CN106544295A - 恢复厌氧氨氧化菌活性的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法。该方法包括:将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中,向所述厌氧反应器中添加模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器;向所述厌氧反应器中添加联氨,使所述厌氧反应器中联氨的浓度达到设定数值;按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌。本发明的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法能将滞留在厌氧氨氧化菌体内的有毒有害物质给清洗出来,避免了这些物质对厌氧氨氧化菌的持续抑制。并且通过向厌氧氨氧化体系中添加联氨,为厌氧氨氧化体系提供了一定量的可利用的电子,能强化厌氧氨氧化菌脱氮各个过程,使受损菌种的活性快速恢复。
Description
技术领域
本发明涉及环境微生物领域,具体涉及一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法。
背景技术
厌氧氨氧化菌作为浮霉菌门的一类厌氧菌,是一种新型的生物脱氮菌,能够在厌氧条件下以NO2--N为电子受体将NH4 +-N氧化为氮气,实现两种氮素污染物的同时脱除,其具体的脱氮原理如下:
N2H4=N2+4H++4e-(E0′=-0.75V) (3)
由于能同时去除氨和亚硝酸盐,无须外加有机碳源,且能够改善硝化反应产酸、反硝化反应产碱均需中和的情况,厌氧氨氧化工艺运行费用比传统生物脱氮工艺节省近40%,然而,厌氧氨氧化菌生长缓慢,对氧气、pH、温度、生长基质等环境条件异常敏感,导致厌氧氨氧化工艺不易启动、容易失活、失活后难以恢复,导致厌氧氨氧化菌的工程化应用比较缓慢,为此,许多学者致力于失活的厌氧氨氧化菌活性快速恢复的研究。
联氨(N2H4)是具有生物毒性强的还原剂,在生物氮循环中扮演重要角色,它能抑制好氧氨氧化菌(AOB)和硝化菌(NOB)的活性,却是厌氧氨氧化菌(AnAOB)代谢过程中的中间产物,在厌氧氨氧化菌氮代谢过程中具有重要作用。由式1、2和3可以看出,在厌氧氨氧化体中,NH4 +和NO在联氨合成酶(HZS)作用下能产生N2H4,这部分N2H4又在联氨脱氢酶(HH)作用下脱氢转化为N2,同时产生电子,该过程产生的一部分电子经过电子传递链传递给亚硝还原酶(NiR)用于将NO2-还原成NO,另一部电子则在联氨合成酶(HZS)的作用下参与N2H4的再次合成,合成的联氨再次降解产生电子,参与式1和式2的反应,如次循环反复,确保整个脱氮反应持续高效的进行。因此,如果向厌氧氨氧化体系中添加适量的联氨,相当于为体系添加了一定量的电子,理论上可以促进式1和式2的反应的进行,从而提高整个厌氧氨氧化体系的脱氮性能。
专利CN102674647A公布了一种厌氧氨氧化菌活性快速恢复方法,该方法通过磁电诱导效应来重新激活失活的厌氧氨氧化菌,其实质是为厌氧氨氧化菌提供了恰当的可利用的能量,诱导周期在10~20天;专利CN103421735公布了一种受损厌氧氨氧化菌群的活性恢复方法,该方法通过添加高丝氨酸内酯类信号分子C6-HSL提高厌氧氨氧化菌的活性和增殖速率,其实质是利用厌氧氨氧化菌的群感效应,通过外加信号分子来诱导整个菌群活性快速恢复。
虽然上述两种方法也都通过外加能量的方法使受损的厌氧氨氧化菌种活性快速恢复,但操作繁琐,技术要求高,成本较高,且容易产生二次污染。
发明内容
本发明的实施例提供了一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,以实现有效地恢复厌氧氨氧化菌的活性。
为了实现上述目的,本发明采取了如下技术方案。
一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,包括:
将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中,向所述厌氧反应器中添加模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器;
向所述厌氧反应器中添加联氨,使所述厌氧反应器中联氨的浓度达到设定数值;
按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌。
进一步地,所述的将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中,向所述厌氧反应器中添加模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器,包括:
取出活性受损的厌氧氨氧化菌,将所述厌氧氨氧化菌用模拟废水冲洗设定次数后添加到厌氧反应器中;
向所述厌氧反应器中添加无基质的模拟废水,搅拌,使受损的厌氧氨氧化菌在无基质的模拟废水中处于悬浮状态,静置设定时间后,排除所述厌氧反应器中的上清液,所述无基质的模拟废水为不添加NO2--N和的模拟废水;
向所述厌氧反应器中重新添加新配置的模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器设定时间。
进一步地,所述反应器为续批式反应器SBR或者上流式厌氧反应器UASB。
进一步地,所述厌氧氨氧化菌为厌氧氨氧化菌混合培养物或者厌氧氨氧化菌颗粒污泥。
进一步地,所述模拟废水包括:0.01g/L的KH2PO4、0.0056g/L的CaCl2·2H2O、1.25g/L的KHCO3、0.3g/L的MgSO4·7H2O、微量元素Ⅰ和Ⅱ各1.25mL/L,进水NO2--N浓度为100~120mg/L,进水浓度为80~100mg/L。
进一步地,所述的按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌,包括:
所述微量元素Ⅰ组成为:EDTA,5g/L和FeSO4,5g/L;所述微量元素Ⅱ组成为:EDTA,15g/L;ZnSO4·7H2O,0.43g/l;CoC12·6H2O,0.24g/l;MnCl2·4H2O,0.99g/l;CuSO4·5H2O,0.25g/l;NaMoO4·2H2O,0.22g/l;NiC12·6H2O,0.19g/l;NaSeO4 10H2O,0.21g/l;H3BO4,0.014g/l。进一步地,所述的按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌,包括:
所述设定培养条件包括:温度32~35℃,pH为7.5~8.0,溶解氧DO<0.1mg/l,进水氨氮在80~100mg/l,进水亚硝氮为100~120mg/l,待所述厌氧反应器中的模拟废水中NO2--N浓度低于20mg/l或者NO2--N浓度低于10mg/l后,排出所述厌氧反应器中的上清液,继续向所述厌氧反应器中添加模拟废水和联氨,使厌氧反应器中联氨浓度达到0.2~1.0mM后;
按照上述处理过程开始下一周期的厌氧氨氧化菌的培养,直至受损的厌氧氨氧化菌活性完全恢复。
由上述本发明的实施例提供的技术方案可以看出,本发明的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法能将滞留在厌氧氨氧化菌体内的有毒有害物质给清洗出来,避免了这些物质对厌氧氨氧化菌的持续抑制。并且通过向厌氧氨氧化体系中添加联氨,为厌氧氨氧化体系提供了一定量的可利用的电子,能强化厌氧氨氧化菌脱氮各个过程,使受损菌种的活性快速恢复。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,这些将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法的实现原理示意图;
图2为本发明实施例提供的一种不同恢复方式下受损厌氧氨氧化菌活性恢复过程示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施方式,所述实施方式的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
本技术领域技术人员可以理解,除非特意声明,这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是,本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件,但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解,当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时,它可以直接连接或耦接到其他元件,或者也可以存在中间元件。此外,这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的任一单元和全部组合。
本技术领域技术人员可以理解,除非另外定义,这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是,诸如通用字典中定义的那些术语应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义,并且除非像这里一样定义,不会用理想化或过于正式的含义来解释。
为便于对本发明实施例的理解,下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明,且各个实施例并不构成对本发明实施例的限定。
为了解决现有技术的问题,本发明提供一种厌氧氨氧化菌活性快速恢复方法,该方法是向体系中添加适量的联氨,通过这部分添加的联氨降解过程中产生的电子来强化厌氧氨氧化脱氮的各过程,保证整个脱氮过程持续高效的进行,因为本方法添加的联氨是厌氧氨氧化菌的中间产物,其能在厌氧氨氧化体系中自动降解转为氮气,因此不会产生二次污染。本方法操作简单方便,易于实现,成本低,能极大缩短受损厌氧氨氧化菌活性恢复时间,可解决厌氧氨氧化工程应用过程中菌种失活后难恢复的问题。
该实施例提供了一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法的实现原理示意图如图1所示,包括如下的处理步骤:
步骤1、取出活性已经受损的厌氧氨氧化菌,将厌氧氨氧化菌用模拟废水冲洗3次后添加到厌氧反应器中,上述反应器可以为SBR(sequencing batch reactor,续批式反应器)反应器或者UASB(Up-flow Anaerobic Sludge Bed/Blanket,上流式厌氧污泥床反应器)。所述厌氧氨氧化菌可以为厌氧氨氧化菌混合培养物或者厌氧氨氧化菌颗粒污泥。
步骤2、向厌氧反应器中添加无基质的模拟废水,搅拌,使受损的厌氧氨氧化菌在无基质的模拟废水中处于悬浮状态,24h后静置,排除上清液。所述的无基质的模拟废水是指不添加NO2--N和的模拟废水;
步骤3、向厌氧反应器中重新加入新配置的模拟废水,用氮气吹脱10min;
步骤4、向厌氧反应器中添加联氨,使厌氧反应器中联氨的浓度达到0.2~1.0mM;
步骤5、培养受损的厌氧氨氧化菌,培养条件为:温度32~35℃,pH为7.5~8.0,溶解氧(DO)<0.1mg/l,进水氨氮在80~100mg/l,进水亚硝氮为100~120mg/l。
待模拟废水中NO2--N浓度低于20mg/l或者NO2--N浓度低于10mg/l后,静置排出上清液,继续添加模拟废水,添加联氨,使厌氧反应器中联氨浓度达到0.2~1.0mM后开始下一周期的培养。
步骤6、重复步骤5,直至受损的厌氧氨氧化菌活性完全恢复。
步骤1、3和5中所述的模拟废水包括:0.01g/L的KH2PO4、0.0056g/L的CaCl2·2H2O、1.25g/L的KHCO3、0.3g/L的MgSO4·7H2O、微量元素Ⅰ和Ⅱ各1.25mL/L,进水NO2--N浓度为100~120mg/L,进水浓度为80~100mg/L;所述微量元素Ⅰ组成为:EDTA,5g/L和FeSO4,5g/L;所述述微量元素Ⅱ组成为:EDTA,15g/L;ZnSO4·7H2O,0.43g/l;CoC12·6H2O,0.24g/l;MnCl2·4H2O,0.99g/l;CuSO4·5H2O,0.25g/l;NaMoO4·2H2O,0.22g/l;NiC12·6H2O,0.19g/l;NaSeO4 10H2O,0.21g/l;H3BO4,0.014g/l。本实施实例中活性受损的厌氧氨氧化菌来源于实验室体积为8L的SBR反应器培养的污泥,该污泥采用常规保藏方法保存28d,其活性损失率为60.83%。
取三个血清瓶(R1,R2,R3),向这3个瓶中接种等量的上述活性受损的厌氧氨氧化污泥(负荷为0.264(kgN/m3.d)),按照附图1所示方法进行活性恢复,其中每次添加的浓度约为0.5mM,进水为和NO2--N分别为80~100mg/l和100~120mg/l的模拟废水,控制pH在7.7~7.8,在温度32±1℃、135r/min恒温摇床中培养,共运行20个周期,每个周期持续6h,每个周期取样检测进水和出水的NO2--N和NO3—N。
图2为本发明实施例提供的一种不同恢复方式下受损厌氧氨氧化菌活性恢复过程示意图,由附图2可以看出,R1,R2和R3的初始脱氮负荷均为0.264(kgN/m3·d),运行20个周期后,分别达到0.577,0.644和0.664(kgN/m3·d),其活性分别恢复到保藏前的85.61%,95.52%和98.52%,R1,R2和R3在不同恢复阶段的活性恢复情况如下述表1所示。可以看出,虽然R1,R2和R3初始负荷相同,但通过在不同阶段添加一定量的联氨,其活性恢复过程产生了明显的差异,比较其恢复过程可以发现,R1的前6个周期为适应期,活性恢复缓慢,到第6个周期时脱氮负荷达到0.29kgN/m3·d,从第7个周期开始,进入恢复期,活性快速恢复,至第20个周期结束脱氮负荷已经达到0.577kgN/m3·d。
表1不同恢复方式下受损厌氧氨氧化菌的活性恢复情况
R2的前4个周期为适应期,到第4个周期时脱氮负荷达到0.296kgN/m3·d,从第6个周期开始,添加了0.5mM的联氨,其活性开始快速恢复,由图2可以看出,其活性增长速度明显要比R4快,至第20个周期结束脱氮负荷已经达到0.644kgN/m3·d,R6从恢复开始就持续添加0.5Mmol的联氨,可以看出,其活性恢复速度明显要快于R1和R2,它从第1个周期开始就进入活性恢复期,活性快速恢复,到第8个周期时脱氮负荷达到0.518kgN/m3·d,此后活性恢复速度有所减慢,至第16个周期结束脱氮负荷已经达到0.647kgN/m3·d,活性恢复到保藏前的96.00%,此后活性恢复进一步减慢,进入稳定期,到第20个周期结束,脱氮负荷已经恢复到保藏前的98.52%,活性基本趋于稳定,虽然R1,R2和R3的初始负荷相同,但通过在不同阶段添加一定量的联氨,其活性恢复过程产生了明显的差异(如附图2),比较R1,R2和R3的恢复过程可以发现,R1的适应期为6个周,R2的适应期为4个周期,而R3无适应期。可以看出,在菌种活性恢复过程中添加一定量的联氨,可以减少甚至消除恢复过程中的适应期,能促进菌种活性快速恢复。
综上所述,本发明的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法能将滞留在厌氧氨氧化菌体内的有毒有害物质给清洗出来,避免了这些物质对厌氧氨氧化菌的持续抑制。并且通过向厌氧氨氧化体系中添加联氨,为厌氧氨氧化体系提供了一定量的可利用的电子,能强化厌氧氨氧化菌脱氮各个过程,使受损菌种的活性快速恢复。
本发明通过向体系中添加适量的联氨,通过这部分添加的联氨降解过程中产生的电子来强化厌氧氨氧化脱氮的各过程,保证整个脱氮过程持续高效的进行。并且本发明添加的联氨是厌氧氨氧化菌的中间产物,其能在厌氧氨氧化体系中自动降解转为氮气,因此不会产生二次污染。本发明的方法操作简单方便,易于实现,成本低,能极大缩短受损厌氧氨氧化菌活性恢复时间,可解决厌氧氨氧化工程应用过程中菌种失活后难恢复的问题。
本方法以添加厌氧氨氧化菌中间代谢产物联氨的形式为受损菌种提供可利用的电子,能使其活性快速恢复,同时,联氨被厌氧氨氧化菌降解的产物为氮气,不会产生二次污染,成本低,操作简单。
本领域普通技术人员可以理解:附图只是一个实施例的示意图,附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,包括:
将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中,向所述厌氧反应器中添加模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器;
向所述厌氧反应器中添加联氨,使所述厌氧反应器中联氨的浓度达到设定数值;
按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌。
2.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,所述的将活性受损的厌氧氨氧化菌投入到厌氧反应器中,向所述厌氧反应器中添加模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器,包括:
取出活性受损的厌氧氨氧化菌,将所述厌氧氨氧化菌用模拟废水冲洗设定次数后添加到厌氧反应器中;
向所述厌氧反应器中添加无基质的模拟废水,搅拌,使受损的厌氧氨氧化菌在无基质的模拟废水中处于悬浮状态,静置设定时间后,排除所述厌氧反应器中的上清液,所述无基质的模拟废水为不添加NO2--N和的模拟废水;
向所述厌氧反应器中重新添加新配置的模拟废水,用氮气吹脱所述厌氧反应器设定时间。
3.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,所述反应器为续批式反应器SBR或者上流式厌氧反应器UASB。
4.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,所述厌氧氨氧化菌为厌氧氨氧化菌混合培养物或者厌氧氨氧化菌颗粒污泥。
5.根据权利要求1所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,所述模拟废水包括:0.01g/L的KH2PO4、0.0056g/L的CaCl2·2H2O、1.25g/L的KHCO3、0.3g/L的MgSO4·7H2O、微量元素Ⅰ和Ⅱ各1.25mL/L,进水NO2--N浓度为100~120mg/L,进水浓度为80~100mg/L。
6.根据权利要求5所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,所述的按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌,包括:
所述微量元素Ⅰ组成为:EDTA,5g/L和FeSO4,5g/L;所述述微量元素Ⅱ组成为:EDTA,15g/L;ZnSO4·7H2O,0.43g/l;CoC12·6H2O,0.24g/l;MnCl2·4H2O,0.99g/l;CuSO4·5H2O,0.25g/l;NaMoO4·2H2O,0.22g/l;NiC12·6H2O,0.19g/l;NaSeO4 10H2O,0.21g/l;H3BO4,0.014g/l。
7.根据权利要求1至6任一项所述的恢复厌氧氨氧化菌活性的方法,其特征在于,所述的按照设定培养条件在所述厌氧反应器中培养受损的厌氧氨氧化菌,包括:
所述设定培养条件包括:温度32~35℃,pH为7.5~8.0,溶解氧DO<0.1mg/l,进水氨氮在80~100mg/l,进水亚硝氮为100~120mg/l,待所述厌氧反应器中的模拟废水中NO2--N浓度低于20mg/l或者NO2--N浓度低于10mg/l后,排出所述厌氧反应器中的上清液,继续向所述厌氧反应器中添加模拟废水和联氨,使厌氧反应器中联氨浓度达到0.2~1.0mM后;
按照上述处理过程开始下一周期的厌氧氨氧化菌的培养,直至受损的厌氧氨氧化菌活性完全恢复。
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