CN107402726A - 一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法，包括：记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据擦除次数执行均值计算，得到SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；按预设周期获取SSD盘的温度数据，并计算得到在预设周期内的平均温度TEMPavi；获取SSD盘的固有参数；利用平均擦除次数PEavi、平均温度TEMPavi以及固有参数计算得到巡检周期。该确定方法其综合考虑对固态硬盘的各种影响因素，结合固有参数动态的计算出一个更合理的巡检周期，确定方法更科学、进行数据巡检更及时，提高了固态硬盘的使用时间以及使用效率，优化了使用体验。本申请还同时公开了一种固态硬盘数据巡检周期的确定系统，具有上述有益效果。
Description
技术领域
本申请涉及数据处理技术领域，特别涉及一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法及系统。
背景技术
随着互联网、云计算、物联网等技术的发展，固态硬盘作为新一代存储介质，被广泛应用于各领域。
在数据保存到固态硬盘上的flash介质后，在外界的时间、温度、湿度等因素的影响下，介质中数据会发生bit位的反转，当数据反转的比特位数超过纠错算法的纠错能力时，即为读出错。现有技术大多通过数据巡检的方法来缓解如上问题，但数据巡检的时间间隔是固定的，由此会弱化了数据巡检的效果，甚至引发其它诸多弊端。且如果数据巡检的时间间隔太长，则在固态硬盘的生命后期会由于巡检不及时，数据不能及时搬移出去而起不到应用的作用；如果间隔太短，会造成频繁的读写磁盘，磨损固态硬盘的寿命。
所以，如何综合考虑固态硬盘中各种影响因素，提供一种巡检周期更合理、延长固态硬盘使用时间以及提高使用效率的固态硬盘数据巡检周期确定机制是本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法及系统，其综合考虑对固态硬盘的各种影响因素，结合固有参数动态的计算出一个更合理的巡检周期，确定方法更科学、进行数据巡检更及时，提高了固态硬盘的使用时间以及使用效率，优化了使用体验。
为解决上述技术问题，本申请提供一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法，该确定方法包括：
记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；
按预设周期获取所述SSD盘的温度数据，并计算得到在所述预设周期内的平均温度TEMPavi；
获取所述SSD盘的固有参数；
利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期。
可选的，获取所述SSD盘的固有参数，包括：
获取所述SSD盘在出厂时设定的常温下数据最长保存时间TIMEmax；
获取所述SSD盘在出厂时设定的所述block的最大擦除次数PEmax；
获取所述SSD盘在出厂时设定的最高工作温度TEMPmax。
可选的，利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期，包括：
根据所述SSD盘的工作状态为温度与擦除次数分别生成预设系数a和预设系数1-a；其中，所述预设系数a的取值范围为[0，1]；
利用计算得到所述巡检周期TIME。
可选的，根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘的平均擦除次数PEavi，包括：
可选的，该确定方法还包括：
在所述SSD盘第一次上电运行时，按默认巡检周期执行第一次巡检操作；
当所述第一次巡检操作执行完毕后，将所述默认巡检周期替换为所述巡检周期。
本申请还提供了一种固态硬盘数据巡检周期的确定系统，该确定系统包括：
平均擦除次数获取单元，用于记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；
平均温度获取单元，用于按预设周期获取所述SSD盘的温度数据，并计算得到在所述预设周期内的平均温度TEMPavi；
固有参数获取单元，用于获取所述SSD盘的固有参数；
巡检周期计算单元，用于利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期。
可选的，所述固有参数获取单元包括：
最长保存时间子单元，用于获取所述SSD盘在出厂时设定的常温下数据最长保存时间TIMEmax；
最大擦除次数子单元，用于获取所述SSD盘在出厂时设定的所述block的最大擦除次数PEmax；
最高工作温度子单元，用于获取所述SSD盘在出厂时设定的最高工作温度TEMPmax。
可选的，所述巡检周期计算单元包括：
系数生成子单元，用于根据所述SSD盘的工作状态为温度与擦除次数分别生成预设系数a和预设系数1-a；其中，所述预设系数a的取值范围为[0,1]；
计算子单元，用于利用
计算得到所述巡检周期TIME。
可选的，所述平均擦除次数获取单元包括：
平均擦除次数计算子单元，用于利用计算得到PEavi。
可选的，该确定系统还可以包括：
默认巡检执行单元，用于在所述SSD盘第一次上电运行时，按默认巡检周期执行第一次巡检操作；
替代单元，用于当所述第一次巡检操作执行完毕后，将所述默认巡检周期替换为所述巡检周期。
本申请所提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法，通过记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；按预设周期获取所述SSD盘的温度数据，并计算得到在所述预设周期内的平均温度TEMPavi；获取所述SSD盘的固有参数；利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期。
显然，本申请所提供的技术方案，首先根据记录的block的擦除次数计算得到平均擦除次数PEavi，按预设周期获取周期内的平均温度TEMPavi，紧接着利用固有参数结合上述两者综合计算得到巡检周期。该确定方法综合考虑对固态硬盘的各种影响因素，结合固有参数动态的计算出一个更合理的巡检周期，确定方法更科学、进行数据巡检更及时，提高了固态硬盘的使用时间以及使用效率，优化了使用体验。本申请同时还提供了一种固态硬盘数据巡检周期的确定系统，具有上述有益效果，在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法的流程图；
图2为本申请实施例所提供的另一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法的流程图；
图3为本申请实施例所提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定系统的结构框图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法及系统，其综合考虑对固态硬盘的各种影响因素，结合固有参数动态的计算出一个更合理的巡检周期，确定方法更科学、进行数据巡检更及时，提高了固态硬盘的使用时间以及使用效率，优化了使用体验。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
以下结合图1，图1为本申请实施例所提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法的流程图。
其具体包括以下步骤：
S101：记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据擦除次数执行均值计算，得到SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；
本步骤旨在通过记录的该SSD盘上拥有的block各自的擦除次数，计算得到该SSD盘中所有block平均下来的擦除次数PEavi。
其中，block是SSD盘中的最小擦除单位，一个block通常为128个或256个page组成，page是SSD盘中的最小写入单位，通常情况下、没有特殊设置的情况下，一个page的大小为4K，当然根据不同的需求可以将一个page设置为8K甚至更大，相应的一个block的大小也会随之增大。总体来说，block的数量与SSD盘的总大小成正比。
虽然是按page为单位执行的写入动作，但是在擦除过程中是以block为最小单位进行擦除的，这是由固态硬盘的组成特性决定的。不同的数据文件可能存储在不同的block中，那么删除不同的数据文件时，不同block的擦除次数也可能不尽相同，即存在有的block的擦除次数多一些，有的可能少一些。本步骤旨在利用追踪和记录下的所有block各自的擦除次数来计算得到该SSD盘中的block整体的平均擦除次数，以得到一个相对有代表性的参数。
具体的，怎样执行该均值计算的方法有很多，结合不同的应用环境、实际擦除动作的执行者不同等各种影响因素，可以简单的利用各block的擦除次数相加再除以block的总个数得到，也可以结合实际使用偏好来加权，得到加权后的平均值等等，此处并不作具体限定，会在后续的实施例中进行详细说明。
S102：按预设周期获取SSD盘的温度数据，并计算得到在预设周期内的平均温度TEMPavi；
本步骤旨在按预设周期获取SSD盘的整体温度数据，并计算得到在预设周期内的平均温度TEMPavi。之所以要设定预设周期，并在计算得到该周期内的平均温度，是因为区别于现有技术中没有考虑到温度对SSD盘中存储颗粒的影响，而使用了固定的巡检周期，本步骤通过设定一个较短的温度检测周期，以计算得到实时的SSD盘温度数据，并将算得的平均温度数据作为一个影响巡检周期设定的因素，能够有效改善现有技术存在的缺陷。
具体的，怎样获取到SSD盘的温度数据方式多种多样，例如，可以在SSD盘内的合适位置额外设置温度传感器，以获取实时温度数据，也可以利用其它手段，诸如利用现有的温度传感器经过模糊换算得到SSD盘的温度数据等等，此处并不做具体限定，只需能够测得该SSD盘的温度数据即可。
S103：获取SSD盘的固有参数；
本步骤旨在获取SSD盘被制造完成、出厂时的固有参数，该固有参数包含信息很多，例如，正常工作电压、额定功率、存储空间、组成该存储空间的颗粒数、最大擦写次数、最高工作温度以及常温下数据最长保存时间等等，可以参考该固有参数结合其它影响因素来综合计算得到一个合理的数据巡检周期。
进一步，S101、S102、S103不存在步骤上的先后顺序，即可以以任何组合方式先后获取这些参数，此处并不做具体限定，可以结合具体应用场景、SSD盘型号、执行动作复杂程度以及测试人员习惯等来综合决定先后顺序。
S104：利用平均擦除次数PEavi、平均温度TEMPavi以及固有参数计算得到巡检周期。
本步骤建立在成功获取S101、S102、S103步骤中的平均擦除次数、平均温度以及固有参数的基础上，旨在利用上述三部分参数来综合计算得到该SSD盘的一个更合理的巡检周期。
具体的，计算方式多种多样，可以根据不同参数所起作用的不同、影响程度以及长期测试和使用经验得到一个合理的计算方式，此处并不做具体限定，且会在后续的实施例中给出一种较为优选的计算方式。
之所以要进行数据巡检，是因为当数据保存到flash介质后，在外界的时间、温度、湿度等因素的影响下，介质中数据会发生bit位的反转，当数据反转的比特位数超过纠错算法的纠错能力时，即为读出错。传统数据巡检的做法是每隔特定的时间，将介质中的数据逐page读取出来，如果page中数据反转的比特位数超过一定阈值(小于纠错算法可纠的bit位数)时，就将该block上所有的数据搬移到新的block上，由此提高数据稳定性。
进一步的，在一个SSD盘第一次通电、开始正常运转时，其就会激活预设的默认巡检周期，通常情况下，新使用的SSD盘的第一次巡检间隔可以较长，即采用默认巡检周期。在第一默认巡检周期执行之前，就可以采用本申请的方法来计算得到新的巡检周期，可以将该巡检周期设为在第一次默认巡检周期执行完毕后的第二次巡检周期，类似的，在第一巡检执行完毕后，第二次巡检执行前，再次按照本申请进行第三次巡检周期计算。
基于上述技术方案，本申请实施例提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法，首先根据记录的block的擦除次数计算得到平均擦除次数PEavi，按预设周期获取周期内的平均温度TEMPavi，紧接着利用固有参数结合上述两者综合计算得到巡检周期。该确定方法综合考虑对固态硬盘的各种影响因素，结合固有参数动态的计算出一个更合理的巡检周期，确定方法更科学、进行数据巡检更及时，提高了固态硬盘的使用时间以及使用效率，优化了使用体验。
以下结合图2，图2为本申请实施例所提供的另一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法的流程图。
其具体包括以下步骤：
S201：记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并利用计算得到PEavi；
本步骤采用将所有block各自记录的擦除次数进行累加，将累加的结果除以block的总个数，以此来计算得到平均擦除次数。
S202：按预设周期获取SSD盘的温度数据，并计算得到在预设周期内的平均温度TEMPavi；
本步骤与S102相同，相关内容可参见S102中的描述，在此不再赘述。
S203：获取SSD盘在出厂时设定的常温下数据最长保存时间TIMEmax；
S204：获取SSD盘在出厂时设定的block的最大擦除次数PEmax；
S205：获取SSD盘在出厂时设定的最高工作温度TEMPmax；
以上三步骤旨在获取与影响SSD盘中数据巡检周期有关的三个参数，即常温下数据最长保存时间TIMEmax、block的最大擦除次数PEmax以及最高工作温度TEMPmax，这三者通常会不仅以文字方式书写在该SSD盘的纸质说明书中，也会以电子数据的方式记录在SSD盘的属性信息里，可以经过简单的提取操作得到。
S206：根据SSD盘的工作状态为温度与擦除次数分别生成预设系数a和预设系数1-a；其中，预设系数a的取值范围为[0,1]；
S207：利用
计算得到巡检周期TIME。
以上两步骤，通过考虑对SSD盘数据巡检周期设定的两个最大影响因素的预设系数来突出某一因素所占的影响程度，其中，预设系数a的取值范围为[0,1]，相对应的另一预设系数为1-a，两这个预设系数可以根据实际情况的变化实时更新以得到更合理的巡检周期。
在完成主要两部分的预设系数的设定后，通过S207中的计算公式带入相关参数即可计算得到，该公式综合考虑到各参数之间的关系，可以较好的得到一个合理的巡检周期。
基于上述技术方案，本申请实施例提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法，首先根据记录的block的擦除次数计算得到平均擦除次数PEavi，按预设周期获取周期内的平均温度TEMPavi，紧接着利用固有参数结合上述两者综合计算得到巡检周期。该确定方法综合考虑对固态硬盘的各种影响因素，结合固有参数动态的计算出一个更合理的巡检周期，确定方法更科学、进行数据巡检更及时，提高了固态硬盘的使用时间以及使用效率，优化了使用体验。
因为情况复杂，无法一一列举进行阐述，本领域技术人员应能意识到更具本申请提供的基本方法原理结合实际情况可以存在很多的例子，在不付出足够的创造性劳动下，应均在本申请的保护范围内。
下面请参见图，图3为本申请实施例所提供的一种固态硬盘数据巡检周期的确定系统的结构框图。
该确定系统可以包括：
平均擦除次数获取单元100，用于记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据擦除次数执行均值计算，得到SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；
平均温度获取单元200，用于按预设周期获取SSD盘的温度数据，并计算得到在预设周期内的平均温度TEMPavi；
固有参数获取单元300，用于获取SSD盘的固有参数；
巡检周期计算单元400，用于利用平均擦除次数PEavi、平均温度TEMPavi以及固有参数计算得到巡检周期。
其中，固有参数获取单元300包括：
最长保存时间子单元，用于获取SSD盘在出厂时设定的常温下数据最长保存时间TIMEmax；
最大擦除次数子单元，用于获取SSD盘在出厂时设定的block的最大擦除次数PEmax；
最高工作温度子单元，用于获取SSD盘在出厂时设定的最高工作温度TEMPmax。
其中，巡检周期计算单元400包括：
系数生成子单元，用于根据SSD盘的工作状态为温度与擦除次数分别生成预设系数a和预设系数1-a；其中，预设系数a的取值范围为[0,1]；
计算子单元，用于利用
计算得到巡检周期TIME。
其中，平均擦除次数获取单元100包括：
平均擦除次数计算子单元，用于利用计算得到PEavi。
进一步的，该确定系统还可以包括：
默认巡检执行单元，用于在SSD盘第一次上电运行时，按默认巡检周期执行第一次巡检操作；
替代单元，用于当第一次巡检操作执行完毕后，使用巡检周期替代默认巡检周期。
以上各单元可以应用于以下的一个具体的实际例子中：
引起数据不稳定的外界因素有PE、温度等。PE是block擦除的次数，随着SSD的使用，block的PE会之间增大，block中存储的数据也会变得越来越不稳定；SSD盘的运行温度过高也会导致介质中的数据不稳定，温度越高数据越不稳定等。考虑到以上因素，本实施例将SSD所有block的平均PE和SSD盘平均运行温度为入参，通过仿真公式计算数据巡检的时间间隔。由此实现数据巡检时间间隔自适应变化，提高了数据巡检的有效性，降低了整个盘的写放大。
具体实施方式如下：
(1)SSD全局PE的跟踪
PE即block的擦除次数，SSD包含的所有block的PE可以在SSD使用过程中跟踪记录，当block被擦除完成后，该block的PE就加1。由于SSD盘包含的block的个数与盘容量是成正比的，因此盘符的平均PE为
其中PEavi为平均PE,n+1为SSD中block的个数，PEi为block为i的PE。
(2)SSD平均温度采集
SSD盘的运行温度是由传感器采集获得，固件程序可以固定时间间隔将盘运行温度采集一次，时间间隔比如可设定为5min，温度获取后可以计算盘符运行声明周期内的平均温度TEMPavi。
(3)巡检周期的确认
SSD颗粒的说明里通常会指明数据在常温下写入后可以保持的时间TIMEmax，通常该时间为几个月，同时会指明颗粒可中的block可以擦除的次数PEmax(在这次擦除次数范围内，保存的数据是正确的),指定颗粒的最高工作温度TEMPmax。巡检周期的确认可以按照如下公式：
其中a(a[0,1])为PE与温度两个因子在巡检周期计算中所占的比例，PE占的比重为a,温度占的比重为1-a,可以根据SSD具体使用情况，仿真获得a的大小。
(4)数据巡检流程
SSD第一次上电时，默认的巡检周期设定为当巡检结束后，下一次巡检的周期按照(3)中的公式设定，巡检间隔时间后开启新一轮的数据巡检。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以对本申请进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其它要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (10)
1.一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法，其特征在于，包括：
记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；
按预设周期获取所述SSD盘的温度数据，并计算得到在所述预设周期内的平均温度TEMPavi；
获取所述SSD盘的固有参数；
利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期。
2.根据权利要求1所述的确定方法，其特征在于，获取所述SSD盘的固有参数，包括：
获取所述SSD盘在出厂时设定的常温下数据最长保存时间TIMEmax；
获取所述SSD盘在出厂时设定的所述block的最大擦除次数PEmax；
获取所述SSD盘在出厂时设定的最高工作温度TEMPmax。
3.根据权利要求1或2所述的确定方法，其特征在于，利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期，包括：
根据所述SSD盘的工作状态为温度与擦除次数分别生成预设系数a和预设系数1-a；其中，所述预设系数a的取值范围为[0,1]；
利用计算得到所述巡检周期TIME。
4.根据权利要求3所述的控制方法，其特征在于，根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘的平均擦除次数PEavi，包括：
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<mo>=</mo>
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5.根据权利要求4所述的控制方法，其特征在于，还包括：
在所述SSD盘第一次上电运行时，按默认巡检周期执行第一次巡检操作；
当所述第一次巡检操作执行完毕后，将所述默认巡检周期替换为所述巡检周期。
6.一种固态硬盘数据巡检周期的确定系统，其特征在于，包括：
平均擦除次数获取单元，用于记录SSD盘上所有block各自的擦除次数，并根据所述擦除次数执行均值计算，得到所述SSD盘中block的平均擦除次数PEavi；
平均温度获取单元，用于按预设周期获取所述SSD盘的温度数据，并计算得到在所述预设周期内的平均温度TEMPavi；
固有参数获取单元，用于获取所述SSD盘的固有参数；
巡检周期计算单元，用于利用所述平均擦除次数PEavi、所述平均温度TEMPavi以及所述固有参数计算得到巡检周期。
7.根据权利要求6所述的确定系统，其特征在于，所述固有参数获取单元包括：
最长保存时间子单元，用于获取所述SSD盘在出厂时设定的常温下数据最长保存时间TIMEmax；
最大擦除次数子单元，用于获取所述SSD盘在出厂时设定的所述block的最大擦除次数PEmax；
最高工作温度子单元，用于获取所述SSD盘在出厂时设定的最高工作温度TEMPmax。
8.根据权利要求6或7所述的确定系统，其特征在于，所述巡检周期计算单元包括：
系数生成子单元，用于根据所述SSD盘的工作状态为温度与擦除次数分别生成预设系数a和预设系数1-a；其中，所述预设系数a的取值范围为[0,1]；
计算子单元，用于利用
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</mrow>
计算得到所述巡检周期TIME。
9.根据权利要求8所述的确定系统，其特征在于，所述平均擦除次数获取单元包括：
平均擦除次数计算子单元，用于利用计算得到PEavi。
10.根据权利要求9所述的确定系统，其特征在于，还包括：
默认巡检执行单元，用于在所述SSD盘第一次上电运行时，按默认巡检周期执行第一次巡检操作；
替代单元，用于当所述第一次巡检操作执行完毕后，将所述默认巡检周期替换为所述巡检周期。
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109240615A (zh) * | 2018-08-30 | 2019-01-18 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种固态硬盘的数据读取方法、装置及设备 |
| CN112214164A (zh) * | 2020-09-07 | 2021-01-12 | 上海威固信息技术股份有限公司 | 一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法 |
| CN112767216A (zh) * | 2021-01-22 | 2021-05-07 | 上海高诚智能科技有限公司 | 一种防汛设施巡检管理系统及方法 |
| CN113625935A (zh) * | 2020-05-08 | 2021-11-09 | 杭州海康存储科技有限公司 | 减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101796497A (zh) * | 2007-07-18 | 2010-08-04 | 富士通株式会社 | 存储器刷新装置和存储器刷新方法 |
| CN103049713A (zh) * | 2012-12-20 | 2013-04-17 | 华为技术有限公司 | 对存储设备中数据进行巡检的方法、设备及系统 |
| CN103077096A (zh) * | 2012-12-31 | 2013-05-01 | 记忆科技(深圳)有限公司 | 数据纠错系统、固态硬盘及数据纠错方法 |
| US20160173136A1 (en) * | 2013-12-16 | 2016-06-16 | International Business Machines Corporation | Dynamic adjustment of data protection schemes in flash storage systems based on temperature, power off duration and flash age |
| CN106910528A (zh) * | 2017-02-27 | 2017-06-30 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种固态硬盘数据巡检的优化方法及装置 |
-
2017
- 2017-08-07 CN CN201710666715.4A patent/CN107402726B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101796497A (zh) * | 2007-07-18 | 2010-08-04 | 富士通株式会社 | 存储器刷新装置和存储器刷新方法 |
| CN103049713A (zh) * | 2012-12-20 | 2013-04-17 | 华为技术有限公司 | 对存储设备中数据进行巡检的方法、设备及系统 |
| CN103077096A (zh) * | 2012-12-31 | 2013-05-01 | 记忆科技(深圳)有限公司 | 数据纠错系统、固态硬盘及数据纠错方法 |
| US20160173136A1 (en) * | 2013-12-16 | 2016-06-16 | International Business Machines Corporation | Dynamic adjustment of data protection schemes in flash storage systems based on temperature, power off duration and flash age |
| CN106910528A (zh) * | 2017-02-27 | 2017-06-30 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种固态硬盘数据巡检的优化方法及装置 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109240615A (zh) * | 2018-08-30 | 2019-01-18 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种固态硬盘的数据读取方法、装置及设备 |
| CN109240615B (zh) * | 2018-08-30 | 2021-10-15 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种固态硬盘的数据读取方法、装置及设备 |
| CN113625935A (zh) * | 2020-05-08 | 2021-11-09 | 杭州海康存储科技有限公司 | 减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质 |
| CN113625935B (zh) * | 2020-05-08 | 2024-03-29 | 杭州海康存储科技有限公司 | 减少读干扰影响的方法、装置、设备及存储介质 |
| CN112214164A (zh) * | 2020-09-07 | 2021-01-12 | 上海威固信息技术股份有限公司 | 一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法 |
| CN112214164B (zh) * | 2020-09-07 | 2024-03-29 | 上海威固信息技术股份有限公司 | 一种固态硬盘数据巡检周期的确定方法 |
| CN112767216A (zh) * | 2021-01-22 | 2021-05-07 | 上海高诚智能科技有限公司 | 一种防汛设施巡检管理系统及方法 |
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