CN107064777B - 一种单板测试装置及方法 - Google Patents

一种单板测试装置及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种单板测试装置及方法，包括：计数器A，计数器B，控制模块，待测试系统模块，继电器以及给控制模块供电的电源模块；在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；在经过预设的测试时间段或计数器A到达指定数值后，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。实现了单板测试的批量性及定量性，保证存储整机系统的可靠性。

Description

一种单板测试装置及方法
技术领域
本发明涉及单板测试领域，尤其涉及一种单板测试装置及方法。
背景技术
单板的可靠性是整机可靠性的重要基础，特别是在存储领域中，可靠性就是存储系统的生命，所以单板的可靠性就显得尤为重要。存储控制器在刚上电开机但系统BBU还没受控的时候如果发生意外掉电，容易造成整机软件系统的崩溃。在传统的单板疲劳测试中，AC掉电是发生在系统软件关机之后才进行，直接的AC掉电被视为异常操作，但是随着整机系统可靠性的发展，必须要将直接的AC上下电作为存储单板的一项可靠性测试，采用何种测试装置是当下丞待解决的技术问题。
发明内容
为了克服上述现有技术中的不足，本发明提供一种单板测试装置，包括：计数器A，计数器B，控制模块，待测试系统模块，继电器以及给控制模块供电的电源模块；
计数器A，计数器B，待测试系统模块，继电器分别与控制模块连接；
控制模块用于在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；
当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；
在经过预设的测试时间段或计数器A到达指定数值后，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。
优选地，待测试系统模块包括：OS操作系统模块，CPLD系统模块，LS系统模块；
CPLD系统模块用于当CPLD正常启动且所设定引脚逻辑状态正确后向计数器B反馈计数加一的信号；
LS系统模块用于当所设定电平信号正常且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号；
OS操作系统模块用于当操作系统正常启动且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号。
优选地，电源模块包括：常用电源模块，第一二极管，备用电源模块以及第二二极管；
常用电源模块与第一二极管阳极连接，第一二极管阴极与控制模块连接；
备用电源模块与第二二极管阳极连接，第二二极管阴极与控制模块连接。
优选地，备用电源模块采用锂二氧化锰电池CR1220。
常用电源模块采用供电电压为3.3V的外接电源。
优选地，控制模块采用STM32FI03ZET6处理器。
一种单板测试方法，测试方法包括：
在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；
开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；
当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；
在达到预设的测试时长后，测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据；
或，计数器A达到预设的数值时测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。
优选地，待测试系统模块为OS操作系统模块；整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，在OS操作系统模块启动后，OS操作系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电，且计数器A加一；
OS操作系统模块未动作，控制模块在等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；
在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入OS操作系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
优选地，待测试系统模块为CPLD系统模块；整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，在CPLD系统模块启动后，CPLD系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电而且计数器A加一；
CPLD系统模块未动作，控制模块在等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；
在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入CPLD系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
优选地，待测试系统模块为LS系统模块；整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，LS系统模块启动后，
LS系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电而且计数器A加一；
控制模块等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入LS系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
从以上技术方案可以看出，本发明具有以下优点：
本发明是基于单板直接AC上下电对整机系统影响方式的测试方法，保证整机系统测试的可靠性，实现了单板测试的批量性及定量性，保证存储整机系统的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为单板测试装置的整体示意图；
图2为单板测试方法的流程图。
具体实施方式
为使得本发明的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本具体实施例中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利保护的范围。
本发明提供了一种单板测试装置，如图1所示，包括：计数器A8，计数器B9，控制模块1，待测试系统模块3，继电器2以及给控制模块1供电的电源模块；
计数器A8，计数器B9，待测试系统模块3，继电器2分别与控制模块1连接；
控制模块1用于在测试初始阶段，控制模块1控制继电器2断开，AC上电；开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B9加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B9数据不变，计数器A8加一；在经过预设的测试时间段或计数器A到达指定数值后，控制模块中导出计数器A8和计数器B9的计数数据。
控制模块1采用STM32FI03ZET6处理器以及STM32FI03ZET6处理器的外围装置及功能电路。
本实施例中，待测试系统模块包括：OS操作系统模块，CPLD系统模块，LS系统模块；
CPLD系统模块用于当CPLD正常启动且所设定引脚逻辑状态正确后向计数器B反馈计数加一的信号；
LS系统模块用于当所设定电平信号正常且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号；
OS操作系统模块用于当操作系统正常启动且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号。
本实施例中，电源模块包括：常用电源模块4，第一二极管7，备用电源模块5以及第二二极管6；常用电源模块4与第一二极管阳7极连接，第一二极管7阴极与控制模块1连接；备用电源模块5与第二二极管6阳极连接，第二二极管6阴极与控制模块1连接。备用电源模块5采用锂二氧化锰电池CR1220。常用电源模块4采用供电电压为3.3V的外接电源。
备用电源模块利用单板自身的RTC模块中的CR1220。如果装置所在单板并无RTC模块，则自带备用电池。在单板正常上电时采用常用电源模块供电，在单板断电后由备用电源模块供电。
本发明还提供一种单板测试方法，如图2所示，测试方法包括：
S1：在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；
S2：开启整机测试；
S3：当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；
S4：当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；
S5：在达到预设的测试时长后，测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据；
或，计数器A达到预设的数值时测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。
S6：如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
S7：当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
本方法包括一种实施例：待测试系统模块为OS操作系统模块；
整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，在OS操作系统模块启动后，OS操作系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电，且计数器A加一；
OS操作系统模块未动作，控制模块在等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；
在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入OS操作系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
本方法还包括另一种实施例：待测试系统模块为CPLD系统模块；
整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，在CPLD系统模块启动后，CPLD系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电而且计数器A加一；
CPLD系统模块未动作，控制模块在等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；
在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入CPLD系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
本方法还包括另一种实施例：待测试系统模块为LS系统模块；
整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，LS系统模块启动后，
LS系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电而且计数器A加一；
控制模块等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入LS系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (9)

1.一种单板测试装置，其特征在于，包括：计数器A，计数器B，控制模块，待测试系统模块，继电器以及给控制模块供电的电源模块；
计数器A，计数器B，待测试系统模块，继电器分别与控制模块连接；
控制模块用于在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；
当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；
在经过预设的测试时间段或计数器A到达指定数值后，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。
2.根据权利要求1所述的单板测试装置，其特征在于，包括：
待测试系统模块包括：OS操作系统模块，CPLD系统模块，LS系统模块；
CPLD系统模块用于当CPLD正常启动且所设定引脚逻辑状态正确后向计数器B反馈计数加一的信号；
LS系统模块用于当所设定电平信号正常且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号；
OS操作系统模块用于当操作系统正常启动且稳定后向计数器B反馈计数加一的信号。
3.根据权利要求1所述的单板测试装置，其特征在于，
电源模块包括：常用电源模块，第一二极管，备用电源模块以及第二二极管；
常用电源模块与第一二极管阳极连接，第一二极管阴极与控制模块连接；
备用电源模块与第二二极管阳极连接，第二二极管阴极与控制模块连接。
4.根据权利要求3所述的单板测试装置，其特征在于，
备用电源模块采用锂二氧化锰电池CR1220，
常用电源模块采用供电电压为3.3V的外接电源。
5.根据权利要求1所述的单板测试装置，其特征在于，
控制模块采用STM32FI03ZET6处理器。
6.一种单板测试方法，其特征在于，采用权利要求1至5任一所述的单板测试装置进行测试，测试方法包括：
在测试初始阶段，控制模块控制继电器断开，AC上电；
开启整机测试，当待测试系统模块启动，待测试系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，控制模块将继电器关闭，AC掉电，计数器A加一；
当待测试系统模块未启动，控制模块在等待预设时长后，关闭继电器，计数器B数据不变，计数器A加一；
在达到预设的测试时长后，测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据；
或，计数器A达到预设的数值时测试结束，控制模块中导出计数器A和计数器B的计数数据。
7.根据权利要求6所述的单板测试方法，其特征在于，待测试系统模块为OS操作系统模块；
整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，在OS操作系统模块启动后，OS操作系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电，且计数器A加一；
OS操作系统模块未动作，控制模块在等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；
在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入OS操作系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
8.根据权利要求6所述的单板测试方法，其特征在于，待测试系统模块为CPLD系统模块；
整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，在CPLD系统模块启动后，CPLD系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电而且计数器A加一；
CPLD系统模块未动作，控制模块在等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；
在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入CPLD系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
9.根据权利要求6所述的单板测试方法，其特征在于，待测试系统模块为LS系统模块；
整机在断电过程中，控制模块将继电器断开，AC上电，LS系统模块启动后，
LS系统模块给控制模块一个中断信号，计数器B加一，随后控制模块将继电器关闭，AC掉电而且计数器A加一；
控制模块等待预设时长后关闭继电器，计数器B不变而计数器A加一；在达到预设的测试时长或计数器A达到预设的数值时，单板完成一次测试，从控制模块中导出测试报告；
通过计数器A的数值和计数器B的数值比较得到控制模块有多少次未进入LS系统模块；
如果计数器A比计数器B的数值大于一个可容限的范围时，则判定此单板可靠性FAIL；
反之，当计数器A比计数器B的数值落于一个可容限的范围中时，则判定此单板可靠性SUCCESS。
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