CN107526713A - 一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法和装置,其中,所述方法包括:从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。本发明实施例将安检仪对测试对象进行多次扫描成像的时间作为测试时间,通过对测试时间正态性的分析,确定安检仪的成像时间信息。
Description
技术领域
本发明涉及人体成像技术领域,特别是涉及一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法和一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置。
背景技术
近些年来,越来越多的公共场合(如地铁站、火车站、机场等等)配置各种安检设备(金属探测安检门、手持式金属探测器、X射线箱包安检仪),以保障人身安全;而传统的光学、红外、X射线以及金属探测的安检设备不能检测一些潜在的隐匿物品,因此采用传统的安检设备依然存在安全隐患。
太赫兹(Tera Hertz,THz)波以其强穿透能力和低辐射的性能,被应用至人体安检设备中,即THz人体安检仪。THz人体安检仪包括两种成像方法:主动成像和被动成像,由于被动成像不需要发射源,且不会暴露个人隐私,因此,THz人体安检仪多采用被动成像的方法。其中,成像时间是判定被动式THz人体安检仪性能的一个重要指标,因此,确定被动式THz人体安检仪成像时间显得尤为重要。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题是提供一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法,用以确定被动式太赫兹人体安检仪的成像时间。
相应的,本发明实施例还提供了一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置,用以保证上述方法的实现及应用。
为了解决上述问题,本发明公开了一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法,具体包括:从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。
本发明实施例还公开了一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置,具体包括:获取模块,用于从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;函数确定模块,用于依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;判断模块,用于依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;信息确定模块,用于若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。
与现有技术相比,本发明实施例包括以下优点:
本发明实施例中,被动式太赫兹人体安检仪预先对测试对象进行扫描成像,并生成扫描成像的时间,进而测试设备从所述安检仪中获取N个测试时间,并依据各测试时间确定对应的正态分布函数;然后依据卡方检测算法和正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息;本发明实施例将安检仪对测试对象进行多次扫描成像的时间作为测试时间,通过对测试时间正态性的分析,确定安检仪的成像时间信息。
附图说明
图1是本发明实施例的一种THz人体安检仪的立体图;
图2示出了本发明实施例的一种THz人体安检仪安检示意图;
图3是本发明的一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法实施例的步骤流程图;
图4是本发明的一种测试对象的示意图;
图5是本发明的另一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法实施例的步骤流程图;
图6是本发明的一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置实施例的结构框图;
图7是本发明的另一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置实施例的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
为了便于后续实施例的说明,先对被动式太赫兹人体安检仪(以下简称安检仪)进行介绍。安检仪工作在THz波段(位于红外与微波之间),是被动式人体安检成像系统。安检仪根据人体与金属、陶瓷、塑料炸药、粉状炸药及衣物、绝缘材料等物品的辐射、反射及透射能力的差异,利用高灵敏度太赫兹波探测系统获取目标的辐射特性;然后经过图像恢复重构与处理生成用户可见图像,进而使安检工作人员根据图像判断被安检用户是否携带违规物品。参照图1,示出了本发明实施例的一种THz人体安检仪的立体图,图中1是安检仪的扫描窗口。参照图2,示出了本发明实施例的一种THz人体安检仪安检示意图,在安检时,人在与安检仪扫描窗口保持一定距离如1.25米,安检仪的扫描窗口1进行扫描,并将成像结果显示在安检仪的显示屏幕上,以将图像呈现给安检工作人员;当然安检人背面时,则人的背面正对安检仪的扫描窗口1。
参照图3,示出了本发明的一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法实施例的步骤流程图,具体可以包括如下步骤:
步骤301、从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间。
本发明实施例可预先采用所述安检仪对测试对应进行X次扫描成像,每次扫描成像后,记录对应成像的时间,即可记录X次成像的时间;其中,所述测试对象用于模拟安检时的人体状态。本发明的一个示例中,所述测试对象可包括背景底板和吸波块,所述背景底板的材料为硅橡胶的电加热板,其温度为可调节范围如0-60℃,用于模拟人体温度;吸波块的材料可以是泡沫吸波材料,用于模拟违规物品,如:金属、陶瓷、水、油、毒品、冰毒等等;吸波块在背景底板上等间隔的排列,如图4所示,图4示出了本发明的一种测试对象的示意图;本发明实施例中,背景底板的尺寸依据需求和安检仪的扫描范围确定,例如,安检仪的扫描范围为1m*2m,即宽为1米、高为2米;则可将背景底板的尺寸设置为50cm*50cm;所述吸波块的尺寸依据需求和安检仪的最小分辨率设置,如吸波块的尺寸可以为最小分辨率的整数倍如2倍,例如,安检仪的最小分辨率为0.75cm*0.75cm,则吸波块可为1.5cm*1.5cm的正方形;吸波块的间隔也可依据需求、安检仪的最小分辨率和吸波块的尺寸设置,如吸波块的尺寸可以为最水平小分辨率的整数倍如2倍,例如,安检仪的最小分辨率为0.75cm*0.75cm、吸波块的尺寸为1.5cm*1.5cm,则吸波块的间隔可设置为1.5cm。本发明实施例中,所述背景底板和吸波块的形状均可为其它形状,在此不限制背景板和吸波块的形状。
在测试时,可将测试对象放置在待测区域的中心,所述待测区域与安检仪扫描窗口距离预设距离,即通常安检仪进行扫描成像的距离如1.25米,待测区域的平面与安检仪扫描窗口平面平行,且两者的中心在同一轴线上。待安检仪对测试对象扫描成像,并存储X个成像的时间后,测试设备可以从安检仪中获取N个成像的时间,将这N个成像的时间确定为测试时间,进而对测试时间进行分析;其中,X可大于或等于N。
步骤302、依据各测试时间,确定对应的正态分布函数。
步骤303、依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布。
本发明实施例中,测试时间可以看成像系统的一个随机变量,测试时间的影响因素包括很多,例如:接收机的响应时间、采集电路的信号处理时间、准光系统中扫描结构的扫描时间、图像处理时间等,这些因素是独立存在、且互不干扰的;根据统计学原理:某个随机变量如果可以被拆分成若干独立分布随机变量的和,那么该随机变量近似符合正态分布;因此,测试时间理论上应符合正态分布。
本发明实施例可采用卡方检测算法,判断测试时间是否服从正态分布,其中,卡方检测算法采用实际值和理论值进行计算,以统计样本的实际观测值与理论推断值之间的偏离程度。因此,本发明实施例可依据各测试时间,确定对应的正态分布函数,具体的,可计算N个测试时间的平均值和N个测试时间的方差,从而依据平均值和方差可以得到测试时间对应的正态分布函数。采用卡方检测算法时,可将N个测试时间划分为多个组,每个组包含的元素可为n个,优选的,n大于5,即n即为各组对应的实际个数。在确定测试时间对应的正态分布函数后,可依据正态分布函数确定各组包含的元素的理论个数m;进而采用n和m进行卡方计算,确定实际值与理论值的偏离程度,以根据两者的偏离程度确定测试时间是否服从正态分布。若偏离程度小于预设值,则确定测试时间服从正态分布,则执行步骤304;若偏离程度大于预设值,则确定测试时间不服从正态分布,此时,可能是外界因素导致安检仪记录的成像时间出现了错误,可能是安检仪出现了故障导致安检仪记录的成像时间出现了错误;在排除外界因素、安检仪故障后,可再次对测试对象进行扫描成像后,记录对应成像的时间,然后执行步骤301。其中,所述预设值可通过查表获取。
步骤304、依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。
所述正态分布函数是概率密度函数,可采用所述正态分布函数计算变量在某个区间内的概率;因此,若确定测试时间服从正态分布,则可依据所述正态分布函数和预设概率,计算所述预设概率对应的时间区间,进而依据所述时间区间确定所述安检仪的成像时间信息;其中,预设概率按照需求设置如90%。
本发明实施例中,被动式太赫兹人体安检仪预先对测试对象进行扫描成像,并生成扫描成像的时间,进而测试设备从所述安检仪中获取N个测试时间,并依据各测试时间确定对应的正态分布函数;然后依据卡方检测算法和正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息;本发明实施例将安检仪对测试对象进行多次扫描成像的时间作为测试时间,通过对测试时间正态性的分析,确定安检仪的成像时间信息。
本发明另一个实施例中,可对确定所述安检仪的成像时间信息,进行详细的说明。
参照图5,示出了本发明的另一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法实施例的步骤流程图,具体可以包括如下步骤:
步骤501、从所述安检仪中获取N个测试时间。
本发明实施例中,安检仪生成X个扫描成像的时间后,即可从安检仪中获取N个测试时间;可选地,为了提高所述安检仪的成像时间的准确性,获取的测试时间的个数N可相对较大,例如,N可以是500。其中,通常所述测试时间为秒级如2s。
步骤502、依据各测试时间,确定对应的正态分布函数。
获取N个测试数据后,可根据N个测试数据,确定对应的正态分布函数;具体的,可计算N个测试时间的平均值u,以及计算N个测试时间的方差v,然后依据u和v,确定对应的正态分布函数:
其中,x是测试时间。
本发明实施例在采用卡方检测算法进行计算时,可先将获取的N个测试时间分为多个组,然后对各组实际值和理论值的偏差值进行计算,再对各组的偏差值进行求和计算,确定最终的偏差值;通常将最终的偏差值确定为卡方值;进而依据卡方值判断测试时间是否服从正态分布。可选地,可依据下述公式计算卡方值:
其中,K2即为卡方值,Oi为第i组包含元素的实际个数,Pi是第i组包含元素的理论个数。计算卡方值的步骤具体如下:
步骤503、依据测试时间,设置M个跨度相等的时间区间,其中,各时间区间互不重叠。
步骤504、依据所述时间区间,将测试时间划分为M个组,并确定各组包含的测试时间的实际个数。
步骤505、依据所述正态分布函数和时间区间,确定各组包含的测试时间的理论个数。
本发明实施例中,可将获取的N个测试时间分为M个时间跨度相等的组,其中,M可根据N设置。具体的,可先将N个测试时间按照预设顺序进行排序,所述预设顺序可以升序,也可以是降序;排序完成后,确定N个测试时间的最大值和最小值,然后依据所述最大值、最小值以及需要分组的数量M,确定时间跨度,进而设置M个跨度相等的时间区间,且每个组的时间区间是连续的,不相互重叠。然后再依据各组的时间区间,将N个测试时间划分为M个组;在分组时,可对各组包含的测试时间个数进行统计,在分组完成后,确定各组包含的测试时间的个数,即各组对应的实际个数。例如,500个测试时间,最大值为5s,最小值为1s,若要分为10个组,则时间跨度为0.4s,则第一组的时间区间为1s-1.4s,第二组的时间区间是1.5s-1.8s,依次类推。本发明实施例中,还需确定各组包括的测试时间的理论个数,即可依据所述正态分布函数和时间区间,确定各组包含的测试时间的理论个数;具体的,可依据正态分布函数,计算测试时间属于各组对应时间区间的概率p,然后确定各组包含的测试时间的理论个数,例如,500个测试数据,测试时间落入时间区间为1s-1.4s的概率为5%,则该时间区间对应组包含的测试时间的理论个数则为25个。
确定各组包含的测试数据的理论个数和实际个数后,即可依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,判断测试时间是否服从正态分布;具体如下:
步骤506、依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,计算对应的卡方值。
步骤507、从卡方检验临界值表中,依据卡方自由度和预设显著水平查找对应的预设值。
本发明实施例中,可将各组的实际个数和理论个数,带入卡方检测算法对应的计算卡方值的公式,计算对应的卡方值K2;然后将卡方值K2与预设值YK2进行对比,确定测试时间是否服从正态分布。其中,卡方值越大,实际个数与理论个数越不符合;卡方值越小,实际个数与理论个数越符合。本发明实施例可通过查表的方式确定预设值YK2,具体可依据卡方自由度和显著水平值,从卡方检验临界值表中查找对应的预设值YK2;一般的,显著水平值设为0.05。其中,卡方自由度依据用于计算的测试时间的个数和样本参数估计的参数个数确定,可选地,卡方自由度的计算公式为:df=N-1-q,其中,df为卡方自由度,N为测试时间的个数,q为样本估计的参数个数,本发明实施例中,q=2,因此,df=N-3。然后依据所述卡方值K2和预设值YK2,判断测试时间是否服从正态分布,具体如下:
步骤508、判断所述卡方值是否大于预设值。
比对卡方值K2和预设值YK2,判断卡方值K2是否大于预设值YK2,若K2大于YK2,则确定测试时间不服从正态分布,执行步骤501;若K2小于YK2,则确定测试时间服从正态分布,执行步骤509。
步骤509、计算所述正态分布函数在待计算区间上的积分表达式。
步骤510、通过令所述积分表达式等于预设概率,计算所述待计算区间。
步骤511、将所述不定积分区间确定所述安检仪的成像时间信息。
若确定测试时间服从正态分布,则可依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。具体的,可对待计算区间内的正态分布函数进行不定积分计算,确定对应的积分表达式;然后令所述积分表达式等于预设概率,进而计算出对应的待计算区间;将所述待计算区间确定所述安检仪的成像时间信息,即安检仪的成像时间信息为时间区间。可选地,可按照以下公式计算待计算区间:
其中,u为测试数据的平均值,v为测试数据的方差,YP为预设概率,[u-a,u+a]为待计算区间,计算出[u-a,u+a]具体的值后,可将[u-a,u+a]确定为所述安检仪的成像时间信息。
本发明的一个示例中,当90%的测试数据都在某个时间区间时,可将该时间区间确定所述安检仪的成像时间信息,因此,可令YP=90%,计算时间区间,以提高确定安检仪的成像时间的准确性。
本发明实施例采用卡方检测算法,判断测试时间是否符合正态分布;当确定测试时间符合正态分布时,依据正态分布函数和预设概率,确定安检仪的成像时间信息;提高了确定检仪的成像时间信息效率;确定成像时间信息时,计算所述正态分布函数在待计算区间上的积分表达式;通过令所述积分表达式等于预设概率,计算所述待计算区间;将所述待计算区间确定所述安检仪的成像时间信息,提高了计算安检仪的成像时间的准确率。
需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明实施例,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
参照图6,示出了本发明一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置实施例的结构框图,具体可以包括如下模块:获取模块61、函数确定模块62、判断模块63和信息确定模块64,其中,
获取模块61,用于从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;
函数确定模块62,用于依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;
判断模块63,用于依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;
信息确定模块64,用于若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。
参照图7,示出了本发明另一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置实施例的结构框图,具体如下:
本发明的另一实施例中,所述判断模块63包括:数量计算子模块631和分布判断子模块632,其中,
数量计算子模块631,依据测试时间,设置M个跨度相等的时间区间,其中,各时间区间互不重叠;依据所述时间区间,将测试时间划分为M个组,并确定各组包含的测试时间的实际个数;依据所述正态分布函数和时间区间,确定各组包含的测试时间的理论个数;
分布判断子模块632,用于依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,判断测试时间是否服从正态分布。
本发明的另一实施例中,所述分布判断子模块632包括:数值计算单元6321和数值判断单元6322,其中,
数值计算单元6321,用于依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,计算对应的卡方值;从卡方检验临界值表中,依据卡方自由度和预设显著水平查找对应的预设值;
数值判断单元6322,用于依据所述卡方值和预设值,判断测试时间是否服从正态分布。
所述数值判断单元6322,具体用于判断所述卡方值是否大于预设值;若所述卡方值大于预设值,则确定测试时间不服从正态分布;若所述卡方值小于预设值,则确定测试时间服从正态分布。
所述信息确定模块64,具体用于计算所述正态分布函数在待计算区间上的积分表达式;通过令所述积分表达式等于预设概率,计算所述待计算区间;将所述待计算区间确定所述安检仪的成像时间信息。
本发明实施例中,被动式太赫兹人体安检仪预先对测试对象进行扫描成像,并生成扫描成像的时间,进而测试设备从所述安检仪中获取N个测试时间,并依据各测试时间确定对应的正态分布函数;然后依据卡方检测算法和正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息;本发明实施例将安检仪对测试对象进行多次扫描成像的时间作为测试时间,通过对测试时间正态性的分析,确定安检仪的成像时间信息。
对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法和一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定方法,其特征在于,包括:
从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;
依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;
依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;
若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布的步骤,包括:
依据测试时间,设置M个跨度相等的时间区间,其中,各时间区间互不重叠;
依据所述时间区间,将测试时间划分为M个组,并确定各组包含的测试时间的实际个数;
依据所述正态分布函数和时间区间,确定各组包含的测试时间的理论个数;
依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,判断测试时间是否服从正态分布。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,判断测试时间是否服从正态分布的步骤,包括:
依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,计算对应的卡方值;
从卡方检验临界值表中,依据卡方自由度和预设显著水平查找对应的预设值;
依据所述卡方值和预设值,判断测试时间是否服从正态分布。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,依据所述卡方值和预设值,判断测试时间是否服从正态分布的步骤,包括:
判断所述卡方值是否大于预设值;
若所述卡方值大于预设值,则确定测试时间不服从正态分布;
若所述卡方值小于预设值,则确定测试时间服从正态分布。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息的步骤,包括:
计算所述正态分布函数在待计算区间上的积分表达式;
通过令所述积分表达式等于预设概率,计算所述待计算区间;
将所述待计算区间确定所述安检仪的成像时间信息。
6.一种被动式太赫兹人体安检仪成像时间的确定装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于从所述安检仪中获取N个测试时间,所述测试时间是所述安检仪对测试对象进行扫描成像的时间;
函数确定模块,用于依据各测试时间,确定对应的正态分布函数;
判断模块,用于依据卡方检测算法和所述正态分布函数,判断测试时间是否服从正态分布;
信息确定模块,用于若测试时间服从正态分布,则依据所述正态分布函数和预设概率,确定所述安检仪的成像时间信息。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述判断模块包括:
数量计算子模块,依据测试时间,设置M个跨度相等的时间区间,其中,各时间区间互不重叠;依据所述时间区间,将测试时间划分为M个组,并确定各组包含的测试时间的实际个数;依据所述正态分布函数和时间区间,确定各组包含的测试时间的理论个数;
分布判断子模块,用于依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,判断测试时间是否服从正态分布。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述分布判断子模块包括:
数值计算单元,用于依据卡方检测算法、实际个数和理论个数,计算对应的卡方值;从卡方检验临界值表中,依据卡方自由度和预设显著水平查找对应的预设值;
数值判断单元,用于依据所述卡方值和预设值,判断测试时间是否服从正态分布。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,
所述数值判断单元,具体用于判断所述卡方值是否大于预设值;若所述卡方值大于预设值,则确定测试时间不服从正态分布;若所述卡方值小于预设值,则确定测试时间服从正态分布。
10.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,
所述信息确定模块,具体用于计算所述正态分布函数在待计算区间上的积分表达式;通过令所述积分表达式等于预设概率,计算所述待计算区间;将所述待计算区间确定所述安检仪的成像时间信息。
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