CN107525824A - 热敏打印机热头好坏检测方法 - Google Patents

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CN107525824A CN201610541168.2A CN201610541168A CN107525824A CN 107525824 A CN107525824 A CN 107525824A CN 201610541168 A CN201610541168 A CN 201610541168A CN 107525824 A CN107525824 A CN 107525824A
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肖宽
唐宏斌
姚碧馨
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Yangzhou Takenishi Electronic Technology Co Ltd
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Yangzhou Takenishi Electronic Technology Co Ltd
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Abstract

本发明涉及一种热敏打印机打印头好坏检测方法，特别是关于一种适用于对热敏打印机打印头热头好坏的检测方法。本发明提供了一种检测电路，其包括电源、三极管及与所述打印头VP相连的二极管和若干电阻，所述三极管的基极与所述电阻相连，所述电阻另一端与MCU的GPIO口连接，所述三极管的集电极与所述电阻相连，所述电阻另一端与打印头逻辑电源连接，所述三极管的发射极与所述二极管正极，所述二极管负极与打印头VP引脚连接，从而本发明的检测电路具有相应发现速度快、面积小和价格低廉等优点。

Description

热敏打印机热头好坏检测方法
技术领域
本发明涉及一种热敏打印机打印头好坏检测方法，特别是关于一种适用于对热敏打印机打印头热头好坏的检测方法。
背景技术
目前热敏打印机广泛用于我们的日常生活中。从物流到餐饮到外卖，基本涵盖我们生活的方方面面。但是热敏打印机的广泛使用，也意味着各种故障问题的出现。最常见的包括打印字迹开始变得不清楚，部分字迹加热不够，没有字迹空白走纸等。这些故障问题中往往大部分是由于热敏打印头中有部分热头出现故障引起的。检测这些故障问题不仅浪费时间而且成本还较高，有的甚至还得使用一些昂贵的检查器械、适用范围较窄。
有鉴于此，有必要对现有的热敏打印机进行改进，以解决上述问题。
发明内容
针对上述问题，本发明的目的是提供一种能够自动检测热敏打印机热头好坏，能广泛适用于各种场合的的方法，采用该方法具有发现速度快、面积小和价格低廉的优点。
为实现上述发明目的，本发明采取以下技术方案：一种检测热敏打印机热头好坏方法，其包括以下步骤：（1）硬件上在打印控制板上设计一个检测电路，其包括第一电阻、第二电阻、三极管、二极管，所述的第一电阻的一端和所述三极管的基极相连，所述的第一电阻的另一端与MCU的GPIO引脚连接，所述的第二电阻的一端、三极管的集电极和MCU的ADC引脚连接，所述的第二电阻的另一端与打印头逻辑电源连接，所述三极管的发射极与所述二极管正极相连，所述二极管负极与打印头VP引脚连接。（2）软件上，将给打印板VP供电的mosfet开关关断。将打印头控制引脚恢复默认状态，DATIN、CLK、LATCH等传递数据至打印头的引脚正常工作；（3）从第一个热头开始，每次发送一个热头加热的数据，直至将所有热头都加热过；（4）在（3）的同时，通过Rc端的ADC引脚，读取Rc两端的电压差；（5）通过读取每个热头加热时的电压差的值来判断此热头的好坏。
本发明的有益效果是：本发明的检测电路通过设置有电源、三极管及与所述电源相连的若干电阻，且所述三极管的基极与所述电阻相连，所述电阻另一端与MCU的GPIO口连接，所述三极管的集电极与所述电阻相连，所述电阻另一端与打印头逻辑电源连接，所述三极管的发射极与所述二极管正极，所述二极管负极与打印头VP引脚连接，从而本发明的检测电路具有相应发现速度快、面积小和价格低廉等优点。
附图说明
图1是本发明检测电路的电路原理图。
图2是本发明热敏打印机的热敏打印头内部示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述。
如图1所示，本发明的检测电路包括电源、三极管Q1及与所述打印头VP相连的二极管和若干电阻。本实施方式中，所述电源为供给打印头的逻辑电源。
所述若干电阻都为阻值固定的固定电阻。包括与所述三极管Q1的基极相连的第一固定电阻Rb、与所述三极管Q1的集电极相连的第二固定电阻Rc。本实施方式中，所述第一固定电阻Rb的一端与所述三极管Q1的基极相连、另一端接MCU的GPIO引脚；所述第二固定电阻Rc的一端与所述三极管Q1的集电极相连、同时连接MCU的ADC引脚、另一端接打印头逻辑电源。
所述二极管正极与所述三极管Q1的发射极相连，负极与打印头VP引脚相连，避免打印头电压反向倒灌。
综上所述，本发明的检测电路将所述三极管Q1作为开关，通过MCU的GPIO引脚高低电平的变化控制所述三极管Q1的通断。通过热敏打印头DATIN、CLK、LATCH等传递数据至打印头的引脚正常工作；从第一个热头开始，每次发送一个热头加热的数据，直至将所有热头都加热过，通过连接所述三极管Q1的MCU的ADC引脚，采样每次热头加热数据时，所述三极管Q1的集电极端的电压，通过每次所述电阻Rc两端的电压差来区分该热头的好坏。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (3)

1.一种检测电路，其特征在于：包括第一电阻、第二电阻、三极管、二极管，所述的第一电阻的一端和所述三极管的基极相连，所述的第一电阻的另一端与MCU的GPIO引脚连接，所述的第二电阻的一端、三极管的集电极和MCU的ADC引脚连接，所述的第二电阻的另一端与打印头逻辑电源连接，所述三极管的发射极与所述二极管正极相连，所述二极管负极与打印头VP引脚连接。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于：所述若干电阻都为阻值固定的固定电阻，包括与所述三极管的基极相连的第一电阻、与所述三极管的集电极相连的第二电阻。
3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于：所述三极管发射极经过所述二极管连接到打印头VP引脚，避免打印头电压反向倒灌。
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