CN106662436A - 使用伽马射线密度测量法来检测流动管路沉积物的方法 - Google Patents
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Abstract
一种测量流动管路沉积物的方法以及相关联的系统,所述方法包括:提供包括所述流动管路沉积物的管道;横穿所述管道测量未衰减光子计数;以及分析所测得的未衰减光子计数,以确定所述流动管路沉积物的厚度。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求2014年7月22日提交的美国临时申请No.62/027,574的权益,该申请以引用方式并入本文中。
技术领域
本公开总体上涉及用于使用伽玛射线密度测量法来检测流动管路沉积物的方法。更具体地,在某些实施方式中,本公开涉及使用非侵入式伽玛射线密度测量法来测量流动管路沉积物厚度的方法和关联的系统。
背景技术
在石油和天然气行业中,经常出现来自流动管路中采出液流的物质沉积物。如果不加以关注,则这些沉积物在一定时间段内堆积并且减小了可用于流动的有效横截面面积,由此增加了压降或者减少了碳氢化合物的流动。在极端情况下,沉积物会堆积以填充管腔,从而造成流动管路完全堵塞,由此影响碳氢化合物的可用性。被堵塞的流动管路尤其难以补救,并且如果没有被补救,则可能需要进行更换。在可到达性会受到限制或者进行干预的成本高的海底环境中,补救会变得更复杂,并且更换成本会比岸上位置高。
沉积物形成的进展或在线知识可有助于补救策略并且防止流动管路被完全堵塞。关于沉积程度的当前或实时信息可用于发展最佳清管策略,该最佳清管策略有效清除沉积物,同时就应用频率而言,其具有成本效益。由于沉积物可形成在流动管路的内壁上,流动管路通常是绝缘的或具有填充有绝缘材料的环状空间的套管配置,因此难以检查管道并且将沉积物形成定量。诸如压力换能器或温度探针的其它传感器是侵入式的,并且常常在流动管路的端部处被插入。用这些侵入式传感器覆盖流动管路的每一英尺是不切实际的。
期望的是开发用于确定管路内沉积物的存在以及厚度的非侵入式方法。
发明内容
本公开总体上涉及使用伽玛射线密度测量法来检测流动管路沉积物的方法。更具体地,在某些实施方式中,本公开涉及使用非侵入式伽玛射线密度测量法来测量流动管路沉积物厚度的方法和关联的系统。
在一个实施例中,本公开提供了一种测量流动管路沉积物的方法,所述方法包括:提供包括所述流动管路沉积物的管道;测量横穿所述管道的未衰减光子计数;以及分析所测得的未衰减光子计数,以确定所述流动管路沉积物的厚度。
在另一个实施例中,本公开提供了一种测量流动管路沉积物的方法,所述方法包括:提供包括所述流动管路沉积物的管道;测量横穿所述管道的未衰减光子计数;以及计算所述流动管路沉积物的厚度。
在另一个实施例中,本公开提供了一种系统,所述系统包括:包含流动管路沉积物的管路,以及密度计。
附图说明
可以参照结合附图进行的以下描述来获取对当前实施方式及其优点的更完整且彻底的理解。
图1是光子检测系统的图示。
图2是光子检测系统的图示。
图3是描绘沿着多个弦的未衰减光子计数的图。
图4是描绘沿着多个弦的经校正的衰减计数的图。
图5是管道系统的图示。
图6是描绘沿着多个弦的未衰减光子计数的图。
图7是描绘沿着多个弦的未衰减光子计数的图。
对于本领域的技术人员,将容易清楚本公开的特征和优点。虽然本领域的技术人员可以进行众多改变,但这些改变在本公开的精神内。
具体实施方式
随后的描述包括实施本发明主题的技术的示例性设备、方法、技术、和/或指令序列。然而,要理解,可在没有这些具体细节的情况下实践所描述的实施方式。
本公开总体上涉及使用伽玛射线密度测量法来检测流动管路沉积物的方法。更具体地,在某些实施方式中,本公开涉及使用非侵入式伽玛射线密度测量法来测量流动管路沉积物厚度的方法和关联的系统。
本文中公开的方法的一些期望属性在于,它们是相比于传统方法能够更准确地确定管路内沉积物和堵塞物的存在和厚度的非侵入式方法。在某些实施方式中,本文中描述的方法可用于非侵入式检测沉积在传送诸如天然气和石油的碳氢化合物的流动管路的内壁上的固体和被液体和气体堵塞的固体。
本发明涉及开发用于收集碳氢化合物的流动管路的伽玛射线或x射线密度测量法数据的方法。该方法可以包括收集密度计数据和多相流动数据并且处理该数据,以确定内部管路壁上的固体沉积物的存在和流动管路的管芯或管腔中的阻塞。
在一个实施例中,本公开提供了一种方法,该方法包括:提供包括带有流动管路沉积物的管道的管道系统;测量横穿管道的未衰减光子计数;以及确定流动管路沉积物的厚度。
在某些实施例中,管道可以是用于传送碳氢化合物的流动管路。在某些实施例中,管道可以是岸上流动管路或海底流动管路。在某些实施例中,碳氢化合物可以以气相、液相、或多相存在于流动管路中。在某些实施例中,管道内的流态可以为分层的、波状的、段塞的、搅拌的、或雾状的。在某些实施例中,管道可以是绝缘管道、裸管、或套管系统。
在某些实施例中,测量未衰减光子计数可包括生成管道第一侧的入射光子计数并且检测管道第二侧的光子计数。在某些实施例中,可以特定方式进行测量,使得它利用了流动管路中的下层多相流动力学的特性。在某些实施例中,可以通过X射线源或伽玛射线源来生成入射光子计数。在某些实施例中,可以利用密度计来实现入射光子计数的生成和未衰减光子计数的测量。
在某些实施例中,密度计可包括源和检测器阵列。在某些实施例中,源可以是发射伽马或X射线光子的小放射性物体。在某些实施例中,检测器阵列可包括以定量方式感测或测量光子的单个检测器或多个检测器。检测器阵列可按多种方式围绕流动管路定位,以下描述这些方式中的一些。
在某些实施例中,可在如图1中所示的平行射束布置中使用单个源和检测器。现在,参照图1,图1图示了包括流动管路110、源120和检测器130的光子检测系统100。如图1中可看到的,源120和检测器130可沿着线布置,使得从源120发射的光子在检测器130的沿着弦170的视线上。在某些实施例中,可移动臂150可附接到源120和检测器130,从而允许视线顺着流动管路110的横截面上下移动,以允许测量与流动管路110中心的距离有所不同的多个弦170处的未衰减光子计数。
在某些实施例中,可在如图2中所示的扇形射束布置中使用单个源和检测器阵列。现在,参照图2,图2图示了包括流动管路210、源220和检测器阵列230的光子检测系统200。检测器阵列230可包括多个检测器213。如图2中可看到的,源220和检测器阵列230可沿着线布置,使得从源220发射的光子在检测器阵列230的单个检测器231的沿着弦270的视线上。在某些实施例中,源220和/或检测器阵列230可沿着位于平面中心的轴旋转,从而允许光子在检测器阵列230中的每个检测器231的视线上发射,以允许测量沿着取向和与流动管路210中心的距离有所不同的多个弦170的未衰减光子计数。
在某些实施例中,密度计可被定位成围绕管道的第一位置并且被用于生成并且测量沿着第一弦横贯管道的横截面的光子计数。检测器可以沿着该第一弦测量未衰减光子计数并且可以计算衰减的光子计数与入射的光子计数的比率。还可以测量和记录第一弦与管道参考点的距离。在某些实施例中,可以沿着初始弦横穿管道进行多次测量。在沿着初始弦完成测量之后,密度计可以被重新定位,以沿着其它弦测量伽玛射线光子计数的衰减。
在某些实施例中,例如,在平行射束实施例中,源和检测器线可重新定位在同一平面上的取向,使得它平行于初始弦测量,由此形成第二弦。还可以测量和记录其它弦相对于第一弦的位置。
在某些实施例中,例如,在扇形射束实施例中,可以流动管路的中心作为轴,重新定位或重新定向所述源和检测器阵列。这样,可在源和阵列的单个检测器之间形成新的一组弦或线。可沿着新弦进行光子计数测量并且可记录数据。
在某些实施例中,例如,在扇形射束实施例和平行射束实施例中,可通过旋转源和检测器来进行检测器和源的旋转和重新定位。密度计可沿着流动管路的长度重新定位,以重复该处理。
一旦已经从与参考点的距离有所不同的足够数量的弦得到数据,在流动管路的给定位置处,该数据随后可被处理,以确定管道上的沉积物厚度。足够的弦数量可取决于管道的大小和管道的层的数量。
在某些实施例中,确定管道上的沉积物厚度可包括分析所测得的未衰减光子计数,以确定流动管路沉积物的厚度。
在某些实施例中,分析所测得的未衰减光子计数可包括将测得的横穿管道的未衰减光子计数描绘为与参考点的距离的函数的曲线并且分析该曲线以确定管道上的沉积物厚度。如本文中使用的,h被称为与管道横截面的参考点的弦测量的距离。
在图3中示出通过这种方法生成的曲线的示例。如图3可看到的,沿着各弦的未衰减光子计数作为h的函数而变化。在初始高度0处,针对管道的给定片段的计数率表现为略微可变。随着高度增大,这些计数率的变化减小,达到存在第一转换的点(点A)。点A代表沉积物的内层所在处从管道中心起算的高度。如可在图3中看到的,点A存在于1.8英寸的高度处。随着高度进一步增大,未衰减光子计数减小,直到达到局部极小值(点B)。点B代表沉积物尽头所在处从管道中心起算的高度。如可在图3中看到的,点B存在于2.3英寸的高度处。该点出现在与管道的内半径相等的高度处。从点B到点A的高度的差异代表沉积物的厚度。如可在图3中看到的,沉积物的厚度是0.5英寸。随着高度进一步增大,未衰减光子计数增大,直到达到尖点(点C)。点C代表管道尽头所在处从管道中心起算的高度。如可在图3中看到的,点C存在于3.3英寸的高度处。该点出现在与管道的外半径相等的高度处。在管道包括外涂层的实施例中,随着高度进一步增大,未衰减光子计数增大,直到达到另一个尖点(点D)。点D代表绝缘尽头所在处从管道中心起算的高度。如可在图3中看到的,点D存在于3.6英寸的高度处。该点出现在与管道绝缘体的外半径相等的高度处。
在其它实施例中,分析所测得的未衰减光子计数可包括将经校正的衰减计数描绘为h的函数的曲线并且分析该曲线,以确定管道上的沉积物厚度。在该实施例中,可以通过从入射光子计数中减去所测得的未衰减光子计数并然后将该数字除以在各弦处所测得的空管道的衰减计数来得到经校正的衰减计数。
在图4中示出通过这种方法生成的曲线的示例。如可通过图4看到的,经校正的衰减计数作为h的函数而变化。在初始高度0处,针对管道的给定片段的计数率表现为略微可变。随着高度增大,这些计数率的变化减小,达到存在第一转换的点(点A)。点A代表沉积物的内层所在处从管道中心起算的高度。如可在图4中看到的,点A存在于1.8英寸的高度处。随着高度进一步增大,衰减增大,直到达到局部极小值(点B)。点B代表沉积物尽头所在处从管道中心起算的高度。如可在图4中看到的,点B存在于2.3英寸的高度处。该点出现在与管道的内半径相等的高度处。从点B到点A的高度的差异代表沉积物的厚度。如可在图4中看到的,沉积物的厚度是0.5英寸。随着高度进一步增大,经校正的衰减保持恒定。
在其它实施例中,确定沉积物的厚度可包括计算沉积物的厚度。在某些实施例中,可以利用以下等式在各弦长度处计算沉积物的厚度:
其中,ldeposit是沉积物的弦长度,μWater是水的衰减常数,lWater是水在给定高度处的弦长度,μinsulation是绝缘体的衰减常数,linsulation是绝缘体在给定高度处的弦长度,μstream是管道内的流体的衰减常数,R1是管道的内半径,I是衰减光子计数,I0是入射光子计数,并且μdeposit是沉积物的衰减常数。
对于给定管道系统,可使用以上讨论的任何方法来测量衰减光子计数与入射光子计数之比。
对于给定管道系统,μWater、μinsulation、μwall、μstream和μdeposit的值可以是已知的或测得的。在某些实施例中,可使用任何传统方法来测量这些值。
对于给定管道系统,可使用传统方法来计算lWater、linsulation和lwall。在某些实施例中,可使用以下等式来计算lWater、linsulation和lwall:
l=2[(R1)Sin(a cos(h/R1)-(R2)Sin(a cos(h/R2)]
其中,R1是片段的外半径,R2是片段的内半径,h是弦的从管路中心起算的距离,并且a是检测器/源的仰角。图5图示了单个弦处的针对管道系统的水、绝缘体、壁(wall)、流和沉积物的各种长度。可将水、绝缘体、壁、流和沉积物的各种长度相加到一起,以确定沿着单个弦的水、绝缘体、壁、流和沉积物的总长度。
一旦已经提供了所有变量,随后就可针对各位置求解ldeposit。随后,可将沿着各弦测得的ldeposit值相互进行比较,直到找到最大值。该最大的ldeposit值代表沉积物的厚度。
在其它实施例中,可通过测量在不同时间横贯管道片段的光子的计数时间段的差异来计算沉积物的厚度。在这些实施例中,流动管路可包括间隔至少为管道直径的两个密度计。简言之,已经发现,如果计数时间段比间隔流的柱塞和Taylor气泡通过系统射束的时间短得多,则将针对管道内的射束路径横贯柱塞片段和Taylor气泡片段的时间段来测量不同的计数率。通过将不同时间横贯管道的片段的光子的计数时间段进行比较,可确定光子是横贯柱塞片段还是Taylor气泡片段。一旦已经进行了此确定,就可使用针对各情形的光子计数,利用以下等式来计算流的长度:
其中,可使用多相流模型来确定柱塞片段和Taylor气泡片段的平均流体组成,由此确定每种类型片段的射束衰减。另外,可使用两个密度计来同时测量流动管路的两个分开位置处的计数时间段,其中,一个位置是柱塞片段而另一个位置是Taylor气泡片段。然后,可使用以上等式来计算流的长度。
通过从管道内的射束路径长度减去这些路径长度,产生沉积路径长度,可用该沉积路径长度来推导沉积物厚度。
为了有助于更好理解本发明,给出一些实施例的某些方面的以下示例。以下示例决不应该被认为是限制或限定本发明的范围。
实例
实例1
第一管道具有4.6英寸的内直径、6.6英寸的外直径,并且用蜡沉积物来制备0.3英寸的涂层。用积垢沉积物来制备具有4.6英寸的内直径、6.6英寸的外直径,以及0.3英寸的涂层的第二管道。石油和天然气的混合物流过第一管道和第二管道。将包括源和检测器的密度计布置在各管道的两侧并且沿着各管道的轴在不同高度处测量光子计数。将针对各管道测得的光子的相对计数绘制到图上。图6图示该图的结果。分析该图,通过定位具有极小值和交汇点,确定各管道上的沉积物厚度是0.5英寸。
实例2
除了实例1中的第一管道和第二管道之外,制备具有4.6英寸的内直径、6.6英寸的外直径和0.3英寸涂层的第三管道。与第一管道和第二管道相同的石油和天然气的混合物流过第三管道。将包括源和检测器的密度计布置在第三管道的两侧,并且沿着各管道的轴在不同高度处测量光子计数。针对第一管道和第二管道测得的光子的相对计数均除以测得的第三管道的光子的相对计数,以得到经校正的衰减计数,并且将针对各第一管道和第二管道校正的衰减计数绘制到图表上。图7图示该图表的结果。分析该图表,通过定位局部极小值和交汇点,确定各管道上的沉积物厚度是0.5英寸。
实例3
使用以下等式来计算第一管道和第二管道的各弦测得的沉积物的厚度:
对于第一管道和第二管道二者,得到μWater、μinsulation、μwall、μstream和μdeposit的值。使用以下等式在各弦处计算lWater值、linsulation值和lwall值:
l=2[(R1)Sin(a cos(h/R1)-(R2)Sin(a cos(h/R2)]
一旦针对各弦长度计算出各ldeposit值,就确定对于第一管道和第二管道而言,最大的ldeposit值是0.5英寸。
虽然参照各种实现方式和开发描述了实施例,但应该理解,这些实施例是例示性的,并且发明主题的范围不限于此。可以进行许多变化、修改、添加和提高。
可以提供多个实例作为单个实例用于本文中描述的组件、操作或结构中。总体上,在示例性配置中被展示为单独组件的结构和功能可被实现为组合结构或组件。类似地,被展示为单个组件的结构和功能可被实现为单独组件。这些和其它变化、修改、添加和改进可落入本发明主题的范围内。
Claims (20)
1.一种测量流动管路沉积物的方法,所述方法包括:提供包括所述流动管路沉积物的管道;测量横穿所述管道的未衰减光子计数;以及分析所测得的未衰减光子计数,以确定所述流动管路沉积物的厚度。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括在所述管道的第一侧生成入射光子计数以及在所述管道的第二侧检测未衰减光子计数。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,生成的所述入射光子计数是由X射线源或伽马射线源生成的。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中,使用密度计以测量横穿所述管道的未衰减光子计数。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述密度计包括源和检测器阵列。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述源和所述检测器阵列呈平行射束布置或扇形射束布置。
7.根据权利要求1至6中的任一项所述的方法,其中,测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括沿着多个弦来测量未衰减光子计数。
8.根据权利要求1至7中的任一项所述的方法,其中,分析所测得的未衰减光子计数包括生成所测得的未衰减光子计数的曲线并且分析所述曲线以确定所述流动管路沉积物的厚度。
9.根据权利要求1至7中的任一项所述的方法,其中,分析所测得的未衰减光子计数包括生成经校正的衰减计数的曲线并且分析所述曲线以确定所述流动管路沉积物的厚度。
10.一种测量流动管路沉积物的方法,所述方法包括:提供包括所述流动管路沉积物的管道;测量横穿所述管道的未衰减光子计数;以及计算所述流动管路沉积物的厚度。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括在所述管道的第一侧生成入射光子计数以及在所述管道的第二侧检测未衰减光子计数。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,生成的所述入射光子计数是由X射线源或伽马射线源生成的。
13.根据权利要求10至12中的任一项所述的方法,其中,使用密度计以测量横穿所述管道的未衰减光子计数。
14.根据权利要求13所述的方法,其中,所述密度计包括源和检测器阵列。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述源和所述检测器阵列呈平行射束布置或扇形射束布置。
16.根据权利要求10至15中的任一项所述的方法,其中,测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括沿着多个弦来测量未衰减光子计数。
17.根据权利要求10至16中的任一项所述的方法,其中,计算所述流动管路沉积物的厚度包括使用等式来计算所述厚度。
18.根据权利要求10至16中的任一项所述的方法,其中,测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括在不同时间测量横贯管道的片段的未衰减光子计数。
19.根据权利要求10至16中的任一项所述的方法,其中,测量横穿所述管道的未衰减光子计数包括同时测量在所述管道的不同片段处的未衰减光子计数。
20.一种系统,包括:流动管路和密度计,所述流动管路包含流动管路沉积物,其中所述密度计包括呈平行射束分布或扇形射束布置的源和检测器阵列。
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