CN107168569B - 一种参数调整方法及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了一种参数调整方法，包括：电子设备检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配。本发明实施例还公开了一种电子设备。
Description
技术领域
本发明涉及信息处理技术，尤其涉及一种参数调整方法及电子设备。
背景技术
现有桌面投影技术中，会带有触控功能，即电子设备能够识别实施于投影平面的触控操作，具体地，电子设备在投射出投影平面的同时，还会发射出红外检测平面，通过红外检测平面即可检测到实施于投影平面的触控操作；通常，在电子设备出厂时即存储有投影平面和红外检测平面之间的固定位置关系，进而基于存储的该固定位置关系来识别触控操作，但是，当投影平面和红外检测平面之间的相对位置关系发生变化时，继续利用固定位置关系来识别触控操作则会出现误差，甚至识别错误。
发明内容
为解决现有存在的技术问题，本发明实施例提供了一种参数调整方法及电子设备，能至少解决现有技术中存在的上述问题。
本发明实施例的技术方案是这样实现的：
本发明实施例第一方面提供了一种参数调整方法，其特征在于，所述方法包括：
电子设备检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；
将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；
检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。
本发明实施例第二方面提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
投影装置，用于投射第一投影平面；
传感器，用于发射识别用户操作的第一检测平面；
处理器，用于检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；还用于检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。
本发明实施例所述的参数调整方法及电子设备，能够在检测到目标指令后，获取当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系，并将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对，进而在确定所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配，对调整预设相对位置关系，并使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，这样，当所述电子设备利用调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作时，能够提升识别精确度，为提升用户体验奠定了基础。另外，由于本发明实施例能够基于所述电子设备实际发射出的投影平面与检测平面之间的位置关系进行用户操作的识别过程，所以，本发明实施例降低了对电子设备的应用场景的要求，无需对应用场景进行特殊限制，进而进一步为提升用户体验奠定了基础。
附图说明
图1为本发明实施例参数调整方法的实现流程示意图；
图2为本发明实施例投影平面与检测平面处于预设相对位置关系的示意图；
图3为本发明实施例投影平面与检测平面未处于预设相对位置关系的示意图；
图4为本发明实施例电子设备的组成结构示意图。
具体实施方式
为了能够更加详尽地了解本发明的特点与技术内容，下面结合附图对本发明的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本发明。
实施例一
本实施例提供了一种参数调整方法，所述方法应用于电子设备中；这里，所述电子设备设置或连接有能够投射出投影平面的投影装置，以及能够发射出用于识别用户操作的检测平面(如红外检测平面)的传感器(如红外传感器)；例如，所述电子设备设置有投影仪和红外发射器，所述红外发射器设置于投影仪的下面，当投影仪将投影平面投影至桌面时，红外发射器能够发射出沿桌面的红外检测平面，该红外检测平面与桌面平行，即红外检测平面和投影平面平行，且红外检测平面与投影平面之间的距离处于预设距离范围内，如2mm，此时，投射于桌面上的投影平面坐标和发射出的红外检测平面的坐标相匹配，也即电子设备存储的预设相对位置关系与当前投射的投影平面和红外检测平面之间的位置关系相匹配，此时，电子设备能够利用红外检测平面识别实施于投影平面的触控操作，并响应该触控操作。进一步地，当电子设备的位置发生变化，或者桌面发生了变化，或者桌面不平整时，若依然利用电子设备存储的预设相对位置关系去响应触控操作，则会出现识别误差，设置识别错误。因此，为解决上述问题，本实施例提供了一种能够根据投影平面和红外检测平面之间的实际相对位置关系来调整电子设备出厂时存储的预设相对位置关系的方法，进而当利用调整后的预设相对位置关系进行触控识别时，能够提升识别精确度，为提升用户体验奠定了基础。具体地，图1为本发明实施例参数调整方法的实现流程示意图，如图1所示，所述方法包括：
步骤101：电子设备检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；
在一具体实施例中，所述电子设备可以通过如下方式生成目标指令；具体地，所述电子设备检测到所述电子设备从非工作状态变化到工作状态时，生成目标指令，也就是说，所述电子设备在开机后即触发投影平面与检测平面的校准过程；或者，检测到所述电子设备的位置发生变化时，生成目标指令；或者，检测到特定操作，如基于物理按键或虚拟按键的特征操作，或者检测到特定手势操作后，生成目标指令。
步骤102：将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；
本实施例中，如图2所示，所述预设相对位置关系即为电子设备在出厂时存储有的标准投影平面和标准检测平面之间的相对位置关系。这里，当所述电子设备当前对应的投影平面与当前发射出的检测平面之间的位置关系与预设相对位置关系匹配时，也即所述电子设备对应的投影平面与发射出的检测平面满足预设相对位置关系时，所述电子设备利用检测平面来识别实施于投影平面的触控操作的识别精确度满足预设规则，也即此时识别精确度高，识别错误率低。
进一步地，如图3所示，当所述电子设备当前对应的投影平面与当前发射出的检测平面之间的位置关系与预设相对位置关系不匹配时，若依然利用预设相对位置关系去响应实施于投影平面的用户操作，则会出现识别错误的问题，所以，在此种情况下需要对电子设备存储的预设相对位置关系进行调整，如此，来提升识别精确度。
步骤103：检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。
本实施例中，所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配指：所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系不满足预设相对位置关系。当然，在实际应用中，当所述电子设备确定所述第一相对位置关系不满足预设相对位置关系，还可以生成提示信息，以提示用户需要对电子设备当前所处的位置进行调整，例如更换投影平面所处的物理面，如桌面等。进而基于用户操作来确定是否对预设相对位置关系进行调整，如用户继续桌面投影操作，则对预设相对位置关系进行调整，若用户更换桌面，则检测更换后的投影平面与检测平面之间的相对位置关系是否满足预设相对位置关系。
这样，本发明实施例所述的方法，电子设备能够在检测到目标指令后，获取当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系，并将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对，进而在确定所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配，对调整预设相对位置关系，并使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，这样，当所述电子设备利用调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作时，能够提升识别精确度，为提升用户体验奠定了基础。另外，由于本发明实施例能够基于所述电子设备实际发射出的投影平面与检测平面之间的位置关系进行用户操作的识别过程，所以，本发明实施例降低了对电子设备的应用场景的要求，无需对应用场景进行特殊限制，进而进一步为提升用户体验奠定了基础。
实施例二
基于实施例一所述的方法，本实施例提供了评判所述第一相对位置关系与预设相对位置关系是否匹配的具体评判标准，具体地，
方式一：所述电子设备获取投射出的至少三个第一投射点的坐标信息，并根据所述至少三个第一投射点的坐标信息确定出所述电子设备投射出的第一投影平面，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；检测得到表征所述第一投影平面与所述标准投影平面不重合的检测结果，基于检测结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。也就是说，所述电子设备根据获取到的几个投射点的坐标，确定出具体地第一投射平面，进而将确定出的第一投射平面与标准投射平面去比对，判断两者是否重合，若重合，则认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系匹配，即所述第一相对位置关系满足预设相对位置关系，否则，认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配。
这里，在实际应用中，由于检测平面是悬浮于物理桌面之上的，并非直接落于所述投射平面(也即桌面)上的，也就是说，检测平面不存在因为桌面的不平整而发生变化的情况，所以，在实际应用中，可以在确定所述电子设备发射的第一检测平面与所述标准检测平面重合时，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合，进而根据所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合的检测结果来确定所述第一相对位置关系与预设相对位置关系是否匹配，如，当所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合时，认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系匹配，否则，认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配。这里，可以采用如下方式来判断第一投影平面与所述标准投影平面是否重合，其中，所述标准投影平面为已知平面，从第一投影平面中选取出若干个点，判断若干个点是否落于标准投影平面上，进而根据判断结果来确定第一投影平面与所述标准投影平面是否重合；或者，直接判断获取到的至少三个第一投射点是否落于所述标准投影平面上，进而来判断第一投影平面与所述标准投影平面是否重合。当然，在实际应用中，还可以采用其他方式来判断第一投影平面与标准投影平面是否重合，例如，当投影到桌面且桌面为矩形时，可以通过判断桌面的四个角对应的第一区域是否与标准投影平面重叠等来判断第一投影平面与所述标准投影平面是否重合，本实施例对此不作限制。
在另一具体实施例中，所述电子设备利用至少三个第一投射点确定出第一投射平面之后，还需要判断所述第一投射平面的平整度是否满足预设规则，进而避免由于第一投射平面不平整而导致操作识别度降低的问题。具体地，所述电子设备获取所述电子设备投射出的至少一个第二投射点的坐标信息，基于所述至少一个第二投射点的坐标信息，判断所述第二投射点是否落于所述第一投影平面中，进而至少根据表征所述第二投射点未落于所述第一投影平面中的判断结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。
例如，当所有第二投射点均落于所述第一投射平面时，可以认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则，或者，当每一所述第二投射点距所述第一投影平面的距离均处于预设距离范围内，此时，也认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则；或者，当选取出的第二投射点中超过预设个数的第二投射点距所述第一投影平面的距离均处于预设距离范围内，则也认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则，也就是说，当大多数第二投射点距所述第一投影平面的距离处于预设距离范围内时，也认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则。而当确定出所述第一投影平面的平整度满足预设规则时，则可直接根据所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合的检测结果，来确定是否对所述预设相对位置关系进行调整。
反之，认为所述第一投影平面的平整度不满足预设规则；进一步地，当确定出所述第一投影平面的平整度不满足预设规则时，即使所述第一投影平面与所述预设投影平面重合，由于投影平面不平整也会导致操作识别错误，所以，也需要对预设相对位置关系进行调整，例如，对不平整区域对应的预设相对位置关系进行调整，也即只调整不平整投影区域对应的预设相对位置关系，而其他区域不做调整，进而提高识别精确度。
进一步地，当所述第一投影平面的平整度不满足预设规则，且所述第一投影平面与所述预设投影平面也不重合，此时，必然需要对预设相对位置关系进行调整，而且，调整方式不仅要考虑到实际的投影平面与检测平面之间的相对位置关系，还要考虑到投影平面中不平整区域。如此，来提高识别精确度。
本实施例中，对所述预设相对位置关系进行调整可以具体是将实际的第一投影平面与第一检测平面之间的第一相对位置关系代替电子设备中存储的所述预设相对位置关系。
实施例三
本实施例提供了一种电子设备，这里，所述电子设备设置或连接有能够投射出投影平面的投影装置，以及能够发射出用于识别用户操作的检测平面(如红外检测平面)的传感器(如红外传感器)；例如，所述电子设备设置有投影仪和红外发射器，所述红外发射器设置于投影仪的下面，当投影仪将投影平面投影至桌面时，红外发射器能够发射出沿桌面的红外检测平面，该红外检测平面与桌面平行，即红外检测平面和投影平面平行，且红外检测平面与投影平面之间的距离处于预设距离范围内，如2mm，此时，投射于桌面上的投影平面坐标和发射出的红外检测平面的坐标相匹配，也即电子设备存储的预设相对位置关系与当前投射的投影平面和红外检测平面之间的位置关系相匹配，此时，电子设备能够利用红外检测平面识别实施于投影平面的触控操作，并响应该触控操作。进一步地，当电子设备的位置发生变化，或者桌面发生了变化，或者桌面不平整时，若依然利用电子设备存储的预设相对位置关系去响应触控操作，则会出现识别误差，设置识别错误。因此，为解决上述问题，本实施例提供了一种能够根据投影平面和红外检测平面之间的实际相对位置关系来调整电子设备出厂时存储的预设相对位置关系的电子设备，进而当利用调整后的预设相对位置关系进行触控识别时，能够提升识别精确度，为提升用户体验奠定了基础。具体地，如图4所示，所述电子设备包括：
投影装置41，用于投射第一投影平面；
传感器42，用于发射识别用户操作的第一检测平面；
处理器43，用于检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；还用于检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。
本实施例中，如图2所示，所述预设相对位置关系即为电子设备在出厂时存储有的标准投影平面和标准检测平面之间的相对位置关系。这里，当所述电子设备当前对应的投影平面与当前发射出的检测平面之间的位置关系与预设相对位置关系匹配时，也即所述电子设备对应的投影平面与发射出的检测平面满足预设相对位置关系时，所述电子设备利用检测平面来识别实施于投影平面的触控操作的识别精确度满足预设规则，也即此时识别精确度高，识别错误率低。
进一步地，如图3所示，当所述电子设备当前对应的投影平面与当前发射出的检测平面之间的位置关系与预设相对位置关系不匹配时，若依然利用预设相对位置关系去响应实施于投影平面的用户操作，则会出现识别错误的问题，所以，在此种情况下需要对电子设备存储的预设相对位置关系进行调整，如此，来提升识别精确度。
本实施例中，所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配指：所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系不满足预设相对位置关系。当然，在实际应用中，当所述电子设备确定所述第一相对位置关系不满足预设相对位置关系，还可以生成提示信息，以提示用户需要对电子设备当前所处的位置进行调整，例如更换投影平面所处的物理面，如桌面等。进而基于用户操作来确定是否对预设相对位置关系进行调整，如用户继续桌面投影操作，则对预设相对位置关系进行调整，若用户更换桌面，则检测更换后的投影平面与检测平面之间的相对位置关系是否满足预设相对位置关系。
在一具体实施例中，所述处理器43，还用于检测到所述电子设备从非工作状态变化到工作状态时，生成目标指令，也就是说，所述电子设备在开机后即触发投影平面与检测平面的校准过程；或者，检测到所述电子设备的位置发生变化时，生成目标指令；或者，检测到特定操作，如基于物理按键或虚拟按键的特征操作，或者检测到特定手势操作后，生成目标指令。
在另一具体实施例中，所述处理器43，还用于获取投射出的至少三个第一投射点的坐标信息；根据所述至少三个第一投射点的坐标信息确定出所述电子设备投射出的第一投影平面，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；检测得到表征所述第一投影平面与所述标准投影平面不重合的检测结果，基于检测结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。也就是说，所述处理器根据获取到的几个投射点的坐标，确定出具体地第一投射平面，进而将确定出的第一投射平面与标准投射平面去比对，判断两者是否重合，若重合，则认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系匹配，即所述第一相对位置关系满足预设相对位置关系，否则，认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配。
这里，在实际应用中，由于检测平面是悬浮于物理桌面之上的，并非直接落于所述投射平面(也即桌面)上的，也就是说，检测平面不存在因为桌面的不平整而发生变化的情况，所以，在实际应用中，所述处理器43，可以还用于确定所述电子设备发射的第一检测平面与所述标准检测平面重合时，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；进而根据所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合的检测结果来确定所述第一相对位置关系与预设相对位置关系是否匹配，如，当所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合时，认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系匹配，否则，认为所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配。这里，可以采用如下方式来判断第一投影平面与所述标准投影平面是否重合，其中，所述标准投影平面为已知平面，从第一投影平面中选取出若干个点，判断若干个点是否落于标准投影平面上，进而根据判断结果来确定第一投影平面与所述标准投影平面是否重合；或者，直接判断获取到的至少三个第一投射点是否落于所述标准投影平面上，进而来判断第一投影平面与所述标准投影平面是否重合。当然，在实际应用中，还可以采用其他方式来判断第一投影平面与标准投影平面是否重合，例如，当投影到桌面且桌面为矩形时，可以通过判断桌面的四个角对应的第一区域是否与标准投影平面重叠等来判断第一投影平面与所述标准投影平面是否重合，本实施例对此不作限制。
在另一具体实施例中，所述处理器利用至少三个第一投射点确定出第一投射平面之后，还需要判断所述第一投射平面的平整度是否满足预设规则，进而避免由于第一投射平面不平整而导致操作识别度降低的问题，具体地，所述处理器43，还用于获取投射出的至少一个第二投射点的坐标信息；基于所述至少一个第二投射点的坐标信息，判断所述第二投射点是否落于所述第一投影平面中；至少根据表征所述第二投射点未落于所述第一投影平面中的判断结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。
例如，当所有第二投射点均落于所述第一投射平面时，可以认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则，或者，当每一所述第二投射点距所述第一投影平面的距离均处于预设距离范围内，此时，也认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则；或者，当选取出的第二投射点中超过预设个数的第二投射点距所述第一投影平面的距离均处于预设距离范围内，则也认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则，也就是说，当大多数第二投射点距所述第一投影平面的距离处于预设距离范围内时，也认为所述第一投影平面的平整度满足预设规则。而当确定出所述第一投影平面的平整度满足预设规则时，则可直接根据所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合的检测结果，来确定是否对所述预设相对位置关系进行调整。
反之，认为所述第一投影平面的平整度不满足预设规则；进一步地，当确定出所述第一投影平面的平整度不满足预设规则时，即使所述第一投影平面与所述预设投影平面重合，由于投影平面不平整也会导致操作识别错误，所以，也需要对预设相对位置关系进行调整，例如，对不平整区域对应的预设相对位置关系进行调整，也即只调整不平整投影区域对应的预设相对位置关系，而其他区域不做调整，进而提高识别精确度。
进一步地，当所述第一投影平面的平整度不满足预设规则，且所述第一投影平面与所述预设投影平面也不重合，此时，必然需要对预设相对位置关系进行调整，而且，调整方式不仅要考虑到实际的投影平面与检测平面之间的相对位置关系，还要考虑到投影平面中不平整区域。如此，来提高识别精确度。
本实施例中，对所述预设相对位置关系进行调整可以具体是将实际的第一投影平面与第一检测平面之间的第一相对位置关系代替电子设备中存储的所述预设相对位置关系。
这样，本发明实施例所述的电子设备，能够在检测到目标指令后，获取当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系，并将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对，进而在确定所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配，对调整预设相对位置关系，并使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，这样，当所述电子设备利用调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作时，能够提升识别精确度，为提升用户体验奠定了基础。另外，由于本发明实施例能够基于所述电子设备实际发射出的投影平面与检测平面之间的位置关系进行用户操作的识别过程，所以，本发明实施例降低了对电子设备的应用场景的要求，无需对应用场景进行特殊限制，进而进一步为提升用户体验奠定了基础。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述仅是本发明实施例的实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明实施例原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明实施例的保护范围。
Claims (10)
1.一种参数调整方法，其特征在于，所述方法包括：
电子设备检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到所述电子设备当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；
将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；
检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
检测到所述电子设备从非工作状态变化到工作状态时，生成目标指令；或者，
检测到所述电子设备的位置发生变化时，生成目标指令。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述电子设备投射出的至少三个第一投射点的坐标信息；
根据所述至少三个第一投射点的坐标信息确定出所述电子设备投射出的第一投影平面，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；
检测得到表征所述第一投影平面与所述标准投影平面不重合的检测结果，基于检测结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合，包括：
确定所述电子设备发射的第一检测平面与所述标准检测平面重合时，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述电子设备投射出的至少一个第二投射点的坐标信息；
基于所述至少一个第二投射点的坐标信息，判断所述第二投射点是否落于所述第一投影平面中；
至少根据表征所述第二投射点未落于所述第一投影平面中的判断结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。
6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
投影装置，用于投射第一投影平面；
传感器，用于发射识别用户操作的第一检测平面；
处理器，用于检测到目标指令，基于所述目标指令检测得到当前投射出的第一投影平面与当前发射的用于识别用户操作的第一检测平面之间的第一相对位置关系；将所述第一相对位置关系与预设相对位置关系进行比对；其中，所述预设相对位置关系表征所述电子设备投射出的标准投影平面与所述电子设备发射的用于识别用户操作的标准检测平面之间的相对位置关系；还用于检测到表征所述第一相对位置关系与预设相对位置关系不匹配的比对结果，对所述预设相对位置关系进行调整，使调整后的所述预设相对位置关系与所述第一相对位置关系相匹配，以便于所述电子设备基于调整后的预设相对位置关系响应利用所述第一检测平面所检测到的实施于所述第一投影平面的用户操作。
7.根据权利要求6所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于检测到所述电子设备从非工作状态变化到工作状态时，生成目标指令；或者，检测到所述电子设备的位置发生变化时，生成目标指令。
8.根据权利要求6或7所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于获取投射出的至少三个第一投射点的坐标信息；根据所述至少三个第一投射点的坐标信息确定出所述电子设备投射出的第一投影平面，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合；检测得到表征所述第一投影平面与所述标准投影平面不重合的检测结果，基于检测结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。
9.根据权利要求8所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于确定所述电子设备发射的第一检测平面与所述标准检测平面重合时，检测所述第一投影平面是否与所述标准投影平面重合。
10.根据权利要求8所述的电子设备，其特征在于，所述处理器，还用于获取投射出的至少一个第二投射点的坐标信息；基于所述至少一个第二投射点的坐标信息，判断所述第二投射点是否落于所述第一投影平面中；至少根据表征所述第二投射点未落于所述第一投影平面中的判断结果生成表征所述第一相对位置关系与所述预设相对位置关系不匹配的比对结果。
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