减少，k6＝1；否则k6＝0；

其中：U1为第一阶段的正常电压；U1′为第一阶段的实时电压；Δt2min为第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的最小时间间隔；Δt2min′为第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的实时最小时间间隔；Δt3为第三阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触的时间间隔；Δt3′为第三阶段的钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触的实时时间间隔；T2min为第二阶段的钨丝与镉盘凹槽，从分离—接触所对应的电弧的最小放电时间；T2min′为第二阶段电弧实时最小放电时间；T3为第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离—接触所对应的电弧的放电时间；T3′为第三阶段的电弧实时放电时间；T1′为第一阶段的电弧实时放电时间；I1′为第一阶段的实时电流；k1～k6均为布尔量，其中k1表征第一阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝电极与镉盘电极之间的接触电压超过规定值；k2表征第一阶段中是否由于钨丝开裂造成出现间歇性电火花；k3表征第二阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘凹槽的分离接触时间间隔减小；k4表征第二阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘凹槽的电弧放电时间减小；k5表征第三阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘外边沿的分离接触时间间隔减小；k6表征第三阶段中是否由于钨丝开裂造成钨丝与镉盘外边沿的电弧放电时间减小。

3.根据权利要求2所述的用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，其特征在于，在步骤(3)中综合判断方法为：将采用单独判断方法得到的k1～k6进行计算，当k1×k3×k5+k2+k4×k6≥1时，则判定钨丝出现开裂，立即停机更换钨丝。

4.根据权利要求1所述的用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，其特征在于，在步骤(1)中，

11)通过电压表测量出第一阶段两电极之间的电压正常值U1；

12)通过定时器和触发器测量出第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离-接触的最小时间间隔Δt2min；

通过定时器和触发器测量出第二阶段所对应放电时间的最小值T2min；

13)通过定时器和触发器测量出第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离-接触的时间Δt3。

通过定时器和触发器测量出第三阶段所对应的电弧的放电时间T3。

5.根据权利要求4所述的用于火花试验装置的钨丝电极开裂的检测方法，其特征在于，在步骤(2)中，

21)通过电压表测量第一阶段钨丝镉盘两电极之间的电压U1′；

通过电流表测量第一阶段通过钨丝电流I1′；

通过定时器和触发器测量第一阶段间歇性电弧放电时间T1′；

22)通过定时器和触发器测量出第二阶段钨丝与镉盘凹槽，从分离-接触的最小实时间隔Δt2min′；

通过定时器和触发器测量出第二阶段所对应放电时间的最小值T2min′；

23)通过定时器和触发器测量出第三阶段钨丝与镉盘外边沿，从分离-接触的实时时间Δt3′；

通过定时器和触发器测量出第三阶段所对应的电弧的放电时间T3′。