CN107305445A - 触控杂讯滤除的方法以及触控装置 - Google Patents

触控杂讯滤除的方法以及触控装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供了触控杂讯滤除的方法以及触控装置，其方法包括以下步骤：取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个触控电极的连接电容值；将每个触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个触控电极的电容差值；将沿第一方向将每一行最后一个触控电极的标准电容值作为该还原信号的电容值；自最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个触控电极的还原信号的电容值，将每个触控电极的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为该触控电极的还原信号的电容值，并进行坐标运算。

Description

触控杂讯滤除的方法以及触控装置
技术领域
本发明涉及触控识别领域，尤其涉及一种触摸面板和液晶面板的一体化设备中的触控杂讯滤除的方法以及触控装置。
背景技术
触控面板的技术原理是当手指或其他介质接触到荧幕时，依据不同感应方式，侦测电压、电流、声波或红外线等，进而测出触压点的坐标位置。例如电阻式触控面板即为利用上、下电极间的电位差，用以计算施压点位置检测出触控点所在。电容式触控面板是利用排列的透明电极与人体之间的静电结合所产生的电容变化，从所产生的电流或电压来检测其坐标。
相对于将电容式触摸面板设置在液晶面板上使用的原有方法，将电容式触摸面板功能与液晶面板一体化的研究日渐盛行。触摸面板和液晶面板的一体化包括“In-cell”方法和“On-cell”方法。In-cell是指将触摸面板功能嵌入到液晶像素中的方法。On-cell是指将触摸面板功能嵌入到彩色滤光片基板和偏光板之间的方法。
而在触摸面板和液晶面板的一体化(In-cell)模式中触摸面板的电容受到OLED电路的干扰，造成某些时候整条电容被抬高许多，无法准确辨识触控点。杂讯是由OLED播放画面造成的。如图1所示，触控面板1’的周围分别设有驱动电路2’和感测电路3’。触控面板1’上设有驱动导线21’(drivingline)和感测导线31’(sensing line)，驱动导线和感测导线之间设有电容，驱动电路2’对触控面板1’上的驱动导线进行驱动，感测电路3’感测触控面板1’上的感测导线的信号。触控面板1’上与驱动电路2’相连接的第一方向(X方向)的导体线又称为驱动导线21’，而与感测电路3’相连接的第二方向(Y方向)的导体线又称为感测导线31’。驱动导线21’与感测导线31’之间连接电容。在每个时间周期的前半周期时，由驱动电路2’对第一方向的导体线21’驱动，其使用电压对电容充电。在每个时间周期的后半周期时，所有感测电路3’感测所有第二方向的导体线31’上的电压，用以获得n个资料，经过m个驱动周期后，即可获得m×n个资料。
但是，当手指触摸触控面板1’的按压位置A处时，会产生受到电路的干扰产生的触摸杂讯，则感测电路3’会测得包含了正常信号Si和杂讯Ni的连接信号Li(Li＝Si+Ni)，故而容易造成误差，进而影响电容式触控面板1’的感测分辨率。
有鉴于此，发明人提供了一种触控杂讯滤除的方法以及触控装置。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的在于提供触控杂讯滤除的方法以及触控装置，能够减小杂讯对触控面板的干扰，提高触控面板的感测分辨率。
根据本发明的一个方面，提供一种触控杂讯滤除方法，用于一触控面板，所述触控面板具有若干个触控电极，包括以下步骤：
步骤101、取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个所述触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个所述触控电极的连接电容值；
步骤102、将每个所述触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个所述触控电极的电容差值；
步骤103、将沿第一方向将每一行最后一个触控电极的标准电容值作为该还原信号的电容值；
步骤104、自所述最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个所述触控电极的还原信号的电容值，将每个所述触控电极在正常信号下的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为所述触控电极的还原信号的电容值。
优选地，所述步骤104之后还包括步骤105；
步骤105、将所述触控电极的还原信号的电容值进行坐标运算。
优选地，所述第一方向为从左至右，所述第二方向为从右至左。
优选地，所述第一方向为从右至左，所述第二方向为从左至右。
优选地，所述触控面板是电容式触控面板。
根据本发明的另一个方面，还提供一触控面板，用于实施上述触控杂讯滤除的方法，包括：
所述触控面板上设有驱动导线和感测导线，驱动导线和感测导线之间设有电容；
一驱动电路，对触控面板上的驱动导线进行驱动；
一感测电路，感测触控面板上的感测导线的信号；以及
一处理单元，连接所述感测电路，取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个所述触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个所述触控电极的连接电容值；将每个所述触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个所述触控电极的电容差值；将沿第一方向将每一行最后一个触控电极的标准电容值作为该还原信号的电容值；自所述最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个所述触控电极的还原信号的电容值，将每个所述触控电极在正常信号下的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为所述触控电极的还原信号的电容值。
优选地，所述处理单元将所述触控电极的还原信号的电容值进行坐标运算。
优选地，所述第一方向为从左至右，所述第二方向为从右至左。
优选地，所述第一方向为从右至左，所述第二方向为从左至右。
优选地，所述触控面板是电容式触控面板。
优选地，本发明的触控面板可以用于OLED、LCD、LED等显示设备，主要是要消除显示设备在顯示畫面時对触控面板的干擾
本发明的触控杂讯滤除的方法以及触控装置能够减小杂讯对触控面板的干扰，提高触控面板的感测分辨率。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为现有技术的电容式触控装置的模块连接示意图；
图2为本发明的触控装置的模块连接示意图；
图3为本发明的触控杂讯滤除方法的流程图；
图4为本发明中触控面板被输入正常信号时触控电极的标准电容值的柱状图；
图5为本发明中触控面板被输入正常信号时触控电极的标准电容值和受干扰后连接电容值的柱状图；以及
图6为本发明中触控面板被输入正常信号时触控电极的标准电容值和还原信号的电容值的柱状图。
附图标记
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本发明将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。
所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员应意识到，没有特定细节中的一个或更多，或者采用其它的方法、组元、材料等，也可以实践本发明的技术方案。在某些情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本发明。
如图2所示，本发明的触控面板，用于实施本发明的触控杂讯滤除的方法，包括：触控面板1、驱动电路2、感测电路3和处理单元4。触控面板1中包括矩阵排列的多个触控电极。本实施例中每个触控电极都是电容式触控电极，但不以此为限。驱动电路2和感测电路3分别设置在所述触控面板1的周围。处理单元4连接所述感测电路3。触控面板1是电容式触控面板。触控面板1上设有驱动导线21(driving line)和感测导线31(sensing line)，驱动导线和感测导线之间设有电容。驱动电路2被配置为对触控面板1上的驱动导线进行驱动。感测电路3被配置为感测触控面板1上的感测导线的信号。触控面板1上与驱动电路2相连接的第一方向(X方向)的导体线又称为驱动导线21，而与感测电路3相连接的第二方向(Y方向)的导体线又称为感测导线31。驱动导线21与感测导线31之间连接电容。在每个时间周期的前半周期时，由驱动电路2对第一方向的导体线21驱动，其使用电压对电容充电。在每个时间周期的后半周期时，所有感测电路3感测所有第二方向的导体线31上的电压，用以获得n个资料，经过m个驱动周期后，即可获得m×n个资料。处理单元被配置为取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个触控电极的连接电容值；将每个触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个触控电极的电容差值；将沿第一方向将每一行最后一个触控电极的标准电容值作为该还原信号的电容值；自最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个触控电极的还原信号的电容值，将每个触控电极的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为触控电极的还原信号的电容值，最后，将触控电极的还原信号的电容值进行坐标运算。触控面板是电容式触控面板，但不以此为限。
第一方向为从左至右，第二方向为从右至左，但不以此为限。或者，在本发明的其它实施例中，第一方向为从右至左，第二方向为从左至右。
如图3所示，本发明的一种触控杂讯滤除方法，用于一触控面板，触控面板是电容式触控面板。触控面板具有若干个触控电极，包括以下步骤：
步骤101、取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个触控电极的连接电容值。
步骤102、将每个触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个触控电极的电容差值。
步骤103、将沿第一方向将每一行最后一个触控电极的标准电容值作为该还原信号的电容值。
步骤104、自最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个触控电极的还原信号的电容值，将每个触控电极的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为触控电极的还原信号的电容值。第一方向F为从左至右，则第二方向为从右至左，但不以此为限。以及
步骤105、将触控电极的还原信号的电容值进行坐标运算。
在本发明的其它实施例中，第一方向也可以为从右至左，则第二方向可以为从左至右。当然，如果计算还原信号时以最右边为起始点，若换成(右-左)，计算还原信号时要换成以最左边为起始点，自左向右逐个计算。
本发明的实施情况如下：
信号\电容参考值1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
正常信号Si 100 104 109 98 93 101 111 181 250 161 105 99
表一
如表一所示，以一排12个触控电极为例，取得触控面板被输入至少一行正常信号Si时的每个触控电极的标准电容参考值。(本实施例中的电容参考值是触控IC将实际电容值转化成数字，这部分同样是看触控IC的能力，假设某颗触控IC以5pF为一单位，那数字1表示侦测到的电容是0～4pF，数字2表示侦测到的电容是5～9pF，以此类推，但不以此为限。本发明中以下的电容参考值均与此相同，不再赘述)
表二
如表二所示，取得触控面板受干扰后的每个触控电极的连接电容参考值，此时连接信号Li就是杂讯Ni与正常信号Si两者的电容参考值的和，所以，连接信号Li＝Si+Ni。
即：L1＝S1+N1＝603。
L2＝S2+N2＝593。
L3＝S3+N3＝605。
L4＝S4+N4＝614。
L5＝S5+N5＝593。
L6＝S6+N6＝619。
L7＝S7+N7＝621。
L8＝S8+N8＝671。
L9＝S9+N9＝747。
L10＝S10+N10＝650。
L11＝S11+N11＝615。
L12＝S12+N12＝615。
表三
如表三所示，将每个触控电极的连接电容参考值Li减去同一行中右侧相邻的另一个触控电极的连接电容参考值Li+1，得到每个触控电极的电容参考差值Di＝Li-Li+1。但是，最右边一个触控电极不能无法获得数据。
即：D1＝L1-L2＝10。
D2＝L2-L3＝-12。
D3＝L3-L4＝-9。
D4＝L4-L5＝21。
D5＝L5-L6＝-26。
D6＝L6-L7＝-2。
D7＝L7-L8＝-50。
D8＝L8-L9＝-76。
D9＝L9-L10＝97。
D10＝L10-L11＝35。
D11＝L11-L12＝0。
D12＝X(右边没有触控电极了，故D12无法计算)
表四
如表四所示，将沿自左向右的方向将最后一个触控电极在正常信号Si下的标准电容参考值作为该还原信号Ri的电容参考值。即：R12＝S12＝99。
自最后一个触控电极起，从右向左开始，逐个计算每个触控电极的还原信号Ri的电容参考值，将每个触控电极的电容参考差值Di加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号Ri+1的电容参考值，Ri＝Ri+1+Di，作为触控电极的还原信号Ri的电容参考值。
即：R11＝R12+D11＝77。
R10＝R11+D10＝87。
R9＝R10+D9＝89。
R8＝R9+D8＝77。
R7＝R8+D7＝87。
R6＝R7+D6＝89。
R5＝R6+D5＝77。
R4＝R5+D4＝87。
R3＝R4+D3＝89。
R2＝R3+D2＝77。
R1＝R2+D1＝87。
或者，还原信号Ri也可以表示为Ri＝Ri+1+Di＝Ri+1+Li-Li+1＝Ri+1+(Si+Ni)-(Si+1+Ni+1)＝Ri+1+(Si-Si+1)+(Ni-Ni+1)，不以此为限。
最后，可以将触控电极的还原信号Ri的电容参考值进行坐标运算。由于还原信号Ri的电容参考值之间。本发明中的还原信号Ri尽可能地减小了杂讯Ni的干扰，有助于减小杂讯Ni对触控面板的感测分辨率的影响。
综上可知，本发明的触控杂讯滤除的方法以及触控装置能够减小杂讯对触控面板的干扰，提高触控面板的感测分辨率。
以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本发明的实质内容。

Claims (10)

1.一种触控杂讯滤除方法，用于一触控面板，所述触控面板具有若干个触控电极，其特征在于，包括以下步骤：
步骤101、取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个所述触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个所述触控电极的连接电容值；
步骤102、将每个所述触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个所述触控电极的电容差值；
步骤103、将沿第一方向将每一行最后一个触控电极在正常信号下的标准电容值作为该还原信号的电容值；
步骤104、自所述最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个所述触控电极的还原信号的电容值，将每个所述触控电极的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为所述触控电极的还原信号的电容值。
2.如权利要求1所述的触控杂讯滤除方法，其特征在于，所述步骤104之后还包括步骤105；
步骤105、将所述触控电极的还原信号的电容值进行坐标运算。
3.如权利要求1所述的触控杂讯滤除方法，其特征在于，所述第一方向为从左至右，所述第二方向为从右至左。
4.如权利要求1所述的触控杂讯滤除方法，其特征在于，所述第一方向为从右至左，所述第二方向为从左至右。
5.如权利要求1所述的触控杂讯滤除方法，其特征在于，所述触控面板是电容式触控面板。
6.一种触控装置，其特征在于，用于实施如权利要求1至5中任意一项所述的触控杂讯滤除方法，包括：
一触控面板，所述触控面板上设有驱动导线和感测导线，驱动导线和感测导线之间设有电容；
一驱动电路，对触控面板上的驱动导线进行驱动；
一感测电路，感测触控面板上的感测导线的信号；以及
一处理单元，连接所述感测电路，取得触控面板被输入至少一行正常信号时的每个所述触控电极的标准电容值，并取得触控面板受干扰后的每个所述触控电极的连接电容值；将每个所述触控电极的连接电容值减去沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的连接电容值，得到每个所述触控电极的电容差值；将沿第一方向将每一行最后一个触控电极在正常信号下的标准电容值作为该还原信号的电容值；自所述最后一个触控电极起，沿与第一方向相反的第二方向逐个计算每个所述触控电极的还原信号的电容值，将每个所述触控电极的电容差值加上沿第一方向同一行中相邻的另一个触控电极的还原信号的电容值，作为所述触控电极的还原信号的电容值。
7.如权利要求6所述的触控装置，其特征在于，所述处理单元将所述触控电极的还原信号的电容值进行坐标运算。
8.如权利要求6所述的触控装置，其特征在于，所述第一方向为从左至右，所述第二方向为从右至左。
9.如权利要求6所述的触控装置，其特征在于，所述第一方向为从右至左，所述第二方向为从左至右。
10.如权利要求6所述的触控装置，其特征在于，所述触控面板是电容式触控面板。
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