CN107064651A - 一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置 - Google Patents

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王淇锋
许晓
杜鹏宇
宋国维
王赫男
李梁
王聪
赵杰
王军伟
李志海
李士彬
李欣
彭紫楠
李延龙
严宗伟
张�浩
李红磊
肖竞
王胜田
韩楠
王玮民
何云峰
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    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2688—Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor
    • G01R27/2694—Measuring dielectric loss, e.g. loss angle, loss factor or power factor

Abstract

本发明公开了一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，其属于电力系统测量检修领域，其包括介质损耗测试电路以及用于连接所述介质损耗测试电路的多节高压电容器的高压线和CX线；当测上节电容C1时，高压线一端连接介质损耗测试电路的高压输出端HV，高压线另一端连接在下节电容C2两端，使下节电容C2两端等电位；当测下节电容C2时，高压线一端连接介质损耗测试电路的高压输出端HV，高压线另一端连接在下节电容C2顶端，CX线的一端连接介质损耗测试电路的试品输入端CX，CX线的另一端连接下节电容C2底端，此时介质损耗测试电路的试品输入端CX为接地信号。本发明无需高空作业拆头，省时省力，避免感应电伤人，测量准确，便于维护且造价低廉。

Description

一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置
技术领域
本发明涉及一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，属于电力系统测量检修领域。
背景技术
目前对220kV高压电容器进行测试时，需要检修人员爬到设备的顶端进行高压引线接头的工作，这就存在许多不安全因素：
1）人员高空作业不安全，可能导致高摔现象发生；
2）设备上方有感应电，可能感应电伤人。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供了一种省时省力、安全高效且精准方便的可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置。
本发明采用如下技术方案：
一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，所述多节高压电容器包括上节电容C1和下节电容C2，所述加屏蔽介损装置包括介质损耗测试电路以及用于连接所述介质损耗测试电路的多节高压电容器的高压线和CX线；所述高压线包括高压芯线和包裹在其外部的高压屏蔽层；当测量上节电容C1时，所述高压线的一端连接介质损耗测试电路的高压输出端HV，所述高压线的另一端的高压芯线和高压屏蔽层分别连接在下节电容C2两端，且所述高压芯线和高压屏蔽层等电位；当测量下节电容C2时，所述高压线的一端连接介质损耗测试电路的高压输出端HV，所述高压线的另一端的高压芯线和高压屏蔽层均连接在下节电容C2顶端，所述CX线的一端连接介质损耗测试电路的试品输入端CX，所述CX线的另一端的CX芯线连接下节电容C2底端，此时所述介质损耗测试电路的试品输入端CX为接地信号。
进一步的，所述介质损耗测试电路包括电源控制模块、升压电路、变压器T、可变电容CN、受控整流器D和CPU；所述电源控制模块的输出端连接变压器T的一次侧，所述变压器T的二次侧一端接地，另一端接高压输出端HV；所述电源控制模块的相应输出端经过升压电路后连接至所述试品输入端CX；所述可变电容CN并联在高压输出端HV和升压电路的输出端之间，所述受控整流器D的正极连接高压输出端HV，所述受控整流器D的负极连接所述升压电路的输出端；所述CPU通过电感分别采集可变电容CN所在线路和升压电路的输出线路上的电压值。
进一步的，所述介质损耗测试电路选用型号为AI-6000E的介质损耗测试仪。
本发明的有益效果如下：
本发明不需要高空作业拆头，即不需要高空作业拆除位于多节高压电容器顶部的接地线，大大降低了检修人员的工作量，且不存在高空作业危险性，且避免了拆一次侧接地线时的感应电伤人，提高了安全性；设计了介质损耗因数测试电路，测量准确，结构简单，便于维护且造价低廉，省时省力且节约成本。
附图说明
图1为本发明采用反接线测量上节电容C1电容量和介质损耗因数的接线示意图。
图2为本发明采用正接线测量下节电容C2电容量和介质损耗因数的接线示意图。
图3为介质损耗因数测试电路的工作原理图。
其中，1介质损耗因数测试电路、2高压输出端HV、3试品输入端CX、4-1高压芯线、4-2高压屏蔽层、5-1 CX芯线。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。
如图1~图3所示，本实施例涉及一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，所述多节高压电容器包括上节电容C1和下节电容C2，所述加屏蔽介损装置包括介质损耗测试电路1以及用于连接所述介质损耗测试电路1的多节高压电容器的高压线和CX线；所述高压线包括高压芯线4-1和包裹在其外部的高压屏蔽层4-2；当测量上节电容C1时，所述高压线的一端连接介质损耗测试电路1的高压输出端HV 2，所述高压线的另一端的高压芯线4-1和高压屏蔽层4-2分别连接在下节电容C2两端，且所述高压芯线4-1和高压屏蔽层4-2等电位；当测量下节电容C2时，所述高压线的一端连接介质损耗测试电路1的高压输出端HV 2，所述高压线的另一端的高压芯线4-1和高压屏蔽层4-2均连接在下节电容C2顶端，所述CX线的一端连接介质损耗测试电路1的试品输入端CX，所述CX线的另一端的CX芯线连接下节电容C2底端，此时所述介质损耗测试电路1的试品输入端CX为接地信号。
进一步的，如图3所示，所述介质损耗测试电路1包括电源控制模块、升压电路、变压器T、可变电容CN、受控整流器D和CPU；所述电源控制模块的输出端连接变压器T的一次侧，所述变压器T的二次侧一端接地，另一端接高压输出端HV 2；所述电源控制模块的相应输出端经过升压电路后连接至所述试品输入端CX；所述可变电容CN并联在高压输出端HV 2和升压电路的输出端之间，所述受控整流器D的正极连接高压输出端HV 2，所述受控整流器D的负极连接所述升压电路的输出端；所述CPU通过电感分别采集可变电容CN所在线路和升压电路的输出线路上的电压值。
本实施例采用介质损耗测试电路1的反接线测量上节电容C1的电容量和介质损耗因数，高压加压不超过3kV，测试接线如图1所示；采用正接线测量下节电容C2的电容量和介质损耗因数，测试接线如图2所示。
进一步的，所述介质损耗测试电路1选用型号为AI-6000E的介质损耗测试仪。
以上所述实施方式仅为本发明的优选实施例，而并非本发明可行实施的穷举。对于本领域一般技术人员而言，在不背离本发明原理和精神的前提下对其所作出的任何显而易见的改动，都应当被认为包含在本发明的权利要求保护范围之内。

Claims (3)

1.一种可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，所述多节高压电容器包括上节电容C1和下节电容C2，其特征在于：其包括介质损耗测试电路（1）以及用于连接所述介质损耗测试电路（1）的多节高压电容器的高压线和CX线；所述高压线包括高压芯线（4-1）和包裹在其外部的高压屏蔽层（4-2）；当测量上节电容C1时，所述高压线的一端连接介质损耗测试电路（1）的高压输出端HV（2），所述高压线的另一端的高压芯线（4-1）和高压屏蔽层（4-2）分别连接在下节电容C2两端，且所述高压芯线（4-1）和高压屏蔽层（4-2）等电位；当测量下节电容C2时，所述高压线的一端连接介质损耗测试电路（1）的高压输出端HV（2），所述高压线的另一端的高压芯线（4-1）和高压屏蔽层（4-2）均连接在下节电容C2顶端，所述CX线的一端连接介质损耗测试电路（1）的试品输入端CX，所述CX线的另一端的CX芯线连接下节电容C2底端，此时所述介质损耗测试电路（1）的试品输入端CX为接地信号。
2.根据权利要求1所述的可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，其特征在于：所述介质损耗测试电路（1）包括电源控制模块、升压电路、变压器T、可变电容CN、受控整流器D和CPU；所述电源控制模块的输出端连接变压器T的一次侧，所述变压器T的二次侧一端接地，另一端接高压输出端HV（2）；所述电源控制模块的相应输出端经过升压电路后连接至所述试品输入端CX；所述可变电容CN并联在高压输出端HV（2）和升压电路的输出端之间，所述受控整流器D的正极连接高压输出端HV（2），所述受控整流器D的负极连接所述升压电路的输出端；所述CPU通过电感分别采集可变电容CN所在线路和升压电路的输出线路上的电压值。
3.根据权利要求1所述的可不拆引线测试多节高压电容器的加屏蔽介损装置，其特征在于：所述介质损耗测试电路（1）选用型号为AI-6000E的介质损耗测试仪。
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