CN107483105A - 测试参数处理方法、装置及测试器 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测试参数处理方法、装置及测试器，该方法包括：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。通过本发明，解决了相关技术中测试系统存在的对测试人员有较高的专业要求的问题，进而达到了降低对测试人员的专业要求的效果。

Description

测试参数处理方法、装置及测试器

技术领域

本发明涉及通信领域，具体而言，涉及一种测试参数处理方法、装置及测试器。

背景技术

光时域反射计(Optical Time Domain Reflectometer，简称OTDR)是一种光电一体化测量系统，应用于光缆线路的维护、施工及在线测试中。

OTDR的原理是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅尔反射所产生的背向散射，通过雪崩光电二极管(Avalanche Photo Diode，简称APD)接收光测量信号，将光测量信号转换成原始测试数据，以原始测试数据为素材，通过事件分析算法，获取事件，从而达到测量光纤长度、获取光纤的传输衰减、结果衰减和光纤故障定位的效果。

目前，比较常用的OTDR测试系统需要事先设定好大量测试参数，测试参数众多并且同样的参数在不同的拓扑下测试的效果差别很大，需用人为调整参数才能得到更佳的测试效果，对测试人员有较高的专业要求。

可见，相关技术中，存在测试系统(例如，OTDR测试系统)对测试人员有较高的专业要求的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试参数处理方法、装置及测试器，以至少解决相关技术中OTDR测试系统对测试人员有较高的专业要求的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种测试参数处理方法，包括：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。

可选地，在确定所述测试事件所在位置与所述测试器之间的所述测试距离之前，还包括：根据对所述测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定所述测试事件所在的位置。

可选地，根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的所述脉宽包括：根据所述测试距离，确定满足所述测试距离的脉宽范围；根据确定的所述脉宽范围，确定所述脉宽。

可选地，在根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数之前，还包括：确定对所述测试事件进行测试的测试类型对应的所述预定规则。

可选地，所述测试参数包括以下至少之一：光纤折射率、发送间隔、累加长度、发送次数、累加次数、开始累加时间、抽样间隔。

根据本发明的另一个实施例，提供了一种测试参数处理装置，包括：第一确定模块，用于确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；第二确定模块，用于根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；第三确定模块，用于根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。

可选地，所述装置还包括：第四确定模块，用于根据对所述测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定所述测试事件所在的位置。

可选地，所述第二确定模块包括：第一确定单元，用于根据所述测试距离，确定满足所述测试距离的脉宽范围；第二确定单元，用于根据确定的所述脉宽范围，确定所述脉宽。

可选地，所述装置还包括：第五确定模块，用于确定对所述测试事件进行测试的测试类型对应的所述预定规则。

根据本发明的又一个实施例，还提供了一种测试器，应用于OTDR测试系统，所述测试器包括上述任一项所述的测试参数处理装置。

根据本发明的又一个实施例，还提供了一种存储介质。该存储介质设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。

可选地，存储介质还设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：在确定所述测试事件所在位置与所述测试器之间的所述测试距离之前，还包括：根据对所述测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定所述测试事件所在的位置。

可选地，存储介质还设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的所述脉宽包括：根据所述测试距离，确定满足所述测试距离的脉宽范围；根据确定的所述脉宽范围，确定所述脉宽。

可选地，存储介质还设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：在根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数之前，还包括：确定对所述测试事件进行测试的测试类型对应的所述预定规则。

可选地，存储介质还设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：所述测试参数包括以下至少之一：光纤折射率、发送间隔、累加长度、发送次数、累加次数、开始累加时间、抽样间隔。

通过本发明，由于根据确定的测试距离、脉宽以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，自动确定测试器的测试参数，不需要人为调整测试参数，因此，可以解决相关技术中，测试系统对测试人员有较高的专业要求的问题，达到降低对测试人员的专业要求的效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明实施例的测试参数处理方法的测试器的硬件结构框图；

图2是根据本发明实施例的测试参数处理方法的流程图；

图3是根据本发明优选实施例的测试参数处理方法的流程图；

图4是根据本发明实施例的测试参数处理装置的结构框图一；

图5是根据本发明实施例的测试参数处理装置的结构框图二；

图6是根据本发明实施例的测试参数处理装置的第二确定模块44的结构框图；

图7是根据本发明实施例的测试参数处理装置的结构框图三；

图8是根据本发明实施例的测试器的结构框图。

具体实施方式

下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

OTDR有多种测试方式，各有特点，需要配置的参数也略有不同，常用的需要配置的参数有测试类型、脉冲宽度(简称脉宽)、发送次数、发送时间间隔、开始累加时刻、累加长度、累加次数、间隔抽取、光纤折射率等等。参数越多，对测试人员的专业要求越高。本发明提供的测试参数处理方法、装置及测试器，能够自适应调整OTDR的相关参数，达到最佳测试性能的目的。

实施例1

本申请实施例一所提供的方法实施例可以在测试器或者类似的运算装置中执行。以运行在测试器上为例，图1是本发明实施例的测试参数处理方法的测试器的硬件结构框图。如图1所示，测试器10可以包括一个或多个(图中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)、用于存储数据的存储器104、以及用于通信功能的传输装置106。本领域普通技术人员可以理解，图1所示的结构仅为示意，其并不对上述电子装置的结构造成限定。例如，测试器10还可包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。

存储器104可用于存储应用软件的软件程序以及模块，如本发明实施例中的测试参数处理方法对应的程序指令/模块，处理器102通过运行存储在存储器104内的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至测试器10。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输装置106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括测试器10的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输装置106包括一个网络适配器(Network Interface Controller，NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输装置106可以为射频(Radio Frequency，RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

在本实施例中提供了一种运行于上述测试器的测试参数处理方法，图2是根据本发明实施例的测试参数处理方法的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：

步骤S202，确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；

步骤S204，根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽；

步骤S206，根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，确定测试器的测试参数。

通过上述步骤，根据确定的测试距离、脉宽以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，自动确定测试器的测试参数，解决了相关技术中测试系统对测试人员有较高的专业要求的问题，降低了对测试人员的专业要求。

可选地，在步骤S202之前，该流程还可以包括：根据对测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定测试事件所在的位置。例如，可以根据保存的上次系统测试的测试结果，获取到最后一个事件的位置，将该事件的位置与测试器之间链路的实际长度，作为测试距离。还可以根据其他方式确定测试距离，例如，可以根据硬件所能达到的性能上限，设定一个测试距离。与根据硬件所能达到的性能上限设定的测试距离相比，以最后一个事件的位置与测试器之间的距离作为测试距离所确定的测试参数具有更好的准确性，系统性能更优。

通过本发明的上述方案，根据对测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定测试事件所在的位置，能够保证测试距离确定的准确性，提高测试参数的可靠性。

可选地，根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽可以采用多种方式，例如，可以根据测试距离，确定满足测试距离的脉宽范围；根据确定的脉宽范围，确定脉宽。又例如，可以根据预设规则，根据测试距离确定与上述测试距离对应的脉宽。

对于根据测试距离，确定满足测试距离的脉宽范围；根据确定的脉宽范围，确定脉宽的方式，由于不同脉宽的信号可以测试的测试距离范围是不同的，也就是说，可以用于对某一测试距离范围内的事件进行测试的信号脉宽对应于一个脉宽范围，这个脉宽范围内的所有脉宽均可用于对该测试距离范围内的事件测试。因此，可以根据测试距离，确定满足该测试距离的脉宽范围；选取该脉宽范围内的任一脉宽作为对测试事件进行测试的脉宽。例如，考虑到脉宽越小，测试精度越高，可以选取该脉宽范围的最小值作为对测试事件进行测试的脉宽。

通过本发明的上述方案，根据测试距离，确定满足测试距离的脉宽范围；根据确定的脉宽范围，确定脉宽，能够在满足测试距离的基础上，提供测试脉宽的选择范围，提高了测试参数确定的多样性。

可选地，可以采用多种方式确定测试器的预定规则测试参数，例如，可以先确定对测试事件进行测试的测试类型(如脉冲法、序列法等)，由于不同测试类型具有不同的特点，可以根据测试类型确定该测试类型对应的预定规则(如，需要确定的测试参数、确定测试参数的规则等，不同的测试类型对应于不同的预定规则)，并根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及确定的预定规则，确定测试器的测试参数；又例如，也可以根据测试距离、脉宽以及预置用于确定测试器的测试参数的预定规则(设置预定规则时不考虑测试类型)，直接确定测试器的测试规则，而不考虑不同测试类型特点。

通过本发明的上述方案，根据对测试事件进行测试的测试类型确定对应的预定规则，从而确定测试器的测试参数，可以保证测试参数确定的准确性。

基于上述实施例及优选实施方式，为说明方案的整个流程交互，在本优选实施例中，提供了一种测试参数处理方法，图3是根据本发明优选实施例的测试参数处理方法的流程图。如图3所示，该流程包括以下步骤：

步骤S302，根据硬件能达到的性能上限，设定一个测试距离，以该测试距离为基准，匹配测试类型和脉宽。

测试人员启动一次OTDR测试。硬件能测试到的距离上限是200km，测试设备(同上述测试器)将200km作为测试距离。

测试类型可以系统预先配置，不同的测试类型具有不同的测试特点，例如小信号检测能力强，盲区范围小等。可以根据系统的预先配置，选择一个或多个测试类型。根据该测试距离的对测试性能的需求，匹配测试类型。满足某一测试距离的测试信号的脉宽为一脉宽范围，可以根据该测试距离，确定对应的脉宽范围，并在脉宽范围中选取某一脉宽作为测试信号的脉宽。对于前述将200km作为测试距离的测试，根据该测试距离匹配的测试类型为脉冲法，脉宽为20us。

步骤S304，根据测试距离、测试类型、脉宽以及其他的硬件参数为基本参数，设定测试参数，启动系统测试。

不同的测试类型需要配置的测试参数有所不同。可以根据测试距离、测试类型、脉宽以及其他的硬件参数为基本参数，通过换算或者默认值的方式来获取其他测试参数。

对于前述脉冲法需要配置的参数有脉宽、发送间隔、发送次数、累加次数、累加长度、开始累加时刻、抽样间隔、光纤折射率等(序列法及其他测试类型需要配置的参数与此类似)。根据测试距离和脉宽，确定的其他测试参数如下：

光纤折射率，设定为默认值4.17；

发送间隔，根据时间与距离的计算公式计算发送间隔，其中x为测试距离，c为光速，n为光纤折射率，t为从测试脉冲发射出去到接收机接收到信号所花的时间(可以根据硬件提供)，发送间隔为t除以一个系统时钟周期(硬件提供)，即，(200000*2*4.17)/(0.3*5)＝1112000；

累加长度，设定为与发送间隔一致；

发送次数，默认为硬件能支持的最大发送次数262143；

累加次数，设定为与发送次数一致；

开始累加时刻，设定为默认值0；

抽样间隔，测试距离/存储的最大距离(可以由硬件提供)，即

测试参数设定完成以后，启动第一次系统测试。

步骤S306，根据第一次测试的检测结果，设定测试距离，并根据设定的测试距离匹配测试类型和脉宽，换算获取其他测试参数，启动系统测试。

根据第一次测试的检测结果，获取到最后一个事件的位置，而该位置就是链路的实际长度，将该位置对应的链路长度，设定为测试距离。根据该测试距离匹配测试类型和脉宽，通过换算或者默认的方式获取其他所需要的测试参数。

对于前述测试，根据第一次测试的结果，得到最后一个事件的位置在20km处，将测试距离设定为20km。根据该测试距离匹配的测试类型为脉冲法，脉宽为30ns，根据步骤S304中同样的换算公式，得到所有测试参数，启动第二次测试。

根据前述第一次、第二次系统测试，就已经能获取到整个链路的基本情况，但为了减少事件盲区的影响，提高测试精度，还可以进行更多次的测试。测试距离仍然是实际的链路长度，匹配不同的测试类型和脉宽。最后综合多次测试的结果得出结论进行反馈。

例如，30ns的测试精度为5m，降低脉宽为2.5ns，将测试精度从5m提升到1m，进行第三次测试；将测试类型改为序列法，脉宽为10ns，提升噪底中事件的检测能力，进行第四次测试。综合第二、第三、第四次的测试结果，得到最终测试结果。

通过本发明的上述方案，能做到完全自适应配置参数，不再需要手动配置任何参数就可以进行OTDR测试。具体为将一次OTDR测试拆分成多次测试进行，逐步达到最佳测试性能，满足测试需求。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

实施例2

在本实施例中还提供了一种测试参数处理装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图4是根据本发明实施例的测试参数处理装置的结构框图一，如图4所示，该装置包括第一确定模块42、第二确定模块44、第三确定模块46，下面对该装置进行说明。

第一确定模块42，用于确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；第二确定模块44，与上述第一确定模块42相连，用于根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽；第三确定模块46，与上述第二确定模块44相连，用于根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，确定测试器的测试参数。

图5是根据本发明实施例的测试参数处理装置的结构框图二，如图5所示，该装置除包括图4所示的所有模块外，还包括第四确认模块52，下面对该装置进行说明。

第四确定模块52，与上述第一确定模块42相连，用于根据对测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定测试事件所在的位置。

图6是根据本发明实施例的测试参数处理装置的第二确定模块44的结构框图，如图6所示，该第二确定模块44包括：第一确定单元62、第二确定单元64，下面对该第二确定模块44进行说明。

第一确定单元62，用于根据测试距离，确定满足测试距离的脉宽范围；第二确定单元64，与上述第一确定单元62相连，用于根据确定的脉宽范围，确定脉宽。

图7是根据本发明实施例的测试参数处理装置的结构框图三，如图7所示，该装置除包括图4所示的所有模块外，还包括：第五确定模块72，下面对该装置进行说明。

第五确定模块72，与上述第三确定模块46相连，用于确定对测试事件进行测试的测试类型对应的预定规则。

需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，对于后者，可以通过以下方式实现，但不限于此：上述模块均位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

实施例3

在本实施例中还提供了一种测试器，该测试器应用于OTDR测试系统，图8是根据本发明实施例的测试器的结构框图，如图8所示，该测试器包括：测试参数处理装置82，该测试参数处理装置82可以为实施例2中的测试参数处理装置。

实施例4

本发明的实施例还提供了一种存储介质。可选地，在本实施例中，上述存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：

S1，确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；

S2，根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽；

S3，根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，确定测试器的测试参数。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：

在确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离之前，还包括：根据对测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定测试事件所在的位置。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：

根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽包括：

S1，根据测试距离，确定满足测试距离的脉宽范围；

S2，根据确定的脉宽范围，确定脉宽。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：

在根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，确定测试器的测试参数之前，还包括：

确定对测试事件进行测试的测试类型对应的上述预定规则。

可选地，存储介质还被设置为存储用于执行以下步骤的程序代码：

测试参数包括以下至少之一：光纤折射率、发送间隔、累加长度、发送次数、累加次数、开始累加时间、抽样间隔。

可选地，在本实施例中，上述存储介质可以包括但不限于：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

可选地，在本实施例中，处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行：确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽；根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，确定测试器的测试参数。

可选地，在本实施例中，处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行：在确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离之前，还包括：根据对测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定测试事件所在的位置。

可选地，在本实施例中，处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行：根据测试距离，确定测试器发射的用于对测试事件进行测试的脉宽包括：根据测试距离，确定满足测试距离的脉宽范围；根据确定的脉宽范围，确定脉宽。

可选地，在本实施例中，处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行：在根据确定的测试距离，确定的脉宽，以及用于确定测试器的测试参数的预定规则，确定测试器的测试参数之前，还包括：确定对测试事件进行测试的测试类型对应的上述预定规则。

可选地，在本实施例中，处理器根据存储介质中已存储的程序代码执行：测试参数包括以下至少之一：光纤折射率、发送间隔、累加长度、发送次数、累加次数、开始累加时间、抽样间隔。

可选地，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试参数处理方法，其特征在于，包括：

确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；

根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；

根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定所述测试事件所在位置与所述测试器之间的所述测试距离之前，还包括：

根据对所述测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定所述测试事件所在的位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的所述脉宽包括：

根据所述测试距离，确定满足所述测试距离的脉宽范围；

根据确定的所述脉宽范围，确定所述脉宽。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数之前，还包括：

确定对所述测试事件进行测试的测试类型对应的所述预定规则。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述测试参数包括以下至少之一：光纤折射率、发送间隔、累加长度、发送次数、累加次数、开始累加时间、抽样间隔。

6.一种测试参数处理装置，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于确定测试事件所在位置与测试器之间的测试距离；

第二确定模块，用于根据所述测试距离，确定所述测试器发射的用于对所述测试事件进行测试的脉宽；

第三确定模块，用于根据确定的所述测试距离，确定的所述脉宽，以及用于确定所述测试器的测试参数的预定规则，确定所述测试器的测试参数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

第四确定模块，用于根据对所述测试事件进行测试的预先存储的测试结果，确定所述测试事件所在的位置。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第二确定模块包括：

第一确定单元，用于根据所述测试距离，确定满足所述测试距离的脉宽范围；

第二确定单元，用于根据确定的所述脉宽范围，确定所述脉宽。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：

第五确定模块，用于确定对所述测试事件进行测试的测试类型对应的所述预定规则。

10.一种测试器，其特征在于，应用于光时域反射计OTDR测试系统，所述测试器包括权利要求6至9中任一项所述的装置。