CN107220649A - 一种素色布匹缺陷检测和分类方法 - Google Patents
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Abstract
一种素色布匹缺陷检测和分类方法,首先,对布匹的图像进行预处理;然后构造一个带阻滤波器;对预处理后的图像进行快速傅里叶变换后与构建好的滤波器进行卷积运算;对频域滤波后的图像进行傅里叶反变换后重构出具有显著缺陷的图像,对图像利用OTSU算法计算出最佳阈值,并进行阈值分割;通过斑点检测对二值化后的图像进行分析,判别有无缺陷;对阈值分割的图像进行形态学处理后提取特征向量作为神经网络的输入;通过已经训练好的神经网络分类器进行缺陷分类。本发明提高了检测效率、效果和产品可信度、节约了人力成本并降低了误检率。该方法能判别典型缺陷的类型,根据布匹上出现缺陷的类型判断生产过程中存在的问题,进而对机器的运行作进一步调整。
Description
技术领域
本发明涉及一种布匹的缺陷检测方法,具体涉及一种素色布匹的缺陷检测和分类方法,尤其是一种基于改进SIFT特征提取的布匹缺陷分类方法。
背景技术
布匹的缺陷检测是其生产过程中质量控制的重要环节。目前,国内绝大多数纺织服装行业企业仍由人眼目测完成该项工作,然而该方法检测速度慢,劳动强度大,检测结果受检验人员的经验、熟练程度以及一些主观因素的影响,缺乏一致性和可靠性。同时,这种工作方式还会极大的损伤工人的视觉系统。由于人工检测效率低且不是一种客观一致的评判方法,检测结果容易使行业上下游之间产生贸易纠纷和矛盾。在纺织工业里,缺陷的产生有多种因素。比如布匹生产的工序不对,纺线粗细不符合标准等等。根据布匹上出现缺陷的类型常常可以判断生产过程中存在的问题,进而对机器的运行作进一步调整。因此,对布匹缺陷进行正确高效的分类,有着重要的现实意义。目前,在国内大多数纺织工厂中,布匹缺陷的分类主要由人工来完成,效率低,代价高。
目前,布匹缺陷检测的技术主要有统计法、频谱法、模型法、和学习方法。这些方法涉及复杂的特征统计和分析,计算量较大,很难满足工业要求。
发明内容
1、要解决的技术方案
为了解决存在的上述问题,提高企业生产效率,降低用人成本。本发明的目的是提供一种素色布匹缺陷检测和分类方法,根据布匹上出现缺陷的类型,判断生产过程中存在的问题,进而对机器的运行作进一步调整。
2、技术方案
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:一种素色布匹缺陷检测和分类方法,其包括以下步骤:
(1)、采用工业相机采集相对运动中的布匹,获取布匹灰度图像;
(2)、将布匹灰度图像进行中值滤波来抑制噪声的干扰,对该预处理后的图像进行快速傅里叶变换;
(3)、用两个高斯滤波器构造一个带阻滤波器,在频域中把待检测图像与构造的滤波器进行卷积运算,然后进行傅里叶反变换重构原图像;
(4)、对步骤(3)所得的图像采用OTSU算法寻找最优阈值,进行阈值二值化分割;
(5)、若有缺陷,在二值化后的图像中,对取值为1的点以八联通的方式进行标注联通,使的分割出来的区域变得相互独立;
(6)、对步骤(5)所得到的图像采用形态学的方法对缺陷区域先膨胀再腐蚀,以消除各种干扰,使缺陷区域更加清晰;
(7)、对步骤(6)所得到的图像进行基于面积特征筛选缺陷区域,求出缺陷区域的最小外接矩形,算出缺陷区域质心;
(8)、用改进的SIFT算法对步骤(7)所得到的缺陷区域进行特征抽取,抽取的特征作为分类器的输入,判别缺陷的具体类型。
进一步的,在所述步骤(8)之前,对典型的缺陷图像进行滤波和形态学处理,建立典型的布匹缺陷类型库,用改进的SIFT算法对典型的布匹缺陷类型进行特征抽取,作为分类器的输入进行训练。
进一步的,在步骤(4)之后,若无缺陷,则继续采集下一帧图像。
进一步的,将判别出的布匹缺陷信息保存到计算机和云端数据库中,便于分享。
3、有益效果
本发明所涉及的布匹缺陷和分类技术,首先针对研究对象具有一定纹理干扰的特点,用两个高斯滤波器构造一个带阻滤波器与待检测图像做卷积运算,提取缺陷分量后变换到时域,有效的抑制了背景中的纹理干扰。然后采用OTSU算法寻找最优阈值,通过斑点检测对二值化后的图像进行分析,判别有无缺陷。如果有缺陷再对缺陷区域进行连通域处理、开闭运算、基于面积特征筛选等处理后对缺陷区域进行定位,输出缺陷信息。最后,对形态学处理后的缺陷用改进的SIFT算法进行特征抽取,把抽取的特征作为线性分类器的输入,判别缺陷的具体类型。本发明提出的布匹缺陷检测和分类方法,提高了检测效果、节约了人力成本、提高了检测效率和产品可信度、并降低了误检率。通过特征抽取和分类的方法能判别典型缺陷的类型,根据布匹上出现缺陷的类型可以判断生产过程中存在的问题,进而对机器的运行作进一步调整。如图11-13所示的检测结果表明,该方法能够检测出各种类型的缺陷,并且检测准确率和速度都很高。
附图说明
图1是本发明实施中一种素色布匹缺陷检测和分类方法流程图;
图2-7是实施例中采集的典型布匹缺陷以及其对应的形态学分析后的结果;
图8-9是以图4为例的缺陷检测过程图像;
图10是缺陷区域特征匹配结果图;
图11-13是典型的布匹缺陷图像检测结果输出图像。
具体实施方式
下面结合流程图和附图对本发明作进一步描述,此处说明仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施例:参见图1所示,为一种素色布匹缺陷检测和分类方法研究的流程图。首先,对采集布匹的图像进行预处理;然后构造两个高斯滤波器,进行相减后构造一个带阻滤波器来提取缺陷分量。对预处理后的图像进行快速傅里叶变换,然后与构建好的滤波器进行卷积运算。对频域滤波后的图像进行傅里叶反变换后重构出具有显著缺陷的图像,对图像利用OTSU(大津算法)算法计算出最佳阈值,并采用所述阈值对图像进行阈值分割;通过斑点检测对二值化后的图像进行分析,判别有无缺陷。对阈值分割的图像进行形态学处理。对形态学图像进行特征提取,提取后的特征向量作为神经网络的输入。通过已经训练好的神经网络分类器进行缺陷分类;最后布匹的缺陷信息被保存在计算机和云端数据库中。
如图2、4、6是本发明采集的典型布匹缺陷图像,以下以图4为例对检测算法进行具体阐述。
首先对采集来的布匹图像进行中值滤波,抑制随机噪声的同时能有效保护边缘少受模糊。把中值滤波后的图像进行FFT变换得到I(x,y)。构造两个高斯滤波器用两个高斯滤波器构造一个适用于检测对象的带阻滤波器B(x,y,σ)。把待检测到频域图像与构造的滤波器做卷积运算得L(x,y,σ)=B(x,y,σ)*I(x,y),其中x,y是空间坐标,σ表示空域中高斯主方向上的标准差。将卷积运算后的图像进行重构得到背景纹理与缺陷区域区分明显的灰度图像。
通过OTSU(大津算法)算法计算出最佳阈值,并采用所述阈值对图像进行阈值分割;采用DOG算法判别阈值分割后的图像有无缺陷。
二维高斯函数的拉普拉斯变换为为避免非规范化的拉普拉斯相应出现衰减现象,对其规范化后然后将规范化后的高斯拉普拉斯进行卷积,在图像的位置空间和尺度空间进行搜索,当某一像素点的3*3领域内达到极值时,可以判定图像中存在缺陷,否则采集下一幅图像检测。
对含有却像的二值图像采用形态学的方法对缺陷区域先膨胀再腐蚀,以消除各种干扰,使缺陷区域更加清晰。
对典型的缺陷图像进行滤波和形态学处理,建立典型的布匹缺陷类型库,用改进的SIFT算法对典型的布匹缺陷类型进行特征抽取,作为分类器的输入进行训练。
用改进的SIFT算法对分割后的缺陷区域进行特征提取,具体方法为构建3*3的小区域,遍历二值图像的所有像素。算法公式为:
化简得其中M为协方差矩阵,表现了像素点所有方向上的灰度强度变化率。
训练好的分类器对接收到的缺陷特征与所述分类器数据库中的各样本进行匹配识别,并将识别结果输出至决策模块。
特征点匹配采用特征点的特征向量欧式最近距离来确定,特征向量欧式最近距离与事先设定的阈值进行比较,从而确定是否接受匹配。
欧式距离相似性度量公式:
其中Vi是训练模板中关键点的特征向量描述子,Ri是缺陷图像中关键点的特征向量描述子。
将布匹的缺陷信息保存到计算机和云端数据库中,便于分享。
Claims (4)
1.一种素色布匹缺陷检测和分类方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)、采用工业相机采集相对运动中的布匹,获取布匹灰度图像;
(2)、将布匹灰度图像进行中值滤波来抑制噪声的干扰,对该预处理后的图像进行快速傅里叶变换;
(3)、用两个高斯滤波器构造一个带阻滤波器,在频域中把待检测图像与构造的滤波器进行卷积运算,然后进行傅里叶反变换重构原图像;
(4)、对步骤(3)所得的图像采用OTSU算法寻找最优阈值,进行阈值二值化分割,通过DOG检测算法对二值化后的图像进行分析,判别有无缺陷;
(5)、若有缺陷,在二值化后的图像中,对取值为1的点以八联通的方式进行标注联通,使的分割出来的区域变得相互独立;
(6)、对步骤(5)所得到的图像采用形态学的方法对缺陷区域先膨胀再腐蚀,以消除各种干扰,使缺陷区域更加清晰;
(7)、对步骤(6)所得到的图像进行基于面积特征筛选缺陷区域,求出缺陷区域的最小外接矩形,算出缺陷区域质心;
(8)、用改进的SIFT算法对步骤(7)所得到的缺陷区域进行特征抽取,抽取的特征作为分类器的输入,判别缺陷的具体类型。
2.根据权利要求1所述的一种素色布匹缺陷检测和分类方法,其特征在于:在所述步骤(8)之前,对典型的缺陷图像进行滤波和形态学处理,建立典型的布匹缺陷类型库,用改进的SIFT算法对典型的布匹缺陷类型进行特征抽取,作为分类器的输入进行训练。
3.根据权利要求2所述的一种素色布匹缺陷检测和分类方法,其特征在于:在步骤(4)之后,若无缺陷,则继续采集下一帧图像。
4.根据权利要求3所述的一种素色布匹缺陷检测和分类方法,其特征在于:将判别出的布匹缺陷信息保存到计算机和云端数据库中,便于分享。
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PB01 | Publication | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
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