CN107064683A - 一种干扰检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种干扰检测装置，包括：探头，用于接收射频信号；至少两个射频处理电路，并联耦接所述探头，其中，所述射频处理电路工作的频带不同，当所述探头接收到所述射频信号时，所述至少两个射频处理电路分别对所述射频信号进行处理，分别得到第一处理结果、第二处理结果，并在所述第一处理结果、第二处理结果中选择匹配所述射频信号的频率的结果。通过上述结构的干扰检测装置，能够降低检测装置的设计难度以及成本。
Description
技术领域
本发明涉及射频干扰技术领域，尤其涉及一种干扰检测装置。
背景技术
在手机终端等通讯设备的研发过程中，经常会遇到射频接收通路上受到其他模块产生的信号影响，导致终端灵敏度下降的严重问题。
目前，工程师在排查导致终端灵敏度下降的手段中，通常会用高增益低噪声探头扫描各个模块，并连接至频谱仪进行分析，从而找出干扰源并进行针对性的改进。
这种高增益低噪声探头内部需要特殊设计以满足宽频带内不同频率响应的线性平坦度和线性度，且对于不同频率还需要进行分段的特殊补偿，同时有的还需要使用数字芯片使得出厂可以实现校准等功能，整体设计较难，成本较高。
发明内容
本发明主要解决的问题是提供一种干扰检测装置，能够降低检测干扰的成本。
为解决上述问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种干扰检测装置，包括：探头，用于接收射频信号；
至少两个射频处理电路，并联耦接所述探头，
其中，所述射频处理电路工作的频带不同，当所述探头接收到所述射频信号时，所述至少两个射频处理电路分别对所述射频信号进行处理，分别得到第一处理结果、第二处理结果，并在所述第一处理结果、第二处理结果中选择匹配所述射频信号的频率的结果。
本发明的有益效果是：通过至少两个射频处理电路分别对探头接收的射频信号进行处理，无需为了满足不同频率响应的线性平坦度和线性度进行特殊设计，以及对不同频率进行分段的特殊补偿，有效降低检测装置的设计难度以及成本。
附图说明
图1是本发明干扰检测装置一实施例的结构示意图；
图2是本发明干扰检测装置另一实施例的结构示意图；
图3是图2实施例中的干扰检测装置在一应用场景下内部工作的流程示意图；
图4是本发明干扰检测装置再一实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本发明进行详细说明。
请参阅图1，图1是本发明干扰检测装置一实施例的结构示意图，该干扰检测装置包括：探头10、第一射频处理电路11以及第二射频处理电路12。
探头10为无源探头，能够接收各种频率的射频信号。
第一射频处理电路11以及第二射频处理电路12，并联耦接探头10。
第一射频处理电路11以及第二射频处理电路12工作的频带不同，能够处理不同频率的射频信号，当探头10接收到射频信号时，第一射频处理电路11以及第二射频处理电路12分别对该射频信号进行处理，对应得到第一处理结果以及第二处理结果，并在该第一处理结果及第二处理结果中选择匹配该射频信号的频率的结果。
其中，在该第一处理结果及第二处理结果中选择匹配该射频信号的频率的结果的方法，具体包括：将第一射频电路11以及第二射频处理电路12的输出端均连接至频谱仪的输入端，并将频谱仪设置成保持最大值模式，当第一射频处理电路11以及第二射频处理电路12分别对射频信号进行处理后，频谱仪上显示的处理结果即为匹配该射频信号的频率的结果。根据频谱仪显示的处理结果，用户可进行下一步的分析及针对性的改进。
可选地，在其他实施例中，射频处理电路的个数不止为两个，还可以包括第三射频处理电路、第四射频处理电路，甚至是更多的射频处理电路，所有的射频处理电路均并联耦接探头10，所有的射频处理电路的工作频带均不同。可以理解的是，当射频处理电路的个数不止两个而为多个时，处理结果也不止两个而为多个，一个射频处理电路对应一个处理结果，同时，以相同的方法在该多个处理结果中选择匹配射频信号的频率的结果。
上述实施例中，通过至少两个射频处理电路分别对接收的射频信号进行处理，能够省去为了满足不同频率响应的线性平坦度和线性度进行的特殊设计，以及对不同频率进行分段的特殊补偿，有效降低干扰检测装置的设计难度以及成本。
需要说明的是，在下面的所有实施例中，均以射频处理电路的个数为4个进行说明，当在其他实施例中，射频处理电路的个数为两个、三个或更多个时，可在下面实施例中的结构上进行扩展。
请参阅图2，图2是本发明干扰检测装置另一实施例的结构示意图，该干扰检测装置包括：探头20、第一射频处理电路21、第二射频处理电路22、第三射频处理电路23、第四射频处理电路24、第一射频开关25、MCU 26以及按键27。
第一射频开关25的动端251耦接探头20的输出端201，第一射频开关的四个不动端252、253、254以及255分别耦接第一射频处理电路21的输入端211、第二射频处理电路22的输入端221、第三射频处理电路23的输入端231以及第四射频处理电路24的输入端241，且MCU 26耦接第一射频开关25的控制端256。
可以理解的是，为了尽可能减少元器件的数量、节约成本以及方便安装，本实施例中的第一射频开关25为单刀四掷开关，在其他实施例中，第一射频开关25可由单刀单掷、双掷或三掷开关的组合组成，在此不做限制。
在本实施例中，MCU 26通过控制端256控制第一射频开关25以选择四个射频处理电路中的一个射频处理电路对探头20接收的射频信号进行处理。
具体地，在本实施例中，当开始工作时，MCU 26启动定时器中断，当产生一个定时器中断时，MCU 26通过控制端256控制第一射频开关25依次切换下一个射频处理电路对探头20接收的射频信号进行处理，以便循环切换第一射频处理电路21、第二射频处理电路22、第三射频处理电路23以及第四射频处理电路24分别对探头20接收的射频信号进行处理，以对应得到四个处理结果，同时按照上述实施例中的方法，在该四个处理结果中选择匹配接收的射频信号的频率的结果。
可选地，为了增强用户的体验，以便能够手动选择合适的射频处理电路对接收的射频信号进行处理，本实施例的一个应用场景中，该干扰检测装置还包括按键27，耦接MCU26，用于产生从四个射频处理电路中选择一个射频处理电路的中断信号，同时该中断的优先级最高。
在该应用场景中，MCU 26在运行的过程中，MCU 26始终处于第一状态或第二状态：当MCU 26处于第一状态时，禁用定时器中断，当MCU 26处于第二状态时，开启定时器中断，具体地，MCU 26开启定时器中断包括：当产生一个定时器中断时，MCU 26通过第一射频开关25依次切换下一个射频处理电路对探头20接收的射频信号进行处理。
请参阅图3，图3是该应用场景中干扰检测装置当按键27产生中断后，内部工作的流程示意图，该流程包括：
S30：按键中断产生。
用户按下按键27，按键27产生中断。
S31：判断是否长按。
MCU 26判断当前用户是否是长按按键27，具体包括：判断按键27产生中断的时间是否超过预设的值，若该中断的时间超过预设的值时，则进入步骤S32，否则进入步骤S33，其中，预设的值根据设计或使用需要预先设定，例如可设定为3S、55或其他值。
S32：MCU进行第一状态与第二状态的切换。
当按键27产生中断的时间超过预设的值，即按键27长按时，MCU 26进行第一状态与第二状态的切换，具体包括：若当前MCU 26处于第一状态，则将MCU 26切换成第二状态，若当前MCU 26处于第二状态，则将MCU 26切换成第一状态。
S33：判断当前MCU是否处于第一状态。
若当前用户不是长按按键27，即产生中断的时间没有超过预设的值，则继续判断MCU 26是否处于第一状态，若当前MCU 26处于第一状态，则进入步骤S35，否则进入步骤S34。
S34：MCU控制第一射频开关依次切换下一个射频处理电路对探头接收的射频信号进行处理。
若MCU 26不是处于第一状态，即此时MCU 26处于第二状态时，则MCU 26控制第一射频开关25依次切换下一个射频处理电路对探头20接收的射频信号进行处理，当该射频处理电路将该射频信号处理完毕后，进入步骤S35。
S35：结束。
同时，在本实施例中，为了能够检测宽频干扰，第一射频处理电路21、第二射频处理电路22、第三射频处理电路23以及第四射频处理电路24工作的频带不同，且该四个射频处理电路工作的频带一起构成检测所需的频带，以便能够对探头接收的射频信号进行最有效、最匹配的处理。以此类推，在其他实施例中，当射频处理电路的个数为两个、三个或更多个数的时候，所有的射频处理电路工作的频带均不相同，且所有的工作频带一起构成检测所需要的频带。
请参阅图4，图4是本发明干扰检测装置再一实施例的结构示意图，该检测装置除了探头40、第一射频处理电路41、第二射频处理电路42、第三射频处理电路43、第四射频处理电路44、第一射频开关45、MCU46以及按键47外，进一步包括：第二射频开关48以及输出接口49。
探头40、第一射频处理电路41、第二射频处理电路42、第三射频处理电路43、第四射频处理电路44、第一射频开关45、MCU 46以及按键47与上述实施例中对应的结构相同或相似，在此不再赘述。
可选地，第二射频开关48与第一射频开关45的类型相同，为单刀四掷开关。
第二射频开关48的不动端482、483、484、485分别耦接第一射频处理电路41的输出端412、第二射频处理电路42的输出端422、第三射频处理电路43的输出端432以及第四射频处理电路44的输出端442，同时第二射频开关48的控制端486与第一射频开关45的控制端456耦接，且同时耦接MCU 46。
输出接口49，耦接第二射频开关48的动端481，用于将处理后的射频信号进行输出，可选地，本实施例中的输出接口49为SAM头，能够将处理后的射频信号输出至频谱仪，用于选择匹配探头40接收的射频信号的频率的结果。
具体地，在本实施例中，当MCU 46通过控制端456选择一个射频处理电路对探头40接收的射频信号进行处理时，MCU 46同时通过控制端486选择该射频处理电路，以将该射频处理电路处理的结果通过输出接口49进行输出。
可选地，第一射频处理电路41、第二射频处理电路42、第三射频处理电路43以及第四射频处理电路44分别包括第一放大器413、第二放大器423、第三放大器433以及第四放大器443，同时第一放大器413的使能端4131、第二放大器423的使能端4231、第三放大器433的使能端4331以及第四放大器443的使能端4431均耦接MCU 46(需要说明的是，为了图4的清晰，在图4中未将各个放大器的使能端与MCU 46耦接)。
当MCU 46通过控制端456控制第一射频开关45以选择其中一个射频处理电路对探头40接收的射频信号进行处理时，MCU 46通过使能端控制该其中一个射频处理电路中的放大器工作以及控制剩余部分的射频处理电路中的放大器不工作，以便降低整个检测装置的功耗，同时也能够减少底噪。
为便于理解，在此举出具体实例，当MCU 46通过控制端456控制第一射频开关45选择第一射频处理电路41对探头40接收的射频信号进行处理时，MCU 46通过使能端4131控制第一放大器413工作，同时通过使能端4321、4331、4431分别控制第二放大器423、第三放大器433以及第四放大器443不工作。
可选地，第一放大器413、第二放大器423、第三放大器433以及第四放大器443为低噪声放大器，能够放大微弱的信号，降低噪声干扰，同时，第一放大器413、第二放大器423、第三放大器433以及第四放大器443工作的频带不同，在设计时，可根据使用需要选择不同频带的放大器，在此不做限制。
例如：在本实施例的一个应用场景中，可以将第一放大器413选择为工作在GPS或北斗或格洛纳斯频带的放大器，如工作频带为1500Mhz～1620Mhz，将第二放大器423选择为工作在低频频带内的放大器，如工作频带为600Mhz～1Ghz，将第三放大器433选择为工作在中频频带内的放大器，如工作频带为1.7Ghz～2.1Ghz，将第四放大器443选择为工作在高频频带内的放大器，如工作频带为2.1Ghz～2.7Ghz。
可选地，由于探头40接收的信号一般带有杂波，为了后续判断的准确性，在放大器的输出端可耦接一个滤波器，例如，在一个应用场景中，当第一放大器413工作在GPS频带时，由于GPS信号较弱，带宽较窄，且在研发过程中会对GPS的干扰信号特别重视，因此在第一放大器413的输出端4132耦接滤波器414，使得第一射频处理电路41的处理结果更为准确。
可以理解的是，上述任一项实施例中的干扰检测装置还包括电源，为整个检测装置进行供电，同时检测装置还包括匹配电路，以满足射频电路在PCB板上制作时，走线阻抗满足精确的50欧姆，此电路属于本领域的常用技术手段，被本领域的技术人员所熟知，在此不再详述。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种干扰检测装置，其特征在于，包括：
探头，用于接收射频信号；
至少两个射频处理电路，并联耦接所述探头，
其中，所述射频处理电路工作的频带不同，当所述探头接收到所述射频信号时，所述至少两个射频处理电路分别对所述射频信号进行处理，分别得到第一处理结果、第二处理结果，并在所述第一处理结果、第二处理结果中选择匹配所述射频信号的频率的结果。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，
进一步包括MCU以及第一射频开关，
所述第一射频开关的动端耦接所述探头的输出端，所述第一射频开关的至少两个不动端分别耦接所述至少两个射频处理电路的输入端，所述MCU耦接所述第一射频开关的控制端，
所述MCU通过所述控制端控制所述第一射频开关以选择所述至少两个射频处理电路中的一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理。
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，
进一步包括按键，耦接所述MCU，用于产生从所述至少两个射频处理电路中选择一个所述射频处理电路的中断信号，所述中断的优先级最高。
4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，
所述MCU处于第一状态或第二状态；
当所述MCU处于所述第一状态时，禁用定时器中断，当所述MCU处于所述第二状态时，开启所述定时器中断；
其中，所述开启所述定时器中断具体包括：当产生一个所述定时器中断时，所述MCU通过所述第一射频开关依次切换下一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理。
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于，
当所述按键产生中断时，所述MCU判断所述中断的时间是否超过预设的值，当所述中断的时间超过所述预设的值时，所述MCU进行所述第一状态与所述第二状态的切换；
当所述中断的时间未超过所述预设的值时，继续判断当前所述MCU是否处于所述第一状态，若当前所述MCU处于所述第一状态，则所述MCU控制所述第一射频开关依次切换下一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理，否则不做任何改变。
6.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，
所述射频处理电路包括放大器，所述MCU耦接所述放大器的使能端，
当所述MCU通过所述控制端控制所述第一射频开关以选择所述至少两个射频处理电路中的一个所述射频处理电路对所述探头接收的所述射频信号进行处理时，所述MCU通过所述使能端控制所述其中一个所述射频处理电路中的所述放大器工作以及控制剩余部分的所述射频处理电路中的所述放大器不工作。
7.如权利要求6所述的检测装置，其特征在于，
所述放大器为低噪声放大器。
8.如权利要求7所述的检测装置，其特征在于，
所述射频处理电路还包括滤波器，耦接所述放大器的输出端。
9.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，
进一步包括第二射频开关，所述第二射频开关的至少两个不动端分别耦接所述至少两个射频处理电路的输出端，所述第二射频开关的控制端耦接所述第一射频开关的控制端；及
输出接口，耦接所述第二射频开关的动端，用于将处理后的所述射频信号进行输出。
10.如权利要求1至9所一项所述的检测装置，其特征在于，
所有所述射频处理电路工作的频带一起构成检测所需的频带。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| PB01 | Publication | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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Effective date of registration: 20231214 Address after: 361000 room 4101, No. 131, xinjingdongli, Haicang District, Xiamen City, Fujian Province Patentee after: Xiamen Jiupin sesame Information Technology Co.,Ltd. Address before: 518063 16 floor, block B, North TCL building, Nanshan District science and technology south ten road, Shenzhen, Guangdong. Patentee before: JRD COMMUNICATION (SHENZHEN) Ltd. |
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| TR01 | Transfer of patent right | ||
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Effective date of registration: 20231218 Address after: 516000, 1st Floor, Building B, No. 62 Jinye Street, Xiaojinkou Street Office, Huicheng District, Huizhou City, Guangdong Province Patentee after: Huizhou Chuanhua Magnetoelectronics Co.,Ltd. Address before: 361000 room 4101, No. 131, xinjingdongli, Haicang District, Xiamen City, Fujian Province Patentee before: Xiamen Jiupin sesame Information Technology Co.,Ltd. |
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