CN106646066A - Rfid标签性能测试暗箱 - Google Patents

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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

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Abstract

本发明公开了一种RFID标签性能测试暗箱，包括箱体，箱体包括上箱体和下箱体，上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，第一托盘的中心位置设有一个孔，在下箱体的背面设有RFID读写器，在下箱体底端设有RFID读写天线，固定式条码扫描器通过孔扫描RFID标签上的条码，摄像头通过孔拍摄RFID标签的摆放位置，RFID读写器通过RFID读写天线读取RFID标签的信息；箱体的高度小于等于52cm，宽度小于等于32cm，深度小于等于28cm。本发明体积较小、成本较低、测试人员能随身携带、能随时查看标签测试时的位置、能追踪回查某个标签当时的测试状况。

Description

RFID标签性能测试暗箱
技术领域
本发明涉及摄像领域，特别涉及一种RFID标签性能测试暗箱。
背景技术
当前UHF RFID标签测试暗箱都是3米法或10米法。3米法是指在3米测试距离拥有2米静区，10米法是指10米测试距离拥有3米或更大静区。这两种大型的测试暗箱都只能固定在指定的场所，并且造价成本非常高昂。由于现有的UHF RFID标签测试暗箱体积比较大，所以不能随身携带，由于测试人员不能随身携带，也就不能随时查看标签测试时的位置是否放置正确。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种体积较小、成本较低、测试人员能随身携带、能随时查看标签测试时的位置、能追踪回查某个标签当时的测试状况的RFID标签性能测试暗箱。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种RFID标签性能测试暗箱，包括箱体，所述箱体包括上箱体和下箱体，在所述上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在所述第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，在所述第一托盘的中心位置设有一个孔，所述下箱体中设有用于放置RFID标签的第二托盘，所述RFID标签上设有条码，在所述下箱体的背面设有RFID读写器，所述固定式条码扫描器、摄像头和RFID读写器通过一个集线器与所述上位机连接，在所述下箱体内部的底端设有一个RFID读写天线，所述固定式条码扫描器通过所述孔扫描所述条码并将扫描信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述摄像头通过所述孔拍摄所述RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过所述集线器发送到所述上位机，所述RFID读写器通过所述RFID读写天线读取所述RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述上位机收到所述扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，进行分析后生成测试报告；所述箱体的高度小于或等于52cm，所述箱体的宽度小于或等于32cm，所述箱体的深度小于或等于28cm。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述下箱体的内壁上贴附有吸波材料。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述第二托盘为泡沫托盘。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述上位机为PC机或平板电脑。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述箱体的材质为金属。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述金属为铁。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述上箱体的一侧设有上箱门，所述下箱体的一侧设有下箱门。
在本发明所述的RFID标签性能测试暗箱中，所述RFID标签为UHF频段的RFID电子标签。
实施本发明的RFID标签性能测试暗箱，具有以下有益效果：由于设有上箱体和下箱体，在上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，在第一托盘的中心位置设有一个孔，下箱体中设有用于放置RFID标签的第二托盘，RFID标签上设有条码，在下箱体的背面设有RFID读写器，固定式条码扫描器、摄像头和RFID读写器通过一个集线器与上位机连接，在下箱体内部的底端设有一个RFID读写天线，固定式条码扫描器通过孔扫描条码并将扫描信息通过集线器发送到上位机，摄像头通过孔拍摄RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过所述集线器发送到上位机，RFID读写器通过RFID读写天线读取RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过集线器发送到上位机，上位机收到扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，进行分析后生成测试报告；箱体的高度小于或等于52cm，箱体的宽度小于或等于32cm，箱体的深度小于或等于28cm，其体积较小，测试人员可以随身携带，在做RFID标签的性能测试时，通过摄像头对RFID标签的摆放位置进行拍照记录，测试人员可以随时查看RFID标签测试时的位置是否放置正确，所以其体积较小、成本较低、测试人员能随身携带、能随时查看标签测试时的位置、能追踪回查某个标签当时的测试状况。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明RFID标签性能测试暗箱一个实施例中的结构示意图；
图2为所述实施例中RFID标签性能测试暗箱的结构分解示意图；
图3为所述实施例中固定式条码扫描器、摄像头、RFID读写器、集线器和上位机的连接框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明RFID标签性能测试暗箱实施例中，该RFID标签性能测试暗箱的结构示意图如图1所示。图2为本实施例中RFID标签性能测试暗箱的结构分解示意图。如图1和图2所示，该RFID标签性能测试暗箱包括箱体，箱体分为上下两层，箱体的高度小于或等于52cm，箱体的宽度小于或等于32cm，箱体的深度小于或等于28cm。其具备小型化的特点。
本实施例中，箱体包括上箱体1和下箱体2，在上箱体1和下箱体2的结合部设有第一托盘11，在第一托盘11上设置有固定式条码扫描器12、摄像头13和上位机14，在第一托盘11的中心位置设有一个孔(图中未示出)，下箱体2中设有用于放置RFID标签的第二托盘21，本实施例中，第二托盘21为泡沫托盘，用来放置RFID标签，RFID标签上设有条码，在下箱体2的背面设有RFID 读写器22，本实施例中，RFID读写器22为RFID固定式读写器。固定式条码扫描器12、摄像头13和RFID读写器22通过一个集线器15与上位机14连接，固定式条码扫描器12、摄像头13、RFID读写器22、集线器15和上位机14的连接框图如图3所示。上位机14可以是PC机或平板电脑等。
本实施例中，在下箱体2内部的底端设有一个RFID读写天线23，固定式条码扫描器12通过孔(透过孔)扫描RFID标签上的条码，并将扫描信息通过集线器15发送到上位机14，摄像头13通过孔(透过孔)拍摄RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过集线器15发送到上位机14，摄像头13的作用主要是看RFID标签的位置是否摆放正确，RFID读写器22通过RFID读写天线23读取RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过集线器15发送到上位机14，上位机14收到扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，通过上位机14的软件进行分析后生成测试报告。测试报告中包含不同材质下RFID标签的最小功率、灵敏度、识别距离和可读性(是否可以读)等参数。
具体的，本实施例中，下箱体2为封闭式测试空间，下箱体2的一侧设有下箱门24，在测试时，打开下箱体2的测试空间的下箱门24，把需要测试的RFID标签放到下层测试空间中(具体是第二托盘21上)，值得一提的是，本实施例中，RFID标签为UHF频段的RFID电子标签。上位机PC可以通过软件触发RFID读写器22测试RFID标签的性能。测试完成后，上位机14会记录RFID标签的性能、逻辑分析并以图片(照片)的形式保存测试时的RFID标签摆放位置，并生成测试报告。
该RFID标签性能测试暗箱是一款小型化、便于携带、操作简便、低成本、高效、可持续使用的测试暗箱，对比起现有技术中功能单一的传统大型暗箱，该小型化的RFID标签性能测试暗箱大大降低企业对测试暗箱的投入成本，并配置拍照记录功能，当产品出现问题后，通过图片作为追踪功能，可以让企业马上回查当时的测试状况。
本实施例中，下箱体2的内壁上贴附有吸波材料a，用于避免干扰，提高通信质量。箱体的材质为金属，本实施例中，该金属为铁，也就是说该RFID标签性能测试暗箱是由铁盒做成的。本实施例中，上箱体1的一侧设有上箱门16，通过打开上箱门16，可以将固定式条码扫描器12、摄像头13和上位机14放置到第一托盘11上。
总之，本发明的RFID标签性能测试暗箱是一种可方便移动、小型化的UHF RFID标签性能测试暗箱，除了能测试RFID标签的性能外，还可以测试RFID标签的编码信息是否正确，还可以具有拍照功能，记录RFID标签测试时的位置摆放信息，打破传统的大型暗室的局限性。该RFID标签性能测试暗箱能测试UHF RFID标签的性能，并进行性能分析，可以针对UHF频段的RFID标签的EPC(电子产品代码)数据的进行逻辑分析，例如SGTIN96的编码分析。配备了摄像头13，可以实时拍摄RFID标签的测试位置，并可以通过图片追踪回查某个标签当时的测试状况。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，包括箱体，所述箱体包括上箱体和下箱体，在所述上箱体和下箱体的结合部设有第一托盘，在所述第一托盘上设置有固定式条码扫描器、摄像头和上位机，在所述第一托盘的中心位置设有一个孔，所述下箱体中设有用于放置RFID标签的第二托盘，所述RFID标签上设有条码，在所述下箱体的背面设有RFID读写器，所述固定式条码扫描器、摄像头和RFID读写器通过一个集线器与所述上位机连接，在所述下箱体内部的底端设有一个RFID读写天线，所述固定式条码扫描器通过所述孔扫描所述条码并将扫描信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述摄像头通过所述孔拍摄所述RFID标签的摆放位置，并将拍摄的图片通过所述集线器发送到所述上位机，所述RFID读写器通过所述RFID读写天线读取所述RFID标签的信息，并将读取的标签信息通过所述集线器发送到所述上位机，所述上位机收到所述扫描信息、拍摄的图片和标签信息后，进行分析后生成测试报告；所述箱体的高度小于或等于52cm，所述箱体的宽度小于或等于32cm，所述箱体的深度小于或等于28cm。
2.根据权利要求1所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述下箱体的内壁上贴附有吸波材料。
3.根据权利要求1所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述第二托盘为泡沫托盘。
4.根据权利要求1至3任意一项所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述上位机为PC机或平板电脑。
5.根据权利要求1至3任意一项所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述箱体的材质为金属。
6.根据权利要求5所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述金属为铁。
7.根据权利要求1至3任意一项所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述上箱体的一侧设有上箱门，所述下箱体的一侧设有下箱门。
8.根据权利要求1至3任意一项所述的RFID标签性能测试暗箱，其特征在于，所述RFID标签为UHF频段的RFID电子标签。
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