CN107462753A - 用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置 - Google Patents

用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置 Download PDF

Info

Publication number
CN107462753A
CN107462753A CN201610392045.7A CN201610392045A CN107462753A CN 107462753 A CN107462753 A CN 107462753A CN 201610392045 A CN201610392045 A CN 201610392045A CN 107462753 A CN107462753 A CN 107462753A
Authority
CN
China
Prior art keywords
piece
esd
pin
ultrahigh speed
generating device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610392045.7A
Other languages
English (en)
Inventor
陆宇
郑辉
程玉华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Research Institute of Microelectronics of Peking University
Original Assignee
Shanghai Research Institute of Microelectronics of Peking University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Research Institute of Microelectronics of Peking University filed Critical Shanghai Research Institute of Microelectronics of Peking University
Priority to CN201610392045.7A priority Critical patent/CN107462753A/zh
Publication of CN107462753A publication Critical patent/CN107462753A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/28Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform

Abstract

本发明公开了一种用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置,该装置需要通过片外储能电容存储能量,通过片上的脉冲发生器处理电路处理脉冲波形,使脉冲的波形合乎国际标准,然后对器件的各个引脚进行放电测试。工作原理:电源通过正负极探针经片上的脉冲发生器处理电路向片外的储能电容进行冲电,当片外储能电容充满电时,再经过片上的脉冲发生器电路,对器件的各个引脚进行ESD测试。

Description

用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置
技术领域
本装置涉及片上脉冲发生器技术领域,尤其涉及通过片上的脉冲发生器处理电路对器件的各个引脚进行ESD测试的技术领域。
背景技术
目前的超高速脉冲发生器,都是在片外产生的,由于超高速脉冲对寄生参数特别敏感,所以通过电路走线之后,信号脉冲噪声和抖动比较大,其波形很难达到国际标准波形的要求。
片外的超高速脉冲发生器的脉冲过冲和振铃比较严重,很难消除。减少寄生参数和引线长度成为关键。
发明内容
为了解决上述问题,本方法提出了一种利用片上的超高速脉冲发生器处理电路产生标准脉冲波对器件的各个引脚进行ESD测试的装置。
本装置所采用的技术方案包括片外储能电容,片上的脉冲发生器处理电路。外接电源通过两探针经片上的脉冲发生器处理电路对片外储能电容进行充电,当片外储能电容充满电时,再经过脉冲发生器电路,对器件的各个引脚进行ESD测试,对各引脚进行放电,测试绘制I-V曲线。
本装置的有益效果是:
将脉冲发生器处理模块置于片上,其产生的脉冲具有低噪声,脉冲的纹波很小,过冲和抖动都很小,上升时间可控,由于电路走线很短,寄生参数小,波形比片外的脉冲发生器来得好,脉冲波形符合国际标准。
附图说明
下面结合图对本方法的具体实施方式作进一步说明。
图1是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的原理框图;
图2是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的一种实现;
图3是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的有源滤波器的原理框图;
图4是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的脉冲放大器的原理框图。
具体实施方式
实施例一
参考图1是片上超高速脉冲发生器模块装置的原理框图,该方法需要通过片外储能电容存储能量,通过片上的脉冲发生器处理电路处理脉冲波形,使脉冲的波形合乎国际标准,然后对器件的各个引脚进行放电测试。工作原理:电源通过正负极探针经片上的脉冲发生器处理电路向片外储能电容进行充电,当片外储能电容充满电时,再经过片上的脉冲发生器电路,对器件的各个引脚进行ESD测试。
实施例二
参考图2是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的一种实现的原理框图,包括片外储能电容3,CMOS开关S1(24),CMOS开关S2(27) ,有源滤波器23,脉冲放大器25,对芯片引脚输出26。所述的片外储能电容与CMOS开关S1相连,外接电源通过CMOS开关S1对片外储能电容进行充电,片外储能电容与CMOS开关S2相连,当对外放电时,开关S1断开,开关S2闭合,脉冲通过开关S2,CMOS开关S2与有源滤波器相连,有源滤波器与脉冲放大器相连。
参考图3是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的有源滤波器的原理框图,有3个引脚,引脚31为输入引脚,引脚33为输出引脚,引脚32为带宽控制引脚。带宽控制引脚可以根据电压控制滤波器带宽,信号从引脚31输入,引脚33输出,达到滤波作用。
参考图4是用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置的脉冲放大器的原理框图,有3个引脚,引脚44为输入引脚,引脚46为输出引脚,引脚45为增益控制引脚。增益控制引脚可以控制脉冲放大器的增益,信号从引脚44输入,引脚46输出,达到放大的作用。
实施例三
本发明装置可以固定滤波器的带宽,固定脉冲放大器的增益,以达到固化在芯片内部,对芯片进行ESD测试,绘制I-V曲线。
以上是对本装置进行比较好效果实施进行了具体说明,但本装置不限于所述的实施例。熟悉本领域的技术人员在不违背发明精神的前提下还可做出种种的等同变形或变换,这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (5)

1.一种用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置,其特征在于:包括片外储能电容,片上的脉冲发生器处理电路;外接电源通过两探针经片上的脉冲发生器处理电路对片外储能电容进行充电,当片外储能电容充满电时,再经过脉冲发生器电路,对器件的各个引脚进行ESD测试,对各引脚进行放电,测试绘制I-V曲线。
2.根据权利要求1所述的一种用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置,其特征在于:片上的脉冲发生器处理电路放电输出端与芯片的各个引脚连接,通过电路连接线对器件的各个引脚进行ESD测试。
3.根据权利要求1所述的一种用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置,其特征在于:片上的脉冲发生器电路包括有有源滤波器。
4.根据权利要求1所述的一种用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置,其特征在于:片上的脉冲发生器电路包括有脉冲放大器。
5.根据权利要求1所述的一种用于ESD检测的片上超高速脉冲产生装置,其特征在于:片上的脉冲发生器电路包括有耐高压开关。
CN201610392045.7A 2016-06-06 2016-06-06 用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置 Pending CN107462753A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610392045.7A CN107462753A (zh) 2016-06-06 2016-06-06 用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610392045.7A CN107462753A (zh) 2016-06-06 2016-06-06 用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107462753A true CN107462753A (zh) 2017-12-12

Family

ID=60545601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610392045.7A Pending CN107462753A (zh) 2016-06-06 2016-06-06 用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107462753A (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101373199A (zh) * 2007-08-23 2009-02-25 半导体元件工业有限责任公司 形成esd检测器的方法及其结构
CN102759688A (zh) * 2011-04-27 2012-10-31 夏普株式会社 高电压检查装置
CN203551722U (zh) * 2013-10-21 2014-04-16 合肥联宝信息技术有限公司 一种esd定位装置
CN104204827A (zh) * 2012-04-04 2014-12-10 夏普株式会社 Esd测试检查装置和esd测试检查方法
CN204359881U (zh) * 2015-01-09 2015-05-27 中国人民解放军军械工程学院 电磁脉冲辐射环境下静电放电试验装置
CN105093087A (zh) * 2014-05-22 2015-11-25 上海北京大学微电子研究院 Esd特性测试系统

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101373199A (zh) * 2007-08-23 2009-02-25 半导体元件工业有限责任公司 形成esd检测器的方法及其结构
US20090052100A1 (en) * 2007-08-23 2009-02-26 Stephen Paul Robb Method of forming an esd detector and structure therefor
CN102759688A (zh) * 2011-04-27 2012-10-31 夏普株式会社 高电压检查装置
CN104204827A (zh) * 2012-04-04 2014-12-10 夏普株式会社 Esd测试检查装置和esd测试检查方法
CN203551722U (zh) * 2013-10-21 2014-04-16 合肥联宝信息技术有限公司 一种esd定位装置
CN105093087A (zh) * 2014-05-22 2015-11-25 上海北京大学微电子研究院 Esd特性测试系统
CN204359881U (zh) * 2015-01-09 2015-05-27 中国人民解放军军械工程学院 电磁脉冲辐射环境下静电放电试验装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105116316B (zh) 集成电路电源噪声测量系统
CN103529371A (zh) 一种侵入式配电设备局部放电在线监测装置
CN110703065A (zh) 一种emccd动态老炼监控系统
CN105786273B (zh) 一种电容式触摸屏及其检测电路及电子设备
CN107462753A (zh) 用于esd检测的片上超高速脉冲产生装置
CN106297726B (zh) 采样保持电路、放电控制方法和显示装置
CN103402157B (zh) 音频电路、音频系统及消除pop噪声的方法
CN204988500U (zh) 一种有载分接开关机械振动信号调理电路
CN104750155B (zh) 一种带外接电容检测功能的ldo电路
CN202652146U (zh) 一种频率可调的自激多谐振荡器
CN205749862U (zh) 一种特高频局放标定系统专用干扰源
CN203825088U (zh) 谐波检测装置
CN203858194U (zh) 一种水质检测系统
CN205982669U (zh) 一种多频率金属异物检测机信号接收电路模块
CN106911984A (zh) 基于运放的声感电路
CN201340448Y (zh) 开关三极管的老炼电路装置
CN104215818A (zh) 一种高频除尘电源输出电流的采集电路
CN204101618U (zh) 一种高频除尘电源输出电流的采集电路
CN104079922A (zh) 视频信号测试装置
CN104224133A (zh) 适用于可穿戴设备的皮肤靠近检测电路与方法
CN108226621A (zh) 一种高精度峰谷值采样电路
CN104155551A (zh) 一种电力器件噪声试验装置
CN103869159A (zh) 谐波检测装置
CN204177737U (zh) 一种用于气液两相流测量装置的红外检测电路
CN203775160U (zh) 一种暂态地电压脉冲发生电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20171212

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication