CN106991965A - 一种oled器件的老化补偿系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种OLED器件的老化补偿系统及方法，其中，OLED器件的老化补偿系统包括像素电路、数据线、感测线、第一电源、第二电源、源极驱动芯片，像素电路包括一OLED器件和驱动晶体管。感测线和数据线的个数相同，一条感测线和一条数据线相配合，同时连接于多个像素电路，感测线通过第一晶体管与OLED器件的阳极连接，用于感测OLED器件的电压VOLED；第一电源与驱动晶体管连接，第二电源与OLED器件阴极连接；源极驱动芯片与数据线连接，用于传送图像电压；源极驱动芯片与感测线连接，于查找表内查出当前发光效率，计算后得出补偿电压，对OLED器件进行老化补偿。本发明改善OLED器件老化造成亮度下降的问题，和改善显示残像问题，提高OLED显示屏的均匀性。

Description

一种OLED器件的老化补偿系统及方法
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种OLED器件的老化补偿系统及方法。
【背景技术】
现有的显示器主要包括有液晶显示器和OLED显示器。
液晶显示器具有机身薄、省电、辐射小等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶面板及背光模组(BacklightModule)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，并在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线透射出来产生画面。
其中，薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)由于具有低的功耗、优异的画面品质以及较高的生产良率等性能，近年来得到了飞速的发展和广泛的应用。具体而言，TFT-LCD可视为两片玻璃基板中间夹着一层液晶，上层的玻璃基板含有彩色滤光片、下层的玻璃基板上设置有薄膜晶体管。当电流通过薄膜晶体管时，产生电场变化，电场的变化引起液晶分子偏转，从而来改变光线的偏极性，而实现预期的显示画面。
有机发光二极管(OLED，Organic Light-Emitting Diode)显示技术与传统的液晶显示器(LCD，Liquid Crystal Display)显示方式不同，无需背光灯，采用非常薄的有机材料涂层，当有电流通过时，有机材料就会发光；具有对比度高、色域广、柔性、轻薄、节能等优点。近年来OLED显示技术逐渐在智能手机和平板电脑等移动设备、智能手表等柔性可穿戴设备、大尺寸曲面电视、白光照明等领域普及，发展势头强劲。
对于OLED显示器而言，每个像素均包括一OLED器件和用于驱动所述OLED器件发光的像素驱动电路。随着OLED显示器的使用，OLED器件发生老化后即使流过相同大小的电流，其内的有机材料老化，使得OLED显示器的显示效果下降，造成显示mura(斑)和显示亮度逐渐降低。
现有技术中，对OLED显示器的老化补偿一般仅补偿OLED显示器造成的显示mura。然而，其并不能够改善显示亮度逐渐降低的问题和残像问题。
【发明内容】
本发明的一个目的在于提供一种OLED器件的老化补偿系统，其对OLED器件进行感测和补偿，改善OLED器件的显示亮度逐渐降低的问题，改善残像问题。
本发明的另一个目的在于提供一种OLED器件的老化补偿方法，其对OLED器件进行补偿，改善OLED器件的显示亮度逐渐降低的问题，改善残像问题。
为解决上述问题，本发明的优选实施例提供了一种OLED器件的老化补偿系统，所述老化补偿系统包括：
多个像素电路，所述像素电路包括一OLED器件和驱动晶体管；
多条数据线；
多条感测线，所述感测线和数据线的个数相同，一条感测线和一条数据线相配合，同时连接于多个像素电路，其中感测线通过第一晶体管与OLED器件的阳极连接，用于感测所述OLED器件的电压VOLED；
第一电源，与所述驱动晶体管连接；
第二电源，与所述OLED器件连接，且所述OLED器件位于所述驱动晶体管和第二电源之间；
源极驱动芯片，所述源极驱动芯片与数据线连接，用于传送图像电压；所述源极驱动芯片与感测线连接，用于感测OLED器件的电压VOLED，形成补偿电压，对OLED器件进行老化补偿。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，所述老化补偿系统还包括栅极驱动芯片，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的栅极通过第二晶体管与数据线连接，所述驱动晶体管的漏极和第一电源连接，所述驱动晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述感测线还用于感测所述驱动晶体管的阈值电压Vth和迁移率K，所述源极驱动芯片还根据感测到的阈值电压Vth和迁移率K对驱动晶体管进行补偿。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，通过公式：得到第一补偿电压Vgs’，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对驱动晶体管进行补偿，以获得对OLED老化进行感测所需的电流条件，即全屏同色像素具有相同的发光电流；其中，K0为初始迁移率。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，所述老化补偿系统还包括：所述感测线以感测OLED器件的电压VOLED，以VOLED为索引在查找表内找到对应的数据，即为当前发光效率η，并根据公式b＝η/η0得出b的值，以通过公式：得到第二补偿电压Vgs”，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对OLED器件进行老化补偿，以及对驱动晶体管进行补偿；其中η0为初始发光效率。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，所述像素电路还包括电容，所述第一晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第一晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述第一晶体管的漏极和所述感测线连接，所述第二晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第二晶体管的源极和数据线连接，所述第二晶体管的漏极和驱动晶体管的栅极连接，所述电容一端连接在所述驱动晶体管的栅极，另一端连接在所述驱动晶体管的源极。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，所述驱动晶体管为薄膜晶体管。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，所述第一晶体管为薄膜晶体管。
在本发明优选实施例的老化补偿系统中，所述第二晶体管为薄膜晶体管。
为解决上述问题，本发明的优选实施例提供了一种OLED器件的老化补偿方法，应用于OLED器件老化补偿系统，所述老化补偿系统包括：
多个像素电路，所述像素电路包括一OLED器件和驱动晶体管；
多条数据线；
多条感测线，所述感测线和数据线的个数相同，一条感测线和一条数据线相配合，同时连接于多个像素电路，其中感测线通过第一晶体管与OLED器件的阳极连接，用于感测所述OLED器件的电压VOLED；
第一电源，与所述驱动晶体管连接；
第二电源，与所述OLED器件连接，且所述OLED器件位于所述驱动晶体管和第二电源之间；
源极驱动芯片，所述源极驱动芯片与数据线连接，用于传送图像电压；所述源极驱动芯片与感测线连接，用于感测OLED器件的电压VOLED，形成补偿电压，对OLED器件进行老化补偿；
所述老化补偿方法包括以下步骤：
先对驱动晶体管Vth和K进行补偿，使全屏同色像素具有相同的发光电流；
获取OLED器件发光时的电压VOLED；
将获取的OLED器件的电压VOLED作为索引，在查找表中找到对应的数据，即为当前发光效率η，根据公式b＝η/η0得出b的值；
根据公式：生成补偿电压；
将补偿电压通过数据线传送至所述驱动晶体管的栅极。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，所述老化补偿系统还包括栅极驱动芯片，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的栅极通过第二晶体管与数据线连接，所述驱动晶体管的漏极和第一电源连接，所述驱动晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述感测线还用于感测所述驱动晶体管的阈值电压Vth和迁移率K，所述源极驱动芯片还根据感测到的阈值电压Vth和迁移率K对驱动晶体管进行补偿。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，通过公式：得到第一补偿电压Vgs’，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对驱动晶体管进行补偿；其中，K0为初始迁移率。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，所述感测线感测OLED器件的电压VOLED，以VOLED作为索引，在查找表中找到对应的数据，即为当前发光效率η，并根据公式b＝η/η0得出b的值，以通过公式：得到第二补偿电压Vgs”，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对OLED器件进行老化补偿，以及对驱动晶体管进行补偿；其中η0为初始发光效率。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，所述像素电路还包括电容，所述第一晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第一晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述第一晶体管的漏极和所述感测线连接，所述第二晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第二晶体管的源极和数据线连接，所述第二晶体管的漏极和驱动晶体管的栅极连接，所述电容一端连接在所述驱动晶体管的栅极，另一端连接在所述驱动晶体管的源极。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，所述驱动晶体管为薄膜晶体管。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，所述第一晶体管为薄膜晶体管。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，所述第二晶体管为薄膜晶体管。
在本发明优选实施例的老化补偿方法中，制造出显示面板之后，裁切出多个TEG，被动方式点亮，进行大电流的老化测试，过程中间隔固定时间改为小电流Ityp，在Ityp下测量VOLED和亮度L并记录，测量完恢复大电流继续老化，用初始测量的L0和Ityp得到初始发光效率η0，后面每次测量条件都是电流为Ityp，得到VOLED和亮度L，计算得η，获得VOLED与η的对应关系；查找表内容为VOLED与η的对应关系，且以VOLED为索引，Ityp的取值使得TEG的电流密度与电流为I0的像素发光电流密度相同，Ityp＝I0*ATEG/Apixel；其中，ATEG为被动驱动的测试片的发光面积，Apixel为像素电路的发光面积，VOLED为被动驱动的测试片的电压。
相对于现有技术，本发明通过感测线和数据线相配合，且同时连接于多个像素电路，感测线和数据线分别连接到源极驱动芯片上，通过感测线对像素电路中OLED器件的电压VOLED进行感测。源极驱动芯片将VOLED转换为数字信号，并传回给时序控制芯片(TCON)。时序控制芯片根据感测线所感测到的电压VOLED，形成补偿电压的数字信号，传送给源极驱动芯片。源极驱动芯片将其转换为补偿电压，通过数据线传送至驱动晶体管栅极，对OLED器件进行老化补偿。在显示模式下，通过数据线向驱动晶体管栅极传送的补偿电压配合感测线向驱动晶体管源极传送的零伏电压，改善OLED器件老化造成亮度下降的问题，和改善显示残像问题，以提高OLED显示屏的均匀性。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：
【附图说明】
图1为本发明实施例数据线、感测线及像素电路三者连接的结构示意图；
图2为本发明实施例像素电路及其与驱动芯片连接示意图；
图3为本发明实施例感测模式下VOLED波形示意图；
图4为本发明实施例感测模式下像素电路的时序图；
图5为本发明实施例对OLED器件的感测方法的流程图。
图6为本发明实施例对驱动晶体管及OLED器件的补偿方法流程图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附件的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。
这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的，并且是用于描述本发明的示例性实施例的目的。但是本发明可以通过许多替换形式来具体实现，并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。另外，术语“包括”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
这里所使用的术语仅仅是为了描述具体实施例而不意图限制示例性实施例。除非上下文明确地另有所指，否则这里所使用的单数形式“一个”、“一项”还意图包括复数。还应当理解的是，这里所使用的术语“包括”和/或“包含”规定所陈述的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在，而不排除存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。
在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
下面参考附图1至图6和较佳的实施例对本发明实施OLED器件的老化补偿系统及方法作进一步详细说明。
实施例：
作为本发明具体实施例，如图1至图4所示，本发明实施例公开了一种OLED器件的老化补偿系统及感测、补偿方法。所述老化补偿系统包括像素电路100、数据线Data、感测线Sense、第一电源ELVDD、第二电源ELVSS、源极驱动芯片IC1和栅极驱动芯片IC2。
需要说明的是，图1和图2中的Data表示数据线，Sense表示感测线，而图4中Senseline表示为感测线所感测到的信号。
其中，所述像素电路为多个，其中一个像素电路包括一OLED器件，如图2所示的OLED。进一步的，所示像素电路还包括有驱动晶体管G3、第一晶体管G2、第二晶体管G1以及电容Cst。其中，驱动晶体管、第一晶体管和第二晶体管均为薄膜晶体管。
其中，所述感测线Sense和数据线Data的个数相同，一条感测线和一条数据线相配合，同时连接于多个像素电路，如图1所示。其中感测线通过第一晶体管与OLED器件的阳极连接，用于感测所述OLED器件的电压VOLED。
其中，第一电源ELVDD与所述驱动晶体管连接，第二电源ELVSS与所述OLED器件连接，且所述OLED器件位于所述驱动晶体管和第二电源之间。具体的是，第二电源和OLED器件的阴极连接，第一电源和驱动晶体管的漏极连接。
其中，所述源极驱动芯片IC1与数据线连接，用于传送图像电压；所述源极驱动芯片与感测线连接，用于感测OLED器件的电压VOLED，形成补偿电压，对OLED器件进行老化补偿。
其中，所述驱动晶体管G3的栅极通过第二晶体管与数据线连接，所述驱动晶体管的漏极和第一电源连接，所述驱动晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述感测线还用于感测所述驱动晶体管的阈值电压Vth和迁移率K，所述源极驱动芯片还根据感测到的阈值电压Vth和迁移率K对驱动晶体管进行补偿。如图2和图3所示，感测线感测s点的电位，得到电压Vs，其为OLED器件的阳极电压，图3为OLED器件的阳极电压Vs变化情况，以及感测时机示意图。
驱动晶体管的Vth和K已知的情况下，才可以进行OLED器件的感测。
本发明实施例，第一晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第一晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述第一晶体管的漏极和所述感测线连接，所述第二晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第二晶体管的源极和数据线连接，所述第二晶体管的漏极和驱动晶体管的栅极连接，所述电容一端连接在所述驱动晶体管的栅极，另一端连接在所述驱动晶体管的源极。
本发明实施例，通过公式：得到第一补偿电压Vgs’，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对驱动晶体管进行补偿；以获得对OLED老化进行感测所需的电流条件，即全屏同色像素具有相同的发光电流I0。其中，K0为初始迁移率。
具体的，通过上述步骤，可以使全屏同色像素具有相同的发光电流，且处于正常发光。在此条件下可对OLED器件进行感测，得到VOLED。将VOLED作为索引，在查找表中找到对应的数据，即为当前发光效率η，并根据公式b＝η/η0得出b的值，以通过公式：得到第二补偿电压Vgs”，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对OLED器件进行老化补偿，以及对驱动晶体管进行补偿；其中η0为初始发光效率。
本发明实施例，显示面板的显示区外的周边可以设置有多个被动驱动的测试片(TEG)，即无晶体管的OLED单元。
制造出显示面板之后，裁切出多个被动驱动的测试片，被动方式点亮，进行大电流的老化测试。过程中间隔固定时间(例如24hr)改为小电流Ityp，在Ityp下测量VOLED和亮度L并记录，测量完恢复大电流继续老化。初始测量的L0和Ityp得到初始发光效率η0.后面每次测量条件都是电流为Ityp，得到VOLED和亮度L，计算得η，因此获得了VOLED与η的对应关系。Ityp的取值使得TEG的电流密度与电流为I0的像素发光电流密度相同。Ityp＝I0*ATEG/Apixel。
其中，ATEG为被动驱动的测试片的发光面积。Apixel为像素电路的发光面积。VOLED为被动驱动的测试片的电压。
本发明实施例在感测OLED器件电压的过程中，如图4所示，为本发明实施例像素电路在感测模式下的时序图。本方案利用已知的Vth值和K值，对OLED器件电压进行感测。感测时OLED器件处于稳定发光状态，对应电流为I0。感测扫描逐行进行，同一行内不同颜色同时感测，每行感测分为三个时段T1、T2和T3。T1时段G1、G2都打开，感测线Sense给驱动晶体管源极写入0V，数据线Data给驱动晶体管栅极写入Vgs’，此时 T2时段G1关闭，G2仍然打开，IC1将Sense置为浮接，电流ID恒定使Vs电位抬升，OLED发光。此时同颜色的全屏像素的ID相同。T3时段IC1对Vs电位采样。
依据感测到的电压Vs，查找当前发光效率η，计算b＝η/η0，计算计算输出灰阶，将补偿电压Vgs”通过数据线传送至驱动晶体管的栅极，实现电压补偿，改善OLED器件老化造成亮度下降的问题，和改善显示残像问题，以提高OLED显示屏的均匀性。
如图5和图6所示，本发明实施例还提供了一种OLED器件的老化补偿方法，应用于OLED器件老化补偿系统，结合图1至图4，所述老化补偿系统包括像素电路、数据线Data、感测线Sense、第一电源ELVDD、第二电源ELVSS、源极驱动芯片IC1和栅极驱动芯片IC2。
其中，第一电源ELVDD与所述驱动晶体管连接，第二电源ELVSS与所述OLED器件连接，且所述OLED器件位于所述驱动晶体管和第二电源之间。具体的是，第二电源和OLED器件的阴极连接，第一电源和OLED器件的阳极连接。
所述OLED器件的老化感测方法包括以下步骤：
S101，获得各像素驱动晶体管的Vth和K值。
S102，运算补偿值Vgs’输出到数据线。
S103，T2时间内源极驱动芯片将感测线浮接，直到VOLED电位稳定。
S104，T3时间内，源极驱动芯片对VOLED采样，获取OLED器件的电压VOLED。
S105，源极驱动芯片进行A/DC转换。
S106，数据传回时序控制芯片。
所述OLED器件的老化补偿方法包括以下步骤：
S201，将获取的OLED器件的电压VOLED作为索引，在查找表中找到对应的数据，即为当前发光效率η。
S102，计算b＝η/η0
S203，计算补偿电压
S204，将Vgs”转换为输出灰阶GL”，传送给源极驱动芯片。
虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种OLED器件的老化补偿系统，其特征在于，包括：
多个像素电路，所述像素电路包括一OLED器件和驱动晶体管；多条数据线；
多条感测线，所述感测线和数据线的个数相同，一条感测线和一条数据线相配合，同时连接于多个像素电路，其中感测线通过第一晶体管与OLED器件的阳极连接，用于感测所述OLED器件的电压VOLED；
第一电源，与所述驱动晶体管连接；
第二电源，与所述OLED器件阴极连接，且所述OLED器件位于所述驱动晶体管和第二电源之间；
源极驱动芯片，所述源极驱动芯片与数据线连接，用于传送图像电压；所述源极驱动芯片与感测线连接，用于感测OLED器件的电压VOLED，形成补偿电压，对OLED器件进行老化补偿。
2.根据权利要求1所述的OLED器件的老化补偿系统，其特征在于，所述老化补偿系统还包括栅极驱动芯片，所述像素电路包括第二晶体管，所述驱动晶体管的栅极通过所述第二晶体管与数据线连接，所述驱动晶体管的漏极和第一电源连接，所述驱动晶体管的源极和OLED器件的阳极连接。
3.根据权利要求2所述的OLED器件的老化补偿系统，其特征在于，通过公式：得到第一补偿电压Vgs’，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对驱动晶体管进行补偿，以获得对OLED老化进行感测所需的电流条件，即全屏同色像素具有相同的发光电流；其中，K0为初始迁移率。
4.根据权利要求3所述的OLED器件的老化补偿系统，其特征在于，所述感测线感测OLED器件的电压VOLED，以VOLED为索引在查找表内找到对应的数据，即为当前发光效率η，并根据公式b＝η/η0得出b的值，以通过公式：得到第二补偿电压Vgs”，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对OLED器件进行老化补偿，以及对驱动晶体管进行补偿；其中η0为初始发光效率。
5.根据权利要求2所述的OLED器件的老化补偿系统，其特征在于，所述像素电路还电容，所述第一晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第一晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述第一晶体管的漏极和所述感测线连接，所述第二晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第二晶体管的源极和数据线连接，所述第二晶体管的漏极和驱动晶体管的栅极连接，所述电容一端连接在所述驱动晶体管的栅极，另一端连接在所述驱动晶体管的源极。
6.一种OLED器件的老化补偿方法，其特征在于，应用于OLED器件老化补偿系统，所述老化补偿系统包括：
多个像素电路，所述像素电路包括一OLED器件和驱动晶体管；多条数据线；
多条感测线，所述感测线和数据线的个数相同，一条感测线和一条数据线相配合，同时连接于多个像素电路，其中感测线通过第一晶体管与OLED器件的阳极连接，用于感测所述OLED器件的电压VOLED；
第一电源，与所述驱动晶体管连接；
第二电源，与所述OLED器件连接，且所述OLED器件位于所述驱动晶体管和第二电源之间；
源极驱动芯片，所述源极驱动芯片与数据线连接，用于传送图像电压；所述源极驱动芯片与感测线连接，用于感测OLED器件的电压VOLED，形成补偿电压，对OLED器件进行老化补偿；
所述老化补偿方法包括以下步骤：
先对驱动晶体管Vth和K进行补偿，使全屏同色像素具有相同的发光电流；
获取OLED器件发光时的电压VOLED；
将获取的OLED器件的电压VOLED作为索引，在查找表中找到对应的数据，即为当前发光效率η，根据公式b＝η/η0得出b的值；
根据公式：生成补偿电压；
将补偿电压通过数据线传送至所述驱动晶体管的栅极。
7.根据权利要求6所述的OLED器件的老化补偿方法，其特征在于，所述老化补偿系统还包括栅极驱动芯片，所述像素电路包括驱动晶体管，所述驱动晶体管的栅极通过第二晶体管与数据线连接，所述驱动晶体管的漏极和第一电源连接，所述驱动晶体管的源极和OLED器件的阳极连接。
8.根据权利要求6所述的OLED器件的老化补偿方法，其特征在于，所述感测线以感测OLED器件的电压VOLED，以VOLED为索引在查找表内找到对应的数据，即为当前发光效率η，并根据公式b＝η/η0得出b的值，以通过公式：得到第二补偿电压Vgs”，通过所述数据线传送至驱动晶体管的栅极，对OLED器件进行老化补偿，以及对驱动晶体管进行补偿；其中η0为初始发光效率。
9.根据权利要求7所述的OLED器件的老化补偿方法，其特征在于，所述像素电路还电容，所述第一晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第一晶体管的源极和OLED器件的阳极连接，所述第一晶体管的漏极和所述感测线连接，所述第二晶体管的栅极和栅极驱动芯片连接，所述第二晶体管的源极和数据线连接，所述第二晶体管的漏极和驱动晶体管的栅极连接，所述电容一端连接在所述驱动晶体管的栅极，另一端连接在所述驱动晶体管的源极。
10.根据权利要求7所述的OLED器件的老化补偿方法，其特征在于，制造出显示面板之后，裁切出多个TEG，被动方式点亮，进行大电流的老化测试，过程中间隔固定时间改为小电流Ityp，在Ityp下测量VOLED和亮度L并记录，测量完恢复大电流继续老化，用初始测量的L0和Ityp得到初始发光效率η0，后面每次测量条件都是电流为Ityp，得到VOLED和亮度L，计算得η，获得VOLED与η的对应关系；查找表内容为VOLED与η的对应关系，且以VOLED为索引，Ityp的取值使得TEG的电流密度与电流为I0的像素发光电流密度相同，Ityp＝I0*ATEG/Apixel；其中，ATEG为被动驱动的测试片的发光面积，Apixel为像素电路的发光面积，VOLED为被动驱动的测试片的电压。
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